JPH0616763Y2

JPH0616763Y2 - サーマルヘッド

Info

Publication number: JPH0616763Y2
Application number: JP12204888U
Authority: JP
Inventors: 利幸白崎
Original assignee: Rohm Co Ltd
Current assignee: Rohm Co Ltd
Priority date: 1988-09-17
Filing date: 1988-09-17
Publication date: 1994-05-02
Anticipated expiration: 2003-09-17
Also published as: JPH0241945U

Description

【考案の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野この考案は、サーマルヘッドに関し、詳しく言えば、絶
縁基板縁部と発熱抵抗体列との間の距離の検査を容易化
したサーマルヘッドに関する。

（ロ）従来の技術サーマルヘッドは、例えば第５図に示すように、アルミ
ナセラミック等の絶縁基板１２上に、その縁部（エッ
ジ）１２ｅに沿って発熱抵抗体列１３と、この発熱抵抗
体列１３に通電する共通電極１４及び個別電極１５とを
形成したものが知られている。なお、１７は、発熱抵抗
体列１３の記録紙ｐへのあたりを向上させるためのグレ
ーズ層、１８は、発熱抵抗体列１３、共通電極１４及び
個別電極１５を保護するための保護膜である。

上記サーマルヘッド１１は、生産性向上のため、第８図
に示すように大型基板１２^＊の各区画に、発熱抵抗体列
１３、共通電極及び個別電極（共に第３図では図示せ
ず）を形成した後、この大型基板１２^＊を切断線に沿
って切断分割し、個々のサーマルヘッド１１としてい
る。

（ハ）考案が解決しようとする課題上記従来のサーマルヘッド１１では、絶縁基板エッジ１
２ｅと発熱抵抗体列１３の中心との距離Ｄは、これが大
きすぎると紙あたりが悪くなり、小さすぎると共通電極
１４に十分な幅を与えることができなくなるので、この
距離Ｄを検査して、これが適切な範囲にないものは、不
良品として排除しなければならない。

上記距離Ｄを検査する方法としては、大型基板１２
^＊に、発熱抵抗体列１３、共通電極１４及び別個電極１
５と共に、検査用パターン１６を別に形成しておく（第
４図参照）。その後、大型基板１２^＊を切断分割し、検
査用パターン１６を、顕微鏡を用いて目視し、距離Ｄが
適切な範囲にあるか否かを判断していた。

しかしながら、この方法では検査パターン１６を発熱抵
抗体列１３、電極１４・１４とは別個に形成し、又検査
を目視により行っているものであるから、手間がかか
り、サーマルヘッドの製造コストが上昇してしまう問題
点があった。

この考案は上記に鑑みなされたものであり、検査の容易
なサーマルヘッドの提供を目的としている。

（ニ）課題を解決するための手段上記課題を解決するため、この考案のサーマルヘッド
は、絶縁基板上に、絶縁基板縁部に沿って発熱抵抗体列
を形成すると共に、この発熱抵抗体列に通電する電極と
を形成してなるサーマルヘッドにおいて、前記絶縁基板
縁部上には、一対の検査用電極を設け、これら検査用電
極は、前記絶縁基板縁部と前記発熱抵抗体列との距離Ｄ
の最小許容値となる位置より前記絶縁基板上中央側では
分離し、距離Ｄが最小許容値と最大許容値との間の位置
では検査用抵抗体により結ばれ、距離Ｄが最大許容値以
上の位置では短絡していることを特徴としている。

（ホ）作用この考案のサーマルヘッドは、前記距離Ｄが最小許容値
より小さい時には、前記検査用電極は分離しており導通
しない。一方、距離Ｄが最大許容値以上の場合には、前
記検査用電極は短絡する。距離Ｄが許容範囲に収まって
いる時は、前記検査用電極間には、距離Ｄに応じた値の
抵抗が生じる。よって、この検査用電極の導通状態よ
り、距離Ｄを知ることが可能となり、距離Ｄの検査を電
気的に行えると共に、検査用電極は共通電極、個別電極
と同時に、また検査用抵抗体は発熱抵抗体列と同時に形
成できるから、工程が増えず、検査の手間が省け、製造
コストを低減することができる。

（ヘ）実施例この考案の一実施例を第１図乃至第３図に基づいて以下
に説明する。

この実施例は、この考案を薄膜型サーマルヘッドに適用
したものである。この実施例サーマルヘッド１も、第３
図に示すように大型のアルミナセラミック基板２^＊を切
断分割して製造されるものである。アルミナセラミック
基板２^＊上は、切断線（破線で示す）により区画され
ており、各区画には、まずグレーズ層（図示せず）が形
成され、次に発熱抵抗体列３、検査用抵抗体７が形成さ
れ、さらに続いて共通電極４、個別電極５、…、５、検
査用電極６が形成される（第１図参照）。

第１図は、各区画に形成されるパターンの要部を示して
いる。発熱抵抗体列３は、切断線に沿って形成されて
いる。発熱抵抗体列３の切断線側には、共通電極４が
形成され、各発熱抵抗体３ａ、…、３ａに共通に接続し
ている。一方、発熱抵抗体列３の、切断線の反対側に
は、個別電極５、…、５が列設され、各個別電極５は、
それぞれ発熱抵抗体３ａに接続している。

共通電極４と検査用電極６とは、一体に形成されてい
る。共通電極４の引出し部４ａは、検査用電極の一方を
兼ね、この引出し部４ａと検査用電極６との間には抜き
パターン８が形成されている。この抜きパターン８の先
端８ａは、発熱抵抗体列３の中心より、距離Ｄの最小許
容値Ｄ_ＭＩＮ離れた位置になるよう形成されている。

また、検査用抵抗体７は、この抜きパターン先端８ａ及
び枝部８ｂに接するような長方形上に形成されており、
その先端７ａは、発熱抵抗体列３の中心より、距離Ｄの
最大許容値Ｄ_ＭＡＸとなるように形成されている。

さて、アルミナセラミック基板２^＊は、切断線により
切断分割されて、個々の絶縁基板２とされる。第２図
(a)は、絶縁基板のエッジ（切断線）２ａと、発熱抵抗
体３の中心線との距離Ｄが許容範囲にはいっている場合
を示している。この時、共通電極４と検査用電極６は切
断の結果分離され、引出し部４ａと検査用電極６が検査
用抵抗体７を介して導通する。よって共通電極４と検査
用電極６間に、所定の範囲の抵抗値があるか否かを電気
的に検査して、距離Ｄが所定の範囲にあるか否かを判断
することができる。

また、検査用抵抗体７の電流が流れる面積は、距離Ｄに
比例して変化するから、抵抗値より距離Ｄの値自体も知
ることができる。前記抜きパターン８の枝部８ｂは、距
離Ｄに対する抵抗値の変化を大きく出すために形成され
ている。

第２(b)は、距離ＤがＤ_ＭＡＸよりも大きい場合を示し
ており、切断によっても共通電極４と検査用電極６が分
割されない。よって、この時には共通電極４と検査用電
極６とが短絡状態となり、距離ＤがＤ_ＭＡＸより大きい
ことを知ることができる。

第２図(c)は、距離ＤがＤ_ＭＩＮよりも小さい場合を示
しており、共通電極引出し部４ａと検査用電極６とが抜
きパターン８により完全に分離されている。よって、共
通電極４ａと検査用電極６との間に導通がない場合に
は、距離ＤがＤ_ＭＩＮを下回っていると判断できる。

なお、この実施例では、検査用電極の一つを、共通電極
が兼ねている場合を示しているが、共通電極とは別にも
う一つの検査用電極を設けてもよく適宜設計変更可能で
ある。

また、上記実施例では、薄膜型サーマルヘッドについて
説明しているが、この考案は厚膜型サーマルヘッドにつ
いても適用可能である。

（ト）考案の効果以上説明したように、この考案のサーマルヘッドは、絶
縁基板縁部上には、一対の検査用電極を設け、これら検
査用電極は、絶縁基板縁部と前記発熱抵抗体列との距離
の最小許容値となる位置より前記絶縁基板上中央側では
分離し、前記距離が最小許容値と最大許容値との間の位
置では検査用抵抗体で結ばれ、前記距離が最大許容値以
上の位置では短絡していることを特徴とするものであ
り、検査の手間が省け、サーマルヘッドの製造コストを
低減できる利点を有している。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この考案の一実施例に係るサーマルヘッドの
絶縁基板切断前の抵抗体及び電極パターンを説明する
図、第２図(a)、第２図(b)及び第２図(c)は、それぞれ
絶縁基板縁部−発熱抵抗体中心間の距離と共通電極−検
査用電極間の導通状態を説明する図、第３図は、同サー
マルヘッド及び従来のサーマルヘッドの製造工程を説明
する図、第４図は、従来のサーマルヘッドの検査を説明
する図、第５図は、同従来のサーマルヘッドの要部断面
図である。２ａ：絶縁基板縁部、３：発熱抵抗体列、４：共通電極、５：個別電極、６：検査用電極、７：検査用抵抗体。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】絶縁基板上に、絶縁基板縁部に沿って発熱
抵抗体列を形成すると共に、この発熱抵抗体列に通電す
る電極とを形成してなるサーマルヘッドにおいて、前記絶縁基板縁部上には、一対の検査用電極を設け、こ
れら検査用電極は、前記絶縁基板縁部と前記発熱抵抗体
列との距離の最小許容値となる位置より前記絶縁基板上
中央側では分離し、前記距離が最小許容値と最大許容値
との間の位置では検査用抵抗体により結ばれ、前記距離
が最大許容値以上の位置では短絡していることを特徴と
するサーマルヘッド。