JPH0616155B2 - 放射線画像読取方法 - Google Patents
放射線画像読取方法Info
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- JPH0616155B2 JPH0616155B2 JP57185086A JP18508682A JPH0616155B2 JP H0616155 B2 JPH0616155 B2 JP H0616155B2 JP 57185086 A JP57185086 A JP 57185086A JP 18508682 A JP18508682 A JP 18508682A JP H0616155 B2 JPH0616155 B2 JP H0616155B2
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- light
- excitation light
- laser
- radiation
- excitation
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2012—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using stimulable phosphors, e.g. stimulable phosphor sheets
- G01T1/2014—Reading out of stimulable sheets, e.g. latent image
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B42/00—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
- G03B42/02—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、放射線画像システムにおける画像読取方法に
関し、さらに詳しくは、蓄積性螢光体材料（以下単に
「螢光体」という）を用いて、これに放射線画像を記録
し、この放射線画像を読み出して再生し、これを記録材
料に最終画像として記録する放射線画像システムにおけ
る画像読取方法に関するものである。
関し、さらに詳しくは、蓄積性螢光体材料（以下単に
「螢光体」という）を用いて、これに放射線画像を記録
し、この放射線画像を読み出して再生し、これを記録材
料に最終画像として記録する放射線画像システムにおけ
る画像読取方法に関するものである。
従来、放射線画像を得るために銀塩を使用した、いわゆ
る放射線写真が利用されているが、近年、特に地球規模
における銀資源の枯渇等の問題から銀塩を使用しないで
放射線像を画像化する方法が望まれるようになった。
る放射線写真が利用されているが、近年、特に地球規模
における銀資源の枯渇等の問題から銀塩を使用しないで
放射線像を画像化する方法が望まれるようになった。
上述の放射線写真法にかわる方法として、被写体を透過
した放射線を螢光体に吸収せしめ、しかる後この螢光体
をある種のエネルギーで励起してこの螢光体が蓄積して
いる放射線エネルギーを螢光として放射せしめ、この螢
光を検出して画像化する方法が考えられている。具体的
な方法として、例えば英国特許第1,462,769 号および特
開昭51−29889 号には螢光体として熱螢光体を用い励起
エネルギーとして熱エネルギーを用いて放射線画像を変
換する方法が提唱されている。この変換方法は支持体上
に熱螢光体層を形成したパネルを用い、このパネルの熱
螢光体層に被写体を透過した放射線を吸収させて放射線
の強弱に対応した放射線エネルギーを蓄積させ、しかる
後この熱螢光体層を加熱することによって蓄積された放
射線エネルギーを光の信号として取り出しこの光の強弱
によって画像を得るものである。
した放射線を螢光体に吸収せしめ、しかる後この螢光体
をある種のエネルギーで励起してこの螢光体が蓄積して
いる放射線エネルギーを螢光として放射せしめ、この螢
光を検出して画像化する方法が考えられている。具体的
な方法として、例えば英国特許第1,462,769 号および特
開昭51−29889 号には螢光体として熱螢光体を用い励起
エネルギーとして熱エネルギーを用いて放射線画像を変
換する方法が提唱されている。この変換方法は支持体上
に熱螢光体層を形成したパネルを用い、このパネルの熱
螢光体層に被写体を透過した放射線を吸収させて放射線
の強弱に対応した放射線エネルギーを蓄積させ、しかる
後この熱螢光体層を加熱することによって蓄積された放
射線エネルギーを光の信号として取り出しこの光の強弱
によって画像を得るものである。
一方、例えば米国特許第3,859,527 号および特開昭55−
12144 には励起エネルギーとして可視光線および赤外線
から選ばれる電磁放射線を用いる放射線画像変換方法が
提唱されている。
12144 には励起エネルギーとして可視光線および赤外線
から選ばれる電磁放射線を用いる放射線画像変換方法が
提唱されている。
さらに、これに関連して特開昭55−12429にはＳ／Ｎ比
を向上させる方法として前記励起光として600 〜700nm
の波長域の光を用いて螢光体を励起し、該螢光体の発光
光のうち300 〜500nmの波長域の光を光検出器で受光す
るようにした方法が提唱されている。この方法は、上述
の熱螢光体を用いる方法のように蓄積された放射線エネ
ルギーを光の信号に変える際に加熱しなくてもよく、従
ってパネルは耐熱性を有する必要はなく、この点からよ
り好ましい放射線画像変換方法と言える。
を向上させる方法として前記励起光として600 〜700nm
の波長域の光を用いて螢光体を励起し、該螢光体の発光
光のうち300 〜500nmの波長域の光を光検出器で受光す
るようにした方法が提唱されている。この方法は、上述
の熱螢光体を用いる方法のように蓄積された放射線エネ
ルギーを光の信号に変える際に加熱しなくてもよく、従
ってパネルは耐熱性を有する必要はなく、この点からよ
り好ましい放射線画像変換方法と言える。
しかし、励起エネルギーとして、600 〜700nmの波長域
の光を用いる方法は、励起光源としてHe−Neレーザ光を
用いた場合でも励起エネルギーが不充分であり、励起光
で支持体上に蓄積性螢光体層を形成したパネル（以下、
単に「パネル」という。）上を走査する場合、高速スキ
ャンが困難であるばかりでなく、さらにはパネルに像様
に放射線エネルギーを与える際の被写体に対する放射線
量の低減も充分とはいえない。また600 〜700nmによっ
て励起される領域のトラップは、比較的浅く、退行性
（フエーディング）現象の影響が大きく情報の長期間の
保存が困難である。さらに600 〜700nmの波長域の光を
励起光として用いた場合、励起された螢光の立上がり及
び立下がりが、励起光の立上がり、立下がりよりも遅れ
る。これも、パネルを励起光で走査する場合の走査速度
の高速化を妨げている原因の１つである。
の光を用いる方法は、励起光源としてHe−Neレーザ光を
用いた場合でも励起エネルギーが不充分であり、励起光
で支持体上に蓄積性螢光体層を形成したパネル（以下、
単に「パネル」という。）上を走査する場合、高速スキ
ャンが困難であるばかりでなく、さらにはパネルに像様
に放射線エネルギーを与える際の被写体に対する放射線
量の低減も充分とはいえない。また600 〜700nmによっ
て励起される領域のトラップは、比較的浅く、退行性
（フエーディング）現象の影響が大きく情報の長期間の
保存が困難である。さらに600 〜700nmの波長域の光を
励起光として用いた場合、励起された螢光の立上がり及
び立下がりが、励起光の立上がり、立下がりよりも遅れ
る。これも、パネルを励起光で走査する場合の走査速度
の高速化を妨げている原因の１つである。
本発明は上記問題点を解決し、励起光の高速スキャン、
及びそれに対応する画像の読取りスピードの高速化が可
能であり、かつ、螢光体に記録された画像の衰退が小さ
い実用的な放射線画像の読取方法を提供することを目的
とするものである。
及びそれに対応する画像の読取りスピードの高速化が可
能であり、かつ、螢光体に記録された画像の衰退が小さ
い実用的な放射線画像の読取方法を提供することを目的
とするものである。
本発明のかかる目的は、５００ｎｍ近傍に輝尽励起スペ
クトルのピークを有し、４００ｎｍ近傍に輝尽発光を有
するユーロピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料を
励起光で走査し、各画素からの発光光を光検出器で検出
することにより、前記ユーロピウム賦活弗化臭化バリウ
ム系蛍光体材料に記録されている放射線画像を読み取る
放射線画像読取方法において、前記励起光の走査速度を
１画素当たり５μ秒以下とすると共に、該励起光として
前記ユーロピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料表
面でのビーム径が５０〜３００μｍで、発振波長が５１
４．５ｎｍＡｒ＋レーザ光のみを用いて前記ユーロピウ
ム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料を励起し、該ユー
ロピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料からの発光
光を、前記Ａｒ＋レーザ光を遮断する励起光カットフィ
ルターを設けた光検出器で受光するようにしたことを特
徴とする放射線画像読取方法によって達成されることを
見い出した。
クトルのピークを有し、４００ｎｍ近傍に輝尽発光を有
するユーロピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料を
励起光で走査し、各画素からの発光光を光検出器で検出
することにより、前記ユーロピウム賦活弗化臭化バリウ
ム系蛍光体材料に記録されている放射線画像を読み取る
放射線画像読取方法において、前記励起光の走査速度を
１画素当たり５μ秒以下とすると共に、該励起光として
前記ユーロピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料表
面でのビーム径が５０〜３００μｍで、発振波長が５１
４．５ｎｍＡｒ＋レーザ光のみを用いて前記ユーロピウ
ム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料を励起し、該ユー
ロピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料からの発光
光を、前記Ａｒ＋レーザ光を遮断する励起光カットフィ
ルターを設けた光検出器で受光するようにしたことを特
徴とする放射線画像読取方法によって達成されることを
見い出した。
本発明において螢光体とは、最初の光もしくは高エネル
ギー放射線が照射された後に、光的、熱的、機械的、化
学的または電気的等の刺激により、最初の光もしくは高
エネルギー放射線の照射量に対応した光を再発光せしめ
る、いわゆる輝尽性を示す螢光体をいう。ここで光とは
電磁放射線のうち可視光、紫外光、赤外光を含み、高エ
ネルギー放射線とはＸ線、ガンマ線、ベータ線、アルフ
ァ線、中性子線等を含む。
ギー放射線が照射された後に、光的、熱的、機械的、化
学的または電気的等の刺激により、最初の光もしくは高
エネルギー放射線の照射量に対応した光を再発光せしめ
る、いわゆる輝尽性を示す螢光体をいう。ここで光とは
電磁放射線のうち可視光、紫外光、赤外光を含み、高エ
ネルギー放射線とはＸ線、ガンマ線、ベータ線、アルフ
ァ線、中性子線等を含む。
本発明においては、放射線画像読取方法に対し螢光灯に
記録された放射線画像から実際の画像を高速で読み出す
ことを実用上発明の目的の１つとして要求するものであ
る。第１図は励起光パワーと螢光体からの発光光即ち励
起された輝尽螢光の光強度との関係を示すものである。
この図から分るように励起光のパワーと輝尽螢光は、ほ
ぼ比例関係にあることがわかる。すなわち、この様な蓄
積性螢光体は、レーザパワーを大きくすることにより発
光強度も増加する。このため、例えばパネル上の放射線
画像を読み取るに際し、１画素10μsecの走査速度を要
する場合、レーザパワーを２倍にすれば、１画素５μse
cの走査速度とすることが可能となり、読み出しスピー
ドが２倍、すなわち、潜像から実際の画像を得るのに要
する時間も半減する。
記録された放射線画像から実際の画像を高速で読み出す
ことを実用上発明の目的の１つとして要求するものであ
る。第１図は励起光パワーと螢光体からの発光光即ち励
起された輝尽螢光の光強度との関係を示すものである。
この図から分るように励起光のパワーと輝尽螢光は、ほ
ぼ比例関係にあることがわかる。すなわち、この様な蓄
積性螢光体は、レーザパワーを大きくすることにより発
光強度も増加する。このため、例えばパネル上の放射線
画像を読み取るに際し、１画素10μsecの走査速度を要
する場合、レーザパワーを２倍にすれば、１画素５μse
cの走査速度とすることが可能となり、読み出しスピー
ドが２倍、すなわち、潜像から実際の画像を得るのに要
する時間も半減する。
Ar＋レーザはレーザパワーが最大出力４Ｗ程度であり、
He−Neレーザ（最大出力50ｍＷ程度）に比較して、レー
ザパワーが大である。例えば200 ｍＷのAr＋レーザを励
起光として用いた場合、20ｍＷのHe−Neレーザを励起光
として用いた場合に比較して螢光体からの発光強度は約
25倍であった。
He−Neレーザ（最大出力50ｍＷ程度）に比較して、レー
ザパワーが大である。例えば200 ｍＷのAr＋レーザを励
起光として用いた場合、20ｍＷのHe−Neレーザを励起光
として用いた場合に比較して螢光体からの発光強度は約
25倍であった。
すなわちAr＋レーザはパワーの最大値が、He−Neレーザ
に比較してはるかに大きく、パネルからの輝尽螢光は非
常に強い範囲まで得ることができる。このため励起光で
パネル上を走査する際に高速スキャンが可能となる。
に比較してはるかに大きく、パネルからの輝尽螢光は非
常に強い範囲まで得ることができる。このため励起光で
パネル上を走査する際に高速スキャンが可能となる。
さらに、励起光のパワーと発光強度が比例関係にあるこ
とからレーザパワーを増すことにより、放射線量を低減
することが可能である。人体に照射する放射線量が低減
可能であることは、人体に対する放射線障害の軽減にも
大いに役立ち非常に有用である。
とからレーザパワーを増すことにより、放射線量を低減
することが可能である。人体に照射する放射線量が低減
可能であることは、人体に対する放射線障害の軽減にも
大いに役立ち非常に有用である。
また同一のパネルを反復して使用する場合に蓄積された
放射線エネルギーを螢光として放出させるための励起光
強度が弱かったり、あるいは、励起光波長が不適当であ
ると、放射線エネルギーは完全にパネルから消去され
ず、その一部が残留する。この残留した放射線エネルギ
ーがそれ以後の放射線画像変換におけるノイズとして加
わり、得られる画像の画質が著しく悪化する。このため
パネルに放射線を照射する工程の前に、励起光波長領域
に含まれる光で、パネルに残留していてノイズの原因と
なる放射線エネルギーを除去しなければならない。しか
し、Ar＋レーザのようなパワーの大きな励起光を用いる
場合、パネルを反復して使用しても、ノイズとなる放射
線エネルギーは既に充分に消去され残留していない。こ
のため、放射線を照射する前に励起光を照射する必要は
なく、しかも画質は良好に保つことができる。
放射線エネルギーを螢光として放出させるための励起光
強度が弱かったり、あるいは、励起光波長が不適当であ
ると、放射線エネルギーは完全にパネルから消去され
ず、その一部が残留する。この残留した放射線エネルギ
ーがそれ以後の放射線画像変換におけるノイズとして加
わり、得られる画像の画質が著しく悪化する。このため
パネルに放射線を照射する工程の前に、励起光波長領域
に含まれる光で、パネルに残留していてノイズの原因と
なる放射線エネルギーを除去しなければならない。しか
し、Ar＋レーザのようなパワーの大きな励起光を用いる
場合、パネルを反復して使用しても、ノイズとなる放射
線エネルギーは既に充分に消去され残留していない。こ
のため、放射線を照射する前に励起光を照射する必要は
なく、しかも画質は良好に保つことができる。
第２図は励起光の波長によって螢光体に蓄積されたエネ
ルギーの衰退量（Decay ）が変化する様子を示したもの
で、具体的には、複数枚のパネルを同時にＸ線照射して
から、その直後に励起発光させた輝尽螢光を基準とし、
暗中にて、各時間放置した後に所定波長の励起光にて励
起して発光させたときの発光強度の衰退する様子を示す
ものである。励起光として514.5nmのAr＋レーザを用い
ると、驚くべきことに600 〜800nmの波長域の光を用い
たときよりも、発光強度の衰退量が小さくなり２〜３時
間程度でほとんど衰退がなくなる。すなわち退行性現象
が大いに改善される。従って励起光としてAr＋レーザを
用いると螢光体上の記録を長期間保存することができ
る。
ルギーの衰退量（Decay ）が変化する様子を示したもの
で、具体的には、複数枚のパネルを同時にＸ線照射して
から、その直後に励起発光させた輝尽螢光を基準とし、
暗中にて、各時間放置した後に所定波長の励起光にて励
起して発光させたときの発光強度の衰退する様子を示す
ものである。励起光として514.5nmのAr＋レーザを用い
ると、驚くべきことに600 〜800nmの波長域の光を用い
たときよりも、発光強度の衰退量が小さくなり２〜３時
間程度でほとんど衰退がなくなる。すなわち退行性現象
が大いに改善される。従って励起光としてAr＋レーザを
用いると螢光体上の記録を長期間保存することができ
る。
第３図は点線で示す矩形波状に強度を変化する励起光を
照射したときの応答性を示すものである。実線で示す曲
線Ａは、螢光体をHe−Neレーザ光で励起したときの発光
強度をまた、曲線Ｂは、同一の螢光体をAr＋レーザ光で
励起したときの発光強度を示す。このグラフからわかる
ように、励起光として50μｓパルス幅のHe−Neレーザ光
を照射した場合、輝尽螢光の立上り立下りは、約５〜６
μｓである。しかし、励起光としてAr＋レーザ光を用い
た場合、立上り立下りは僅かに１μｓ前後となり応答性
が改善される。このため、例えばパネルをスポット茎が
100μｍ程度のレーザビームで走査する場合、He−Neレ
ーザでは、１画素５μｓ以下の走査速度で走査すること
は困難であるが、Ar＋レーザではこれが可能となる。
照射したときの応答性を示すものである。実線で示す曲
線Ａは、螢光体をHe−Neレーザ光で励起したときの発光
強度をまた、曲線Ｂは、同一の螢光体をAr＋レーザ光で
励起したときの発光強度を示す。このグラフからわかる
ように、励起光として50μｓパルス幅のHe−Neレーザ光
を照射した場合、輝尽螢光の立上り立下りは、約５〜６
μｓである。しかし、励起光としてAr＋レーザ光を用い
た場合、立上り立下りは僅かに１μｓ前後となり応答性
が改善される。このため、例えばパネルをスポット茎が
100μｍ程度のレーザビームで走査する場合、He−Neレ
ーザでは、１画素５μｓ以下の走査速度で走査すること
は困難であるが、Ar＋レーザではこれが可能となる。
また、励起光の反射光と輝尽螢光の分離に関しては、輝
尽螢光を短波長側に励起光を長波長側にとり、かつ光検
出器の前面に輝尽螢光の波長域だけを通すフイルターを
配することによってＳ／Ｎ比の低下を防ぐことができ
る。
尽螢光を短波長側に励起光を長波長側にとり、かつ光検
出器の前面に輝尽螢光の波長域だけを通すフイルターを
配することによってＳ／Ｎ比の低下を防ぐことができ
る。
輝尽螢光の波長300 〜500nmはこの波長域の光を放出す
る螢光体を選択することによりあるいは、この波長域に
ピークを有する螢光体を使用することにより得られる。
しかし螢光体が、上記波長域の光を放出しても光検出器
が、その波長域以外の光をも測定してしまえばＳ／Ｎ比
は極端に低下する。このためには300 〜500nmの波長域
に少くとも感度を有する光検出器を用い、かつ、その前
面に輝尽螢光の波長域だけを通ずフイルターを配するこ
とが必要である。
る螢光体を選択することによりあるいは、この波長域に
ピークを有する螢光体を使用することにより得られる。
しかし螢光体が、上記波長域の光を放出しても光検出器
が、その波長域以外の光をも測定してしまえばＳ／Ｎ比
は極端に低下する。このためには300 〜500nmの波長域
に少くとも感度を有する光検出器を用い、かつ、その前
面に輝尽螢光の波長域だけを通ずフイルターを配するこ
とが必要である。
上記300 〜500nmの波長域の光を発光する好ましい螢光
体材料として、ユーロピウム賦活弗化臭化バリウム系の
ものが挙げられ、これを用いた蛍光体は、第８図及び第
９図を用いて後述するように、４００ｎｍ近傍に輝尽発
光のピークを有すると共に、５００ｎｍ近傍に輝尽励起
スペクトルのピークを有している。
体材料として、ユーロピウム賦活弗化臭化バリウム系の
ものが挙げられ、これを用いた蛍光体は、第８図及び第
９図を用いて後述するように、４００ｎｍ近傍に輝尽発
光のピークを有すると共に、５００ｎｍ近傍に輝尽励起
スペクトルのピークを有している。
第４図に、これに用いるフイルター例えばＢＧ−３（ス
ペクトロフイルム社製）の透過率のスペクトルの一例を
示す。このフイルターは514.5nmの励起光の透過はほと
んどなく、輝尽螢光と、励起光の分離はこのフイルター
を使用することによって達成される。すなわち、読取り
段階において、励起光は輝尽螢光中に障害となる様なノ
イズとして含まれることがなく励起光の波長域が600nm
以上の場合に比較してＳ／Ｎ比が低下することはない。
ペクトロフイルム社製）の透過率のスペクトルの一例を
示す。このフイルターは514.5nmの励起光の透過はほと
んどなく、輝尽螢光と、励起光の分離はこのフイルター
を使用することによって達成される。すなわち、読取り
段階において、励起光は輝尽螢光中に障害となる様なノ
イズとして含まれることがなく励起光の波長域が600nm
以上の場合に比較してＳ／Ｎ比が低下することはない。
以下本発明を図に基いて詳細に説明する。
第５図は放射線画像の再生記録工程を示すものである。
放射線源例えばＸ線管からＸ線を放射して人体に照射す
るとＸ線は像様強弱パターンとなってパネルに入射す
る。該パネルは螢光体のトラップレベルの放射線（Ｘ
線）のエネルギーを像様に蓄積する（放射線画像撮
影）。
放射線源例えばＸ線管からＸ線を放射して人体に照射す
るとＸ線は像様強弱パターンとなってパネルに入射す
る。該パネルは螢光体のトラップレベルの放射線（Ｘ
線）のエネルギーを像様に蓄積する（放射線画像撮
影）。
次いで514.5nmの発振波長を有するAr＋レーザスポット
で前記像様に放射線エネルギーを蓄積したパネルを走査
し、該エネルギーをトラップから励起し、300 〜500nm
の波長域の光を発光させる。この発光光はこの波長域を
選択的に受光するように調えた光検出器例えば光電子増
倍管、フオトダイオード等で検出、測定される（放射線
画像読取）。
で前記像様に放射線エネルギーを蓄積したパネルを走査
し、該エネルギーをトラップから励起し、300 〜500nm
の波長域の光を発光させる。この発光光はこの波長域を
選択的に受光するように調えた光検出器例えば光電子増
倍管、フオトダイオード等で検出、測定される（放射線
画像読取）。
続いて前記光検出器からの出力信号は増幅、フイルタリ
ングされてからレベル変換される。前記フイルタリング
によって雑音を除去し所定の解像力をうるために所定帯
域以上の信号をカットする。例えば40×40cm2のパネル
を100μｍ径のスポットで約５分で走査するとすれば、
１画素当り20μ秒となるから増幅帯域は50ＫHzあれば充
分であり、それ以上の帯域はカットされる。
ングされてからレベル変換される。前記フイルタリング
によって雑音を除去し所定の解像力をうるために所定帯
域以上の信号をカットする。例えば40×40cm2のパネル
を100μｍ径のスポットで約５分で走査するとすれば、
１画素当り20μ秒となるから増幅帯域は50ＫHzあれば充
分であり、それ以上の帯域はカットされる。
また雑音を減す手立てとして、画素毎に出力信号を積分
する方法或は出力信号を対数変換し信号レンジを減少さ
せる方法等が用いられる。
する方法或は出力信号を対数変換し信号レンジを減少さ
せる方法等が用いられる。
このようにして増幅された出力信号は、観察画像部分に
良好なコントラストを与え或は鮮鋭度を向上させるため
にレベル変換される（画像処理）。
良好なコントラストを与え或は鮮鋭度を向上させるため
にレベル変換される（画像処理）。
以上のように処理された光検出器からの出力信号（電気
信号）はブラウン管等の光走査装置に送られ観察に供せ
られる（放射線画像再生）。あるいは更に適当な記録材
料に該再生画像が記録される（放射線画像記録）。
信号）はブラウン管等の光走査装置に送られ観察に供せ
られる（放射線画像再生）。あるいは更に適当な記録材
料に該再生画像が記録される（放射線画像記録）。
第６図に本発明に使用するパネルの構成の１例を示す。
10はパネル、11は支持体、12は支持体11上に塗設された
螢光体層である。パネル10は一般に四ツ切或は半切の大
きさが用いられる。
10はパネル、11は支持体、12は支持体11上に塗設された
螢光体層である。パネル10は一般に四ツ切或は半切の大
きさが用いられる。
支持体としては、ポリエチレン等の合成樹脂シート、ア
ルミニウム等の金属薄板、ガラス板等が使用され厚みは
実用的見地から定めることができる。また透明であって
も不透明であっても、輝尽螢光の測定位置を変えること
によって自由に使用可能である。
ルミニウム等の金属薄板、ガラス板等が使用され厚みは
実用的見地から定めることができる。また透明であって
も不透明であっても、輝尽螢光の測定位置を変えること
によって自由に使用可能である。
塗設する螢光体としては300 〜500nmの輝尽螢光波長域
をもつ前記螢光体が使用される。
をもつ前記螢光体が使用される。
これらの中から選ばれた螢光体をバインダーと共に50〜
1000μｍの厚みに塗設する。
1000μｍの厚みに塗設する。
次に第７図は放射線画像読取装置を示すものである。励
起光源としてAr＋レーザ（514.5nm ）を用いる。
起光源としてAr＋レーザ（514.5nm ）を用いる。
Ar＋レーザ光源14から放射された514.5nmの励起光はハ
ーフミラー15を透過しパネル10に入射する。該励起光は
フライングスポットとして螢光体層12を走査するが、現
時技術ではスポット径を50μｍ以下にすることは困難で
あり、また300μｍ以上では解像力が劣化するので50〜3
00μｍのスポット径であることが好ましい。
ーフミラー15を透過しパネル10に入射する。該励起光は
フライングスポットとして螢光体層12を走査するが、現
時技術ではスポット径を50μｍ以下にすることは困難で
あり、また300μｍ以上では解像力が劣化するので50〜3
00μｍのスポット径であることが好ましい。
前記励起光で励起された螢光体は像様に蓄積している放
射線エネルギーを300 〜500nmの輝尽螢光として放射す
る。この輝尽螢光はハーフミラー15で反射され、フイル
ター17で300 〜500nm波長域外の混入光もしくは迷光を
カットされ、光検出器18に入り検出、測定される。
射線エネルギーを300 〜500nmの輝尽螢光として放射す
る。この輝尽螢光はハーフミラー15で反射され、フイル
ター17で300 〜500nm波長域外の混入光もしくは迷光を
カットされ、光検出器18に入り検出、測定される。
螢光体層12は励起光の一部を反射し、且つ励起光は輝尽
螢光に比べ相当強いので該反射光を完全にカットしてＳ
／Ｎ比を良好に保つことに特に留意しなければならな
い。本発明に於ては前記した螢光体を選定することによ
って輝尽螢光と励起光の波長スペクトルの重畳を回避す
ることと、前記透過波長域を有するフイルターを用いる
ことにより励起光による擾乱を完全に防止している。
螢光に比べ相当強いので該反射光を完全にカットしてＳ
／Ｎ比を良好に保つことに特に留意しなければならな
い。本発明に於ては前記した螢光体を選定することによ
って輝尽螢光と励起光の波長スペクトルの重畳を回避す
ることと、前記透過波長域を有するフイルターを用いる
ことにより励起光による擾乱を完全に防止している。
以上説明した如く、本発明においては、励起光として51
4.5nmの発振波長を有するAr＋レーザを用いることによ
り次の効果がある。
4.5nmの発振波長を有するAr＋レーザを用いることによ
り次の効果がある。
(1) Ar＋レーザは、パワーが大である為パネルを励起
光で走査する場合、高速でスキャンすることができ、読
み出しスピードが向上する。
光で走査する場合、高速でスキャンすることができ、読
み出しスピードが向上する。
(2) Ar＋レーザはパワーが大である為、照射する放射
線量を低減することができる。
線量を低減することができる。
(3) 経時による螢光体に蓄積されたエネルギーの退行
現象（フェーデング）が少なくなりパネル上の記録画像
を高い輝尽螢光強度で長期間保存することができる。
現象（フェーデング）が少なくなりパネル上の記録画像
を高い輝尽螢光強度で長期間保存することができる。
(4) Ar＋レーザ（514.5nm）は可視光であるから、通常
の可視光用光学素子を使用することができる。また、装
置の調整が容易である。
の可視光用光学素子を使用することができる。また、装
置の調整が容易である。
前記したような効果を活用することにより本発明の目的
は完全に達成できる。
は完全に達成できる。
次に実施例および比較例を用いて本発明を説明する。
実施例１ BaFBr：Euから成る螢光体８重量部をポリビニルブチラ
ール（結着剤）１重量部にアセトンと酢酸エチルを等量
混合した溶剤を用いて分散させ、これをポリエチレンテ
レフタレート基板上にワイヤバーを用いて塗布してパネ
ルを作成した。
ール（結着剤）１重量部にアセトンと酢酸エチルを等量
混合した溶剤を用いて分散させ、これをポリエチレンテ
レフタレート基板上にワイヤバーを用いて塗布してパネ
ルを作成した。
このパネルの螢光体層の乾燥膜厚は、約 300μｍであっ
た。
た。
このパネルに管電圧80ＫＶＰのＸ線を照射した後第７図
に示した装置を用いて、螢光体層より、放射される輝尽
螢光を検出した。すなわち、励起光として10ｍＷのAr＋
レーザ光（514.5nm）を用い４μsec間螢光体を励起し
た。第８図はこのときの輝尽螢光のスペクトルを示すも
のである。第８図から明らかな様に本螢光体の発光スペ
クトルはおよそ 390nmにピークを有する。これより光電
子増倍管前面に第４図に示した透過スペクトルを有する
励起光カットフイルターを用いて励起光と輝尽螢光を分
離することが、容易となり高いＳ／Ｎ比で輝尽螢光を検
出することができた。
に示した装置を用いて、螢光体層より、放射される輝尽
螢光を検出した。すなわち、励起光として10ｍＷのAr＋
レーザ光（514.5nm）を用い４μsec間螢光体を励起し
た。第８図はこのときの輝尽螢光のスペクトルを示すも
のである。第８図から明らかな様に本螢光体の発光スペ
クトルはおよそ 390nmにピークを有する。これより光電
子増倍管前面に第４図に示した透過スペクトルを有する
励起光カットフイルターを用いて励起光と輝尽螢光を分
離することが、容易となり高いＳ／Ｎ比で輝尽螢光を検
出することができた。
さらに、前記パネルを10ｍＷAr＋レーザで走査する場合
40×40cm2の大きさのパネルを約20secで走査し良好な画
像を得ることができた。
40×40cm2の大きさのパネルを約20secで走査し良好な画
像を得ることができた。
尚、第９図に、本螢光体に同様に管電圧80ＫＶＰのＸ線
を照射した後波長の異なる光エネルギーを照射した場合
の輝尽による発光強度と励起光波長との関係を示したも
の、すなわち、輝尽の励起スペクトルを示す。この様に
輝尽励起スペクトルのピークが、 500nm付近に存在する
様な螢光体の場合、発振波長514.5nmのArレーザを励起
光として用いることは、その励起効率からも特に有効で
ある。
を照射した後波長の異なる光エネルギーを照射した場合
の輝尽による発光強度と励起光波長との関係を示したも
の、すなわち、輝尽の励起スペクトルを示す。この様に
輝尽励起スペクトルのピークが、 500nm付近に存在する
様な螢光体の場合、発振波長514.5nmのArレーザを励起
光として用いることは、その励起効率からも特に有効で
ある。
比較例１ 実施例１と同じパネルを用いて管電圧80ＫＶＰのＸ線を
照射した後５ｍＷのHe−Neレーザ光（632.8nm）を用い
４μsec間螢光体を励起した。光電子増倍管前面に励起
光カットフィルターを用いて発光光を検出したが発光強
度は、実施例１の約1/5であった。
照射した後５ｍＷのHe−Neレーザ光（632.8nm）を用い
４μsec間螢光体を励起した。光電子増倍管前面に励起
光カットフィルターを用いて発光光を検出したが発光強
度は、実施例１の約1/5であった。
さらに前記螢光体を５ｍＷのHe−Neレーザ光（632.8n
m）で走査する場合、40×40cm2の大きさのパネルを走査
し、実施例１と同程度の画質の画像を得るのに約１min
を要した。
m）で走査する場合、40×40cm2の大きさのパネルを走査
し、実施例１と同程度の画質の画像を得るのに約１min
を要した。
第１図は、励起光レーザパワーと発光光強度を示すグラ
フ、第２図は励起光波長とフェーディング率を示すグラ
フ第３図は、螢光体の応答性を示すグラフ、第４図は励
起光カットフィルターの透過率スペクトルを示す特性
図、第５図は本発明の放射線写真法を示すフローチャー
ト、第６図は蓄積性螢光体板の断面図、第７図は読取装
置の側面図、第８図はBaFBr：Euの輝尽発光スペクトル
の特性を示すグラフ、第９図は、BaFBr：Euの輝尽励起
スペクトルを示すグラフである。 10……蓄積性螢光体板 11……支持体 12……蓄積性螢光体層 14……Ar+レーザ光源 15……ハーフミラー 17……フイルター 18……光検出器
フ、第２図は励起光波長とフェーディング率を示すグラ
フ第３図は、螢光体の応答性を示すグラフ、第４図は励
起光カットフィルターの透過率スペクトルを示す特性
図、第５図は本発明の放射線写真法を示すフローチャー
ト、第６図は蓄積性螢光体板の断面図、第７図は読取装
置の側面図、第８図はBaFBr：Euの輝尽発光スペクトル
の特性を示すグラフ、第９図は、BaFBr：Euの輝尽励起
スペクトルを示すグラフである。 10……蓄積性螢光体板 11……支持体 12……蓄積性螢光体層 14……Ar+レーザ光源 15……ハーフミラー 17……フイルター 18……光検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き 審判の合議体 審判長 光田 敦 審判官 富田 徹男 審判官 津田 俊明 (56)参考文献 特開 昭55−12144（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−200270（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】５００ｎｍ近傍に輝尽励起スペクトルのピ
ークを有し、４００ｎｍ近傍に輝尽発光を有するユーロ
ピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体材料を励起光で走
査し、各画素からの発光光を光検出器で検出することに
より、前記ユーロピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍光体
材料に記録されている放射線画像を読み取る放射線画像
読取方法において、 前記励起光の走査速度を１画素当たり５μ秒以下とする
と共に、該励起光として前記ユーロピウム賦活弗化臭化
バリウム系蛍光体材料表面でのビーム径が５０〜３００
μｍで、発振波長が５１４．５ｎｍのＡｒ＋レーザ光の
みを用いて前記ユーロピウム賦活弗化臭化バリウム系蛍
光体材料を励起し、該ユーロピウム賦活弗化臭化バリウ
ム系蛍光体材料からの発光光を、前記Ａｒ＋レーザ光を
遮断する励起光カットフィルターを設けた光検出器で受
光するようにしたことを特徴とする放射線画像読取方
法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185086A JPH0616155B2 (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 放射線画像読取方法 |
| US06/541,983 US4654533A (en) | 1982-10-20 | 1983-10-14 | Method for reading out a radiographic image |
| DE8383306365T DE3380969D1 (de) | 1982-10-20 | 1983-10-19 | Verfahren zum auslesen von radiographischen bildern. |
| EP19830306365 EP0109207B1 (en) | 1982-10-20 | 1983-10-19 | Method for reading out a radiographic image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185086A JPH0616155B2 (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 放射線画像読取方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5974545A JPS5974545A (ja) | 1984-04-27 |
| JPH0616155B2 true JPH0616155B2 (ja) | 1994-03-02 |
Family
ID=16164578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57185086A Expired - Lifetime JPH0616155B2 (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 放射線画像読取方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4654533A (ja) |
| EP (1) | EP0109207B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0616155B2 (ja) |
| DE (1) | DE3380969D1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59109000A (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-23 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線像変換方法 |
| JPS59108999A (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-23 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線像変換方法 |
| IT1229159B (it) | 1989-04-07 | 1991-07-22 | Minnesota Mining & Mfg | Metodo per registrare e riprodurre l'immagine di una radiazione, pannello e fosfori per la memorizzazione dell'immagine di una radiazione. |
| US5045707A (en) * | 1989-08-16 | 1991-09-03 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Laser detection and discrimination system |
| US5483218A (en) * | 1992-12-24 | 1996-01-09 | Roosa; Michael J. | Electronic system for activating a mechanical fire siren |
| JP2004170616A (ja) * | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線像読取装置 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3859527A (en) * | 1973-01-02 | 1975-01-07 | Eastman Kodak Co | Apparatus and method for producing images corresponding to patterns of high energy radiation |
| JPS5833840B2 (ja) * | 1975-11-10 | 1983-07-22 | 富士写真フイルム株式会社 | レ−ザキロクホウホウ オヨビ ソウチ |
| JPS5944339B2 (ja) * | 1978-07-12 | 1984-10-29 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線像変換方法 |
| JPS5512429A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | Radioactive image reader |
| US4346295A (en) * | 1978-12-26 | 1982-08-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Radiation image read out device |
| US4415794A (en) * | 1981-03-16 | 1983-11-15 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Laser scanning method for annealing, glass flow and related processes |
| US4336154A (en) * | 1981-07-14 | 1982-06-22 | Kasei Optonix, Ltd. | Phosphor and radiation image storage panel utilizing the same |
| CA1192674A (en) * | 1981-10-16 | 1985-08-27 | Hisatoyo Kato | Radiation image recording and read-out system |
| JPS5883937A (ja) * | 1981-11-13 | 1983-05-19 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線画像情報読取方法 |
| JPH0685045B2 (ja) * | 1982-05-19 | 1994-10-26 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線画像情報変換方法および装置 |
-
1982
- 1982-10-20 JP JP57185086A patent/JPH0616155B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1983
- 1983-10-14 US US06/541,983 patent/US4654533A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-10-19 EP EP19830306365 patent/EP0109207B1/en not_active Expired
- 1983-10-19 DE DE8383306365T patent/DE3380969D1/de not_active Revoked
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0109207A3 (en) | 1984-07-11 |
| JPS5974545A (ja) | 1984-04-27 |
| US4654533A (en) | 1987-03-31 |
| EP0109207A2 (en) | 1984-05-23 |
| EP0109207B1 (en) | 1989-12-13 |
| DE3380969D1 (de) | 1990-01-18 |
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