JPS5974545A - 放射線画像読取方法 - Google Patents
放射線画像読取方法Info
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- JPS5974545A JPS5974545A JP57185086A JP18508682A JPS5974545A JP S5974545 A JPS5974545 A JP S5974545A JP 57185086 A JP57185086 A JP 57185086A JP 18508682 A JP18508682 A JP 18508682A JP S5974545 A JPS5974545 A JP S5974545A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- phosphor
- excitation light
- panel
- laser
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2012—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using stimulable phosphors, e.g. stimulable phosphor sheets
- G01T1/2014—Reading out of stimulable sheets, e.g. latent image
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B42/00—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
- G03B42/02—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、放射線画像システムにおける画像読取方法に
関し、さらに詳しくは、蓄積性螢光体材料（以下単に「
螢光体」という）を用いて、これに放射線画像を記録し
、この放射線画像を読み出して再生し、これを記録材料
に最終画像として記録する放射線画像システムにおける
画像読取方法に関するものである。
関し、さらに詳しくは、蓄積性螢光体材料（以下単に「
螢光体」という）を用いて、これに放射線画像を記録し
、この放射線画像を読み出して再生し、これを記録材料
に最終画像として記録する放射線画像システムにおける
画像読取方法に関するものである。
従来、放射線画像を得るために銀塩を使用した、いわゆ
る放射線写真が利用されているが、近年、特に地球規模
における銀資源の枯渇等の問題から銀塩を使用しないで
放射線像を画像化する方法が望まれるようになった。
る放射線写真が利用されているが、近年、特に地球規模
における銀資源の枯渇等の問題から銀塩を使用しないで
放射線像を画像化する方法が望まれるようになった。
上述の放射線写真法にかわる方法として、被写体を透過
した放射線を螢光体に吸収せしめ、しかる後この螢光体
をある種のエネルギーで励起してこの螢光体が蓄積して
いる放射線エネルギーを螢光として放射せしめ、この螢
光を検出して画像化する方法が考えられている。具体的
な方法として、例えば英国特許第１，４６２，７６９号
および特開昭５１−２９８８９号には螢光体として熱螢
光体を用い励起エネルギーとして熱エネルギーを用いて
放射線画像を変換する方法が提唱されている。この変換
方法は支持体上に熱螢光体層を形成したパネルを用い、
このパネルの熱螢光体層に被写体を透過した放射線を吸
収させて放射線の強弱に対応した放射線エネルギーを蓄
積させ、しかる後との熱螢光体層を加熱することによっ
て蓄積された放射線エネルギーを光の信号として取υ出
しこの光の強弱によって画像を得るものである。
した放射線を螢光体に吸収せしめ、しかる後この螢光体
をある種のエネルギーで励起してこの螢光体が蓄積して
いる放射線エネルギーを螢光として放射せしめ、この螢
光を検出して画像化する方法が考えられている。具体的
な方法として、例えば英国特許第１，４６２，７６９号
および特開昭５１−２９８８９号には螢光体として熱螢
光体を用い励起エネルギーとして熱エネルギーを用いて
放射線画像を変換する方法が提唱されている。この変換
方法は支持体上に熱螢光体層を形成したパネルを用い、
このパネルの熱螢光体層に被写体を透過した放射線を吸
収させて放射線の強弱に対応した放射線エネルギーを蓄
積させ、しかる後との熱螢光体層を加熱することによっ
て蓄積された放射線エネルギーを光の信号として取υ出
しこの光の強弱によって画像を得るものである。
一方、例えば米国特許第３，８５９，５２７号および特
開昭５５−１２１４４ 月には励起エネルギーとして可
視光線および赤外線から選ばれる電磁放射線を用いる放
射線画１峨変換方法が提唱されている。
開昭５５−１２１４４ 月には励起エネルギーとして可
視光線および赤外線から選ばれる電磁放射線を用いる放
射線画１峨変換方法が提唱されている。
さらに、これに関連して特開昭５５−１２４２９号には
Ｓ／Ｎ比を向上させる方法として前記励起光として６０
０〜７００ｎｔｎの波長域の光を用いて螢光体を励起し
、該螢光体の発光光のうち３００〜５００ｎｍの波長域
の光を光検出器で受光するようにした方法が提唱されて
いる。この方法は、上述の熱螢光体を用いる方法のよう
に蓄積された放射線エネルギーを光の信号に変える際に
加熱しなくてもよく、従ってパネルは耐熱性を有する必
要はなく、この点からより好ましい放射側画像変換方法
と言える。
Ｓ／Ｎ比を向上させる方法として前記励起光として６０
０〜７００ｎｔｎの波長域の光を用いて螢光体を励起し
、該螢光体の発光光のうち３００〜５００ｎｍの波長域
の光を光検出器で受光するようにした方法が提唱されて
いる。この方法は、上述の熱螢光体を用いる方法のよう
に蓄積された放射線エネルギーを光の信号に変える際に
加熱しなくてもよく、従ってパネルは耐熱性を有する必
要はなく、この点からより好ましい放射側画像変換方法
と言える。
しかし、励起エネルギーとして、６００〜７００ｎｍの
波長域の光を用いる方法は、励起光源としてＨｅ−Ｎｅ
レーザ光を用いた場合でも励起エネルギーが不充分であ
シ、励起光でパネル上を走査する場合、高速スキャンが
困難であるばかシでなく、さらにはパネルに像様に放射
線エネルギーを与える際の被写体に対する放射線量の低
減も充分とはいえない。また６００〜７００ｎｍによっ
て励起される領域のトラップは、比較的浅く、退行性（
フェーディング）現象の影響が大きく情報の長期間の保
存が困難である。さらに６００〜７００面の波長域の光
を励起光として用いた場合、励起された螢光の立上がシ
及び立下が９が、励起光の立上がシ、立下がりよりも遅
れる。これも、パネルを励起光で走査する場合の走査速
度の高速化を妨げている原因の１つである。
波長域の光を用いる方法は、励起光源としてＨｅ−Ｎｅ
レーザ光を用いた場合でも励起エネルギーが不充分であ
シ、励起光でパネル上を走査する場合、高速スキャンが
困難であるばかシでなく、さらにはパネルに像様に放射
線エネルギーを与える際の被写体に対する放射線量の低
減も充分とはいえない。また６００〜７００ｎｍによっ
て励起される領域のトラップは、比較的浅く、退行性（
フェーディング）現象の影響が大きく情報の長期間の保
存が困難である。さらに６００〜７００面の波長域の光
を励起光として用いた場合、励起された螢光の立上がシ
及び立下が９が、励起光の立上がシ、立下がりよりも遅
れる。これも、パネルを励起光で走査する場合の走査速
度の高速化を妨げている原因の１つである。
本発明は上記問題点を解決し、励起光の尚速スキャン、
及びそれに対応する画像の読取りスピードの高速化が可
能であり、かつ、螢光体に記録された画像の衰退が小さ
い実用的な放射線画像の読取方法を提供することを目的
とするものである。
及びそれに対応する画像の読取りスピードの高速化が可
能であり、かつ、螢光体に記録された画像の衰退が小さ
い実用的な放射線画像の読取方法を提供することを目的
とするものである。
本発明のかかる目的は蓄積性螢光体材料を励起光で走査
し、各点からの発光光を光検出器で検出することにより
蓄積性螢光体材料に記録されている放射線画像を読取る
方法において、前記励起光′−ンｌ として５１４．５ｎｍの発振波長を有するＡｒ レー
ザを用いて、蓄積性螢光体材料を励起し、該蓄積性螢光
体材料の発光光のうち、３００〜５００ｎｍの波長域の
光を光検出器で受光することを特徴とした放射線画像読
取方法によって達成されることを見い出した。
し、各点からの発光光を光検出器で検出することにより
蓄積性螢光体材料に記録されている放射線画像を読取る
方法において、前記励起光′−ンｌ として５１４．５ｎｍの発振波長を有するＡｒ レー
ザを用いて、蓄積性螢光体材料を励起し、該蓄積性螢光
体材料の発光光のうち、３００〜５００ｎｍの波長域の
光を光検出器で受光することを特徴とした放射線画像読
取方法によって達成されることを見い出した。
本発明において螢光体とは、最初の光もしくは高エネル
ギー放射線が照射された後に、光重、熱的、機械的、化
学的または電気的等の刺激によυ、最初の光もしくは高
エネルギー放射軸の照射量に対応した光を青発光せしめ
る、いわゆる輝尽性を示す螢光体をいう。ここで光とは
電磁放射線のうち可視光、紫外光、赤外光を含み、高エ
ネルギ一本発明においては、放射線画像読取方法に対し
螢光体に記録された放射線画像から実際の画像を高速で
読み出すことを実用上発明の目的の１つとして要求する
ものである。第１図は励起光パワーと螢光体からの発光
光即ち励起された輝尽螢光の光強度との関係を示すもの
である０この図から分るように励起光のパワーと輝尽螢
光は、はぼ比例関係にあることがわかる。すなわち、こ
の様な蓄口：（性螢光体す１゛、レーザパワーを大きく
することにより発光強厩も増加する。このため、例えば
）くネル上の放射線画像を読み取るに際し、１画累１０
μ就の走育速此を、決する場合、レーザノくワーを２倍
にすれはく １画素５牌の走査速度とすることが可能と
なり、読み出しスピードが２倍、すなわち、潜像から実
際の画像を得るのに要する時間も半減する。
ギー放射線が照射された後に、光重、熱的、機械的、化
学的または電気的等の刺激によυ、最初の光もしくは高
エネルギー放射軸の照射量に対応した光を青発光せしめ
る、いわゆる輝尽性を示す螢光体をいう。ここで光とは
電磁放射線のうち可視光、紫外光、赤外光を含み、高エ
ネルギ一本発明においては、放射線画像読取方法に対し
螢光体に記録された放射線画像から実際の画像を高速で
読み出すことを実用上発明の目的の１つとして要求する
ものである。第１図は励起光パワーと螢光体からの発光
光即ち励起された輝尽螢光の光強度との関係を示すもの
である０この図から分るように励起光のパワーと輝尽螢
光は、はぼ比例関係にあることがわかる。すなわち、こ
の様な蓄口：（性螢光体す１゛、レーザパワーを大きく
することにより発光強厩も増加する。このため、例えば
）くネル上の放射線画像を読み取るに際し、１画累１０
μ就の走育速此を、決する場合、レーザノくワーを２倍
にすれはく １画素５牌の走査速度とすることが可能と
なり、読み出しスピードが２倍、すなわち、潜像から実
際の画像を得るのに要する時間も半減する。
Ａｒ＋レーザはレーザパワーが最大出力４Ｗ程度であシ
、Ｈｅ −Ｎ ｅ Ｌ−’−ザ（最大出力５０ ｍ Ｗ
程度）に比較して、レーザパワーが大である。例えば２
００ｍＷのＡｒ レーザを励起光として用いた場合、
２０ｍＷのＨｅ −Ｎｅレーザを励起光として用いた場
合に比較して螢光体からの発光強度は約２５倍でありだ
。
、Ｈｅ −Ｎ ｅ Ｌ−’−ザ（最大出力５０ ｍ Ｗ
程度）に比較して、レーザパワーが大である。例えば２
００ｍＷのＡｒ レーザを励起光として用いた場合、
２０ｍＷのＨｅ −Ｎｅレーザを励起光として用いた場
合に比較して螢光体からの発光強度は約２５倍でありだ
。
すなわちＡｒ レーザはパワーの最大値が、Ｈｅ −
Ｎｅレーザに比較してはるかに大きく、ノぐネル力・ら
の輝尽螢光は非常に強い範囲まで得ることができる。こ
のため励起光でパネル上を走査する際に高速スキャンが
可能となる。
Ｎｅレーザに比較してはるかに大きく、ノぐネル力・ら
の輝尽螢光は非常に強い範囲まで得ることができる。こ
のため励起光でパネル上を走査する際に高速スキャンが
可能となる。
さらに、励起光のパワーと発光強度が比例関係にあるこ
とからレーザパワーを増すことによ）、放射線量を低減
することが可能である０人体に照射する放射線量が低減
可能であることは、人体に対する放射線障害の軽減にも
太いに役立ち非常に有用である。
とからレーザパワーを増すことによ）、放射線量を低減
することが可能である０人体に照射する放射線量が低減
可能であることは、人体に対する放射線障害の軽減にも
太いに役立ち非常に有用である。
また同一のパネルを反復して使用する場合に蓄積された
放射線エネルギーを螢光として放出させるだめの励起光
強度が弱かつたり、あるいは、励起光波長が不適当であ
ると、放射線エネルギーは完全にパネルから消去されず
、その一部が残留する。この残留した放射線エネルギー
がそれ以後の放射線画像変換におけるノイズとして加わ
り、得られる画像の画質が著しく悪化する。このためノ
（ネルに放射線を照射する工程の前に、励起光波長領域
に含まれる光で、）くネルに残留していてノイズの原因
となる放射線エネルギーを除去しなければならない。し
かし、Ａｒ＋レーザのようなパワーの大きな励起光を用
いる場合、パネルを反復して使用しても、ノイズとなる
放射線エネルギーは既に充分に消去され残留していない
。このため、放射線を照射する前に励起光を照射する必
要はなく、しかも画質は良好に保つことができる。
放射線エネルギーを螢光として放出させるだめの励起光
強度が弱かつたり、あるいは、励起光波長が不適当であ
ると、放射線エネルギーは完全にパネルから消去されず
、その一部が残留する。この残留した放射線エネルギー
がそれ以後の放射線画像変換におけるノイズとして加わ
り、得られる画像の画質が著しく悪化する。このためノ
（ネルに放射線を照射する工程の前に、励起光波長領域
に含まれる光で、）くネルに残留していてノイズの原因
となる放射線エネルギーを除去しなければならない。し
かし、Ａｒ＋レーザのようなパワーの大きな励起光を用
いる場合、パネルを反復して使用しても、ノイズとなる
放射線エネルギーは既に充分に消去され残留していない
。このため、放射線を照射する前に励起光を照射する必
要はなく、しかも画質は良好に保つことができる。
第２図は励起光の波長によって螢光体に蓄積されたエネ
ルギーの衰退量（Ｄｅｃａｙ ）が変化する様子を示し
たもので、具体的には、複数枚のパネルを同時にＸ線照
射してから、その直後に励起発光させた輝尽螢光を基準
とし、暗中にて、各時間放置した後に所定波長の励起光
にて励起して発光させたときの発光強度の衰退する様子
を示すものである。励起光として５１４．５ｎｍのＡｒ
＋レーザを用いると、驚くべきことに６００〜ｇ００ｎ
ｍの波長域の光を用いたときよりも、発光強度の衰退量
が小さくなり２〜３時間程度でｌ牙とんど衰退がなくな
る。すなわち退行性現象が大いに改善される。従りて励
起光としてＡｔ＋レーザを用いると螢光体上の記録を長
期間保存することができる。
ルギーの衰退量（Ｄｅｃａｙ ）が変化する様子を示し
たもので、具体的には、複数枚のパネルを同時にＸ線照
射してから、その直後に励起発光させた輝尽螢光を基準
とし、暗中にて、各時間放置した後に所定波長の励起光
にて励起して発光させたときの発光強度の衰退する様子
を示すものである。励起光として５１４．５ｎｍのＡｒ
＋レーザを用いると、驚くべきことに６００〜ｇ００ｎ
ｍの波長域の光を用いたときよりも、発光強度の衰退量
が小さくなり２〜３時間程度でｌ牙とんど衰退がなくな
る。すなわち退行性現象が大いに改善される。従りて励
起光としてＡｔ＋レーザを用いると螢光体上の記録を長
期間保存することができる。
第３図は点線で示す短形波状に強度を変化する励起光を
照射したときの応答性を示すものである０実線で示す曲
線Ａは、螢光体をＨｅ−Ｎｅレーザ光で励起したときの
発光強度をまた、曲線Ｂは、同一の螢光体をＡｒ＋レー
ザ光で励起したときの発光強度を示す。このグラフから
れかるように、励起光として卯μＢパルス幅のＨｅ −
Ｎｅレーザ光を照射した場合、輝尽螢光の立上シ立下υ
は、約５〜６μＳである。しかし、励起光としてＡｒ＋
レーザ光を用いた場合、立上シ立下シは僅かに１μＳ前
後となシ応答性が改善される。このため、例えはパネル
をスポット径が１００μｍ程度レーザビームで走査する
場合、Ｈｅ −Ｎｅレーザでは、１画素５μ８以下の走
査速度で走査することは、困難であるがＡｒ”レーザで
はこれが可能となる。
照射したときの応答性を示すものである０実線で示す曲
線Ａは、螢光体をＨｅ−Ｎｅレーザ光で励起したときの
発光強度をまた、曲線Ｂは、同一の螢光体をＡｒ＋レー
ザ光で励起したときの発光強度を示す。このグラフから
れかるように、励起光として卯μＢパルス幅のＨｅ −
Ｎｅレーザ光を照射した場合、輝尽螢光の立上シ立下υ
は、約５〜６μＳである。しかし、励起光としてＡｒ＋
レーザ光を用いた場合、立上シ立下シは僅かに１μＳ前
後となシ応答性が改善される。このため、例えはパネル
をスポット径が１００μｍ程度レーザビームで走査する
場合、Ｈｅ −Ｎｅレーザでは、１画素５μ８以下の走
査速度で走査することは、困難であるがＡｒ”レーザで
はこれが可能となる。
また、励起光の反射光と輝尽螢光の分離に関しては、輝
尽螢光を短波長側に励起光を長波長側にと９、かつ光検
出器の前面に輝尽螢光の波長域だけを通すフィルターを
配することによってＳ／Ｎ比の低下を防ぐことができる
。
尽螢光を短波長側に励起光を長波長側にと９、かつ光検
出器の前面に輝尽螢光の波長域だけを通すフィルターを
配することによってＳ／Ｎ比の低下を防ぐことができる
。
輝尽螢光の波長３００〜５００ｎｍはこの波長域の光を
放出する螢光体を選択することによシあるいは、この波
長域にピークを有する螢光体を使用することにより得ら
れる。しかし螢光体が、上記波長域の光を放出しても光
検出器が、その波長域以外の光をも測定してしまえばＳ
／Ｎ比は極端に低下する。このためには３００〜５００
ｎｍの波長域に少くとも感度を有する光検出器を用い、
かつ、その前面に輝尽螢光の波長域だけを通すフィルタ
ーを配することが必要である。
放出する螢光体を選択することによシあるいは、この波
長域にピークを有する螢光体を使用することにより得ら
れる。しかし螢光体が、上記波長域の光を放出しても光
検出器が、その波長域以外の光をも測定してしまえばＳ
／Ｎ比は極端に低下する。このためには３００〜５００
ｎｍの波長域に少くとも感度を有する光検出器を用い、
かつ、その前面に輝尽螢光の波長域だけを通すフィルタ
ーを配することが必要である。
上記３００〜５００ｎｍの波長域の光を発光する螢光体
としては、一般式（Ｉ） 、（ＩＩ）で表される螢光体
および次に列挙する螢光体等があるが本発明に用いる螢
光体は、これに限定されるものではない。
としては、一般式（Ｉ） 、（ＩＩ）で表される螢光体
および次に列挙する螢光体等があるが本発明に用いる螢
光体は、これに限定されるものではない。
一般式（１） ｎＲｅＦ３ ・ｍＡＸｚ ／Ｅｕｚ一
般式（ＩＩ） ｎＲｅＦｓ ＊ ｍＡＸｚ ／Ｅｕ）
（ｅ Ｓｍｙ式中、ＲｅはＬａＸＧｄ、Ｙ、Ｌｕの少く
とも一種、Ａはアルカリ土類金属、Ｂａ、 Ｓｒ、 Ｃ
ａ の少くとも一種、ＸはＦ、ＣＩ、Ｂｒの少くとも
一種、Ｘは１×１０−４〜１、”ＡｎハＩ Ｘ １０
”〜７ Ｘ １０ ’ ヲ表ｆｙす０ ＬａＯＢｒ −−−−、Ｃｅ ＠ Ｔｂ 、 ＳｒＳ
： Ｃｅ ＠ Ｓｍ ％ＳｒＳ ： Ｃｅ Ｓ、Ｂｉ
％ ＢａＯ＊ ５ｉ０２： Ｃｅ 。
般式（ＩＩ） ｎＲｅＦｓ ＊ ｍＡＸｚ ／Ｅｕ）
（ｅ Ｓｍｙ式中、ＲｅはＬａＸＧｄ、Ｙ、Ｌｕの少く
とも一種、Ａはアルカリ土類金属、Ｂａ、 Ｓｒ、 Ｃ
ａ の少くとも一種、ＸはＦ、ＣＩ、Ｂｒの少くとも
一種、Ｘは１×１０−４〜１、”ＡｎハＩ Ｘ １０
”〜７ Ｘ １０ ’ ヲ表ｆｙす０ ＬａＯＢｒ −−−−、Ｃｅ ＠ Ｔｂ 、 ＳｒＳ
： Ｃｅ ＠ Ｓｍ ％ＳｒＳ ： Ｃｅ Ｓ、Ｂｉ
％ ＢａＯ＊ ５ｉ０２： Ｃｅ 。
ＢａＯ・６Ａｔ２０３ ： Ｅｕ 。
（０，９Ｚｎ 、 ０．ＩＣａ ）Ｓ ： Ａｇ ％Ｂ
ａＦＢｒ ： Ｅｕ ＸＢａＦＣ４： Ｅｕ等。
ａＦＢｒ ： Ｅｕ ＸＢａＦＣ４： Ｅｕ等。
第４図に、これに用いるフィルター例えばＢＧ−３（ス
ペクトロフィルム社製）の透過率のスペクトルの一例を
示す。このフィルターは５１４．５ｎｍの励起光の透過
はほとんどなく、輝尽螢光と、励起光の分離はこのフィ
ルターを使用することによって達成される。すなわち、
読取９段階において、励起光は輝尽螢光中に障害となる
様なノイズとして含まれることがなく励起光の波長域が
６００ｎｍ以上の場合に比較してＳ／Ｎ比が低下するこ
とはない０ ある。放射線源例えばＸ線管からＸ線を放射して人体に
照射するとＸ線は像様強弱パターンとなってパネルに入
射する。該パネルは螢光体のトラップレベルに放射線（
Ｘ線）のエネルギーを像様に蓄積する（放射線画像撮影
）。
ペクトロフィルム社製）の透過率のスペクトルの一例を
示す。このフィルターは５１４．５ｎｍの励起光の透過
はほとんどなく、輝尽螢光と、励起光の分離はこのフィ
ルターを使用することによって達成される。すなわち、
読取９段階において、励起光は輝尽螢光中に障害となる
様なノイズとして含まれることがなく励起光の波長域が
６００ｎｍ以上の場合に比較してＳ／Ｎ比が低下するこ
とはない０ ある。放射線源例えばＸ線管からＸ線を放射して人体に
照射するとＸ線は像様強弱パターンとなってパネルに入
射する。該パネルは螢光体のトラップレベルに放射線（
Ｘ線）のエネルギーを像様に蓄積する（放射線画像撮影
）。
次いで５１４．５ｎｍの発振波長を有するＡｒ＋レーザ
スポットで前記像様に放射線エネルギーを蓄積したパネ
ルを走査し、該エネルギーをトラップから励起し、３０
０〜５００ｎｍの励起光を発生せしめる。
スポットで前記像様に放射線エネルギーを蓄積したパネ
ルを走査し、該エネルギーをトラップから励起し、３０
０〜５００ｎｍの励起光を発生せしめる。
この励起光はこの波長域を選択的に受光するように肌え
た光検゛出器例えば光電子増倍管、フォトダイオード等
で検出、測定される（放射線ｒＪＭ像読取）、続いて前
記光検出器からの出力信号は増幅、フィルタリングされ
てからレベル変換される。前記フィルタリングによりて
雑音を除去し所定の解像力をうるために所定帯域以上の
信号をカットする。
た光検゛出器例えば光電子増倍管、フォトダイオード等
で検出、測定される（放射線ｒＪＭ像読取）、続いて前
記光検出器からの出力信号は増幅、フィルタリングされ
てからレベル変換される。前記フィルタリングによりて
雑音を除去し所定の解像力をうるために所定帯域以上の
信号をカットする。
例えば４０ Ｘ ４０ ｃｗｔのパネルを１００μ径の
スポットで約５分で走査するとすれば、１画素当、Ｄ
２０μ秒となるから増幅帯域は５０ＫＨｚあれば充分で
あシ、それ以上の帯域はカットされる。
スポットで約５分で走査するとすれば、１画素当、Ｄ
２０μ秒となるから増幅帯域は５０ＫＨｚあれば充分で
あシ、それ以上の帯域はカットされる。
また雑音を減す手立てとして、画素毎に出力信号を積分
する方法或は出力信号を対数変換し信号このようにして
増幅された出力信号は、観察画像部分に良好なコントラ
ストを与え或は鮮鋭度を向上させるためにレベル変換さ
れる（画像処理）。
する方法或は出力信号を対数変換し信号このようにして
増幅された出力信号は、観察画像部分に良好なコントラ
ストを与え或は鮮鋭度を向上させるためにレベル変換さ
れる（画像処理）。
以上のように処理された光検出器からの出力信号（電気
信号）はブラウン管等の光走査装置に送られ親類に供せ
られる（放射線画像再生）。あるいは更に適尚な記録材
料に該再生画像が記録される（放射線画像記録）０ 第６図に本発明に使用するパネルの構成の１例を示す。
信号）はブラウン管等の光走査装置に送られ親類に供せ
られる（放射線画像再生）。あるいは更に適尚な記録材
料に該再生画像が記録される（放射線画像記録）０ 第６図に本発明に使用するパネルの構成の１例を示す。
１０はパネル、１１は支持体、１２は支持体１１上に塗
設された螢光体層である。パネル１０は一般に四ツ切或
は半切の大きさが用いられる。
設された螢光体層である。パネル１０は一般に四ツ切或
は半切の大きさが用いられる。
支持体としては、ポリエチレン等の合成樹脂シート、ア
ルミニウム等の金属薄板、ガラス板等が使用され厚みは
実用的見地から定めることができる。まだ透明セあって
も不透明であっても、輝尽螢光の測定位置を変えること
によって自由に使用可能である。
ルミニウム等の金属薄板、ガラス板等が使用され厚みは
実用的見地から定めることができる。まだ透明セあって
も不透明であっても、輝尽螢光の測定位置を変えること
によって自由に使用可能である。
塗設する螢光体としては３００〜５００ｎｍの輝尽螢光
波長域をもつ前記螢光体が使用される。
波長域をもつ前記螢光体が使用される。
これらの中から選ばれた螢光体をノくインダーと共に５
０〜１０００μｍの厚みに塗設する。
０〜１０００μｍの厚みに塗設する。
次に第７図は放射線画像読取装置を示すものである。励
起光源としてＡｒ＋レーザ（５１４，５ｎｍ ）を用い
る。
起光源としてＡｒ＋レーザ（５１４，５ｎｍ ）を用い
る。
Ａｒ＋レーザ光源１４から放射された５１４．５ｎｍの
励起光はハーフミラ−１５を透過しノくネル１０に入射
する。該励起光はフライングスポットとして螢光体層１
２を走査するが、現時技術ではスポット径を５０μｍ以
下にすることは困難であシ、また３００μｍ以上では解
像力が劣化するので５０〜３００μｍのスポラ１ト径で
あることが好ましい。
励起光はハーフミラ−１５を透過しノくネル１０に入射
する。該励起光はフライングスポットとして螢光体層１
２を走査するが、現時技術ではスポット径を５０μｍ以
下にすることは困難であシ、また３００μｍ以上では解
像力が劣化するので５０〜３００μｍのスポラ１ト径で
あることが好ましい。
前記励起光で励起された螢光体は像様に蓄積している放
射線エネルギーを３００〜５００ｎｍの輝尽螢光として
放射する。この輝尽螢光はノ・−フミラー１５で反射さ
れ、フィルター■７で３００〜５００１１ｒｎ波長域外
の混入光もしくは迷光をカットされ、光検出器１８に入
シ検出、測定される。
射線エネルギーを３００〜５００ｎｍの輝尽螢光として
放射する。この輝尽螢光はノ・−フミラー１５で反射さ
れ、フィルター■７で３００〜５００１１ｒｎ波長域外
の混入光もしくは迷光をカットされ、光検出器１８に入
シ検出、測定される。
螢光体層１２は励起光の一部を反射し、且つ励起光は輝
尽螢光に比べ相当強いので該反射光を完全にカットして
Ｓ／Ｎ比を良好に保つことに行に留意しなければならな
い。本発明に於ては前記した螢光体を選定することによ
って輝尽螢光と励起光の波長スペクトルの１畳を回避す
ることと、前記透過波長域を有するフィルターを用いる
ことによシ励起光による擾乱を完全に防止している。
尽螢光に比べ相当強いので該反射光を完全にカットして
Ｓ／Ｎ比を良好に保つことに行に留意しなければならな
い。本発明に於ては前記した螢光体を選定することによ
って輝尽螢光と励起光の波長スペクトルの１畳を回避す
ることと、前記透過波長域を有するフィルターを用いる
ことによシ励起光による擾乱を完全に防止している。
以上説明した如く、本発明においては、励起光として５
１４．５ ｎｍの発振波長を肩するＡｒ＋レーザを用い
ることによ９次の効果がある。
１４．５ ｎｍの発振波長を肩するＡｒ＋レーザを用い
ることによ９次の効果がある。
（１）Ａｒレーザは、パワーが大である為パネルを励起
光で走査する場合、高速でスキャンすることができ、読
み出しスピードが向上する。
光で走査する場合、高速でスキャンすることができ、読
み出しスピードが向上する。
（２） Ａｒレーザはパワーが大である為、照射する
放射線蓋を低減することができる。
放射線蓋を低減することができる。
（３）経時による螢光体に蓄積されたエネルギーの退行
現象（フエーデング）が少なくなりパネル上の記録画像
を高い輝尽螢光強度で長期間保存することができる。
現象（フエーデング）が少なくなりパネル上の記録画像
を高い輝尽螢光強度で長期間保存することができる。
（４） Ａｒ＋レーザ（５１４，５ｎｍ ）は可視光で
あるから、通常の可視光用光学素子を使用することがで
きる。また、装置の調整が容易である。
あるから、通常の可視光用光学素子を使用することがで
きる。また、装置の調整が容易である。
前記したような効果を活用することによシ本発明の目的
は完全に達成できる。
は完全に達成できる。
次に実施例および比較例を用いて本発明を説明する。
実施例１
エチルを等量混合した溶剤を用いて分散させ、これをポ
リエチレンテレフタレート基板上にワイヤバーを用いて
塗布してパネルを作成した。
リエチレンテレフタレート基板上にワイヤバーを用いて
塗布してパネルを作成した。
このパネルの螢光体層の乾ｋｌ摸厚は、約３００μｍで
あった。
あった。
このパネルに管電圧８０ＫＶＰのＸ １Ｎを照射した後
第５．ξγ図に示した装置を用いて、螢光体層よシ、放
射される輝尽螢光を検出した。すなわち、励起光として
１０ ｍＷのＡｒ＋レーザ光（５１４，５ｎｍ ）を用
い４牌間螢光体を励起した。第８図はこのときの輝尽螢
光のスペクトルを示すものである。
第５．ξγ図に示した装置を用いて、螢光体層よシ、放
射される輝尽螢光を検出した。すなわち、励起光として
１０ ｍＷのＡｒ＋レーザ光（５１４，５ｎｍ ）を用
い４牌間螢光体を励起した。第８図はこのときの輝尽螢
光のスペクトルを示すものである。
第８図から明らかな様に本螢光体の発光スベクトルはお
よそ３９０ｎｍにピークを有する。これよシ光電子増倍
宜前面に第４図に示した透過スペクトルを有する＃ｌｌ
先光カットフィルター用いて励起光と月【尽螢光を分離
することが、容易となシ高いＳ／Ｎ比で輝尽螢光を検出
することができた。
よそ３９０ｎｍにピークを有する。これよシ光電子増倍
宜前面に第４図に示した透過スペクトルを有する＃ｌｌ
先光カットフィルター用いて励起光と月【尽螢光を分離
することが、容易となシ高いＳ／Ｎ比で輝尽螢光を検出
することができた。
芒らに、前記パネルを１０ ｍＷ Ａｒ＋レーザで走査
する場曾４０ Ｘ ４０ ｃｍの大きさのパネルを約２
０就で走査し良好な画像を得ることができた。
する場曾４０ Ｘ ４０ ｃｍの大きさのパネルを約２
０就で走査し良好な画像を得ることができた。
尚、第９図に、本螢光体に同様に管電圧８０ＫＶＰのＸ
＃を照射した後波長の異なる光エネルギーを照射した場
合の輝尽による発光強度と励起光波長との関係を示した
もの、すなわち、輝尽の励起スペクトルを示す。この様
に輝尽励起スペクトルのピークが、５００ｎｍ付近に存
在する様な螢光体の場合、発振波長５１４．５ｎｍのＡ
ｒレーザを励起光として用いることは、その励起効率か
らも特に有効である０ 比較例１ 実施例１と同じパネルを用いて管電圧８０ ＫＶＰのＸ
線を照射した後５ ｍＷのＨｅ −Ｎｅレーザ光（６３
２，８ｎｍ ）を用い４μ就間螢光体を励起した。光電
子増倍管前面に励起光カットフィルターを用いて発光光
を検出したが発光強度は、実施例１の約Ａであった。
＃を照射した後波長の異なる光エネルギーを照射した場
合の輝尽による発光強度と励起光波長との関係を示した
もの、すなわち、輝尽の励起スペクトルを示す。この様
に輝尽励起スペクトルのピークが、５００ｎｍ付近に存
在する様な螢光体の場合、発振波長５１４．５ｎｍのＡ
ｒレーザを励起光として用いることは、その励起効率か
らも特に有効である０ 比較例１ 実施例１と同じパネルを用いて管電圧８０ ＫＶＰのＸ
線を照射した後５ ｍＷのＨｅ −Ｎｅレーザ光（６３
２，８ｎｍ ）を用い４μ就間螢光体を励起した。光電
子増倍管前面に励起光カットフィルターを用いて発光光
を検出したが発光強度は、実施例１の約Ａであった。
さらに前記螢光体を５ ｍＷのＨｅ −Ｎｅレーザ光（
６３２，８ｎｍ ）で走査する場合、４０ Ｘ ４０副
の大きさのパネルを走査し、実施例１と同程度の画質の
画像を得るのに約１ ｍｉｎ＠賛した。
６３２，８ｎｍ ）で走査する場合、４０ Ｘ ４０副
の大きさのパネルを走査し、実施例１と同程度の画質の
画像を得るのに約１ ｍｉｎ＠賛した。
第１図は、励起光レーザパワーと発光光強度を示すグラ
フ、第２図は励起光波長とフェーディング率を示すグラ
フ第３図は、螢光体の応答性を示すグ：１７７、第４図
は励起光カットフィルターの透過率スペクトルを示す特
性図、第５図は本発明の放射線写真法を示すフローチャ
ート、第６図は蓄積性螢光体板の断面図、第７図は読取
装置の側面図、第８図はＢａＦＢｒ ： Ｅｕの輝尽発
光スペクトルの特性を示すグラフ、第９図は、ＢａＦＢ
ｒ ：Ｅｕの輝尽励起スペクトルを示すグラフである０
１０・・・・・・・・・蓄積性螢光体板１１・・・・・
・・・・支持体 Ｊ２・・・・・・・・・蓄積ａ螢光体層１４・・・・・
・・・・Ａｔ＋レーザ光源１５・・・・・・・・・ハー
フミラ− １’／・・・・・・・・・ フィルター１８・・・・・
・・・・光検出器 代理人 桑 原 義 １０ し−プパヮー（ｆｒＬｗン 筋２０ 晴間（ｈｒン ６５図 ０ ５０ 時 間 （１５ごＣ） 手続補正書 昭和５９年１月１８日 特許庁長官若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第 １８５０８６ 号２、発明の名
称 放射線画像読取方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都新宿区西新宿１丁目２６番２号名 称
（１２７１小西六写真工業株式会社明細書の「特許請
求の範囲」の欄及び「発明の詳細な説明−１の榴 ７、 補正の内容 （１）特許請求の範囲を別紙の如く補正する。 （２）発明の詳細な説明を次の如く補正する。 別 紙 特許請求の範囲 蓄積性螢光体材料を励起光で走査し、各点からの発光光
を光検出器で検出することにより蓄積性螢光体材料に記
録されている放射線画像を読取る方法において、前記励
起光と１−て、５１４．５ ｎｍの発振波長を有するＡ
ｒ＋レーザな用いて蓄積性を光体材料を励起し、該蓄積
性螢光体材料の発光光のうち３００〜５００ ｎｍの波
長域の光を３Ｙｌ、検出器で受光することを特徴とする
放射線画像読取方法。
フ、第２図は励起光波長とフェーディング率を示すグラ
フ第３図は、螢光体の応答性を示すグ：１７７、第４図
は励起光カットフィルターの透過率スペクトルを示す特
性図、第５図は本発明の放射線写真法を示すフローチャ
ート、第６図は蓄積性螢光体板の断面図、第７図は読取
装置の側面図、第８図はＢａＦＢｒ ： Ｅｕの輝尽発
光スペクトルの特性を示すグラフ、第９図は、ＢａＦＢ
ｒ ：Ｅｕの輝尽励起スペクトルを示すグラフである０
１０・・・・・・・・・蓄積性螢光体板１１・・・・・
・・・・支持体 Ｊ２・・・・・・・・・蓄積ａ螢光体層１４・・・・・
・・・・Ａｔ＋レーザ光源１５・・・・・・・・・ハー
フミラ− １’／・・・・・・・・・ フィルター１８・・・・・
・・・・光検出器 代理人 桑 原 義 １０ し−プパヮー（ｆｒＬｗン 筋２０ 晴間（ｈｒン ６５図 ０ ５０ 時 間 （１５ごＣ） 手続補正書 昭和５９年１月１８日 特許庁長官若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第 １８５０８６ 号２、発明の名
称 放射線画像読取方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都新宿区西新宿１丁目２６番２号名 称
（１２７１小西六写真工業株式会社明細書の「特許請
求の範囲」の欄及び「発明の詳細な説明−１の榴 ７、 補正の内容 （１）特許請求の範囲を別紙の如く補正する。 （２）発明の詳細な説明を次の如く補正する。 別 紙 特許請求の範囲 蓄積性螢光体材料を励起光で走査し、各点からの発光光
を光検出器で検出することにより蓄積性螢光体材料に記
録されている放射線画像を読取る方法において、前記励
起光と１−て、５１４．５ ｎｍの発振波長を有するＡ
ｒ＋レーザな用いて蓄積性を光体材料を励起し、該蓄積
性螢光体材料の発光光のうち３００〜５００ ｎｍの波
長域の光を３Ｙｌ、検出器で受光することを特徴とする
放射線画像読取方法。
Claims (1)
- 蓄積性螢光体材料を励起光で走査し、各点からの発光光
を光検出器で検出することによシ蓄積性螢光材料に記録
されている放射線画像を読取る方法において、前記励起
光として、５１４．５ｎｍの発振波長を有するＡｒ＋レ
ーザを用いて蓄積性螢光体材料を励起し、該蓄積性螢光
体材料の発光光のうち３００〜５０諜波長域の光を光検
出器で受光することを特徴とする放射線画像読取方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185086A JPH0616155B2 (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 放射線画像読取方法 |
| US06/541,983 US4654533A (en) | 1982-10-20 | 1983-10-14 | Method for reading out a radiographic image |
| EP19830306365 EP0109207B1 (en) | 1982-10-20 | 1983-10-19 | Method for reading out a radiographic image |
| DE8383306365T DE3380969D1 (de) | 1982-10-20 | 1983-10-19 | Verfahren zum auslesen von radiographischen bildern. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185086A JPH0616155B2 (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 放射線画像読取方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5974545A true JPS5974545A (ja) | 1984-04-27 |
| JPH0616155B2 JPH0616155B2 (ja) | 1994-03-02 |
Family
ID=16164578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57185086A Expired - Lifetime JPH0616155B2 (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 放射線画像読取方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4654533A (ja) |
| EP (1) | EP0109207B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0616155B2 (ja) |
| DE (1) | DE3380969D1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59109000A (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-23 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線像変換方法 |
| JPS59108999A (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-23 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線像変換方法 |
| IT1229159B (it) | 1989-04-07 | 1991-07-22 | Minnesota Mining & Mfg | Metodo per registrare e riprodurre l'immagine di una radiazione, pannello e fosfori per la memorizzazione dell'immagine di una radiazione. |
| US5045707A (en) * | 1989-08-16 | 1991-09-03 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Laser detection and discrimination system |
| US5483218A (en) * | 1992-12-24 | 1996-01-09 | Roosa; Michael J. | Electronic system for activating a mechanical fire siren |
| JP2004170616A (ja) * | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線像読取装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5512144A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | Conversion of radiation image |
| JPS58200270A (ja) * | 1982-05-19 | 1983-11-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像情報変換方法および装置 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3859527A (en) * | 1973-01-02 | 1975-01-07 | Eastman Kodak Co | Apparatus and method for producing images corresponding to patterns of high energy radiation |
| JPS5833840B2 (ja) * | 1975-11-10 | 1983-07-22 | 富士写真フイルム株式会社 | レ−ザキロクホウホウ オヨビ ソウチ |
| JPS5512429A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | Radioactive image reader |
| US4346295A (en) * | 1978-12-26 | 1982-08-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Radiation image read out device |
| US4415794A (en) * | 1981-03-16 | 1983-11-15 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Laser scanning method for annealing, glass flow and related processes |
| US4336154A (en) * | 1981-07-14 | 1982-06-22 | Kasei Optonix, Ltd. | Phosphor and radiation image storage panel utilizing the same |
| CA1192674A (en) * | 1981-10-16 | 1985-08-27 | Hisatoyo Kato | Radiation image recording and read-out system |
| JPS5883937A (ja) * | 1981-11-13 | 1983-05-19 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線画像情報読取方法 |
-
1982
- 1982-10-20 JP JP57185086A patent/JPH0616155B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1983
- 1983-10-14 US US06/541,983 patent/US4654533A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-10-19 DE DE8383306365T patent/DE3380969D1/de not_active Revoked
- 1983-10-19 EP EP19830306365 patent/EP0109207B1/en not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5512144A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | Conversion of radiation image |
| JPS58200270A (ja) * | 1982-05-19 | 1983-11-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像情報変換方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3380969D1 (de) | 1990-01-18 |
| EP0109207A2 (en) | 1984-05-23 |
| JPH0616155B2 (ja) | 1994-03-02 |
| US4654533A (en) | 1987-03-31 |
| EP0109207A3 (en) | 1984-07-11 |
| EP0109207B1 (en) | 1989-12-13 |
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