JPS62110124A - 放射線画像情報読取装置 - Google Patents

放射線画像情報読取装置

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JPS62110124A
JPS62110124A JP25148885A JP25148885A JPS62110124A JP S62110124 A JPS62110124 A JP S62110124A JP 25148885 A JP25148885 A JP 25148885A JP 25148885 A JP25148885 A JP 25148885A JP S62110124 A JPS62110124 A JP S62110124A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 本発明は蛍光体、特に輝尽性蛍光体からの発光を検出す
るための光検出器、及び該光検出器を含む蛍光検出装置
に関する。
し発明の背景] 蛍光体は電磁波等による刺激を受けた時に一種のルミネ
ッセンス光、即ち蛍光を発する材料であるが、刺激を与
える電磁波とそれによって発生する蛍光とは波長が異な
るのが常である。
また蛍光体の一種に、与えられた電@波エネルギーを一
旦蓄積し、後刻別の波長の光で照射されると前に蓄積し
たエネルギーを蛍光として放出し発光するらのがある。
こうした現象は輝尽発光と言われ、輝尽発光を示す蛍光
体を輝尽性蛍光体、輝尽発光を起こさせるための光を輝
尽励起光と呼んでいる。 輝尽性蛍光体は輝尽励起光で
照射された時蓄h!tエネルギーに応じた強度の蛍光を
発することから、各種の電磁波、例えばX線等の放射線
を蛍光に変換して測定することか可能であり、そのため
の蛍光検出装置が開発されている。
[発明か解決しようとする問題点] 1111記のような蛍光検出装置においては、輝尽発光
光が微弱であり、また検出すべき輝尽発光光以外の光、
例えば輝尽発光を起こさせるため照射される輝尽励起光
等がノイズとして検出されてS/N比向ヒの大きな妨げ
となっていた。この対策として従来輝尽発光光の波長域
の透過率が輝尽励起光の波長域のJpJ過率よりも大き
い光学フィルターを光検出器までの光路に挿入すること
によって輝尽励起光の入射を抑えS/11比を高める方
法がとられしかしながら輝尽発光光は輝尽励起光にくら
べて数桁ら微弱な信号であって、発光効率の良い輝尽発
光性材料を選んだ場合にあっても10mWの輝尽励起光
に対し得られる輝尽発光はl、gW足らずのものである
。このため高いS/N比の情報を得るためには輝尽発光
光を効率良く集めろことが最ら重要であり、たとえ輝尽
励起光を減衰させS/N比を向−にさけるために挿入し
たフィルターでら、輝尽発光光を多少とも減衰さu1信
号検出レベルを低下さlて読み出された再生情報劣化の
原因となっていた。
本発明の目的は前記のような従来の検出装置に比べ、検
出の対象である輝尽発光光の減衰が小さく、輝尽励起光
等の検出対象外の光に対する感度の低い、S/N比の極
めて高い光検出器及び該光検出器をfflいノこ蛍光検
出装置を提fluすることにある。
[問題点を解決4”るための手段] +iif記の目的は、検出の対象である第1の波長域の
光に対するI)71記検出器の感度S1と、検出の対象
lJ1プに1幀1^パ1!ビは円h1小惰ワ小りI+巨
17S小↓ノー対する感度S2の比S1/S2が1より
大なることを特徴とする光検出器によって達成された。
ここに81は検出すべき先の波長分布半値幅内における
検出器の分光感度を積分して得られた値、S2は検出対
象外の波長域のノイズとなる光の波長分布半値幅内にお
ける検出器の分光感度を積分して得られた値をそれぞれ
意味している。分光感度は検出器が受光した特定の波長
光強度(II)当たりの該検出器の出力(m^)によっ
て定められる値である。
前記S1/S2比の大きな検出器を用いることによりノ
イズとなる検出対象外の光を減衰するための光学フィル
ターによる検出対象光の減衰を避けて高いS/N比の光
信号を検出することが可能となる。
S1/S2比は1以上、好ましくは!03以−ヒである
が、104以−1−とすることが特に好ましい。
また、本光検出器を輝尽発光光の検出に使用する場合に
は、11を記事1の波長域を輝尽蛍光体の発する先の波
長を含む波長域とし、前記第2の波長域を輝尽励起光の
波長を含む波長域とすることが好ましく、具体的には第
1の波長域を300〜45Qr+mの領域を含むしのと
し、第2の波長域を500nm以上の領域を含むしのと
することが好ましい。
即ち輝尽励起光に対する感度に比べて、輝尽発光光に対
する感度の極めて高い光検出器を用いることによりフィ
ルターに負う部分を軽減し検出信号レベルを減衰させず
、高S/N比の信号検出を行うことができる。
以下本発明の内容を図面を用いて説明する。
第1図は本発明による光検出器を有する蛍光画像読取の
ための蛍光検出装置、即ち予めX線等の放射線で画像露
光された輝尽性蛍光体面を輝尽励起光ビームで走査し、
発生ずる輝尽発光を検出して画像を読み取る装置の走査
読取ユニットの概要図である。
温度調節器lの上に配置された半導体レーザーユニット
2より、輝尽励起光となるレーザービーム3が出射され
る。半導体レーザーユニット2は半導体レーザー・温度
検出素子・コリメータレンズ等から構成されている。レ
ーザビーム3はフィルター4を通り、スキャナ5によっ
て走査される。
フィルター4は半導体レーザ光の発振波長以外のノイズ
光成分を減衰させるもので、輝尽発光光検出時のノイズ
を除去している。スキャナ5は図面−にはガルバノメー
タミラーを示したが、回転多面鏡等のスキャナを用いて
もよい。スキャナによって走査された走査ビーム6は、
ミラー7a・7bによって反射され、輝尽性蛍光体を含
む走査前8上に走査13iI9を形成する。なお、ここ
に至るまでの励起光路上のフィルター4、スキャナ5、
ミラー7a・7hなどには無反射のコーティングを施す
ことか望ましい。
走査線9上で発生した輝尽発光光は、散乱した励起光と
ともに集光体1oを経て光検出器11a・llbに導か
れ時系列の画像信号となる。なおここまでに示した部品
のうらレーザ斗ニット2を搭載した温度調節器1、フィ
ルター4、スキャナー5、ミラー7a・7b、集光体I
Q、光検出Wllallbは、しっかりと移動定盤I2
に固定されている。この移動定盤は、モータI3に、1
;って回転する雄ネジ14によってスライドシャフト1
5に案内されながら移動し、走査画8をy方向に副走査
することかできる。
副走査は、下から」二に移動定盤を移動して行ろと荷重
が安定して副走査か安定に行なわれ好ましい。
集光体10は、細長い蛍光画からの光を2つの光検出器
に導< +14造をとっている。これはスキャナ5との
配置を合理化する点、極端に大きい高価な光検出器を使
わずに済む点で非常に効果的である。
このような形状の集光体はアクリル等の樹脂を整形して
作ることら良いか、ファイバーを束ねた+IVt造のら
のが作成容易で調整らフレキノプルとなる点で好ましい
第2図に集光系の構成を示づ−0 集光系は集光体20、フィルター21、光検出索子22
(木図面では光電子増倍管)により+1が成され、図面
と垂直な方向の走査線2:(からの発光は蛍光画24に
入射し、集光体内を経て出射面25から出射、フィルタ
ーを通過した光が光電子増倍管(以下PλIT)に人Q
=l L、信号線26より画像情報か検出されろ。得ら
れた情報は図に画かれていないアンプにて増幅後A I
)変換され、必要に応じて情報記録媒体への、)5録、
ディスプレイ表示、ハードコピーなどが適I:r行イ′
)れる。
第3図にI)11記検出器における光強度波長分布フィ
ルター4の特(/1及びPMTの■1対分光感度を示す
本検出器では検出の対象とする第1の波長域は蛍光体の
輝尽発光光の波長域を含む300〜500nmに設定さ
れ、検出の対象外の第2の波長域は輝尽励起光の波長域
を含む500nm以上である。
第:3(ス1(a)は走査線近傍の光強度の波長分布で
、輝19i励起光(曲線32)と輝尽発光光(曲線31
)か混在している。なお、ここでは説明のためにピーク
強;度に・1損保の差かあるように示したが、実際は波
IQに関して積分した強度について4損保の差があるこ
とを色味−4゛ろ。以下のグラフ(c)(e)も同様な
は味を乙−ノ。な、1j輝尽1肋起光を示ず曲線32が
600nm(・[近て急激に下に折れているのは第1図
のフィルター4のり)果である。
(a)のグラフに示された光が(b)のグラフに示した
透J昌特1生をY丁するフィルター21をJ勇退ずろと
(C)のグラフに示された強度分布となる。さらに(d
)のグラフに示した分光感度を有するPMTを経由する
と出力される信リレベルは(e)に示されたグラフのよ
うになる。
この時点で検出すべき信号とノイズの原因となる(、T
! ”iとのレベル差χが所望SN比より大きければ、
励起光源によるノイズの影響を受けずに信号を検出する
ことができる。
今、受光光Ijlを17、フィルター透過率をT1光検
出感度をK、輝尽発光と励起光に関するものをそれぞれ
添え字s、nで表すと信号レベルSおよびノイズレベル
Nはそれぞれ 5−Ls X  Ts X  K’s        
(+)N=   1. n   X   i’n   
X   Kn                   
  (2)で′jえられ、この時の信号雑音比は で与えられる。このうちTJs / T−nは材料およ
び励起光の波長によって決まる。i’ s / ’r”
 nはフィルターo厚さto関t”r  Ts/T。=
(A’(Lo(4)て与えられろ。」一式のAはj7さ
toにおける内部透過率の比(輝Jメ励起先と輝尽発光
)を表ず°。
ここでフィルターの厚さtを増大していくことによって
所望のS/Nを得ることはできるが、他の原因による雑
音を考えると、信号Sのレベルはより大きい方が好まし
い。飼料と励起光を決めてなr3信号レヘルを高く保つ
事は、この場合Ks/K nの大きな険lj器と、所望
S/Nを満足するに足りるたけの ’I’ s / l″nを持らかつ’T’ sの大きな
フィルターを用いろ二とてl戊される。
以下、具体的な実施例を説明する。検診に使われる程度
のX線を直写した蛍光体Rb1(r:T&に780nm
  lOmWの励起光を照射4−ると171W程の輝尽
発光を示す。この時の光検出器としてはPMTが適当で
、光電面がS b (:s 、 S b・Rb−Cs、
 S b、\a・K、Csl’jどの物質から成る+)
; 1!:lであることか打上しく、効率、均一性の点
から透過IF14であることかなl’、;−i:・1望
上しい。この時K s / K nは下表の(、ρにな
り、検出(、:¥吟の要求から11力d1時のS/N比
を104とすると(3)式より1’ s / ’p n
は下表のようになる。
同様に検診レベルのX線を曝射した蛍光体11 aF 
r3 r:E uにTTcNeレーザーでlomWの励
起光を照射すると1μW程度の輝尽発光を示す。この時
前例と同様のPMTを用いるとI’+ij表の6値は下
表のようになる。
以1−に述べたI’ kl 1’即ら輝尽発光に比べ励
起光の感度が小さいもの、特にSb Cs、Sb ru
b Csを光電面材料とする透過型PMTを用いると、
フィルターに負うi’d i’ s / i’ nが小
さくなり艮好な信号を得ることが可能となる。
第・1図(a)に集光体20の出射面25からの出射光
の出射範囲41の様子を示す。フィルター21− PM
T22の光電面はこの領域41を含む大きさのものが用
いられろ。第4図(b)(c)にそれぞれ薄いフィルタ
ー・厚いフィルターを用いた場合の集光体・フィルター
・I’MTの位置関係を示す。フィルターが薄いと光電
面の小さな径42のPMTですむ為装置が小さくなりか
つ安価なl)M Tを用いろことができる。
逆に厚くなると出射光の拡がりが大きくなり結局光電面
の直径が43のPMTを使用しなくてはならない。この
ように、フィルター厚を薄くすることは装置の小ハ12
化、シグナルレベルの非減衰につながり良好な画像情報
を得るために極めて有効である。
な[3、本発明に用いられる輝尽性蛍光体とは、最明の
光らしくは高エネルギー放射線が照射された後に、先約
、熱的、機械的、化学的または電気的等の刺激(輝尽励
起)により、最初の光らしくは高エネルギー放射線の照
射世に対応した輝尽発光を示す蛍光体を言うが、実用的
な面から好ましくは500nm以上の輝尽励起光によっ
て輝尽発光を示ケ蛍光体である。本発明の放射線画像変
換パネルに用いられる輝尽性蛍光体としては、例えば特
開昭48−80487号に記載されているBa5O,:
 A、Z (但しAはDy、 ’rb及びTmのうち少
なくとら1種てあり、χは0.OQl≦χ〈1モル%で
ある。)で表される蛍光体、特開昭48−80488号
記載のMgSO4:^χ(但しAはIlo或いはDYの
うちいづれかであり、0.001≦χ≦1モル%である
)で表わされる蛍光体、特開昭48−80489号に記
載されている5rSO,: Aχ(但しAはDy、Tb
及びTmのうら少なくとし1種であり、χは0.001
≦χ≦1モル%である。)で表わされている蛍光体、特
開昭51−29889号に記載されているNa25O,
、CaSO4及びrlaso、等にMn、 Dy及びT
bのうち少なくとの1種を添加した蛍光体、特開昭52
−30487号に記載されている 11eO1LiF9
MgSO,及びCa P 、等の蛍光体、特開昭53−
39277号に記載されている L12B4O? :C
u、Ag等の蛍光体、特開昭54−47883号に記載
されている I、izo・(+120 t )χ :Cu(但しχは
2くχ≦3)、及びLtaO” (BtO*) X  
: Cu、 Ag(但しχは2くχ≦3)等の蛍光体、
米国特許3,859,527号に記載されているSrS
 : Ce、 Sm、 SrS:Eu、 Sm、 La
tOtS : E、u、 Sm及び(Zn、Cd)S 
: Mn、 X (但しXはハロゲン)で表される蛍光
体が挙げられる。また、特開昭55−12142号に記
載されているZnS : Cu、 Pb蛍光体、一般式
がBaO・z kQtos : Eu(但し0,8≦χ
≦10)で表されるアルミン酸バリウム蛍光体、及び一
般式がM’O・χSin、 : A(但しM”はMg、
  Ca、 Sr、 Zn、  Cd又はBaでありA
はCe、 Tb。
Eu、 Tm、 Pb、 T12旧及びMnのうち少な
くとも1種であり、χは0.5≦χ〈2.5である。)
で表されるアルカリ土類金属珪酸塩系蛍光体が挙げられ
る。
また、一般式が (Bal −x  −yMgx Cay)FX  : 
 eEu”(但しχはBr及びCQの中の少なくとも1
つであり、χ、y及びeはそれぞれ0〈χ+y≦0.6
゜χy≠0及び10−5≦e≦5×lO′なる条件を満
たす数である。)で表されるアルカリ土類弗化ハロゲン
什物寸は占μl太 中堅IB辺1++(1’)+AA且
l−マβ市O古11プhる一般式が LnOX : yA (但しLnは La、 Y、 Gd及びLuの少なくと
も1つを、XはCQ及び/又はBrを、AはCe及び/
又はTbを、χはOくχ<0.1を満足する数を表す。
)で表される蛍光体、特開昭55−12145号記載さ
れている一般式が (Bal−;l Hffχ)FX : Y^(但しMl
は、Mg、 Ca、 Sr、 Zn及びCdのうちの少
なくとも1つを、XはCQ、 Br及びIのうち少なく
とも1つを、八(まEu、 Tb、 Ce、 Tm、 
Dy、 Pr、 Ilo、 Nd、 Yb及びErのう
ち少なくとも1つを、χ及びyは0≦χ≦0.6及び0
≦y≦0.2なる条件を満たす数を表す。)で表される
蛍光体、特開昭55−84389号に記載されている一
般式がBaFX : χCe、 yA(但し、XはCQ
、 Br及びIのうちの少なくとも1つ、AはIn、 
TQ、 Gd、 Sm及びZrのうちの少なくとも1つ
であり、χ及びyはそれぞれ0〈χ≦2X 10”’及
び0くy≦5X 10−’である。)で表される蛍光体
、特開昭55−160078号に記載されている一般式
がM”FX・ X A  :  yLn (但しMlはMg、’Ca、 Ba、 Sr、 Zn及
びCdのうちの少なくとも1種、AはBed、 MgO
,Cab、 SrO,Bad。
Zn0.IQxOs、YtOs、Law’s、  l+
tto5.Stow、Ti1t。
2rOt、 Ge0t、 SnO,、NbtOs、 T
a5ks及びThatのうち少なくとも1種、LnはE
u、 Tb、 Ce、Tm、 Dy、 Pr。
11o、 Nd、 Yb、 Er、 Sm及びGdのう
ち少なくとも1種であり、XはCQ、 Br及び1のう
ち少なくとも1種であり、χ及びyはそれぞれ5X t
o−5≦χ≦0.5及びo<y≦0.2なる条件を満た
す数である。)で表される希土類元素付活2価金属フル
オロハライド蛍光体、一般式がZnS : A、 Cd
S : A(Zn、 Cd)S:、A、ZnS:A、X
及びCdS : A、 X (但しAはCu。
Ag、 Au、又は1Ilnであり、Xはハロゲンであ
る。)で表される蛍光体、特開昭57−148285号
に記載されている下記いづれかの一般式 %式%: (式中、M及びNはそれぞれIAL Ca、 Sr、 
Ba、 Zn及びCdのうち少なくとも1種XはF、 
CQ、 Br及びIのうち少なくとも1種、AはEu、
 Tb、 Ce、 Tm。
Dy、  Pr、 Ilo、  Nd、 Yb、 Er
、 Sb、 T12. Mn及びSnのうち少なくとも
1種を表す。また、χ及びyは0くχ≦6.0≦y≦1
なる条件を満たす数である。)で表される蛍光体、下記
いづれかの一般式%式% (式中、ReはLa、 Gd、 Y、 Luのうち少な
くとも1種、^はアルカリ土類金属、Ba、 Sr、 
Caのうち少なくとも1種、X及びX′はF、 CQ、
 Brのうち少なくとも1種を表す。また、χ及びyは
、lXl0−’<χ< 3X 10−’、IX 10−
’ < y< 1 x 10−’なる条件を満たす数で
あり、n7mはI X 10−3< n7m< 7x 
to−’なる条件を満たす。)で表される蛍光体、およ
び、下記一般式 %式%: (但し、MlはIj、 Na、 K、 Rb、およびC
sから選ばれる少なくとも11のアルカリ金属であり、
MllはBe、 Mg、 Ca、 Sr、 Ba、 Z
n、 Cd、 Cu及びNiから選ばれる少なくとも1
種の二価金属である。
MlllはSc、 Y、 La、 Ce、 Pr、 N
d、 Pm、 Sm、 Eu、 Gd。
Tb、 Dy、 Iio、Er、 Tm、  Yb、 
Lu、 AL Ga及びInから進ばれる少なくとも1
種の三価金属である。X。
X′およびX′はF、 CQ、 Brおよび!から選ば
れる少なくとも1種のハロゲンである。AはEu、 T
b。
Ce、Tm、 Dy、Pr、 Ilo、 Nd、 Yb
、 Er、 Gd、 Lu、 Sm。
Y、 TQ、 Na、3g、 CuおよびMgから選ば
れる少なくとも1種の金属である。
また、aは、0≦a< 0.5の範囲の数値であり、b
はO≦b< 0.5の範囲の数値であり、Cは0<c≦
0.2の範囲の数値である。)で表されるアルカリハラ
イド蛍光体等が挙げられる。
[発明の効果] 本発明により極めてS/N比の高い光検出器を得ること
ができ、その結果輝尽励起光等の検出の対象外の光に由
来するノイズに妨げられることなく良好な蛍光画像の読
み取りを行うことのできる蛍光検出装置を作成が可能と
なった。
【図面の簡単な説明】
トの概要図、第2図は集光体の構成を示す図、第3図は
検出光強度の波長特性、第4図はフィルター厚と光検出
器の位置関係を示す図である。 出願人  小西六写真工業株式会社 5Gh C”’ ) 櫂4(nm)

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光検出素子を有する光検出器において該検出器の
    検出の対象である第1の波長域の光に対する前記検出器
    の感度S_1と、検出の対象外である第1の波長域以外
    の第2の波長域の光に対する感度S_2の比S_1/S
    _2が1より大なることを特徴とする光検出器。
  2. (2)前記感度の比S_1/S_2が10^3以上であ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光検出
    器。
  3. (3)前記感度の比S_1/S_2が10^4以上であ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記
    載の光検出器。
  4. (4)前記第1の波長域が300〜450nmの波長域
    を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光
    検出器。
  5. (5)前記第2の波長域が500nm以上の波長域を含
    むことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光検出
    器。
  6. (6)前記光検出素子が光電子増倍管であることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項乃至第3項記載の光検出器
  7. (7)前記光電子増倍管の光電変換面が、Sb・Cs系
    、Sb・Rb・Cs系、又はSb・Na・K・Cs系材
    料より成ることを特徴とする特許請求の範囲第6項記載
    の光検出器。
  8. (8)前記光電子増倍管の光電変換面が透過型であるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第6項又は第7項記載の
    光検出器。
  9. (9)蛍光体に励起光を照射する励起光照射手段と、光
    検出素子を含む光検出器を有する蛍光検出装置において
    、前記光検出器が検出の対象とする第1の波長域の光に
    対する前記光検出器の感度S_1と、検出の対象外であ
    る第1の波長域以外の第2の波長域の光に対する感度S
    _2の比S_1/S_2が1より大なることを特徴とす
    る蛍光検出装置。
  10. (10)前記第1の波長域が前記蛍光体の発する蛍光の
    波長を含み、前記第2の波長域が前記励起光の波長を含
    むことを特徴とする特許請求の範囲第9項記載の蛍光検
    出装置。
  11. (11)前記光検出器のS_1/S_2が10^3以上
    であることを特徴とする特許請求の範囲第9項記載の蛍
    光検出装置。
  12. (12)前記光検出器のS_1/S_2が10^4以上
    であることを特徴とする特許請求の範囲第9項又は第1
    1項記載の蛍光検出装置。
  13. (13)前記第1の波長域が300〜450nmの波長
    域を含むことを特徴とする特許請求の範囲第9項又は第
    10項記載の蛍光検出装置。
  14. (14)前記第2の波長域が500nm以上の波長域を
    含むことを特徴とする特許請求の範囲第9項又は第10
    項記載の蛍光検出装置。
  15. (15)前記光検出素子が光電子増倍管であることを特
    徴とする特許請求の範囲第9項乃至第12項記載の蛍光
    検出装置。
  16. (16)前記光電子増倍管の光電変換面が、Sb・Cs
    系、Sb・Rb・Cs系、又はSb・Na・K・Cs系
    材料より成ることを特徴とする特許請求の範囲第15項
    記載の蛍光検出装置。
  17. (17)前記光電子増倍管の光電変換面が透過型である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第15項又は第16項
    記載の蛍光検出装置。
  18. (18)前記励起光照射手段が半導体レーザーであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第9項記載の蛍光検出装
    置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11237479A (ja) * 1998-02-20 1999-08-31 Hitachi Ltd 放射線強度計測装置

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JPS5512429A (en) * 1978-07-12 1980-01-29 Fuji Photo Film Co Ltd Radioactive image reader

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