JPH06138236A - ガラス線量測定装置 - Google Patents
ガラス線量測定装置Info
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- JPH06138236A JPH06138236A JP28878792A JP28878792A JPH06138236A JP H06138236 A JPH06138236 A JP H06138236A JP 28878792 A JP28878792 A JP 28878792A JP 28878792 A JP28878792 A JP 28878792A JP H06138236 A JPH06138236 A JP H06138236A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】測定環境の温度変化が生じても、安定した被曝
線量の測定値が得られるガラス線量測定装置を得ること
にある。 【構成】放射線被曝蛍光ガラス１４に、レーザ装置１１
により励起紫外線を照射して被曝蛍光を光電子増倍管１
６により検出すると共に、該励起紫外線の一部を標準蛍
光ガラス１５に照射して標準蛍光を第２の光電子増倍管
１８により放射線被曝蛍光ガラス１４の被曝線量を演算
回路２５により求めるガラス線量測定装置において、少
なくとも光電子増倍管１６の出力側に設けられ、電流出
力を電圧出力に変換する前置増幅器１７に、負の温度係
数を有するサーミスタ２と可変抵抗器３で構成され、光
電子増倍管１６，１８の温度特性の差異に起因する測定
誤差を補償する測定誤差補償手段を備えたもの。
線量の測定値が得られるガラス線量測定装置を得ること
にある。 【構成】放射線被曝蛍光ガラス１４に、レーザ装置１１
により励起紫外線を照射して被曝蛍光を光電子増倍管１
６により検出すると共に、該励起紫外線の一部を標準蛍
光ガラス１５に照射して標準蛍光を第２の光電子増倍管
１８により放射線被曝蛍光ガラス１４の被曝線量を演算
回路２５により求めるガラス線量測定装置において、少
なくとも光電子増倍管１６の出力側に設けられ、電流出
力を電圧出力に変換する前置増幅器１７に、負の温度係
数を有するサーミスタ２と可変抵抗器３で構成され、光
電子増倍管１６，１８の温度特性の差異に起因する測定
誤差を補償する測定誤差補償手段を備えたもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線被曝線量を測定
するガラス線量測定装置に係り、特に蛍光検出部の温度
変化に対して安定した測定値が得られるようにしたガラ
ス線量測定装置に関する。
するガラス線量測定装置に係り、特に蛍光検出部の温度
変化に対して安定した測定値が得られるようにしたガラ
ス線量測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種ガラス線量測定装置の一例
として、特開昭５９ー１９０６８１号公報に示すものが
あり、図２はこの概略構成を示すブロック図である。窒
素ガスレーザ１１から発生した励起紫外線パルスを、フ
ィルタ１２と半透鏡１３を介して一部を放射線被曝蛍光
ガラス１４に照射して被曝蛍光パルスを得る第１の光学
系とを備えている。また、窒素ガスレーザ１１から発生
した励起紫外線パルスの他の一部を標準蛍光ガラス１５
に照射して標準蛍光パルスを得る第２の光学系とを備え
ている。
として、特開昭５９ー１９０６８１号公報に示すものが
あり、図２はこの概略構成を示すブロック図である。窒
素ガスレーザ１１から発生した励起紫外線パルスを、フ
ィルタ１２と半透鏡１３を介して一部を放射線被曝蛍光
ガラス１４に照射して被曝蛍光パルスを得る第１の光学
系とを備えている。また、窒素ガスレーザ１１から発生
した励起紫外線パルスの他の一部を標準蛍光ガラス１５
に照射して標準蛍光パルスを得る第２の光学系とを備え
ている。
【０００３】さらに、放射線被曝蛍光ガラス１４から得
られた被曝蛍光パルスを第１の光電子増倍管１６により
増倍し、この電流出力を電圧信号に変換する第１の前置
増幅器１７とを備えている。放射線被曝蛍光ガラス１５
から得られた標準蛍光パルスを第２の光電子増倍管１８
により増倍し、この電流出力を電圧信号に変換する第２
の前置増幅器１９とを備えている。
られた被曝蛍光パルスを第１の光電子増倍管１６により
増倍し、この電流出力を電圧信号に変換する第１の前置
増幅器１７とを備えている。放射線被曝蛍光ガラス１５
から得られた標準蛍光パルスを第２の光電子増倍管１８
により増倍し、この電流出力を電圧信号に変換する第２
の前置増幅器１９とを備えている。
【０００４】そして、標準蛍光パルスを検出して第１の
サンプリング時点およびこの第１のサンプリング時点よ
り所定の時間遅れの第２のサンプリング時点をそれぞれ
設定するタイミング設定回路２０，２１とを備えてい
る。
サンプリング時点およびこの第１のサンプリング時点よ
り所定の時間遅れの第２のサンプリング時点をそれぞれ
設定するタイミング設定回路２０，２１とを備えてい
る。
【０００５】また、第１のサンプリング時点に被曝蛍光
パルスを所定の一定時間サンプリングしてその積分値を
求める第１の積分器２２と、第１のサンプリング時点に
標準蛍光パルスを所定の一定時間サンプリングしてその
積分値を求める第２の積分器２３と、第２のサンプリン
グ時点に被曝蛍光パルスを所定の一定時間サンプリング
してその積分値を求める第３の積分器２４とを備えてい
る。
パルスを所定の一定時間サンプリングしてその積分値を
求める第１の積分器２２と、第１のサンプリング時点に
標準蛍光パルスを所定の一定時間サンプリングしてその
積分値を求める第２の積分器２３と、第２のサンプリン
グ時点に被曝蛍光パルスを所定の一定時間サンプリング
してその積分値を求める第３の積分器２４とを備えてい
る。
【０００６】さらに、第１の積分器２２による積分値と
第３の積分器２４による積分値との差分に対する第２の
積分器２３による積分値の比を放射線被曝蛍光ガラスの
被曝線量として求める演算回路２５とを備えている。
第３の積分器２４による積分値との差分に対する第２の
積分器２３による積分値の比を放射線被曝蛍光ガラスの
被曝線量として求める演算回路２５とを備えている。
【０００７】このような構成のものにおいて、蛍光強度
は、励起する紫外線強度に依存しているため、標準蛍光
ガラス１５の蛍光量も放射線被曝蛍光ガラス１４の蛍光
量と同時に求め、紫外線強度の変動を補正し、かつ放射
線被曝蛍光ガラス１４と標準蛍光ガラス１５とに同一の
温度係数を有するものを用いて、−０．５％／°Ｃ程度
ある蛍光ガラスの温度係数による誤差を打ち消してい
る。
は、励起する紫外線強度に依存しているため、標準蛍光
ガラス１５の蛍光量も放射線被曝蛍光ガラス１４の蛍光
量と同時に求め、紫外線強度の変動を補正し、かつ放射
線被曝蛍光ガラス１４と標準蛍光ガラス１５とに同一の
温度係数を有するものを用いて、−０．５％／°Ｃ程度
ある蛍光ガラスの温度係数による誤差を打ち消してい
る。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしがら、放射線量
測定において、周囲の温度変動による特性の変化は、蛍
光ガラスだけでなく、光電子増倍管１６等の蛍光検出部
にもあり、周囲の温度変化によって測定誤差が生じてい
た。
測定において、周囲の温度変動による特性の変化は、蛍
光ガラスだけでなく、光電子増倍管１６等の蛍光検出部
にもあり、周囲の温度変化によって測定誤差が生じてい
た。
【０００９】例えば、図２の被曝蛍光ガラス１４側に光
電子増倍管１６を使用し、標準蛍光ガラス１５側にフォ
トダイオードを用いた場合、光電子増倍管１６の温度係
数が−０．５〜−２．０％／°Ｃであるのに対して、フ
ォトダイオードの温度係数は０．１％／°Ｃ以下である
ことから、光電子増倍管１６の温度変化による出力変動
が、そのまま測定値の誤差となっていた。本発明は、測
定環境の温度変化が生じても、安定した被曝線量の測定
値が得られるガラス線量測定装置を提供することを目的
とする。
電子増倍管１６を使用し、標準蛍光ガラス１５側にフォ
トダイオードを用いた場合、光電子増倍管１６の温度係
数が−０．５〜−２．０％／°Ｃであるのに対して、フ
ォトダイオードの温度係数は０．１％／°Ｃ以下である
ことから、光電子増倍管１６の温度変化による出力変動
が、そのまま測定値の誤差となっていた。本発明は、測
定環境の温度変化が生じても、安定した被曝線量の測定
値が得られるガラス線量測定装置を提供することを目的
とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項１に対応する発明は、放射線被曝蛍光ガラス
に、励起紫外線を照射して被曝蛍光を第１の蛍光検出部
により検出すると共に、該励起紫外線の一部を標準蛍光
ガラスに照射して標準蛍光を第２の蛍光検出部により前
記放射線被曝蛍光ガラスの被曝線量を演算回路により求
めるガラス線量測定装置において、前記第１および第２
の蛍光検出部の温度特性の差異に起因する測定誤差を補
償する測定誤差補償手段を備えたものである。
め、請求項１に対応する発明は、放射線被曝蛍光ガラス
に、励起紫外線を照射して被曝蛍光を第１の蛍光検出部
により検出すると共に、該励起紫外線の一部を標準蛍光
ガラスに照射して標準蛍光を第２の蛍光検出部により前
記放射線被曝蛍光ガラスの被曝線量を演算回路により求
めるガラス線量測定装置において、前記第１および第２
の蛍光検出部の温度特性の差異に起因する測定誤差を補
償する測定誤差補償手段を備えたものである。
【００１１】前記目的を達成するため、請求項２に対応
する発明は、請求項１記載の測定誤差補償手段は、少な
くとも前記第１の蛍光検出部の出力側に設けられ、電流
出力を電圧出力に変換する前置増幅器に、負の温度係数
を有する抵抗部材と可変抵抗器で構成したものである。
する発明は、請求項１記載の測定誤差補償手段は、少な
くとも前記第１の蛍光検出部の出力側に設けられ、電流
出力を電圧出力に変換する前置増幅器に、負の温度係数
を有する抵抗部材と可変抵抗器で構成したものである。
【００１２】前記目的を達成するため、請求項３に対応
する発明は、請求項１記載の測定誤差補償手段は、少な
くとも前記第１の蛍光検出部の外周部側に近接して設け
られ、周囲温度を検出する温度検出器と、この温度検出
器の検出温度と基準温度の温度差により前記第１の蛍光
検出部の温度係数から補償量を求める演算手段で構成し
たものである。
する発明は、請求項１記載の測定誤差補償手段は、少な
くとも前記第１の蛍光検出部の外周部側に近接して設け
られ、周囲温度を検出する温度検出器と、この温度検出
器の検出温度と基準温度の温度差により前記第１の蛍光
検出部の温度係数から補償量を求める演算手段で構成し
たものである。
【００１３】
【作用】請求項１に対応する発明によれば、測定環境の
温度変化が生じた場合、測定誤差補償手段により被曝線
量の測定値誤差が補償されるので、周囲の温度変化があ
っても安定した被曝線量の測定値が得られる。
温度変化が生じた場合、測定誤差補償手段により被曝線
量の測定値誤差が補償されるので、周囲の温度変化があ
っても安定した被曝線量の測定値が得られる。
【００１４】請求項２，３に対応する発明によれば、光
電子増倍管の負の温度係数による出力変動に対して、正
の温度補償が行われ、周囲の温度変化に対して安定した
被曝線量の測定値が得られる。
電子増倍管の負の温度係数による出力変動に対して、正
の温度補償が行われ、周囲の温度変化に対して安定した
被曝線量の測定値が得られる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
して説明する。図１は本発明の第１の実施例の概略構成
を示す図であり、本実施例は、図２に示すガラス線量測
定装置において、蛍光検出部である光電子増倍管１６の
温度特性の差異に起因する測定誤差を補償して蛍光検出
部の温度変化に対して安定した計測値が得られるように
したものである。
して説明する。図１は本発明の第１の実施例の概略構成
を示す図であり、本実施例は、図２に示すガラス線量測
定装置において、蛍光検出部である光電子増倍管１６の
温度特性の差異に起因する測定誤差を補償して蛍光検出
部の温度変化に対して安定した計測値が得られるように
したものである。
【００１６】すなわち、図１に示すように、演算増幅器
（図２の前置増幅器１７に有する）１と、サーミスタ２
と、可変抵抗器３と、抵抗器４，５からなり、演算増幅
器１の出力端子と接地電位の間に、抵抗値Ｒ2 の抵抗器
４と抵抗値ＶR の可変抵抗器３の直列回路を接続し、可
変抵抗器３と並列にサーミスタ２を接続し、演算増幅器
１の正の入力端子を接地し、演算増幅器１の負の入力端
子と抵抗器４と可変抵抗器３の接続点に抵抗値Ｒ1 の抵
抗器５を接続したものである。つまり、本実施例は、図
２の光電子増倍管１６の電流出力を電圧信号に変換する
前置増幅器１７に、負の温度係数を有するサーミスタ２
と可変抵抗器３を追加して温度補償を行なうようにした
ものである。サーミスタ２は、光電子増倍管１６の温度
を代表する位置に配置しておく。
（図２の前置増幅器１７に有する）１と、サーミスタ２
と、可変抵抗器３と、抵抗器４，５からなり、演算増幅
器１の出力端子と接地電位の間に、抵抗値Ｒ2 の抵抗器
４と抵抗値ＶR の可変抵抗器３の直列回路を接続し、可
変抵抗器３と並列にサーミスタ２を接続し、演算増幅器
１の正の入力端子を接地し、演算増幅器１の負の入力端
子と抵抗器４と可変抵抗器３の接続点に抵抗値Ｒ1 の抵
抗器５を接続したものである。つまり、本実施例は、図
２の光電子増倍管１６の電流出力を電圧信号に変換する
前置増幅器１７に、負の温度係数を有するサーミスタ２
と可変抵抗器３を追加して温度補償を行なうようにした
ものである。サーミスタ２は、光電子増倍管１６の温度
を代表する位置に配置しておく。
【００１７】このような構成のものにおいて、光電子増
倍管の出力電流をＩ、可変抵抗器３とサーミスタ２の合
成抵抗をＲ3 とし、Ｒ1 の抵抗値がＲ2 ，Ｒ3 に比べて
十分大きれば、電圧出力Ｖout は、 Ｖout ＝［１＋（Ｒ2 ／Ｒ3 ）］×Ｒ1 ×Ｉ である。
倍管の出力電流をＩ、可変抵抗器３とサーミスタ２の合
成抵抗をＲ3 とし、Ｒ1 の抵抗値がＲ2 ，Ｒ3 に比べて
十分大きれば、電圧出力Ｖout は、 Ｖout ＝［１＋（Ｒ2 ／Ｒ3 ）］×Ｒ1 ×Ｉ である。
【００１８】また、サーミスタ２は、負の温度係数をも
っていることから、光電子増倍管（図２の１６参照）の
出力に対して、正の温度補償が行われ、周囲の温度変化
による光電子増倍管１６の出力の変動を抑えることがで
きる。この場合の温度補償量は、可変抵抗器３の抵抗値
ＶR の設定により調整する。
っていることから、光電子増倍管（図２の１６参照）の
出力に対して、正の温度補償が行われ、周囲の温度変化
による光電子増倍管１６の出力の変動を抑えることがで
きる。この場合の温度補償量は、可変抵抗器３の抵抗値
ＶR の設定により調整する。
【００１９】以上述べた第１の実施例によれば、光電子
増倍管の負の温度係数による出力変動に対して、正の温
度補償を行うことにより、周囲の温度変化に対して安定
した被曝線量の測定値が得られる。
増倍管の負の温度係数による出力変動に対して、正の温
度補償を行うことにより、周囲の温度変化に対して安定
した被曝線量の測定値が得られる。
【００２０】本発明は、以上述べた実施例に限定され
ず、光電子増倍管等の蛍光検出部の温度特性による測定
誤差を補正した測定値が得られる手段であればなんでも
よい。例えば、少なくとも、光電子増倍管１６等の第１
の蛍光検出部の外周部側に近接して放射温度計を設け、
これにより光電子増倍管１６等の第１の蛍光検出部の温
度を測定し、この測定温度と、図示しない基準温度設定
器で設定した基準温度の温度差により、第１の蛍光検出
部の温度係数から補償量を求め、これを温度測定値を演
算する際にソフトウェア上で構成するようにしてもよ
い。
ず、光電子増倍管等の蛍光検出部の温度特性による測定
誤差を補正した測定値が得られる手段であればなんでも
よい。例えば、少なくとも、光電子増倍管１６等の第１
の蛍光検出部の外周部側に近接して放射温度計を設け、
これにより光電子増倍管１６等の第１の蛍光検出部の温
度を測定し、この測定温度と、図示しない基準温度設定
器で設定した基準温度の温度差により、第１の蛍光検出
部の温度係数から補償量を求め、これを温度測定値を演
算する際にソフトウェア上で構成するようにしてもよ
い。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば、測定環境の温度変化が
生じても、安定した被曝線量の測定値が得られるガラス
線量測定装置を提供することができる。
生じても、安定した被曝線量の測定値が得られるガラス
線量測定装置を提供することができる。
【図１】本発明によるガラス線量測定装置の第１の実施
例の要部のみを示す回路図。
例の要部のみを示す回路図。
【図２】従来のガラス線量測定装置の一例の概略構成を
示すブロック図。
示すブロック図。
１…演算増幅器、２…サーミスタ、３…可変抵抗器、
４，５…抵抗器、１１…窒素ガスレーザ装置、１４…放
射線被曝蛍光ガラス、１５…標準蛍光ガラス、１６，１
８…光電子増倍管、１７，１９…前置増幅器、２０，２
１…サンプリング設定回路、２２，２３，２４…積分
器、２５…演算回路。
４，５…抵抗器、１１…窒素ガスレーザ装置、１４…放
射線被曝蛍光ガラス、１５…標準蛍光ガラス、１６，１
８…光電子増倍管、１７，１９…前置増幅器、２０，２
１…サンプリング設定回路、２２，２３，２４…積分
器、２５…演算回路。
Claims (3)
- 【請求項１】 放射線被曝蛍光ガラスに、励起紫外線を
照射して被曝蛍光を第１の蛍光検出部により検出すると
共に、該励起紫外線の一部を標準蛍光ガラスに照射して
標準蛍光を第２の蛍光検出部により前記放射線被曝蛍光
ガラスの被曝線量を演算回路により求めるガラス線量測
定装置において、 前記第１および第２の蛍光検出部の温度特性の差異に起
因する測定誤差を補償する測定誤差補償手段を備えたガ
ラス線量測定装置。 - 【請求項２】測定誤差補償手段は、少なくとも前記第１
の蛍光検出部の出力側に設けられ、電流出力を電圧出力
に変換する前置増幅器に、負の温度係数を有する抵抗部
材と可変抵抗器で構成したことを特徴とする請求項１記
載のガラス線量測定装置。 - 【請求項３】測定誤差補償手段は、少なくとも前記第１
の蛍光検出部の外周部側に近接して設けられ、周囲温度
を検出する温度検出器と、 この温度検出器の検出温度と基準温度の温度差により前
記第１の蛍光検出部の温度係数から補償量を求める演算
手段で構成したことを特徴とするする請求項１記載のガ
ラス線量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28878792A JPH06138236A (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | ガラス線量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28878792A JPH06138236A (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | ガラス線量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138236A true JPH06138236A (ja) | 1994-05-20 |
Family
ID=17734719
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28878792A Pending JPH06138236A (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | ガラス線量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06138236A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347368A (ja) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線モニタ |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5038352A (ja) * | 1973-07-02 | 1975-04-09 | ||
| JPS58184565A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-28 | Horiba Ltd | 放射線検出器用の温度補償回路 |
| JPS6295580A (ja) * | 1985-10-22 | 1987-05-02 | ソニー株式会社 | パ−ソナルコンピユ−タの表示回路 |
| JPS62226082A (ja) * | 1986-03-28 | 1987-10-05 | Yokogawa Electric Corp | β線検出装置 |
-
1992
- 1992-10-27 JP JP28878792A patent/JPH06138236A/ja active Pending
Patent Citations (4)
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| JP2004347368A (ja) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線モニタ |
| JP4540301B2 (ja) * | 2003-05-20 | 2010-09-08 | 三菱電機株式会社 | 放射線モニタ |
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