JP2857296B2 - ガラス線量測定装置 - Google Patents
ガラス線量測定装置Info
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- JP2857296B2 JP2857296B2 JP1256693A JP1256693A JP2857296B2 JP 2857296 B2 JP2857296 B2 JP 2857296B2 JP 1256693 A JP1256693 A JP 1256693A JP 1256693 A JP1256693 A JP 1256693A JP 2857296 B2 JP2857296 B2 JP 2857296B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は放射線被曝した蛍光ガラ
スの被曝線量測定に際し、温度変化に対して安定した測
定値が得られるようにしたガラス線量測定装置に関す
る。
スの被曝線量測定に際し、温度変化に対して安定した測
定値が得られるようにしたガラス線量測定装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、線量計ガラス素子として銀活性燐
酸塩ガラスや銀活性硼酸塩ガラス等が知られている。こ
の種の線量計ガラス素子、例えば上記銀活性燐酸塩ガラ
スは、放射線被曝によって生起した電子と正孔とをその
内部のＡｇ+ にて捕獲し、Ａｇ0 またはＡｇ2+とするも
のである。
酸塩ガラスや銀活性硼酸塩ガラス等が知られている。こ
の種の線量計ガラス素子、例えば上記銀活性燐酸塩ガラ
スは、放射線被曝によって生起した電子と正孔とをその
内部のＡｇ+ にて捕獲し、Ａｇ0 またはＡｇ2+とするも
のである。
【０００３】しかして、上記Ａｇ2+は320mm に最大励起
スペクトルを有することから、これを紫外線を用いて励
起すると上記ガラスは600mm にピークを有する蛍光を発
する。この蛍光の強度が前記放射線被曝量に比例するこ
とから、これを利用して前記線量計ガラス素子の紫外線
励起による蛍光を検出して被曝線量の測定が行われてい
る。
スペクトルを有することから、これを紫外線を用いて励
起すると上記ガラスは600mm にピークを有する蛍光を発
する。この蛍光の強度が前記放射線被曝量に比例するこ
とから、これを利用して前記線量計ガラス素子の紫外線
励起による蛍光を検出して被曝線量の測定が行われてい
る。
【０００４】ところで、従来のかかるガラス線量測定装
置としては、例えば特開昭５９−１９０６８１号公報に
示されるように励起紫外線パルスの一部を放射線被曝蛍
光ガラスに照射して被曝蛍光パルスを得ると共に、前記
励起紫外線パルスの他の一部を標準蛍光ガラスに照射し
て標準蛍光パルスを得、これら被曝蛍光パルス及び標準
蛍光パルスをそれぞれ積分し、その積分値の比を放射線
被曝蛍光ガラスの被曝線量として求めるようにしたもの
である。
置としては、例えば特開昭５９−１９０６８１号公報に
示されるように励起紫外線パルスの一部を放射線被曝蛍
光ガラスに照射して被曝蛍光パルスを得ると共に、前記
励起紫外線パルスの他の一部を標準蛍光ガラスに照射し
て標準蛍光パルスを得、これら被曝蛍光パルス及び標準
蛍光パルスをそれぞれ積分し、その積分値の比を放射線
被曝蛍光ガラスの被曝線量として求めるようにしたもの
である。
【０００５】この場合、蛍光強度の検出は励起する紫外
線強度に依存しているため、紫外線強度の変動を補正す
ると共に、放射線被曝蛍光ガラスと標準蛍光ガラスとに
同一の温度係数を有するものを用いて−０．５％／℃程
度ある蛍光ガラスの温度係数による誤差を打消してい
る。
線強度に依存しているため、紫外線強度の変動を補正す
ると共に、放射線被曝蛍光ガラスと標準蛍光ガラスとに
同一の温度係数を有するものを用いて−０．５％／℃程
度ある蛍光ガラスの温度係数による誤差を打消してい
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このようなガ
ラス線量測定装置においては、標準蛍光ガラスが測定装
置内に内臓されており、装置内部の温度、即ち標準蛍光
ガラスの温度と装置の周囲温度、即ち測定時のみ装置内
に挿入される放射線被曝蛍光ガラスの温度とが異なる場
合があるため、前述した放射線被曝蛍光ガラスと標準蛍
光ガラスの温度係数が同一であっても温度による蛍光強
度変化量を相殺することができなくなり、測定誤差とな
る問題がある。
ラス線量測定装置においては、標準蛍光ガラスが測定装
置内に内臓されており、装置内部の温度、即ち標準蛍光
ガラスの温度と装置の周囲温度、即ち測定時のみ装置内
に挿入される放射線被曝蛍光ガラスの温度とが異なる場
合があるため、前述した放射線被曝蛍光ガラスと標準蛍
光ガラスの温度係数が同一であっても温度による蛍光強
度変化量を相殺することができなくなり、測定誤差とな
る問題がある。
【０００７】本発明は、上記の問題を解消するためなさ
れたもので、標準蛍光ガラスの温度と放射線被曝ガラス
の温度による差を補償して安定した測定値を得ることが
できるガラス線量測定装置を提供することを目的とす
る。
れたもので、標準蛍光ガラスの温度と放射線被曝ガラス
の温度による差を補償して安定した測定値を得ることが
できるガラス線量測定装置を提供することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、放射線被曝蛍光ガラスに紫外線パルスの照
射により励起して被曝蛍光を得ると共に、前記紫外線パ
ルスの一部を標準蛍光ガラスに照射して標準蛍光を得て
放射線被曝蛍光ガラスの被曝線量を求めるガラス線量測
定装置において、前記放射線被曝蛍光ガラスの温度を計
測する第１の温度計と、前記標準蛍光ガラスの温度を計
測する第２の温度計と、前記第１及び第２の温度計の計
測値に基づいて前記放射線被曝蛍光ガラスの放射線被曝
測定値を補償する演算手段とを具備している。
成するため、放射線被曝蛍光ガラスに紫外線パルスの照
射により励起して被曝蛍光を得ると共に、前記紫外線パ
ルスの一部を標準蛍光ガラスに照射して標準蛍光を得て
放射線被曝蛍光ガラスの被曝線量を求めるガラス線量測
定装置において、前記放射線被曝蛍光ガラスの温度を計
測する第１の温度計と、前記標準蛍光ガラスの温度を計
測する第２の温度計と、前記第１及び第２の温度計の計
測値に基づいて前記放射線被曝蛍光ガラスの放射線被曝
測定値を補償する演算手段とを具備している。
【０００９】
【作用】このような構成のガラス線量測定装置にあって
は、第１の温度計及び第２の温度計により個々に検出さ
れた放射線被曝蛍光ガラスの温度及び標準蛍光ガラスの
温度との差に応じて放射線被曝量の補償が行われるの
で、放射線被曝蛍光ガラスと標準蛍光ガラスとの温度差
による放射線被曝量の誤差がなくなり、常に安定した測
定値を得ることができる。
は、第１の温度計及び第２の温度計により個々に検出さ
れた放射線被曝蛍光ガラスの温度及び標準蛍光ガラスの
温度との差に応じて放射線被曝量の補償が行われるの
で、放射線被曝蛍光ガラスと標準蛍光ガラスとの温度差
による放射線被曝量の誤差がなくなり、常に安定した測
定値を得ることができる。
【００１０】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。
する。
【００１１】図１は本発明によるガラス線量測定装置の
構成例を示すブロック図である。図１において、１は窒
素ガスレーザ装置であり、トリガ回路２より瞬間的に与
えられる高電圧によってパルス発振し、紫外線レーザ光
を発振するものである。３は半透明鏡で、この半透明鏡
３は窒素ガスレーザ装置１より出力される紫外線レーザ
光の一部を透過して放射線被曝蛍光ガラス４に照射する
と共に、他の一部を反射して標準蛍光ガラス５に照射す
る。放射線被曝蛍光ガラス４は紫外線パルスを受けると
被爆蛍光パルスを発生し、また標準蛍光ガラス５は紫外
線パルスを受けると標準パルスを発生する。
構成例を示すブロック図である。図１において、１は窒
素ガスレーザ装置であり、トリガ回路２より瞬間的に与
えられる高電圧によってパルス発振し、紫外線レーザ光
を発振するものである。３は半透明鏡で、この半透明鏡
３は窒素ガスレーザ装置１より出力される紫外線レーザ
光の一部を透過して放射線被曝蛍光ガラス４に照射する
と共に、他の一部を反射して標準蛍光ガラス５に照射す
る。放射線被曝蛍光ガラス４は紫外線パルスを受けると
被爆蛍光パルスを発生し、また標準蛍光ガラス５は紫外
線パルスを受けると標準パルスを発生する。
【００１２】これら放射線被曝蛍光ガラス４から発生す
る被爆蛍光パルスは光電子増倍管６に、標準蛍光ガラス
５から発生する標準パルスは光電子増倍管７にそれぞれ
入力される。光電子増倍管６で検出された被曝蛍光パル
スは前置増幅器８を介して第１の積分器９に入力され、
光電子増倍管７で検出された標準パルスは前置増幅器１
０を介して第２の積分器１１に入力される。第１の積分
器９は被曝蛍光パルスを積分して演算回路１２に与え、
また第２の積分器１１は標準パルスを積分して演算回路
１２に与える。
る被爆蛍光パルスは光電子増倍管６に、標準蛍光ガラス
５から発生する標準パルスは光電子増倍管７にそれぞれ
入力される。光電子増倍管６で検出された被曝蛍光パル
スは前置増幅器８を介して第１の積分器９に入力され、
光電子増倍管７で検出された標準パルスは前置増幅器１
０を介して第２の積分器１１に入力される。第１の積分
器９は被曝蛍光パルスを積分して演算回路１２に与え、
また第２の積分器１１は標準パルスを積分して演算回路
１２に与える。
【００１３】一方、１３は放射線被曝蛍光ガラス４の温
度Ｔ1 を計測する第１の温度計、１４は標準蛍光ガラス
５の温度Ｔ2 を計測する第２の温度計で、これら第１温
度計及び第２の温度計１３、１４としては例えば非接触
型放射温度計が用いられる。
度Ｔ1 を計測する第１の温度計、１４は標準蛍光ガラス
５の温度Ｔ2 を計測する第２の温度計で、これら第１温
度計及び第２の温度計１３、１４としては例えば非接触
型放射温度計が用いられる。
【００１４】これら第１及び第２の温度計１３及び１４
でそれぞれ検出された温度測定値Ｔ1 及びＴ2 は、演算
回路１２に入力される。この演算回路２は前述した第１
の積分器９で積分された被曝蛍光パルスの積分値と第２
の積分器１１で積分された標準パルスの積分値に基づい
て放射線被曝量を求め、さらに第１の温度計１３及び第
２の温度計１４で検出された温度計測値の比から放射線
被曝量の放射線被曝蛍光ガラス４と標準蛍光ガラス５の
温度差による誤差分の補償を行うもので、この温度補償
された放射線被曝量は表示器１５に表示されるようにな
っている。
でそれぞれ検出された温度測定値Ｔ1 及びＴ2 は、演算
回路１２に入力される。この演算回路２は前述した第１
の積分器９で積分された被曝蛍光パルスの積分値と第２
の積分器１１で積分された標準パルスの積分値に基づい
て放射線被曝量を求め、さらに第１の温度計１３及び第
２の温度計１４で検出された温度計測値の比から放射線
被曝量の放射線被曝蛍光ガラス４と標準蛍光ガラス５の
温度差による誤差分の補償を行うもので、この温度補償
された放射線被曝量は表示器１５に表示されるようにな
っている。
【００１５】次にこのように構成されたガラス線量測定
装置の作用について述べる。
装置の作用について述べる。
【００１６】いま、トリガー回路２より瞬時的に高電圧
が窒素ガスレーザ装置１に印加されると、窒素ガスレー
ザ装置１より紫外線レーザ光が発振し、この紫外線レー
ザ光の一部は半透明鏡３を透過して放射線被曝蛍光ガラ
ス４に照射され、また紫外線レーザ光の他の一部は半透
明鏡３により反射されて標準蛍光ガラス５に照射され
る。すると、放射線被曝蛍光ガラス４から発生する放射
線蛍光パルスが光電子増倍管６により検出され、また標
準蛍光ガラス５から発生する標準パルスが光電子増倍管
７により検出され、これらは前置増幅器８、１０により
適宜増幅されて第１の積分器９及び第２の積分器１１に
それぞれ入力される。そして、第１及び第２の積分器９
及び１１で積分された放射線蛍光パルス及び標準パルス
の積分値が演算回路１２に取込まれると、これらの積分
値に基づいて放射線被曝蛍光ガラス４の被曝線量が求め
られる。このとき演算回路１２には第１の温度計１３で
検出された放射線被曝蛍光ガラスの温度計測値と第２の
温度計１４で検出された標準蛍光ガラス５の温度計測値
とが入力されると、この演算回路１２では放射線被曝蛍
光ガラス４の被曝線量に対して両ガラスの温度差による
誤差分を次式に基づいて補償する。
が窒素ガスレーザ装置１に印加されると、窒素ガスレー
ザ装置１より紫外線レーザ光が発振し、この紫外線レー
ザ光の一部は半透明鏡３を透過して放射線被曝蛍光ガラ
ス４に照射され、また紫外線レーザ光の他の一部は半透
明鏡３により反射されて標準蛍光ガラス５に照射され
る。すると、放射線被曝蛍光ガラス４から発生する放射
線蛍光パルスが光電子増倍管６により検出され、また標
準蛍光ガラス５から発生する標準パルスが光電子増倍管
７により検出され、これらは前置増幅器８、１０により
適宜増幅されて第１の積分器９及び第２の積分器１１に
それぞれ入力される。そして、第１及び第２の積分器９
及び１１で積分された放射線蛍光パルス及び標準パルス
の積分値が演算回路１２に取込まれると、これらの積分
値に基づいて放射線被曝蛍光ガラス４の被曝線量が求め
られる。このとき演算回路１２には第１の温度計１３で
検出された放射線被曝蛍光ガラスの温度計測値と第２の
温度計１４で検出された標準蛍光ガラス５の温度計測値
とが入力されると、この演算回路１２では放射線被曝蛍
光ガラス４の被曝線量に対して両ガラスの温度差による
誤差分を次式に基づいて補償する。
【００１７】［放射線被曝量計算値］×｛１＋Ｋ1 （Ｔ
2 −Ｔa ）｝／｛１＋Ｋ2 （Ｔ1 −Ｔa ）｝ となる。但し、Ｔa は基準温度で、例えば２５℃であ
る。
2 −Ｔa ）｝／｛１＋Ｋ2 （Ｔ1 −Ｔa ）｝ となる。但し、Ｔa は基準温度で、例えば２５℃であ
る。
【００１８】また、Ｋ1 ＝Ｋ2 ＝Ｋで、温度差が小さい
場合には、近似的に ［放射線被曝量計算値］×｛１＋Ｋ（Ｔ2 −Ｔ1 ）｝ となる。そして、演算回路１２で上記演算で求められた
結果は、表示器１５に表示される。
場合には、近似的に ［放射線被曝量計算値］×｛１＋Ｋ（Ｔ2 −Ｔ1 ）｝ となる。そして、演算回路１２で上記演算で求められた
結果は、表示器１５に表示される。
【００１９】このように本実施例では、放射線被曝蛍光
ガラス４の温度及び標準蛍光ガラス５の温度を計測し、
その温度測定値を演算回路１２に与えてその温度との差
に応じて放射線被曝量の補償を行うようにしたので、両
ガラスの温度差による放射線被曝量の誤差がなくなり、
常に安定した測定値を得ることができる。
ガラス４の温度及び標準蛍光ガラス５の温度を計測し、
その温度測定値を演算回路１２に与えてその温度との差
に応じて放射線被曝量の補償を行うようにしたので、両
ガラスの温度差による放射線被曝量の誤差がなくなり、
常に安定した測定値を得ることができる。
【００２０】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、例えば非接触型放射温度計に代えてサーミ
スタ温度計による接触式温度計等を用いてもよく、その
要旨を変更しない範囲内で種々変形して実施できるもの
である。
のではなく、例えば非接触型放射温度計に代えてサーミ
スタ温度計による接触式温度計等を用いてもよく、その
要旨を変更しない範囲内で種々変形して実施できるもの
である。
【００２１】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、標準
蛍光ガラスの温度と放射線被曝ガラスの温度差による放
射線被曝量の誤差分を補償して安定した測定値を得るこ
とができるガラス線量測定装置を提供できる。
蛍光ガラスの温度と放射線被曝ガラスの温度差による放
射線被曝量の誤差分を補償して安定した測定値を得るこ
とができるガラス線量測定装置を提供できる。
【図１】本発明によるガラス線量測定装置の一実施例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
１…窒素ガスレーザ装置、２…トリガー回路、３…半透
明鏡、４…放射線被曝蛍光ガラス、５…標準蛍光ガラ
ス、６，７…光電子増倍管、８，１０…前置増幅器、９
…第１の積分器、１１…第２の積分器、１２…演算回
路、１３…第１の温度計、１４…第２の温度計、１５…
表示器。
明鏡、４…放射線被曝蛍光ガラス、５…標準蛍光ガラ
ス、６，７…光電子増倍管、８，１０…前置増幅器、９
…第１の積分器、１１…第２の積分器、１２…演算回
路、１３…第１の温度計、１４…第２の温度計、１５…
表示器。
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線被曝蛍光ガラスに紫外線パルスの
照射により励起して被曝蛍光を得ると共に、前記紫外線
パルスの一部を標準蛍光ガラスに照射して標準蛍光を得
て放射線被曝蛍光ガラスの被曝線量を求めるガラス線量
測定装置において、前記放射線被曝蛍光ガラスの温度を
計測する第１の温度計と、前記標準蛍光ガラスの温度を
計測する第２の温度計と、前記第１及び第２の温度計の
測定値の差に基づいて前記放射線被曝蛍光ガラスの放射
線被曝測定値を補償する演算手段とを具備したことを特
徴とするガラス線量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1256693A JP2857296B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | ガラス線量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1256693A JP2857296B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | ガラス線量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06222146A JPH06222146A (ja) | 1994-08-12 |
| JP2857296B2 true JP2857296B2 (ja) | 1999-02-17 |
Family
ID=11808910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1256693A Expired - Fee Related JP2857296B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | ガラス線量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2857296B2 (ja) |
-
1993
- 1993-01-28 JP JP1256693A patent/JP2857296B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06222146A (ja) | 1994-08-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Year of fee payment: 10 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081127 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
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| R350 | Written notification of registration of transfer |
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