JPS62226082A - β線検出装置 - Google Patents
β線検出装置Info
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- JPS62226082A JPS62226082A JP7031486A JP7031486A JPS62226082A JP S62226082 A JPS62226082 A JP S62226082A JP 7031486 A JP7031486 A JP 7031486A JP 7031486 A JP7031486 A JP 7031486A JP S62226082 A JPS62226082 A JP S62226082A
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- 230000005250 beta ray Effects 0.000 title claims abstract description 47
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 11
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 239000003245 coal Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- FDWREHZXQUYJFJ-UHFFFAOYSA-M gold monochloride Chemical compound [Cl-].[Au+] FDWREHZXQUYJFJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、Ｑｄ７’ｅを用いたβ線検出器の渇麿特性の
改善に関するものである−６ （従来の技術） β線検出装置は従来気体を封入した電ｌ１１１箱を使用
するが、これを例えば６０℃程度にヒータで加熱・温度
調整することにより、その出力の温度係数は０．０８％
以下程度になっていた。
改善に関するものである−６ （従来の技術） β線検出装置は従来気体を封入した電ｌ１１１箱を使用
するが、これを例えば６０℃程度にヒータで加熱・温度
調整することにより、その出力の温度係数は０．０８％
以下程度になっていた。
一方ＣｄＴｅ粘晶を用いたβ線検出器は電離箱に比べて
小型で、感度が高く、応答が速い。また統計的ゆらぎに
基づくノイズもＣｄＴｅの検出器の方が小さい。
小型で、感度が高く、応答が速い。また統計的ゆらぎに
基づくノイズもＣｄＴｅの検出器の方が小さい。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、ＣｄＴｅの検出器は上述のような利点が
あるにも拘らず、β線感度の温度係数および１ｌｉＩ電
流の温度変化が大きく、電離箱と同等の温度係数を１ｑ
るには±０．１℃程度で湿度調節する必要があり、これ
を実現するのは極めて困難であった。
あるにも拘らず、β線感度の温度係数および１ｌｉＩ電
流の温度変化が大きく、電離箱と同等の温度係数を１ｑ
るには±０．１℃程度で湿度調節する必要があり、これ
を実現するのは極めて困難であった。
本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので
、出力の温ｌ！係数を極めて小さくした小型、高感度、
低ノイズのβ線検出装置を実現することを目的としてい
る。
、出力の温ｌ！係数を極めて小さくした小型、高感度、
低ノイズのβ線検出装置を実現することを目的としてい
る。
（問題点を解決するための手段）
本発明のβ線検出装置はＣｄＴｅ結晶を用いたβ線検出
器と、このβ線検出器の温度を検出する温度検出手段と
、この温度検出手段の出力Ｊ５よび前記β線検出器の出
力を入力し前記β線検出器の出力が含む暗電流およびβ
線感度の温度変化に基づく誤差を補正演算する補正演算
回路とを備えたことを特徴とする。
器と、このβ線検出器の温度を検出する温度検出手段と
、この温度検出手段の出力Ｊ５よび前記β線検出器の出
力を入力し前記β線検出器の出力が含む暗電流およびβ
線感度の温度変化に基づく誤差を補正演算する補正演算
回路とを備えたことを特徴とする。
（実施例）
以下本発明を図面を用いて詳しく説明する。
第１図は本発明に係るβ線検出装置の一実施例を承り（
育成ブロック図である。１はβ線を検出するβ線検出器
、１１はこのβ線検出器１を構成するＣｄＴｅ３３板、
１２はこの基板１１上の一方に設けられたＡＱ主電極１
３は基板１１上の他方に設りられたＡｕ電極、２は前記
電極１２および１３が接続する電流・電圧変換増幅器、
３は前記β線検出器１の温度を検出する温度検出器（温
度センリ）、４はこの温度検出器３の出力が接続する温
度変換器、５はこの温度変換器４および前記電流・電圧
変換増幅器２の出力が接続する補正演算器である。
育成ブロック図である。１はβ線を検出するβ線検出器
、１１はこのβ線検出器１を構成するＣｄＴｅ３３板、
１２はこの基板１１上の一方に設けられたＡＱ主電極１
３は基板１１上の他方に設りられたＡｕ電極、２は前記
電極１２および１３が接続する電流・電圧変換増幅器、
３は前記β線検出器１の温度を検出する温度検出器（温
度センリ）、４はこの温度検出器３の出力が接続する温
度変換器、５はこの温度変換器４および前記電流・電圧
変換増幅器２の出力が接続する補正演算器である。
第２図（Δ）は上記のβ線検出器１の平面図、第２図Ｃ
Ｂ ）は同側面図である。第３図は第２図のβ線検出器
１をホルダに収納した状態の断面図である。ｐ形Ｃｄ丁
ＣつＩハの一方の面に真空蒸着によりＡＱ薄膜を例えば
５０００八程度形成し、熱処理（４００〜４５０℃、１
００分間程度）を行ってΔＱ’ＴＩ極１２を形成し、他
方の面にはへＵメッキ（塩化金水溶液の塗布による）の
オーム性電極１３を形成する。導電性ペースト１４でリ
ード線１５を取出し、シリコンゴム１６でＡＰ電極１２
面以外を覆って保護する。これをさらに間口部１７にへ
２ホイール１８簀の薄い膜の窓を遮光用に取付けたボル
ダ１９に格納づる。β線検出器１のリード線１５はコネ
クタ２０を介して外部の増幅器２に接続される。
Ｂ ）は同側面図である。第３図は第２図のβ線検出器
１をホルダに収納した状態の断面図である。ｐ形Ｃｄ丁
ＣつＩハの一方の面に真空蒸着によりＡＱ薄膜を例えば
５０００八程度形成し、熱処理（４００〜４５０℃、１
００分間程度）を行ってΔＱ’ＴＩ極１２を形成し、他
方の面にはへＵメッキ（塩化金水溶液の塗布による）の
オーム性電極１３を形成する。導電性ペースト１４でリ
ード線１５を取出し、シリコンゴム１６でＡＰ電極１２
面以外を覆って保護する。これをさらに間口部１７にへ
２ホイール１８簀の薄い膜の窓を遮光用に取付けたボル
ダ１９に格納づる。β線検出器１のリード線１５はコネ
クタ２０を介して外部の増幅器２に接続される。
このような構成のβ線検出装置の動作を次に説明する。
β線検出器１の出ツノ電流は電流・電圧変換増幅器２で
電圧に変換され、補正演算回路５に入力する。β線検出
器１の温度は温度検出器３で検出され、温度変換器４を
介して補正ａｍ回路５に入力する。補正演算回路５の動
作を以下に示づ。
電圧に変換され、補正演算回路５に入力する。β線検出
器１の温度は温度検出器３で検出され、温度変換器４を
介して補正ａｍ回路５に入力する。補正演算回路５の動
作を以下に示づ。
第４図はβ線を照射しないときのβ線検出器１のＯト心
流の温度依存性を示す特性曲線図である。
流の温度依存性を示す特性曲線図である。
図ではβ線検出器１の温度を横軸に、電流・電圧変換増
幅器２の出力電圧を縦軸に取っている。
幅器２の出力電圧を縦軸に取っている。
第５図の■１は”ＫｒＧ源に対して２６６゜２ｇ／ｍ２
ｉ１１′吊のΔρ板の吸収サンプル（厚さ測定対象）を
介したときの、β線の感度出力の温度依存性を第４図と
同様に示したものである。このｎｌ電流とβ線感麿出力
の双方を含む出力電圧から第４図の暗電流の出力電圧を
差引（ことにより、β線感麿出力のみの温度特性を求め
ることができる。口の暗電流とβ緑感１（出力の温度特
性に対しそれぞれ測定値から実験的な近似式をあらかじ
め求めておき、補正演算回路５においてβ線検出器１の
素子温度に対応する前記近似式の値を用いて、温度係数
を消去する。第５図のｖ２は補正演算回路５出力の温度
特性を示す特性曲線図で、温度係数がぽと／υどなくな
っている。上記の実験的な近（以式は素子形状によって
異なるが、一定の素子形状で検出器を構成すれば、一定
の近似式を使用できる。
ｉ１１′吊のΔρ板の吸収サンプル（厚さ測定対象）を
介したときの、β線の感度出力の温度依存性を第４図と
同様に示したものである。このｎｌ電流とβ線感麿出力
の双方を含む出力電圧から第４図の暗電流の出力電圧を
差引（ことにより、β線感麿出力のみの温度特性を求め
ることができる。口の暗電流とβ緑感１（出力の温度特
性に対しそれぞれ測定値から実験的な近似式をあらかじ
め求めておき、補正演算回路５においてβ線検出器１の
素子温度に対応する前記近似式の値を用いて、温度係数
を消去する。第５図のｖ２は補正演算回路５出力の温度
特性を示す特性曲線図で、温度係数がぽと／υどなくな
っている。上記の実験的な近（以式は素子形状によって
異なるが、一定の素子形状で検出器を構成すれば、一定
の近似式を使用できる。
このような構成の装置にＪ：れば、検出素子の温麿変動
によって出力の変化を伴わない、小型、高１、’ｔＡ
ＩＸ、低ノイズ〈統計的ゆらぎによるノイズ）で、応答
の速いβ線検出装置を実現できる。このように従来の電
離箱より（倚れた特性を有するβ線検出装置は用途が広
く、実用的価１ｉｆｉが極めて高い。
によって出力の変化を伴わない、小型、高１、’ｔＡ
ＩＸ、低ノイズ〈統計的ゆらぎによるノイズ）で、応答
の速いβ線検出装置を実現できる。このように従来の電
離箱より（倚れた特性を有するβ線検出装置は用途が広
く、実用的価１ｉｆｉが極めて高い。
なお上記の実施例における補正演算回路５はハードで構
成する以外に、コンピュータにソフト化しデータ処理す
ることもできる。
成する以外に、コンピュータにソフト化しデータ処理す
ることもできる。
また検出部を恒温槽に入れ、この恒温槽の温度を温度検
出器３の出力に対応して制御すれば、出力の温度変化分
が小さくなり、さらに良い補正と信頼性が実現できる。
出器３の出力に対応して制御すれば、出力の温度変化分
が小さくなり、さらに良い補正と信頼性が実現できる。
この場合は、第５図からも明らかなように、恒温槽の湿
炭調節が例えば２８℃±１０℃のようにかなり大きく変
ｅ シても問題ない。
炭調節が例えば２８℃±１０℃のようにかなり大きく変
ｅ シても問題ない。
（発明の効果）
以上〕ホベたように本発明によれば、出力の温度係数を
極めて小さくした小型、高感度、低ノイズのβ線検出装
置を簡単な構成で実現することができる。
極めて小さくした小型、高感度、低ノイズのβ線検出装
置を簡単な構成で実現することができる。
第１図は本発明に係わるβ線検出装置の一実施例を示す
構成ブト１ツク図、第２図（Ａ）は第１図装置の一部の
平面図、第２図（Ｂ）は同側面図、第３図は第１図装置
の一部の断面図・第４図および第５図は第１図装置の動
作を説明するための動作説明図である。 １・・・β線検出器、３・・・湿度検出手段、５・・・
補正演惇手段、１１・・・Ｃｄ工ｅ枯晶。 第４１．Ｆ？１ 第 ５図 Ｔｅｍｐ（ｄｅｇ 、Ｃ）
構成ブト１ツク図、第２図（Ａ）は第１図装置の一部の
平面図、第２図（Ｂ）は同側面図、第３図は第１図装置
の一部の断面図・第４図および第５図は第１図装置の動
作を説明するための動作説明図である。 １・・・β線検出器、３・・・湿度検出手段、５・・・
補正演惇手段、１１・・・Ｃｄ工ｅ枯晶。 第４１．Ｆ？１ 第 ５図 Ｔｅｍｐ（ｄｅｇ 、Ｃ）
Claims (1)
- ＣｄＴｅ結晶を用いたβ線検出器と、このβ線検出器の
温度を検出する温度検出手段と、この温度検出手段の出
力および前記β線検出器の出力を入力し前記β線検出器
の出力が含む暗電流およびβ線感度の温度変化に基づく
誤差を補正演算する補正演算手段とを備えたことを特徴
とするβ線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7031486A JPS62226082A (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | β線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7031486A JPS62226082A (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | β線検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62226082A true JPS62226082A (ja) | 1987-10-05 |
Family
ID=13427867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7031486A Pending JPS62226082A (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | β線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62226082A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06138236A (ja) * | 1992-10-27 | 1994-05-20 | Toshiba Glass Co Ltd | ガラス線量測定装置 |
| JP2002202377A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-07-19 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51127774A (en) * | 1975-04-28 | 1976-11-08 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Temperature compensation circuit for radiant ray detector |
| JPS5292577A (en) * | 1975-12-30 | 1977-08-04 | Inst Fuijika Na Tabaadoto Taya | Nucleous radiation detector |
| JPS5550179A (en) * | 1978-10-06 | 1980-04-11 | Oyo Koken Kogyo Kk | Scintillation detector |
| JPS57100364A (en) * | 1980-10-24 | 1982-06-22 | Commissariat Energie Atomique | Portable calculator |
-
1986
- 1986-03-28 JP JP7031486A patent/JPS62226082A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51127774A (en) * | 1975-04-28 | 1976-11-08 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Temperature compensation circuit for radiant ray detector |
| JPS5292577A (en) * | 1975-12-30 | 1977-08-04 | Inst Fuijika Na Tabaadoto Taya | Nucleous radiation detector |
| JPS5550179A (en) * | 1978-10-06 | 1980-04-11 | Oyo Koken Kogyo Kk | Scintillation detector |
| JPS57100364A (en) * | 1980-10-24 | 1982-06-22 | Commissariat Energie Atomique | Portable calculator |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06138236A (ja) * | 1992-10-27 | 1994-05-20 | Toshiba Glass Co Ltd | ガラス線量測定装置 |
| JP2002202377A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-07-19 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
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