JP2737102B2 - 蛍光ガラス線量計測定装置 - Google Patents
蛍光ガラス線量計測定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、蛍光ガラス線量計の放
射線被ばく線量を測定する蛍光ガラス線量計測定装置に
係わり、特に蛍光ガラス線量計の放射線被ばく線量測定
の際に照合用として用いる内部校正ガラスの自然被ばく
線量の補正手段を改良した蛍光ガラス線量計測定装置に
関する。
射線被ばく線量を測定する蛍光ガラス線量計測定装置に
係わり、特に蛍光ガラス線量計の放射線被ばく線量測定
の際に照合用として用いる内部校正ガラスの自然被ばく
線量の補正手段を改良した蛍光ガラス線量計測定装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、蛍光ガラス線量計には、銀イオ
ンを含有するリン酸塩ガラス（銀活性リン酸塩ガラスと
も呼ぶ）が使用されている。このリン酸塩ガラスは、放
射線の照射を受けて被ばくするとガラス体内に蛍光中心
が生じ、この状態においてリン酸塩ガラスに対し、紫外
線で励起すると、橙色の蛍光ラジオフォトルミネッセン
スが発生する。このときの蛍光強度は放射線の被ばく線
量に比例するので、この蛍光強度を検出することにより
被ばく放射線量を測定できる。
ンを含有するリン酸塩ガラス（銀活性リン酸塩ガラスと
も呼ぶ）が使用されている。このリン酸塩ガラスは、放
射線の照射を受けて被ばくするとガラス体内に蛍光中心
が生じ、この状態においてリン酸塩ガラスに対し、紫外
線で励起すると、橙色の蛍光ラジオフォトルミネッセン
スが発生する。このときの蛍光強度は放射線の被ばく線
量に比例するので、この蛍光強度を検出することにより
被ばく放射線量を測定できる。
【０００３】このような放射線量の測定は、紫外線励起
用光源からの光を光学的フィルタを介して所定波長以上
の光を遮断した後、透過した紫外線を直方体状のリン酸
塩ガラスの一側面に垂直に入射する。しかる後、この紫
外線の励起によってリン酸塩ガラスから発する蛍光を入
射光線に対し直角方向から取り出し、さらにフィルタを
介して所定波長範囲の透過光を取り出した後、光電子増
倍管で電気信号に変換することにより、この電気信号レ
ベルから蛍光強度を測定し、被ばく線量を求めるもので
ある。
用光源からの光を光学的フィルタを介して所定波長以上
の光を遮断した後、透過した紫外線を直方体状のリン酸
塩ガラスの一側面に垂直に入射する。しかる後、この紫
外線の励起によってリン酸塩ガラスから発する蛍光を入
射光線に対し直角方向から取り出し、さらにフィルタを
介して所定波長範囲の透過光を取り出した後、光電子増
倍管で電気信号に変換することにより、この電気信号レ
ベルから蛍光強度を測定し、被ばく線量を求めるもので
ある。
【０００４】このような放射線量の測定にあっては、予
め所定の蛍光量（校正線量）を発生する蛍光標準ガラス
としての校正ガラスが用いられており、この校正ガラス
の校正線量とリン酸塩ガラスから発生する蛍光量とを比
較することにより、リン酸塩ガラスの被ばく放射線量を
求めている。
め所定の蛍光量（校正線量）を発生する蛍光標準ガラス
としての校正ガラスが用いられており、この校正ガラス
の校正線量とリン酸塩ガラスから発生する蛍光量とを比
較することにより、リン酸塩ガラスの被ばく放射線量を
求めている。
【０００５】ところで、このような蛍光ガラス線量計測
定装置の校正を行う場合には、次のような２種類の校正
方法が用いられる。
定装置の校正を行う場合には、次のような２種類の校正
方法が用いられる。
【０００６】（１） 外部校正 この外部校正は、線量測定値のトレーサビリティ（高位
の標準）を確保するために行うものであって、予め基準
放射線量照射量（以下、基準照射値と呼ぶ）を照射した
外部校正ガラスを用いて蛍光ガラス線量計測定装置に内
蔵されている内部校正ガラスの値づけを行っている。こ
の値づけとは、外部校正ガラスの基準照射値などを用い
て内部校正ガラスの線量値を決定することである。この
校正操作は、装置の設置段階の初期設定時および定期的
（例えば１回／３ヵ月または１回／６ヵ月）に行うもの
である。
の標準）を確保するために行うものであって、予め基準
放射線量照射量（以下、基準照射値と呼ぶ）を照射した
外部校正ガラスを用いて蛍光ガラス線量計測定装置に内
蔵されている内部校正ガラスの値づけを行っている。こ
の値づけとは、外部校正ガラスの基準照射値などを用い
て内部校正ガラスの線量値を決定することである。この
校正操作は、装置の設置段階の初期設定時および定期的
（例えば１回／３ヵ月または１回／６ヵ月）に行うもの
である。
【０００７】（２） 内部校正 この内部校正は、外部校正ガラスによって値づけされた
内部校正ガラスを用いて日常使用時の測定装置の校正を
行う。この校正操作は、測定開始時および予め定めた測
定回数ごとに自動的に行う。
内部校正ガラスを用いて日常使用時の測定装置の校正を
行う。この校正操作は、測定開始時および予め定めた測
定回数ごとに自動的に行う。
【０００８】因みに、以上のような２種類の校正ガラス
と校正後の蛍光ガラス線量計の線量測定値との間には次
のような関係式が成立する。
と校正後の蛍光ガラス線量計の線量測定値との間には次
のような関係式が成立する。
【０００９】 線量測定値＝Ａ・（Ｂ0 ／Ｂｎ）・（Ｄ／Ｃ） 但し、Ａ：蛍光ガラス線量計の蛍光読取値（被ばく量に
比例するＡ／Ｄ変換後値であって、以下、読取値につい
て同じ）、Ｂ0 ：外部校正実行時の内部校正ガラスの蛍
光読取値、Ｂｎ：内部校正実行時の内部校正ガラスの蛍
光読取値、Ｃ：外部校正実行時の外部校正ガラスの蛍光
読取値、Ｄ：外部校正実行時の外部校正ガラスの基準照
射値である。
比例するＡ／Ｄ変換後値であって、以下、読取値につい
て同じ）、Ｂ0 ：外部校正実行時の内部校正ガラスの蛍
光読取値、Ｂｎ：内部校正実行時の内部校正ガラスの蛍
光読取値、Ｃ：外部校正実行時の外部校正ガラスの蛍光
読取値、Ｄ：外部校正実行時の外部校正ガラスの基準照
射値である。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以上の
ような校正方法には、次のような問題がある。
ような校正方法には、次のような問題がある。
【００１１】外部校正ガラスを用いて外部校正を行うイ
ンターバルが比較的長い場合、測定装置内部の内部校正
ガラスが年間０．６ｍＳｖ〜２ｍＳｖの自然被ばくを受
けて徐々に蛍光強度が増大するので、測定装置の校正誤
差，すなわち蛍光ガラス線量計の測定誤差が無視できな
いこと。
ンターバルが比較的長い場合、測定装置内部の内部校正
ガラスが年間０．６ｍＳｖ〜２ｍＳｖの自然被ばくを受
けて徐々に蛍光強度が増大するので、測定装置の校正誤
差，すなわち蛍光ガラス線量計の測定誤差が無視できな
いこと。
【００１２】この問題点の解決策としては、外部校正ガ
ラスによる校正の実行頻度を多くすることが考えられる
が、外部校正ガラス自身も自然被ばくを受けて線量値が
増加するので、外部校正を行うごとに外部校正ガラスの
基準照射を実施する必要があり、校正作業が煩雑化する
問題がある。
ラスによる校正の実行頻度を多くすることが考えられる
が、外部校正ガラス自身も自然被ばくを受けて線量値が
増加するので、外部校正を行うごとに外部校正ガラスの
基準照射を実施する必要があり、校正作業が煩雑化する
問題がある。
【００１３】一方、外部校正の実行日から内部校正の実
行日までの期間と、単位時間当たりの自然被ばく線量を
表す補正係数とから内部校正ガラスの自然被ばく線量を
演算し、この演算値を用いて補正し内部校正を行う方法
も考えられるが、時間的に単位時間当りの自然被ばく線
量に変化があったとき、その変化分がそのまま補正誤差
となってしまう。
行日までの期間と、単位時間当たりの自然被ばく線量を
表す補正係数とから内部校正ガラスの自然被ばく線量を
演算し、この演算値を用いて補正し内部校正を行う方法
も考えられるが、時間的に単位時間当りの自然被ばく線
量に変化があったとき、その変化分がそのまま補正誤差
となってしまう。
【００１４】さらに、特開平３−２９１５９３号公報で
は、予め内部校正ガラスの線量値を大きくして自然被ば
くによる影響を減ずる方法が提案されているが、この場
合には相対的に自然被ばくによる誤差を小さくするだけ
であり、例えば線量計の線量測定値が小さい場合には前
述と同様に大きな誤差を伴う問題がある。
は、予め内部校正ガラスの線量値を大きくして自然被ば
くによる影響を減ずる方法が提案されているが、この場
合には相対的に自然被ばくによる誤差を小さくするだけ
であり、例えば線量計の線量測定値が小さい場合には前
述と同様に大きな誤差を伴う問題がある。
【００１５】本発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、内部校正ガラスの自然被ばく線量を適切に補正し、
外部校正を行うことなく高精度に測定線量値の校正処理
を行う蛍光ガラス線量計測定装置を提供することを目的
とする。
で、内部校正ガラスの自然被ばく線量を適切に補正し、
外部校正を行うことなく高精度に測定線量値の校正処理
を行う蛍光ガラス線量計測定装置を提供することを目的
とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１に対応する発明は、蛍光ガラス線量計の放
射線被ばく線量を測定する蛍光ガラス線量計測定装置に
おいて、装置内部に内蔵され、前記線量計の放射線被ば
く線量を校正する校正線量を有する内部校正ガラス素子
と、この内部校正ガラス素子の自然被ばく線量をモニタ
する自然被ばくモニタ素子と、内部校正時に前記自然被
ばくモニタ素子から得られる自然被ばく線量を用いて前
記内部校正ガラス素子の自然被ばく線量を補正し、か
つ、この補正後の当該内部校正ガラス素子の校正線量を
用いて前記線量計の放射線被ばく線量を校正する測定線
量補正手段とを設けた蛍光ガラス線量計測定装置であ
る。
に、請求項１に対応する発明は、蛍光ガラス線量計の放
射線被ばく線量を測定する蛍光ガラス線量計測定装置に
おいて、装置内部に内蔵され、前記線量計の放射線被ば
く線量を校正する校正線量を有する内部校正ガラス素子
と、この内部校正ガラス素子の自然被ばく線量をモニタ
する自然被ばくモニタ素子と、内部校正時に前記自然被
ばくモニタ素子から得られる自然被ばく線量を用いて前
記内部校正ガラス素子の自然被ばく線量を補正し、か
つ、この補正後の当該内部校正ガラス素子の校正線量を
用いて前記線量計の放射線被ばく線量を校正する測定線
量補正手段とを設けた蛍光ガラス線量計測定装置であ
る。
【００１７】
【作用】従って、請求項１に対応する発明は以上のよう
な手段を講じたことにより、外部校正後に蛍光ガラス線
量計の放射線被ばく線量を校正する内部校正ガラス素子
が期間の経過にしたがって自然被ばくを受けるが、新た
に自然被ばく線量をモニタリングする自然被ばくモニタ
素子を設け、内部校正時に前記モニタ素子の自然被ばく
線量を用いて前記内部校正ガラス素子の自然被ばく線量
を補正し、当該内部校正ガラス素子の校正線量だけを用
いて蛍光ガラス線量計の放射線被ばく線量を校正するの
で、外部校正を行うことなく内部校正だけを用いて高精
度に線量計の放射線被ばく線量を測定することができ
る。
な手段を講じたことにより、外部校正後に蛍光ガラス線
量計の放射線被ばく線量を校正する内部校正ガラス素子
が期間の経過にしたがって自然被ばくを受けるが、新た
に自然被ばく線量をモニタリングする自然被ばくモニタ
素子を設け、内部校正時に前記モニタ素子の自然被ばく
線量を用いて前記内部校正ガラス素子の自然被ばく線量
を補正し、当該内部校正ガラス素子の校正線量だけを用
いて蛍光ガラス線量計の放射線被ばく線量を校正するの
で、外部校正を行うことなく内部校正だけを用いて高精
度に線量計の放射線被ばく線量を測定することができ
る。
【００１８】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１９】図１は本発明に係わる蛍光ガラス線量計測
定装置の一実施例を示す構成図である。この測定装置
は、被ばく線量測定用ガラス素子（蛍光ガラス線量
計）、外部校正ガラス素子、内部校正ガラス素子、自然
被ばくモニタガラス素子等に拘らず、これら各ガラス素
子に対する紫外線の励起によって当該ガラス素子から発
する蛍光量を検出する読取装置１と、演算に必要な指示
データや外部校正実行時に外部校正ガラス素子に照射す
る基準照射値等を入力する入力装置２と、読取装置１に
よって読み取った各蛍光読取値や入力装置２から入力さ
れた基準照射値などを用いて所定の処理を実行するデー
タ演算処理部３と、読取装置１による読取データおよび
入力装置２からの基準照射値、さらには演算処理過程の
データを記憶する記憶部４、演算結果を出力する表示部
５およびプリンタ６とによって構成されている。
定装置の一実施例を示す構成図である。この測定装置
は、被ばく線量測定用ガラス素子（蛍光ガラス線量
計）、外部校正ガラス素子、内部校正ガラス素子、自然
被ばくモニタガラス素子等に拘らず、これら各ガラス素
子に対する紫外線の励起によって当該ガラス素子から発
する蛍光量を検出する読取装置１と、演算に必要な指示
データや外部校正実行時に外部校正ガラス素子に照射す
る基準照射値等を入力する入力装置２と、読取装置１に
よって読み取った各蛍光読取値や入力装置２から入力さ
れた基準照射値などを用いて所定の処理を実行するデー
タ演算処理部３と、読取装置１による読取データおよび
入力装置２からの基準照射値、さらには演算処理過程の
データを記憶する記憶部４、演算結果を出力する表示部
５およびプリンタ６とによって構成されている。
【００２０】前記データ演算処理部３は図２に示すよう
な機能からなっている。このデータ演算処理部３は、外
部校正実行時に外部校正ガラス素子に基準放射線量を照
射したときの基準照射値を入力装置２から入力して記憶
部４に記憶する基準照射値入力記憶手段１１と、外部校
正時における外部校正ガラス素子，内部校正ガラス素子
および自然被ばくモニタガラス素子に対する紫外線の励
起によって発する蛍光量を読み取って前記記憶部４に記
憶する値づけ用ガラス蛍光量読取記憶手段１２と、この
値づけ用ガラス蛍光量読取記憶手段１２によって得られ
た蛍光量読取値および前記基準照射値入力記憶手段１１
によって記憶された基準照射値を用いて内部校正ガラス
素子の被ばく線量を決定する内部校正用ガラス値づけ手
段１３と、内部校正処理用ガラス，つまり内部校正ガラ
ス素子，自然被ばくモニタガラス素子を測定位置に設定
する内部校正処理用ガラス搬送手段１４と、この搬送手
段１４により設定された各ガラス素子に対する紫外線の
励起によって発する蛍光量を読取る内部校正処理用ガラ
ス蛍光量読取手段１５と、ガラス素子線量計の測定結果
を補正する測定線量補正手段１６とが設けられている。
な機能からなっている。このデータ演算処理部３は、外
部校正実行時に外部校正ガラス素子に基準放射線量を照
射したときの基準照射値を入力装置２から入力して記憶
部４に記憶する基準照射値入力記憶手段１１と、外部校
正時における外部校正ガラス素子，内部校正ガラス素子
および自然被ばくモニタガラス素子に対する紫外線の励
起によって発する蛍光量を読み取って前記記憶部４に記
憶する値づけ用ガラス蛍光量読取記憶手段１２と、この
値づけ用ガラス蛍光量読取記憶手段１２によって得られ
た蛍光量読取値および前記基準照射値入力記憶手段１１
によって記憶された基準照射値を用いて内部校正ガラス
素子の被ばく線量を決定する内部校正用ガラス値づけ手
段１３と、内部校正処理用ガラス，つまり内部校正ガラ
ス素子，自然被ばくモニタガラス素子を測定位置に設定
する内部校正処理用ガラス搬送手段１４と、この搬送手
段１４により設定された各ガラス素子に対する紫外線の
励起によって発する蛍光量を読取る内部校正処理用ガラ
ス蛍光量読取手段１５と、ガラス素子線量計の測定結果
を補正する測定線量補正手段１６とが設けられている。
【００２１】次に、以上のような構成の測定装置の動作
について図３を参照して説明する。先ず、外部校正の実
行時に外部校正ガラス素子２１に対して基準放射線量を
照射するが、このときの基準照射値Ｄを入力装置２から
入力する（基準照射値入力記憶手段１１）。なお、入力
装置２からの基準照射値Ｄは、この時点ではなく、次の
値づけ用ガラス蛍光量読取記憶手段１２の実行後に入力
してもよい。
について図３を参照して説明する。先ず、外部校正の実
行時に外部校正ガラス素子２１に対して基準放射線量を
照射するが、このときの基準照射値Ｄを入力装置２から
入力する（基準照射値入力記憶手段１１）。なお、入力
装置２からの基準照射値Ｄは、この時点ではなく、次の
値づけ用ガラス蛍光量読取記憶手段１２の実行後に入力
してもよい。
【００２２】この値付用ガラス蛍光量読取記憶手段１２
では、搬送機構２２により外部校正ガラス素子２１を測
定位置２３に搬送設定した後、紫外線を励起し、読取装
置１にて外部校正ガラス素子２１の蛍光読取値Ｃを読取
って記憶部４に記憶する。また、搬送機構２４にて内部
校正ガラス２５および自然被ばくモニタガラス素子２６
の順序で測定位置２３に設定し、同様に外部校正実行時
での内部校正ガラス素子２５の蛍光読取値Ｂ0 、自然被
ばくモニタガラス素子２６の蛍光読取値Ｅ0 読取って記
憶部４に記憶する。
では、搬送機構２２により外部校正ガラス素子２１を測
定位置２３に搬送設定した後、紫外線を励起し、読取装
置１にて外部校正ガラス素子２１の蛍光読取値Ｃを読取
って記憶部４に記憶する。また、搬送機構２４にて内部
校正ガラス２５および自然被ばくモニタガラス素子２６
の順序で測定位置２３に設定し、同様に外部校正実行時
での内部校正ガラス素子２５の蛍光読取値Ｂ0 、自然被
ばくモニタガラス素子２６の蛍光読取値Ｅ0 読取って記
憶部４に記憶する。
【００２３】以上のようにしてＤ，Ｃ，Ｂ0 ，Ｅ0 を得
たならば、引き続き、これらデータＤ，Ｃ，Ｂ0 ，Ｅ0
を用いて、 （Ｂ0 −Ｅ0 ）・（Ｄ／Ｃ） …… （１） なる演算によって、装置内部の内部校正ガラス素子２５
の線量値を決定する。つまり、内部校正ガラス素子２５
の値づけを行うものである（内部校正ガラス値づけ手段
１３）。
たならば、引き続き、これらデータＤ，Ｃ，Ｂ0 ，Ｅ0
を用いて、 （Ｂ0 −Ｅ0 ）・（Ｄ／Ｃ） …… （１） なる演算によって、装置内部の内部校正ガラス素子２５
の線量値を決定する。つまり、内部校正ガラス素子２５
の値づけを行うものである（内部校正ガラス値づけ手段
１３）。
【００２４】従って、この時点では、内部校正実行時の
内部校正ガラス素子２５の蛍光読取値Ｂn および自然被
ばくモニタガラス素子２６の蛍光読取値Ｅn は、外部校
正直後であるので内部校正を実行しても、それぞれのガ
ラス素子２５，２６の蛍光読取値には何ら変化がないと
考えられるので、Ｂn ＝Ｂ0 ，Ｅn ＝Ｅ0 として記憶部
４に記憶する。
内部校正ガラス素子２５の蛍光読取値Ｂn および自然被
ばくモニタガラス素子２６の蛍光読取値Ｅn は、外部校
正直後であるので内部校正を実行しても、それぞれのガ
ラス素子２５，２６の蛍光読取値には何ら変化がないと
考えられるので、Ｂn ＝Ｂ0 ，Ｅn ＝Ｅ0 として記憶部
４に記憶する。
【００２５】その後、内部校正前における蛍光ガラス線
量計，つまり線量測定ガラス素子２７を搬送機構２２で
搬送して測定位置２３に設定した後、読取装置１により
蛍光読取値Ａを読取ったならば、次のような測定線量補
正手段１６を実行し、真の線量測定値を求める。
量計，つまり線量測定ガラス素子２７を搬送機構２２で
搬送して測定位置２３に設定した後、読取装置１により
蛍光読取値Ａを読取ったならば、次のような測定線量補
正手段１６を実行し、真の線量測定値を求める。
【００２６】 真の線量測定値＝Ａ・｛（Ｂ0 −Ｅ0 ）／（Ｂ0 −Ｅ0 ）｝・（Ｄ／Ｃ） ＝Ａ・（Ｄ／Ｃ） …… （２） その後、期間の経過とともに内部校正ガラス素子２５が
自然被ばくを受けるので、このまま内部校正ガラス素子
２５を用いて内部校正を行うと、自然被ばくによる誤差
を伴うことになる。
自然被ばくを受けるので、このまま内部校正ガラス素子
２５を用いて内部校正を行うと、自然被ばくによる誤差
を伴うことになる。
【００２７】そこで、本装置では、予め定めた時期ごと
に内部校正処理および誤差補正処理を実施するが、この
とき搬送機構２４にて内部校正ガラス素子２５および自
然被ばくモニタガラス素子２６を搬送して測定位置２３
に設定し（搬送手段１４）、紫外線の励起によってそれ
ぞれのガラス素子２５，２６の蛍光読取値Ｂn ，Ｅnを
読取る（読取手段１５）。
に内部校正処理および誤差補正処理を実施するが、この
とき搬送機構２４にて内部校正ガラス素子２５および自
然被ばくモニタガラス素子２６を搬送して測定位置２３
に設定し（搬送手段１４）、紫外線の励起によってそれ
ぞれのガラス素子２５，２６の蛍光読取値Ｂn ，Ｅnを
読取る（読取手段１５）。
【００２８】従って、以後の内部校正までは、蛍光ガラ
ス線量計，つまり線量測定ガラス素子２７の蛍光読取値
Ａを読取ったとき、真の線量読取値は下記する（３）式
により求めることができる。
ス線量計，つまり線量測定ガラス素子２７の蛍光読取値
Ａを読取ったとき、真の線量読取値は下記する（３）式
により求めることができる。
【００２９】 真の線量測定値＝Ａ・｛（Ｂ0 −Ｅ0 ）／（Ｂn −Ｅn ）｝・（Ｄ／Ｃ） …… （３） 従って、以上のような実施例の構成によれば、外部校正
を行った後、次の外部校正を実行するインターバルが長
いとき、内部校正時に得られた自然被ばくを伴った内部
校正ガラス素子２５の蛍光読取値Ｂn と自然被ばくモニ
タガラス素子２６の蛍光読取値Ｅn とを測定し、前記
（３）式のごとく常に内部校正ガラス素子２５の自然被
ばく量分を差し引くような補正処理を行っているので、
長期間にわたって外部校正なしで高精度に蛍光ガラス線
量計の線量読取値を校正できる。
を行った後、次の外部校正を実行するインターバルが長
いとき、内部校正時に得られた自然被ばくを伴った内部
校正ガラス素子２５の蛍光読取値Ｂn と自然被ばくモニ
タガラス素子２６の蛍光読取値Ｅn とを測定し、前記
（３）式のごとく常に内部校正ガラス素子２５の自然被
ばく量分を差し引くような補正処理を行っているので、
長期間にわたって外部校正なしで高精度に蛍光ガラス線
量計の線量読取値を校正できる。
【００３０】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではない。本実施例においては、自然被ばくモニタガ
ラス素子２６を測定装置に内蔵するようにしたが、内部
校正ガラス素子２５の自然被ばく量を正しくモニタする
位置に保存して使用することを前提とすれば、必ずしも
測定装置に内蔵する必要がなく、外部校正ガラス素子２
１と同様に校正時に外部から測定位置２３に設定すれば
よい。
のではない。本実施例においては、自然被ばくモニタガ
ラス素子２６を測定装置に内蔵するようにしたが、内部
校正ガラス素子２５の自然被ばく量を正しくモニタする
位置に保存して使用することを前提とすれば、必ずしも
測定装置に内蔵する必要がなく、外部校正ガラス素子２
１と同様に校正時に外部から測定位置２３に設定すれば
よい。
【００３１】その他、本発明はその要旨を逸脱しない範
囲で種々変形して実施できる。
囲で種々変形して実施できる。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、内
部校正ガラスの自然被ばく線量に変化があっても、長期
間にわたって外部校正なしで、内部校正だけで線量測定
値を高精度に校正できる蛍光ガラス線量計測定装置を提
供できる。
部校正ガラスの自然被ばく線量に変化があっても、長期
間にわたって外部校正なしで、内部校正だけで線量測定
値を高精度に校正できる蛍光ガラス線量計測定装置を提
供できる。
【図１】本発明に係わる蛍光ガラス線量計測定装置の一
実施例を示す全体構成図。
実施例を示す全体構成図。
【図２】図１に示すデータ演算処理部の機能構成を示す
図。
図。
【図３】校正処理時の動作を説明する図。
１…読取装置、２…入力装置、３…データ演算処理部、
４…記憶部、２１…外部校正ガラス素子、２５…内部校
正ガラス素子、２６…自然被ばくモニタガラス素子、２
７…線量測定ガラス素子（蛍光ガラス線量計）。
４…記憶部、２１…外部校正ガラス素子、２５…内部校
正ガラス素子、２６…自然被ばくモニタガラス素子、２
７…線量測定ガラス素子（蛍光ガラス線量計）。
Claims (1)
- 【請求項１】 蛍光ガラス線量計の放射線被ばく線量を
測定する蛍光ガラス線量計測定装置において、 装置内部に内蔵され、前記線量計の放射線被ばく線量を
校正する校正線量を有する内部校正ガラス素子と、 この内部校正ガラス素子の自然被ばく線量をモニタする
自然被ばくモニタ素子と、 内部校正時に前記自然被ばくモニタ素子から得られる自
然被ばく線量を用いて前記内部校正ガラス素子の自然被
ばく線量を補正し、かつ、この補正後の当該内部校正ガ
ラス素子の校正線量を用いて前記線量計の放射線被ばく
線量を校正する測定線量補正手段と、 を備えたことを特徴とする蛍光ガラス線量計測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25730093A JP2737102B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | 蛍光ガラス線量計測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25730093A JP2737102B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | 蛍光ガラス線量計測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07113871A JPH07113871A (ja) | 1995-05-02 |
| JP2737102B2 true JP2737102B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=17304455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25730093A Expired - Fee Related JP2737102B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | 蛍光ガラス線量計測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2737102B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4261145B2 (ja) | 2001-09-19 | 2009-04-30 | 株式会社リコー | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、その方法をコンピュータに実行させるためのプログラム |
-
1993
- 1993-10-14 JP JP25730093A patent/JP2737102B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07113871A (ja) | 1995-05-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |