JPH04229994A - Ｘ線フィルム露出時間の自動決定方法及びその実施装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線フィルムを備え、
物体の検査に使用されるＸ線装置に関するものであり、
特に、このようなＸ線装置において、物体を検査しなが
ら、Ｘ線フィルムが受ける「ルミネーション」または「
照射量」（すなわち、受けた光の量と露出時間の積）を
予測して、フィルムの黒化度すなわち光学濃度が所定の
レベルの達した時露出を停止することのできる方法に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】Ｘ線装置は、Ｘ線管と放射線のレシーバ
を備え、その間に検査される被検査物体、例えば、患者
の身体の一部分が置かれる。例えば、フィルム／増感板
の組である画像レシーバは、適切な露出時間で、フィル
ムの現像後に、被検査物体の画像を提供する。被検査物
体の画像を可能な限り有効に使用するためには、その画
像を構成する各ドットが他のドットに対して十分なコン
トラストを有する必要があり、すなわち、Ｘ線フィルム
の黒化度は、Ｘ線写真が撮影された被検査物体の不透明
さに差があることがあってもＸ線画像ごとに最適でなけ
ればならない。フィルムの黒化度は、フィルム／増感板
の組に入射する放射エネルギー量、すなわち、Ｘ線フィ
ルムが受ける放射線の強度、すなわち、「フィルム」線
量率とフィルムがこの放射を受ける時間の積に関係する
。従って、各Ｘ線照射で一定のフィルムの黒化度を得る
ためには、検査中、通常、レシーバの前に配置され、Ｘ
線照射に感応して、「フィルム」線量率に比例した電流
を与える検出セルによって、フィルムへの入射エネルギ
ーを測定する方法が公知である。この電流は、露出の開
始時から、積分回路で積分され、この積分回路は露出の
間増大する値を出力する。露出時間中に、この増大する
値を、フィルムの特性の関数として前もって設定された
一定の基準値に比較する。露出時間の終了は、フィルム
への入射エネルギーを示す値が基準値に等しいことをそ
の比較が示す瞬間によって決定される。Ｘ線フィルムが
直接Ｘ線照射を受け、検査毎の露出時間の変化は十分に
小さい時、露出時間Ｓと線量率Ｆとの積が一定、すなわ
ち、積分の結果の値が一定であるならば、その露出時間
Ｓとは無関係に、各露出で一定のフィルムの黒化度が得
られる。これは、フィルムの特性が、フィルムの光学濃
度が積Ｆ×Ｓに比例しているという相反法則に従ってお
り、フィルムの応答が入射Ｘ線ビームとは無関係である
ときのみ真実である。露出時間の変化が大きい時、この
相反法則はもはや成立しない。また、Ｘ線フィルムを増
感板と組み合わせると、フィルムの黒化度はスペクトル
の品質によって決定される。それは、増感板の応答は、
受けた放射線のスペクトルのエネルギー分布によって決
定されるからであり、すなわち、スペクトルの硬さとＸ
線管の電圧の変化に対して感応することを意味するから
である。さらに、放射線エネルギーは、その時、検出セ
ルがフィルム上に見えるようにするので、検出セルをフ
ィルムの前に配置するとコストがかかる使用法（例えば
、マンモグラフィ）がある。この場合、検出セルは画像
レシーバの後ろに配置されるが、この配置は、検出セル
によって認識される信号がフィルム黒化度に貢献しない
ものなので、別の問題点の原因となる。その結果、検出
セルによって行われる測定は、通常、Ｘ線フィルムに対
する入射ルミネーションを示さない。相反法則からの逸
脱は、フィルムの種類に応じて変化し、Ｘ線照射スペク
トルが一定であり、露出時間Ｓが変化する時一定の光学
濃度を得るために必要なルミネーションの相対変化を示
す。これは、フィルムの同じ光学濃度を得るためには、
例えば、露出時間Ｓ＝０．１　秒で１、Ｓ＝１秒で１．
３　、Ｓ＝４秒で２である。この相反法則からの逸脱は
、シュヴァルツシルド（Ｓｃｈｗａｒｚｃｈｉｌｄ）効
果として公知の現象によるものである。この効果は、特
に、ピエール　　グラフキド（ＰｉｅｒｒｅＧＬＡＦＫ
ＩＤＳ）　による著作「写真の化学と物理（ＣＨＩＭＩ
Ｅ　ＥＴ　ＰＨＹＳＩＱＵＥ　ＰＨＯＴＯＧＲＡＰＨＩ
ＱＵＥＳ）」第４版、２３４　〜２３８　頁（ピュブリ
カシォン　　フォト−シネマ　　ポール　　モンテル（
ＰＵＢＬＩＣＡＴＩＯＮＳ　ＰＨＯＴＯ−ＣＩＮＥＭＡ
　Ｐａｕｌ　ＭＯＮＴＥＬ））に記載されている。

【０００３】相反法則からのこの逸脱を考慮するために
様々な方法が提案された。そのうちの１つの方法が、フ
ランス国特許第２，５８４，５０４　号に記載されてい
る。この特許は、検出セルによって出力された信号の積
分値と露出時間中に一定の関係式に応じて変化する基準
値とを比較することを提案している。より正確には、各
露出時間の始点から、補足値を積分信号の値と基準値と
の間の差に加算する。この補足値は、前もって決定され
た関係式、例えば、指数関係式に応じて時間の関数とし
て大きくする。この前もって決定された関係式は、それ
が指数であってもなくても、相反法則からの逸脱を考慮
するが、不完全でしかない。特に、フィルムが有効に受
けた光度の変化を考慮しない。また、この補正は、Ｘ線
が通過する物体に厚さによるＸ線照射の硬化やＸ線間の
電圧によるスペクトルの変化などの他の現象の効果を考
慮していない。また、この方法では、検出セルは、画像
レシーバの前に配置される。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、露出時間中に、作用する様々な効果、特に、Ｘ線管
の電流の変化、通過する物体の厚さによるスペクトルの
硬化、Ｘ線管の電圧によるスペクトルの変化、及び、増
感板が存在する時はこの増感板の吸収応答を考慮して、
露出を停止する瞬間を自動的に決定する方法を提供する
ことである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は、被検査物体に
対して可変の期間Ｓのパルスの形態でＸ線を放射するＸ
線管と、少なくとも１つの増感板とこの増感板によって
放射された光の感応するフィルムとによって構成された
、被検査物体の画像を形成するように被検査物体を通過
したＸ線のためのＸ線レシーバと、このＸ線レシーバの
後方に配置され、Ｘ線ビームを特徴付ける物理的変数を
測定信号Ｌに変換することのできる、上記被検査物体を
通過したＸ線を検出するためのセル、露出時間Ｓの間測
定信号Ｌを積分し、信号Ｍを出力する積分回路と、露出
時間ＳとＸ線管の陽極電流Ｉの積Ｉ×Ｓ（またはｍＡ．
ｓ）　に対するＭの比として与えられる放射線量Ｄを計
算する装置とを備え、供給電圧Ｖが連続的または不連続
的に変化する様々な値Ｖｍ　をとることができる、被検
査物体を検査するためのＸ線装置における、Ｘ線フィル
ムの露出時間を自動的に決定する方法であって、下記の
段階を含む、すなわち；（ａ）　　１つまたは複数の増
感板を備えないレシーバを使用して、厚さＥｐ　の物体
によってＸ線撮影装置の第１の較正を実施して、以下の
関数；　　　　　　　　Ｄｓｅ＝ｆ’　（Ｖｍ　、Ｅｐ
　）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（
４）と、以下の逆関数； 　　　　　　　　Ｅｐ　＝ｇ’　（Ｖｍ　、Ｄｓｅ）　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（５）を
決定し、（ｂ）　　増感板を備えるレシーバを使用して
、厚さＥｐ　の物体によってＸ線撮影装置の第２の較正
を実施して、以下の関数； 　　　　　　　　Ｄｃ　＝ｆ’’（Ｖｍ　、Ｅｐ　）　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（６）以
下の逆関数； 　　　　　　　　Ｅｐ　＝ｇ’’（Ｖｍ　、Ｄｃ　）　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（７）及
び以下の関数； 　　　　　　　　Ｄｆ　＝ｆ’　（Ｖｍ　、Ｅｐ　）−
ｆ’’（Ｖｍ　、Ｅｐ　）　　（８）を決定し、（ｃ）
　　一定の基準条件下で、フィルムが受けなければなら
ない基準ルミネーションＬｒｅｆ　を決定する第３の較
正を実施して、使用者によって基準値として選択された
黒化度（または光学密度）を達成する、ことからなるこ
とを特徴とする方法に関するものである。

【０００６】

【作用】これらの較正を実施した時、下記の段階、すな
わち； （ｅ１）　　　Ｘ線撮影される物体の位置決定、（ｅ２
）　　　使用者による露出の開始のトリガ、（ｅ３）　
　　露出の開始後、時間ｔ’での放射線量Ｄｃ１の測定
、（ｅ４）　　　式（７）による等価的な厚さＥ１　の
計算、（ｅ５）　　　式（８）による厚さＥ１　のフィ
ルムでの放射線量Ｄｆ１の計算、　（ｅ６）　　　式　
　Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．ｓ　　　　　　　
　　　　　　　　　　　（９）によるフィルムが受けた
ルミネーションＬｆ　の計算、　（ｅ７）　　　式　　
Ｌｒａ＝Ｌｒｅｆ−Ｌｆ　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　（１０）　によって決定され
る黒化度（または光学濃度）を得るために必要なルミネ
ーションＬｒａの計算、　（ｅ８）　　　式　　ｍＡｓ
ｒ＝Ｌｒａ／Ｄｆ１　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　（１１）によって決定された黒化
（または光学濃度）を得るために、概算ｍＡ．ｓを与え
るｍＡｓｒの計算、（ｅ９）　　　作業　（ｅ３）　の
始点から、ｍＡ．ｓを与えるｍＡｓｍｅｓ　の測定、（
ｅ１０）　　（ｅ９）において測定された、ｍＡ．ｓの
測定値ｍＡｓｍｅｓ　がｍＡｓｒと等しいまたはそれよ
り大きい時は、露出を停止、（ｅ９）において測定され
たｍＡ．ｓがｍＡｓｒより小さい時は、段階（ｅ３）に
戻ることからなる物体のＸ線検査を行うことが可能であ
る。上記段階（ｅ８）は、上記段階ｅ４〜ｅ８の期間ｔ
ｃ　の間に、式； 　　　　ｍＡｓｃ　＝Ｉ×ｔｃ　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
（１３）　によって定義される、ｍＡ．ｓを与えるｍＡ
ｓｃ　を計算して、式； 　　　　ｍＡｓｒａ＝ｍＡｓｒ　−　ｍＡｓｃ　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　（１２）　のように、獲得すべきｍＡ．ｓの実際の
値ｍＡｓｒａを決定することができる。

【０００７】第１の変形例では、上記段階（ｅ１０）　
は、さらに、式； 　　　　ｔｒｃ＝ｍＡｓｒａ／Ｉ　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（
１４）　で示される残りの露出時間ｔｒｃを計算し、ｔ
ｒｃが、２つの連続した段階（ｅ３）の間の間隔に対応
する値ｔ０　より小さくなると露出を停止させることを
含む。第２の変形例では、上記段階（ｅ３）から（ｅ１
０）　を、下記の作業；段階（ｅ４）から（ｅ８）と、
ｍＡ．ｓを　　　　　　ＣＥｔａｒｇｅｔ＝ｍＡｓｒａ
×Ｄｃ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　（１６）のようにセル１２単位で信号に変換
する段階からなる、与えられるべきｍＡ．ｓを予測する
予測タスク（Ｔ．Ｅ．）セルが受けた信号によって目標
値ＣＥｔａｒｇｅｔをデクリメントし、デクリメントさ
れた値が値Ｖａｌ０（Ｖａｌ０は、例えば、０である）
以下になると、露出を終了させることからなる中断タス
ク（Ｔ．Ｃ．） に置き換える。予測タスク（Ｔ．Ｅ．）は、露出中に、
計算時間ｔｃ以上の期間互いに離れた瞬間ｔ１、ｔ２、
・・・ｔｎで周期的に更新される。別の変形例では、段
階（ｅ１０）　は、残り露出時間ｔｒｃを計算して、開
ループで露出を終了する段階に置き換える。更に別の変
形例では、　　　　Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．
ｓ／ＣＮＲＤ（フィルム線量率）　　　　（９’）及び
、 　　　　ｍＡｓｒａ＝（Ｌｒａ／Ｄｆ１）×ＣＮＲＤ（
フィルム線量率）　　　　　　（１１’）（但し、これ
らの式において、ＣＮＲＤ（フィルム線量率）は、レシ
ーバのフィルム線量率の関数として指数化された非相反
係数であり、フィルム線量率は、　　　　Ｄｆ１×Ｉ　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（１
７）　である） で表される非相反作用を考慮するように段階（ｅ６）及
び（ｅ８）を変更する。上記係数ＣＮＲＤ（フィルム線
量率）は、以下の段階； 露出時間（ｔｉ　）　の関数としてフィルム／増感板の
組の非相反係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）　を測定し、フィル
ム線量率（ｄｉ　）　の各露出時間（ｔｉ　）　を測定
し、式；　　ＣＮＲＤ（ｄ）＝Ａ’０＋Ａ’１ｌｏｇ（
１／ｄ）＋Ａ’２〔ｌｏｇ（１／ｄ）〕２　（２０）の
ように、係数ＣＮＲＤ（ｄｉ　）　の標準化関数を算出
し、それによって、所与のフィルム線量率に対応する係
数を算出する ことによって得られる。フィルム線量率は、例えば、式
　　　　ｄｉ　＝〔Ｌｒｅｆ　×ＣＮＲＴ（ｔｉ）〕／
ｔｉ　　　　　　　　　　　　　　　　　　（２２）に
よって与えられる。

【０００８】基準ルミネーションは、下記の段階（また
は作業）を含む較正方法によって決定される；基準光学
濃度ＤＯｒｅｆ０、標準厚さＥ０　、供給電圧Ｖ０　、
露出時間ｔ０　及び積Ｉ０　×ｔ０　の値の所定のＸ線
撮影条件下で撮影し、放射線量Ｄ０　を測定し、　　式
　　Ｅｐ０＝ｇ’’（Ｖ０　、Ｄ０　）　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　（７）によって等
価の厚さＥｐ０を計算し、 　　式　　Ｄｆ０＝ｆ’（Ｖ０　、Ｅ０　）−ｆ’’（
Ｖ０　、Ｅ０　）　　　　（８）によってフィルム上の
放射線量Ｄｆ０を計算し、　　式　　Ｌｆｉｌｍ＝Ｄｆ
０×Ｉ０　×ｔ０　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　（２３）　によって、フィルム上の
輝度Ｌｆｉｌｍを計算し、感光曲線によって基準光学濃
度ＤＯｒｅｆ０に対応する照明段階Ｅｃｈｒｅｆ　を計
算し、得られた写真の光学密度ＤＯｍ　を測定し、感光
曲線によって照明段階Ｅｃｈｍ　を計算し、式；　　Ｌ
ｒｅｆ　＝Ｌｆｉｌｍ×ｅｘｐ　［ｌｏｇ１０〔（Ｅｃ
ｈｒｅｆ　−Ｅｃｈｍ　）／Ｋ〕］　　　（２５）　　
　　　（但し、Ｋ＝２／ｌｏｇ１０（２）　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
（２６）　）　によって、基準ルミネーションを計算す
る。フィルム線量率の関数である非相反係数ＣＮＲＤ（
ｄ）は、以下の段階； 露出時間（ｔｉ　）　の関数としてフィルム／増感板の
組の非相反係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）　を測定し、フィル
ム線量率（ｄｉ　）　の各露出時間（ｔｉ　）　を測定
し、式；　　ＣＮＲＤ（ｄ）＝Ａ’０＋Ａ’１ｌｏｇ（
１／ｄ）＋Ａ’２〔ｌｏｇ（１／ｄ）〕２　（２０）の
ように、係数ＣＮＲＤ（ｄｉ　）　の標準化関数を算出
し、それによって、所与のフィルム線量率に対応する係
数を算出する ことによって得られる。露出時間（ｔｉ　）の関数であ
る非相反係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）は、異なる方法で、例
えば、以下の段階； （ａ１）　　Ｘ線管加熱電流を変更して、この電流の異
なる値を得て、（ａ２）　　異なる露出時間ごとに積分
回路によって出力される値Ｍ（ｔｉ　）を読み取り、フ
ィルムの光学濃度Ｄ０１　を得て、（ａ３）　　比　　
　　　　　　Ｍ（ｔｉ　）／Ｍ（ｔｒｅｆ　）　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（２９）　
を計算し、それによって、ｔｉ　＝ｔｒｅｆ　の場合、
値Ｍ（ｔｉ　）であるＭ（ｔｒｅｆ　）を有する係数Ｃ
ＮＲＴ（ｔｉ　）を計算する、ことによって得られる。 係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）は、以下の関数； 　　　　ＣＮＲＴ（ｔ）＝Ａ０＋Ａ１　　ｌｏｇ　ｔ＋
Ａ２〔ｌｏｇ　ｔ〕２　　　　　　（１８）　によって
標準化される。

【０００９】Ｘ線撮影装置の画像レシーバがフィルム型
であり、検出セルが画像レシーバの前か後ろに配置され
ている時、上記の操作ａ、ｂ、ｃ及び段階ｅ１からｅ１
０　は、以下の段階に減少される。（ａ’）　　画像レ
シーバとしてフィルムを使用して、上記Ｘ線装置を較正
して、以下の分析モデル； 　　　　　　　　　　　　　　Ｄ’ｆ　＝ｆ’’’　（
Ｖｍ　、Ｅｐ）　　　　　　　　　　　　　　　　　（
３０）　を決定し、（ｃ’）　　画像レシーバとしてフ
ィルムを使用して、一定の基準条件下で、較正によって
フィルムが受けるべき基準ルミネーションＬ’ｒｅｆ　
を測定し、使用者が基準値として選択した黒化度（また
は光学濃度）を達成し、（ｅ’１）　　　　Ｘ線撮影さ
れる物体の位置決定を実施し、（ｅ’２）　　　　使用
者が露出の開始をトリガし、（ｅ’３）　　　　露出の
開始後の時間ｔ’で放射線量Ｄ’ｆ１を測定し、（ｅ’
６）　　式； 　　　　　　　　Ｌ’ｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄ’ｆ１×δｍＡ
．ｓ（フィルム線量率）　　　　（９’’）による、フ
ィルムが受けたルミネーションＬ’ｆ　の計算、（ｅ’
７）　　式； 　　　　　　　　Ｌ’ｒａ＝Ｌｃｖｎ　−Ｌ’ｆ　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
（１０’’）　による、選択される黒化度　（または光
学濃度）　を得るために必要なルミネーションＬ’ｒａ
の計算、（ｅ’８）　　式；　　　　　　　　ｍＡｓ’
ｒａ＝Ｌ’ｒａ／Ｄ’ｆ１×ＣＮＲＤ（フィルム線量率
）（１１’’）による、選択された黒化度（または光学
濃度）を得るために、概算ｍＡ．ｓを与えるｍＡｓ’ｒ
ａの計算し、続く他の段階ｅ９及びｅ１０は、変更しな
い。本発明の他の目的、特徴及び利点は、添付図面を基
準して行う本発明の方法についての以下の説明とこの方
法を実施するのに使用するＸ線撮影装置の実施例によっ
て明らかになろう。

【００１０】

【実施例】Ｘ線撮影される被検査物体１３の露光時間を
自動決定するための本発明による方法を適用することの
できるＸ線撮影装置は、この被検査物体１３を照射する
Ｘ線ビームを供給するＸ線管等のＸ線源１１とこの物体
を通過したＸ線を受けるように位置決定されており、適
切の露光時間Ｓとフィルムの現像後被検査物体１３の画
像を提供するフィルム／増感板等の画像レシーバ１７と
を備える。 本発明の方法を実施するために、装置はさらに検出セル
１２を備える。この検出装置は、増感板を備えるＸ線フ
ィルムの場合は画像レシーバ１７の後方に配置されてい
る。 増感板を備えないフィルムの場合は、この検出セルを画
像レシーバの前方に位置することができる。この検出セ
ル１２によって、物体と画像レシーバを通過したＸ線照
射の物理的な可変の特性値、例えば、ＫＥＲＭＡまたは
エネルギー流量等を例えば電気型の測定信号Ｌに変換す
ることができる。検出セル１２によって出力された信号
Ｌは、露光時間Ｓの間積分を実施する積分回路１６に入
力される。その積分から発生した信号Ｍは、露光時間Ｓ
中に被検査物体１３を通過したＸ線照射の測定である。 Ｘ線源１１は、Ｘ線管に可変の高圧Ｖｍ　を供給し、こ
の管の陽極電流Ｉの測定装置を備える電源装置１５に接
続されている。露光時間Ｓを変更するために、供給装置
１５及びＸ線管は、正確な瞬間にＸ線放出を開始し、本
発明の方法によると、積分回路１６によって出力された
信号Ｍ及びＩ、Ｓ及びＶｍ　の値、及び、より正確には
、放射線量Ｄと呼ばれ、計算装置１８によって計算され
る比Ｍ／（Ｉ×Ｓ）の関数として決定される可変の時間
Ｓの後にその放出を停止させる手段を備える。放射線量
Ｄの値は、本発明の方法によると、コンピュータまたは
マイクロプロセッサ１９によって処理され、露光終了信
号を出力する。

【００１１】その方法の第１の作業は、図１のＸ線撮影
装置の較正を実施して、Ｘ線フィルムが受けたルミネー
ションの測定の関数を導くことにある。この較正及び測
定関数は、同日に出願される「Ｘ線フィルムが受けたル
ミネーションの測定及び較正方法（ＭＥＴＨＯＤ　ＦＯ
Ｒ　ＴＨＥ　ＥＳＴＩＭＡＴＩＯＮ　ＡＮＤ　ＣＡＬＩ
ＢＲＡＴＩＯＮ　ＯＦ　ＴＨＥ　ＬＵＭＩＮＡＴＩＯＮ
　ＲＥＣＥＩＶＥＤ　ＢＹ　Ａ　ＲＡＤＩＯＧＲＡＰＨ
ＩＣ　ＦＩＬＭ）」と題するフランス国特許出願に記載
されている。説明の以下の部分を理解するために、Ｘ線
フィルムが受けたルミネーションを測定する方法は、フ
ィルムに対するその上の光子の線量率、いわゆるフィル
ム線量率に比例する関数を定義することになる較正及び
フィルム線量率関数と一定の基準条件下でフィルムが受
けるルミネーションとの間の関係を設定するのに使用さ
れ、その結果、フィルムの所定の黒化度が起こる較正に
基づくものである。この後者の較正について、以下に詳
細に説明する。フィルム線量率を決定することのできる
較正は、「Ｘ線撮影装置の較正及び物体の等価な厚さの
測定方法（ＭＥＴＨＯＤ　ＦＯＲ　ＴＨＥ　ＣＡＬＩＢ
ＲＡＴＩＯＮ　ＯＦ　Ａ　ＲＡＤＩＯＬＯＧＩＣＡＬＳ
ＹＳＴＥＭ　ＡＮＤ　ＦＯＲ　ＴＨＥ　ＭＥＡＳＵＲＥ
ＭＥＮＴ　ＯＦ　ＴＨＥ　ＥＱＵＩＶＡＬＥＮＴ　ＴＨ
ＩＣＫＮＥＳＳ　ＯＦ　ＡＮ　ＯＢＪＥＣＴ）」と題さ
れた、１９９０年６月８日に出願されたアメリカ合衆国
特許出願第０７／５３５，５２０　号によるものである
。この方法は、選択した供給電圧Ｖｍ　で各標準につい
て検出セルの放射線量Ｄを測定することからなる。より
正確には、第１の厚さの規格Ｅ１　で、所定の組を構成
する各値Ｖｍ　について放射線量Ｄ１ｍの測定を実施す
る。電圧Ｖｍ　の関数としてこれらの値Ｄ１ｍをグラフ
にすると、図２の点２１’　が得られる。 放射線量Ｄの測定を別の厚さの規格Ｅ２　について実施
すると、図２の点２２’　に対応する値Ｄ２ｍが得られ
る。このように、操作を連続して実施すると、各々、放
射線量Ｄ３ｍ、Ｄ４ｍ及びＤ５ｍと厚さＥ３　、Ｅ４　
及びＥ５　に対応する一連の点２３’　、２４’　及び
２５’　が得られる。

【００１２】図２では、放射線量ＤＰｍが対数のｙ軸値
として、供給電圧は２０〜４４ｋＶのＸ軸値として示さ
れていることに注意しなければならない。これらの一連
の点２１’〜２５’は、Ｘ線撮影装置の所定の形態での
パラメータＶｍ　及びＥｐ　の関数として放射線量Ｄの
挙動を決定する分析モデルのパラメータを決定するため
に使用される。この分析モデルは、以下の式； Ｄ＝ｆ（Ｖｍ　、Ｅｐ　）　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　（１）によって示される。 分析モデルのパラメータは、最小平均平方誤差方法等の
標準測定ツールによって調節される。曲線２１〜２５は
、以下の式； 　　　　Ｄ＝ｆ（Ｖｍ　、Ｅｐ　）＝ｅｘｐ［ｆ１（Ｖ
ｍ）＋Ｅｐ×ｆ２（Ｖｍ　）］　　（２）　　但し、上
記式において、ｆ１　（Ｖｍ　）及び　　ｆ２　（Ｖｍ
　）は、第２級多項式であり、以下のように示される。 ｆ１（Ｖｍ）　＝Ａ０　＋Ａ１Ｖｍ　＋Ａ２Ｖｍ２　ｆ
２（Ｖｍ）＝Ｂ０　＋Ｂ１Ｖｍ　＋Ｂ２Ｖｍ２　によっ
て示される分析モデルによって提供される放射線量Ｄの
値を図示したものである。Ｄ及びＶｍ　が公知であるな
らば、式２によって示された関数の逆関数によって、以
下の式３； 　　Ｅｐ＝ｇ（Ｖｍ、Ｄ）＝〔Ｌｎ（Ｄ）−ｆ１（Ｖｍ
）〕／ｆ２（Ｖｍ）　　　（３）によって、Ｅｐ　を計
算することができる。但し、放射線量Ｄは、電圧Ｖｍ　
では常に厚さＥｐ　によって変化するので、Ｖｍ　の電
流値ではｆ２　（Ｖｍ　）は無効にすることができない
ことは公知である。言い換えれば、値（Ｅｐ　、Ｖｍ　
）の組について、放射線量Ｄの測定が対応し、それによ
って、Ｖｍ　及びＤの関数としてＥｐ　を決定すること
ができる。Ｘ線検査中、所定の供給電圧Ｖｍ　で実施さ
れる放射線量Ｄの測定によって、Ｅｐ　に使用する単位
で示した等価の厚さを決定することができる。この較正
は、画像レシーバ１７に関しては異なるＸ線撮影装置の
形態で２度実施される。これらの較正作業の第１の較正
は、増感板を備えない画像レシーバ１７を使用して実施
される。 式１によって、関数ｆ’を決定し、以下の式；Ｄｓｅ＝
ｆ’（Ｖｍ、Ｅｐ　）　　　　　　　　　　　　（４）
のような基準検出セル１２の値Ｄｓｅ及び以下の式；Ｅ
ｐ　＝ｇ’　（Ｖｍ、Ｄｓｅ）　　　　　　　　　　　
　（５）の逆関数の値を得る。本発明の方法の第２の操
作は、増感板を備える画像レシーバ１７を使用する第２
の較正を実施することからなり、次に、一連の放射線量
値Ｄｃ　が得られ、上記のように、以下の式；Ｄｃ　＝
ｆ’’（Ｖｍ、Ｅｐ　）　　　　　　　　　　　　（６
）のように関数ｆ’’及び以下の式；Ｅｐ　＝ｇ’’（
Ｖｍ、Ｄｃ　）　　　　　　　　　　　　（７）の逆関
数が決定される。

【００１３】上記の２つの較正操作から、フィルム上の
放射線量を示す関数Ｄｆ　が演繹される。関数Ｄｆ　は
、以下の式によって示される；　Ｄｆ　＝Ｄｓｅ−Ｄｃ
　すなわち、Ｄｆ　＝ｆ’（Ｖｍ、Ｅｐ）−ｆ’’（Ｖ
ｍ、Ｅｐ）　　　　　　　　（８） この関数Ｄｆ　は、例えば、フィルム／増感板を含むカ
ートリッジの出力面から来る、増感板と検出セル１２と
の間の追加的なフィルタ作用によるＸ線照射スペクトル
の変更を考慮していない。それを考慮に入れるためには
、式８のＥｐ　を（Ｅｐ　−ｓｕｐ．ｆｉｌｔｅｒ）　
　（但し、ｓｕｐ．ｆｉｌｔｅｒは、このフィルタ作用
に対応するＸ線照射された物体に等価の厚さである）に
置換する。この等価の厚さは、例えば、ビーム１４内に
このフィルタ作用に等価の物体を配置し、機械の形態に
応じて等価の厚さｇ’　またはｇ’’を決定する較正さ
れた関数を使用することによって得られる。Ｄｆ　×Ｉ
×ｔの積は、期間ｔの間、陽極電流Ｉで増感板に吸収さ
れるエネルギーに比例しているのて、フィルム線量率と
して基準される量Ｄｆ　×Ｉはフィルム上の入射光子の
線量率に比例しており、検出セル１２の信号の測定単位
で表示される。この比例性の法則は、増感板によって放
出される光子の数がそれ自体吸収されるエネルギーに比
例しているので、より能率的に確認れる。増感板によっ
て放出される光子の数が吸収されたエネルギーの関数と
して別の関係式を満たしている時、この別の関係式をＤ
ｆ　×Ｉに当てはめ、フィルム線量率を得ることが必要
である。

【００１４】最終較正は、上記の電気関数をフィルムの
黒化度の値、すなわち、露出の終点で得られるべき光学
濃度に結合させることからなる。この値は、使用者によ
って、フィルム／増感板の組、診断の種類、検査すべき
患者の身体の部分及びＸ線写真を検査するその使用者の
従来の方法の関数として選択される。この選択によって
、基準ルミネーションＬｒｅｆ　、すなわち、一定の基
準条件下で、このようにある程度の黒化度に達するため
にフィルムが受けなければならないルミネーションを決
定することができる。Ｌｒｅｆ　を決定するために使用
さる方法を以下に説明する。これらの較正操作は、物体
または患者のＸ線照射検査のたびに実施されるのではな
く、各回で、その時間中のＸ線撮影装置の特性の変化、
特に、Ｘ線管の老化等の変化を考慮する。これらの操作
の結果は、式４〜８によって示した関数としてマイクロ
プロセッサ１９のメモリ内に記録する。これは、Ｄｃ　
を分かれば、マイクロプロセッサ１９でＥｐ　を計算す
ることができ、従って、Ｄｆ　を計算することができる
ことを示している。

【００１５】患者のＸ線検査の間、本発明による方法は
、さらに、以下の主な段階（または操作）の実施からな
る； （ｅ１）　　Ｘ線撮影される物体の位置決定、（ｅ２）
　　使用者による露出の開始のトリガ、（ｅ３）　　露
出の開始後、時間ｔ’　での放射線量ＤＣ　の測定、（
ｅ４）　　放射線量ＤＣ　Ｋ測定からの等価の厚さの計
算、（ｅ５）　　フィルムでの放射線量Ｄｆ１の計算、
（ｅ６）　　露出の開始からフィルムが受けたルミネー
ションの計算、（ｅ７）　　選択した黒化度　（または
光学濃度）　を得るために必要なルミネーションの計算
、（ｅ８）　　選択した黒化度を得るためにＸ線管によ
って放出される概算ｍＡ．ｓの計算、（ｅ９）　　場合
によって露出の開始または上記の測定から放出されたｍ
Ａ．ｓ（ｍＡｓｍｅｓ　と称する）の測定、（ｅ１０）
　ｍＡｓｍｅｓ　が計算されたｍＡｓｒと等しいまたは
それより大きい時は、露出を停止し、小さい時は、段階
（ｅ３）に戻る。「ルミネーション」という語は、受け
る光量（線量）、例えば、感光面の照度ＥＣと露出時間
の積として定義されていることに注意しなければならな
い。段階ｅ３は、露出の開始後時間ｔ’で計算装置１８
によって出力された積分値Ｄを測定することからなり、
但し、積分回路１６は場合によって露出の開始時か最後
の測定後零に設定されていることが公知である。積分時
間ｔ’は、場合によっては、露出の開始から経過した時
間または最後の測定から経過した時間に対応する。段階
ｅ４は、前記のように、Ｘ線撮影装置の第１の較正から
マイクロプロセッサ１９によって実施される。この段階
は、式７によって支配され、次に、等価の厚さの値Ｅ１
　が得られる。この方法の第２の反復及び続く反復にお
いて、等価の厚さの測定が第１の反復中に十分に正確に
されたほど、段階ｅ４を実施する必要はない。段階ｅ５
は、式８によって定義された関数を使用して、厚さＥ１
　に対応するフィルムＤｆ１の放射線量を計算すること
からなる。それによって、特に、画像レシーバの増感板
の影響を考慮することができる。この操作は、上記に簡
単に記載した。段階ｅ６は、以下の式； Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．ｓ　　　　　　　　
　　　　（９）（但し、この式において、Ｌａｍは段階
ｅ３の前にフィルムが受けたルミネーション、δｍＡ．
ｓは時間ｔ’中に管が放出したｍＡ．ｓの数であり、管
の電流Ｉと積分時間Ｓとの積によって定義される） を適用して、露出の開始時からフィルムが受けたルミネ
ーションＬｆ　を算出することからなる。段階ｅ７は、
所定の黒化度を得るために必要な残りのルミネーション
Ｌｒａを計算することからなる。これは、以下の式１０
によって算出される； Ｌｒａ＝Ｌｒｅｆ　−Ｌｆ　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　（１０）　段階ｅ８は、選択した黒化
度を得るために放出される残りのｍＡ．ｓを計算するこ
とからなり、これは以下の式１１によった算出される； ｍＡｓｒ＝Ｌｒａ／Ｄｆ１　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　（１１）　次に、計算中に放出されたｍＡ
．ｓの数ｍＡｓｃを演繹することができる。従って、実
際に残っている獲得すべきｍＡ．ｓは、以下の式で定義
される； ｍＡｓｒａ＝ｍＡｓｒ−ｍＡｓｃ　　　　　　　　　　
　　　　　　（１２）　但し、ｍＡｓｃ＝Ｉ×ｔＣ　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　（１３）（但し
、ｔＣ　は、計算にかかった時間）段階ｅ１０は、以下
の選択を行うことからなる。すなわち、放出すべき残り
のｍＡｓの値、または、再度、なおかかる露出時間によ
って露出を停止するかまたは続行するか、または、露出
時間の終点での測定値の測定を再計算する。

【００１６】露出終了の基準は、以下のように決定され
る。以下の式の値： Ｄｉｆ（ｍＡ．ｓ）　＝ｍＡｓｒａ−ｍＡｓｍｅｓ　　
　　　（１５）が０または一定の値Ｖａｌ０より小さい
時、マイクロプロセッサ１９は電源装置１５に作用して
Ｘ線照射を停止させる。 そうでない場合は、段階ｅ３に戻る。以下の関係式；ｔ
ｒｃ＝ｍＡｓｒａ／Ｉ　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　（１４）　によって定義される、残りの経過
すべき露出時間ｔｒｃの値について補足のテストを行う
ことができる。この補足のテストは、ｔｒｃがｔ０　よ
り小さい時測定値ｍＡｓｒａを変更しないことからなる
。その時、露出終了は、露出終了操作、すなわち、放出
されたｍＡ．ｓの数のデクリメントとこの数が零以下に
なると露出の停止だけの継続中に開ループで終了する。 ｔ０　の可能な値は、段階ｅ３に対応する２つの測定の
間の時間の間隔にほぼ等しい値である。 従って、この場合、操作ｅ１０は、以下の２つのテスト
を含む； ─露出を停止すべきかどうかを決定するｍＡｓｒａにつ
いての第１のテスト、─放出すべき残りのｍＡｓの新規
な測定を行うか値ｍＡｓｒａを露出の終了まで固定する
かどうかを決定するｔｒｃについての第２のテスト。こ
の場合、露出終了テストは、ｍＡｓｒａについて、周期
的に実施される。 また、残りの経過時間を測定する操作と露出停止装置を
別々に実施して、さらに、露出物の精度を向上させるこ
とができる。従って、この方法は、以下のように分離さ
せる。すなわち、露出の終了前に放出すべき残りのｍＡ
．ｓを測定するためのタスクＴ．Ｅ．及び露出を停止す
るためるタスクＴ．Ｃ．である。放出すべき残りのｍＡ
．ｓを測定するためのタスクＴ．Ｅ．は、操作ｅ３〜ｅ
８によって構成されるが、これにｍＡ．ｓを下記のよう
に、ＣＥｔａｒｇｅｔ＝ｍＡｓｒａ×Ｄｃ　　　　　　
　　　　　　　　（１６）　検出セル１２の装置内の信
号に変換する装置ｅ’９を加える。この予測タスクＴ．
Ｅ．は、露出中、例えば、少なくとも計算時間ｔｃ　に
等しい周期で分離された測定時である時ｔ１、ｔ２・・
・ｔｎ　で周期的に更新される。予測タスクＴ．Ｅ．の
終点では、目標値ＣＥｔａｒｇｅｔが更新される。この
更新は、操作ｅ３の開始時の測定時と値ＣＥｔａｒｇｅ
ｔが操作Ｔ．Ｅ．の終点で更新された時との間に検出セ
ル１２が受けた信号を考慮しなければならない。露出を
停止するタスクＴ．Ｃ．は、検出セル１２が受けた信号
の関数として所定の値（または目標値）をデクリメント
することからなる。このタスクは、値ＣＥｔａｒｇｅｔ
が例えば零であるＶａｌ０以下になるとすぐに露出を停
止する。従って、タスクＴ．Ｃ．は、以下の段階（また
は操作）に要約することができる； （ｆ１）　　ある時間ｔｔｃ後に検出セル１２によって
積分信号Ｍｍ　を測定する、（ｆ２）　　目標値からこ
の値をデクリメントする（ＣＥｔａｒｇｅｔ−Ｍｍ　）
、（ｆ３）　　（ＣＥｔａｒｇｅｔ−Ｍｍ　）が　Ｖａ
ｌ０　より低い時露出を停止し、そうでない場合は（ｆ
１）に戻る。

【００１７】上記の方法は、画像レシーバ１７及び検出
セル１２が相反法則から逸脱していない限り正確に働く
。そうでない場合は、それを考慮するように操作ｅ６及
びｅ８を補足して、特定の測定及び計算によって補正係
数を決定しなればならない。ルミネーション及びフィル
ムの放射線量が作用する式９及び１１に、この補正係数
を導入する。従って、式９及び１１は下記のようになる
；　　　　Ｌｆ＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．ｓ／ＣＮＲ
Ｄ（フィルム線量率）　　（９’）　　　　　　ｍＡｓ
ｒａ＝（Ｌｒａ／Ｄｆ１）×ＣＮＲＤ（フィルム線量率
）　　　　（１１’）　　　　但し、フィルム線量率＝
Ｄｆ１×Ｉ　　　　　　　　　　　　（１７）　であり
、ＣＮＲＤは、フィルム上の光子の線量率の関数として
示された非相反作用を示す関数である。関数ＣＮＲＤは
、同日に出願される「Ｘ線フィルムの非相反作用を示す
関数の測定方法（ＭＥＴＨＯＤ　ＦＯＲ　ＴＨＥ　ＤＥ
ＴＥＲＭＩＮＡＴＩＯＮ　ＯＦ　ＴＨＥ　ＦＵＮＣＴＩ
ＯＮ　ＲＥＰＲＥＳＥＮＴＩＮＧ　ＴＨＥＥＦＦＥＣＴ
　ＯＦ　ＮＯＮ−ＲＥＣＩＰＲＯＣＩＴＹ　ＯＦ　Ａ　
ＲＡＤＩＯＧＲＡＰＨＩＣ　ＦＩＬＭ）　」と題した特
許出願に記載されている較正方法によって得られる。以
下の説明を理解するために、この較正方法は、まず、露
出時間ｔｉ　の関数としてフィルムの非相反係数を測定
するからなることに注意するとよい。この関数はＣＮＲ
Ｔ（ｔｉ　）と表記される。この関数ＣＮＲＴは実験的
に決定されるが、分析的関数として示すことができる。 より正確には、この方法は、様々な照射の強さＩＲｉ　
、フィルムの一定の光学濃度ＤＯｒｅｆｏ、例えば、Ｄ
Ｏｒｅｆｏ＝１を得るのに必要な露出時間の値ｔｉ　を
測定して、各露出時間ｔｉ　で積分回路１６によって出
力される値、すなわち、Ｍ（ｔｉ　）と呼ばれる値を読
み取ることからなる。 これらの値を、例えば、２分の１の露出時間に対応する
値である基準値Ｍ（ｔｒｅｆ）に比較して、比Ｍ（ｔｉ
　）／Ｍ（ｔｒｅｆ）　　　　　　　　　　　　　（２
９）を計算する。露出時間ｔｉ　で時間内の非相反係数
ＣＮＲＴ（ｔｉ　）を決定するのは、この比である。

【００１８】係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）を決定する別の方
法を以下に説明する。これらの係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）
は、例えば、光学濃度ＤＯｒｅｆｏ＝１及び基準露出時
間ｔｒｅｆ＝１秒の場合は図３の曲線による露出時間の
関数として互いに間歇する。この曲線は、所望の光学濃
度を得るのに必要なルミネーションは、露出時間と共に
大きくなることを示す。従って、この実施例では、２つ
の露出時間５０ｍｓと６．５ｓのエネルギーの比は、約
１．６　である。図３の曲線は、下記の式１８を有する
関数によって標準化される； 　　　　ＣＮＲＴ（ｔ）＝Ａｏ　＋Ａ１　ｌｏｇ　ｔ＋
Ａ２〔ｌｏｇ　ｔ〕２　　　　　（１８）　（但し、上
記式において、それらのパラメータＡｏ　、Ａ１　及び
Ａ２　は、最小誤差平方測定方法による測定点から測定
される） 原則的に、式９’及び１１’に考慮に入れたシュバルツ
シルド（Ｓｃｈｗａｒｚｃｈｉｌｄ）　効果は、関数Ｃ
ＮＲＴによって標準化される。フィルム線量率を示す関
数ＣＮＲＤを使用することの利点は、陽極電流の変化を
考慮することができることである。従って、式９’及び
１１’に応じて関数ＣＮＲＴを使用する自動露出器は、
例えば、管が減少負荷で作動するという利点がある。時
間表示係数ＣＮＲＴ（ｔ）から率表示係数ＣＮＲＤ（ｄ
）に行くには、係数ＣＮＲＴ（ｔ）はフィルム上の光子
線量率の値が必ずしも知られていない条件下で露出時間
を変えて測定することによって決定されているという事
実を考慮する必要がある。フィルム線量率ｄｉ　を各露
出時間ｔｉ　について測定すると、ｄｉ　についての係
数ＣＮＲＤ（ｄｉ　）の値は、対応する露出時間ｔｉ　
での係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）の値に等しくなり、以下の
関係式１９； 　　ＣＮＲＤ（ｄｉ　）＝ＣＮＲＴ（ｔｉ　）　　　　
　　　　　　　　（１９）が成立する。これらのＣＮＲ
Ｄ（ｄｉ　）の各値は、線量率の逆数１／ｄの関数とし
ての曲線（図４）によって互いに関係がある。この曲線
は、以下の式２０；　　ＣＮＲＤ（ｄ）＝Ａ’０＋Ａ’
１　ｌｏｇ（１／ｄ）＋Ａ’２〔ｌｏｇ　１／ｄ〕２　
（２０）　を有する関数によって標準化される。値ｄｉ
　は、特に、必ずしも較正に使用されていない検出セル
１２の測定単位で表示されているので、較正によって値
ｄｉ　が与えられない場合がある。従って、通常は、値
ｄｉ　は、以下の関係式；Ｌｒｅｆ　×ＣＮＲＴ（ｔｉ
　）＝ｄｉ　×ｔｉ　　　　　　　　　（２１） すなわち、ｄｉ　＝（Ｌｒｅｆ　×ＣＮＲＴ（ｔｉ　）
）／ｔｉ　　　　　（２２） によって公知の値ｔｉ　に関係づけなければならない。

【００１９】Ｌｒｅｆ　は、フィルムが所定の黒化度に
達し、非相反作用が補正された時、一定の公知のＸ線撮
影条件下でフィルムが受けるルミネーションであること
が思い出される。関数ＣＮＲＤを最終的に決定し、その
方法の最後の較正を説明するためには、説明すべき基準
ルミネーションを評価するのに使用される方法が残って
いる。この方法は、前記の「Ｘ線フィルムが受けたルミ
ネーションの測定及び較正方法（ＭＥＴＨＯＤ　ＦＯＲ
　ＴＨＥ　ＥＳＴＩＭＡＴＩＯＮ　ＡＮＤ　ＣＡＬＩＢ
ＲＡＴＩＯＮ　ＲＥＣＥＩＶＥＤ　ＢＹ　Ａ　ＲＡＤＩ
ＯＧＲＡＰＨＩＣＦＩＬＭ）　」と題する特許出願に記
載されている。基準ルミネーションは、フィルム上で得
られる光学濃度によって変化する。このルミネーション
を測定するためには、第１段階として、使用したフィル
ムの種類の感光グラムを形成し、所定のＸ線照射条件下
で、公知の厚さの規格を使用して、撮影しなければなら
ない。これらの所定のＸ線照射条件とは、例えば、以下
のものである；使用者の通常の使用法に応じて選択され
た基準光学濃度ＤＯｒｅｆ０、例えば、ＤＯｒｅｆ０＝
１、厚さの規格Ｅ０、供給電圧Ｖ０　、露出時間値ｔ０
　、積Ｉ０　×ｔ０　の値この撮影では、光学濃度ＤＯ
ｍ　及び値Ｍ０　、Ｉ０　、ｔ０　を測定する。これに
よって、式７によって等価の厚さＥｐ　を計算すること
ができる。次に、式６によって、フィルム上の放射線量
Ｄｆ　を計算する。これによって、以下の式；Ｌｆｉｌ
ｍ＝Ｄｆ　×Ｉ０　×ｔ０　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　（２３） によって、フィルムが受けるルミネーションＬｆｉｌｍ
を計算することができる。基準光学濃度ＤＯｒｅｆ０に
よって、使用したフィルムの感光曲線（図５）に対応す
る照明段階を計算することができる。この曲線は、感光
グラフ及び濃度メータによって描かれたものである。こ
れによって、使用する現像器の特性を考慮することがで
きる。その曲線は、例えば、マイクロプロセッサ１９に
関数として記録される（図１）。測定した光学濃度ＤＯ
ｍ　によって、感光曲線（図５）上のＤＯｍ　に対応す
る照射段階の値である測定段階Ｅｃｈｍ　を計算するこ
とができる。フィルム上のルミネーションの値Ｌｆｉｌ
ｍ、基準段階Ｅｃｈｒｅｆ及び測定段階Ｅｃｈｍ　によ
って、基準ルミネーションＬｒｅｆを計算して、感光曲
線（図５）のＸ軸のルミネーションと照射段階との間の
目盛りの変化を決定する式、すなわち、以下の式； 　　Ｅｃｈｍ　＝Ｅｃｈｒｅｆ＋Ｋ・ｌｏｇ１０（Ｌｆ
ｉｌｍ／Ｌｒｅｆ　）　　　　　　　　　（２４）　を
使用して、光学濃度ＤＯｒｅｆ０を得ることができる。 この式２４から以下の式が演繹される； 　　Ｌｒｅｆ　＝Ｌｆｉｌｍ×ｅｘｐ　［ｌｏｇ１０〔
（Ｅｃｈｒｅｆ−Ｅｃｈｍ　）／Ｋ〕］　　　　　　（
２５）但し、Ｋ＝２／ｌｏｇ１０２　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　（２６）　感光定数Ｋ
は、照射段階で選択された目盛りに対応する。値Ｌｒｅ
ｆ　は、式２４及び２５によってＬｆｉｌｍを介して、
ｔ０　によって決定される。従って、値Ｌｒｅｆ　は、
フィルムの非相反作用の影響を受ける。値Ｌｒｅｆ　に
ついて非相反性の影響を補正するためには、式２３で、
以下の式；　　Ｌｆｉｌｍ＝（Ｄｆ　×Ｉ０　×ｔ０　
）／ＣＮＲＴ（ｔ０　）　　　　　　　　　　（２３’
）　によって決定された値Ｌｆｉｌｍを使用すれば十分
である。 この基準ルミネーションＬｒｅｆ　は、基準光学濃度Ｄ
Ｏｒｅｆ０を得るための式１０で使用しなければならな
いものであり、式２５は、特に、そのルミネーションが
基準段階と測定段階との間の差によって変化することを
示している。フィルムが受けたルミネーションが分かる
と、式２２を使用することによってｄｉ　が分かり、そ
れから、式２０によってＣＮＲＤ（ｄｉ）が算出される
。

【００２０】ＤＯｒｅｆ０＝１ではないＸ線フィルムの
光学密度の場合、上記の操作を繰り返して、ＣＮＲＴ（
ｔｉ　）及びＬｒｅｆ　の新規な値を決定しなければな
らない。これらの操作を単純化するために、下記の段階
を実施して、係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）を得る；（ｇ１）
　　露出時間を基準時間ｔｒｅｆ０に設定した時、可変
の時間感光グラフによって、第１の感光グラムＳｒｅｆ
０を形成し、（ｇ２）　　異なる露出時間ｔｉ　で、可
変の時間感光グラフによって、ｑ個の感光グラムＳ１　
〜Ｓｑ　（図５）を形成し、（ｇ３）　　基準光学濃度
ＤＯｒｅｆ０、例えば、ＤＯｒｅｆ０＝１を選択し、（
ｇ４）　　各感光グラムについて、光学濃度ＤＯｒｅｆ
０＝１に対応する照射段階Ｅｃｈｒｅｆ０、Ｅｃｈ１・
・・Ｅｃｈｉ・・・Ｅｃｈｑを測定し、（ｇ５）　　以
下の式；　　　　ＣＮＲＴ（ｔｉ）＝ｅｘｐ［ｌｏｇ１
０〔（Ｅｃｈｒｅｆ０−Ｅｃｈｉ）／Ｋ〕］　　（２８
）によって、係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）を計算する。使用
者が異なる光学濃度で操作することを決定すると、上記
の較正を避けるたに、黒化度ＤＯｃｖｎ　について意図
的に補正した光学濃度を使用することが提案される。次
に、式１０で使用した基準ルミネーションＬｒｅｆ　を
、補正したルミネーションＬｃｖｎ　に置換する。この
補正ルミネーションＬｃｖｎ　は、以下の式で示される
； 　　Ｌｃｖｎ　＝Ｌｒｅｆ　×ｅｘｐ　〔ＣＶＮ／Γ×
Ｐ×ｌｏｇ（１０）　〕　　　　　　　　（２７）（但
し、上記式において、─ＣＶＮは、例えば、−１０〜＋
１０の範囲の整数によって示される黒化度の意図的な補
正であり、─Ｐは、　　光学密度の単位段階、例えば、
０．１　であり、─Λは、感光曲線（図５）の線形部分
の勾配である。

【００２１】上記の方法を実施するためには、いくつか
の較正が必要である。それらの較正を下記に示した；（
ａ）増感板のないカートリッジを使用して、以下の式の
分析モデル；Ｄｓｅ＝ｆ’　（Ｖｍ　、Ｅｐ　）　　　
　　　　　（４） カートリッジ及び増感板を使用して、以下の式の分析モ
デル；Ｄｃ　＝ｆ’’（Ｖｍ　、Ｅｐ　）　　　　　　
　　　（６）Ｅｐ　＝ｇ’’（Ｖｍ　、Ｄｃ　）　　　
　　　　　　　　　（７）を決定するＸ線装置の較正。 その差Ｄｆ　＝（Ｄｓｅ−Ｄｃ　）（式（８））によっ
て、増感板が吸収した放射線量を計算することができる
。（ｂ）　　時間の関数として表示された非相反性ＣＮ
ＲＴ（ｔ）の法則を決定するフィルムの較正。この法則
は、線量率の関数として表示された非相反法則ＣＮＲＤ
（ｄ）を決定するのに使用される。（ｃ）　　基準ルミ
ネーションＬｒｅｆ　の較正。これらの各較正を実施し
た時、本発明の方法は、以下の段階からなる；（ｄ）　
　使用者が、黒化度値または黒化度の意図的な補正値を
選択して、一定の基準条件下でフィルムが受けるべき目
標値ルミネーションＬｃｖｎ　を決定して、選択した黒
化度（すなわち光学濃度）を得る。その目標値ルミネー
ションＬｃｖｎ　は、式２７（但し、この式において、
ルミネーションＬｒｅｆ　は、較正ｃと式２５及び２６
とによって決定される）から計算される。（ｅ１）　　
　Ｘ線撮影される物体の位置決定 （ｅ２）　　　使用者による露出の開始のトリガ（ｅ３
）　　　検出セル１２内で、時間ｔ’　での放射線量Ｄ
ｃ１の測定 （ｅ４）　　　式（７）による等価の厚さＥ１　の計算
（ｅ５）　　　式（８）による厚さＥ１　のフィルムで
の放射線量Ｄｆ１の計算 （ｅ６）　　　以下の式； 　　　　　　　　Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．ｓ
／ＣＮＲＤ（フィルム線量率）　　　　（９’）による
フィルムが受けたルミネーションＬｆ　の計算、（ｅ７
）　　以下の式； 　　　　　　　　Ｌｒａ＝Ｌｃｖｎ　−Ｌｆ　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（１
０’）による選択される黒化度　（または光学濃度）　
を得るために必要な残りのルミネーションＬｒａの計算
、（ｅ８）　　以下の式； 　　　　　　　　ｍＡｓｒａ＝（Ｌｒａ／Ｄｆ１）×Ｃ
ＮＲＤ（フィルム線量率）　　　　（１１’）による選
択された黒化度（または光学濃度）を得るために概算ｍ
Ａ．ｓを与えるのｍＡｓｒａの計算、（ｅ９）　　作業
　（ｅ３）　の始点から放出されたｍＡ．ｓの測定、（
ｅ１０）　（ｅ９）において測定されたｍＡ．ｓがｍＡ
ｓｒａに等しいまたはそれより大きい時は、露出を停止
、（ｅ９）において測定されたｍＡ．ｓがｍＡｓｒａよ
り小さい時は、段階（ｅ３）に戻る

【００２２】上記の
方法の記載は、Ｘ線装置のある形態に対応する。この装
置が例えば以下のように、陽極材料焦点のサイズ スペクトル修正フィルタ 照準 拡散防止スクリーンの存在または非存在、画像レシーバ
の種類 検出セルの種類、についての選択を含む複数の形態を取
ることができる時、これらの形態について各々較正ａ、
ｂ及びｃを実施することが必要である。使用者が本発明
の方法を実施する時、その使用者は形態を決定し、この
形態の特性をマイクロプロセッサ１９に転送し、マイク
ロプロセッサ１９が対応するモデルを使用する。本発明
による方法は、フィルム／増感板組型の画像レシーバ１
７で適用する場合について記載したが、また、Ｘ線照射
に感応するフィルムだけを有する画像レシーバ１７の場
合にも実施することができる。そのようなフィルムの場
合は、操作ａ及びｂはの較正は、下記のようになる；（
ａ’）　Ｘ線装置を較正して、以下の分析モデル；Ｄ’
ｆ　＝ｆ’’’（Ｖｍ、Ｅｐ）　　　　　　　　　　　
　　　　　　（３０）　を決定する。但し、画像レシー
バとしてフィルムを使用する。以下の方法の説明では、
下記のような変更が行われる；段階ｅ３は、検出セル１
２で時間ｔ’後の放射線量Ｄ’ｆ１を測定するｅ’３に
なる。段階ｅ４及びｅ５は、除去される。段階ｅ６〜ｅ
８は、以下のように修正される。（ｅ’６）　以下の式
； 　　　　Ｌ’ｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄ’ｆ１×δｍＡ．ｓ／Ｃ
ＮＲＤ（フィルム線量率）　　（９’’）によるフィル
ムが受けたルミネーションＬ’ｆ　の計算、（ｅ’７）
以下の式； 　　　　Ｌ’ｒａ＝Ｌｃｖｎ　−Ｌ’ｆ　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（１０’
’）　による選択される黒化度　（または光学濃度）　
を得るために必要な残りのルミネー　　ーションＬ’ｒ
ａの計算、（ｅ’８）　以下の式； 　　　　ｍＡｓ’ｒａ＝（Ｌ’ｒａ／Ｄ’ｆ１）×ＣＮ
ＲＤ（フィルム線量率）　　（１１’’）による選択さ
れた黒化度（または光学濃度を得るために放出される残
りの概算ｍＡ．ｓであるｍＡｓ’ｒａの計算。他の段階
ｅ９及び後続する段階は、変更されない。この場合、感
光グラフは、Ｘ線放出型であることに注意しなければな
らない。また、このように、増感板を備えない画像レシ
ーバの場合、検出セル１２は、この場合、フィルム／増
感板型画像レシーバでは画像レシーバ１７の後方に、ま
たは、照射エネルギーによってそれが可能である場合は
画像レシーバ１７の前方に配置される。

【００２３】本発明による方法は、Ｘ線検出セルが画像
レシーバの外部に配置されているＸ線装置（図１）への
適用について記載したが、この方法は、この検出セルが
基準を有する部品４として画像レシーバ１７の内部に備
えられているＸ線装置（図６）に適用することもできる
。 その時、画像レシーバ１７は、フィルム３、このフィル
ム３の下方に増感板、及び、この増感板２の下方にその
新しい検出セルを備える。そのような新しい検出セル４
は、１９８９年４月２８日に出願された「自動露出検出
セルを備えるＸ線カセット　　（Ａｎ　Ｘ−ｒａｙ　ｃ
ａｓｓｅｔｔｅ　ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｉｎｇ　ａｎ　
ａｕｔｏｍａｔｉｃｅｘｐｏｓｕｒｅ　ｄｅｔｅｃｔｏ
ｒ　ｃｅｌｌ）　」と題するフランス国特許出願第８９
／０５，６６８　号に記載の種類である。この新しい検
出セルは、増感板２によって放射された光を検出測定し
て、画像レシーバの後方でＸ線照射を検出測定する検出
セル１２と比較する。その結果、上記の方法の第１及び
第２の較正を実施する必要がなくなり、それによって、
フィルム及び増感板によるＸ線減衰を考慮することかで
きるようになる。また、対応すｅ４及びｅ５の段階は、
必要がない。これによって、その方法は、下記の段階（
または操作）を含むように変更される； （ａ）　　一定の基準条件下でフィルムが受けなければ
ならない基準ルミネーションＬｒｅｆ　を較正によって
測定し、使用者が基準値として選択した黒化度（または
光学濃度）を得て、（ｂ１）　　　Ｘ線照射する物体の
位置を決定し、（ｂ２）　　　使用者が露出の開始をト
リガし、（ｂ３）　　露出の開始からｔ’後に放射線量
Ｄｆ１を測定し、（ｂ４）　以下の式； 　　　　　　　　Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．Ｓ
　　　　　　　　　　　　　　（９）によってフィルム
が受けたルミネーションＬｆ　を計算し、（ｂ５）　　
以下の式； Ｌｒａ＝Ｌｒｅｆ　−Ｌｆ　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　（１０）　によって、所定の光学濃度のた
めの黒化度を得るために必要なルミネーションＬｒａを
計算し、（ｂ６）　　　以下の式； ｍＡｓｒ　＝Ｌｒａ／Ｄｆ１　　　　　　　　　　　　
　　　　　　（１１）　によって所定の黒化度（すなわ
ち光学的濃度）を得るために概算ｍＡ．ｓを与えるｍＡ
ｓｒ　を計算し、（ｂ７）　　　段階ｂ３の開始から放
出されたｍＡ．ｓである測定値ｍＡｓｍｅｓ　を測定し
、（ｂ８）　　　段階ｂ７で測定したｍＡ．ｓがｍＡｓ
ｒ　に等しいかそれより大きい時、露出を停止させ、段
階ｂ７で測定したｍＡ．ｓがｍＡｓｒより小さいとき段
階ｂ３に戻る。画像レシーバ１７の内部にそのような検
出セル４を使用することによって、本発明の方法の実施
をより容易にすることができる。画像レシーバ１７の内
部の光検出セル４を使用する時実施することのできるこ
のより簡単な方法によって、段階ａ’’、ｂ１からｂ８
に関する限り、前記の第１のほうほうに関する特徴を全
て利用することができることに注意しなければならない
。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による方法を実施することができるＸ線
装置の概略ブロック図である。

【図２】本発明による方法で使用する較正方法を実施す
ることによって得られる曲線を示したグラフである。

【図３】露出時間ｔの関数としての非相反係数ＣＮＲＴ
の変化を表す曲線を示すグラフである。

【図４】フィルム線量率ｄの逆数の関数として非相反係
数ＣＮＲＴの変化を表す曲線を示すグラフである。

【図５】ルミネーションの関数としてＸ線フィルムの光
学濃度の変化を表す曲線を示すグラフである。

【図６】図１のＸ線装置に類似しているが、検出セルが
画像レシーバに内蔵されており、増感板が放出した光線
を受けるＸ線装置の概略ブロック図である。

【符号の説明】

１１・・・Ｘ線源 １２・・・検出セル １３・・・被検査物体 １５・・・電源装置 １６・・・積分回路 １７・・・画像レシーバ １８・・・計算装置 １９・・・マイクロプロセッサ

Claims (33)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被検査物体に対して可変の期間Ｓのパルス
   の形態でＸ線を放射するＸ線管と、少なくとも１つの増
   感板とこの増感板によって放射された光の感応するフィ
   ルムとによって構成された、被検査物体の画像を形成す
   るように被検査物体を通過したＸ線のためのＸ線レシー
   バと、このＸ線レシーバの後方に配置され、Ｘ線ビーム
   を特徴付ける物理的変数を測定信号Ｌに変換することの
   できる、上記被検査物体を通過したＸ線を検出するため
   のセル、露出時間Ｓの間測定信号Ｌを積分し、信号Ｍを
   出力する積分回路と、露出時間ＳとＸ線管の陽極電流Ｉ
   の積Ｉ×Ｓ（またはｍＡ．ｓ）　に対するＭの比として
   与えられる放射線量Ｄを計算する装置とを備え、供給電
   圧Ｖが連続的または不連続的に変化する様々な値Ｖｍ　
   をとることができる、被検査物体を検査するためのＸ線
   装置における、Ｘ線フィルムの露出時間を自動的に決定
   する方法であって、下記の段階を含む、すなわち；（ａ
   ）　　１つまたは複数の増感板を備えないレシーバを使
   用して、厚さＥｐの物体によってＸ線撮影装置の第１の
   較正を実施して、以下の関数； 　　　　　　　　Ｄｓｅ＝ｆ’　（Ｖｍ　、Ｅｐ　）　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（４）と
   、以下の逆関数； 　　　　　　　　Ｅｐ　＝ｇ’　（Ｖｍ　、Ｄｓｅ）　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（５）を
   決定し、（ｂ）　　増感板を備えるレシーバを使用して
   、厚さＥｐ　の物体によってＸ線撮影装置の第２の較正
   を実施して、以下の関数； 　　　　　　　　Ｄｃ　＝ｆ’’（Ｖｍ　、Ｅｐ　）　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（６）以
   下の逆関数； 　　　　　　　　Ｅｐ　＝ｇ’’（Ｖｍ　、Ｄｃ　）　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（７）及
   び以下の関数； 　　　　　　　　Ｄｆ　＝ｆ’　（Ｖｍ　、Ｅｐ　）−
   ｆ’’（Ｖｍ　、Ｅｐ　）　　（８）を決定し、（ｃ）
   　　一定の基準条件下で、フィルムが受けなければなら
   ない基準ルミネーションＬｒｅｆ　を決定する第３の較
   正を実施して、使用者によって基準値として選択された
   黒化度（または光学密度）を達成する、及び、下記の段
   階、すなわち； （ｅ１）　　　Ｘ線撮影される物体の位置決定、（ｅ２
   ）　　　使用者による露出の開始のトリガ、（ｅ３）　
   　　露出の開始後、時間ｔ’での放射線量Ｄｃ１の測定
   、（ｅ４）　　　式（７）による等価的な厚さＥ１　の
   計算、（ｅ５）　　　式（８）による厚さＥ１　のフィ
   ルムでの放射線量Ｄｆ１の計算、　（ｅ６）　　　式　
   　Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．ｓ　　　　　　　
   　　　　　　　　　　　（９）によるフィルムが受けた
   ルミネーションＬｆ　の計算、　（ｅ７）　　　式　　
   Ｌｒａ＝Ｌｒｅｆ−Ｌｆ　　　　　　　　　　　　　　
   　　　　　　　　　　　　（１０）　によって決定され
   る黒化度（または光学濃度）を得るために必要なルミネ
   ーションＬｒａの計算、　（ｅ８）　　　式　　ｍＡｓ
   ｒ＝Ｌｒａ／Ｄｆ１　　　　　　　　　　　　　　　　
   　　　　　　　　　　（１１）によって決定された黒化
   （または光学濃度）を得るために、概算ｍＡ．ｓを与え
   るｍＡｓｒの計算、（ｅ９）　　　作業　（ｅ３）　の
   始点から、ｍＡ．ｓを与えるｍＡｓｍｅｓ　の測定、（
   ｅ１０）　　（ｅ９）において測定された、ｍＡ．ｓの
   測定値ｍＡｓｍｅｓ　がｍＡｓｒと等しいまたはそれよ
   り大きい時は、露出を停止、（ｅ９）において測定され
   たｍＡ．ｓがｍＡｓｒより小さい時は、段階（ｅ３）に
   戻ることを備えることを特徴とする方法。
2. 【請求項２】上記の第２の較正（ｂ）は、上記増感板と
   検出セルとの間でフィルタ作用を追加することによる等
   価な厚さ（ｓｕｐ．ｆｉｌｔｅｒ）　の測定及び上記式
   ８においてＥｐ　を（Ｅｐ　−ｓｕｐ．ｆｉｌｔｅｒ）
   に置換することによって実行されることを特徴とする請
   求項１に記載の方法。
3. 【請求項３】上記段階ｅ１０　は、式；ｔｒ　＝ｍＡｓ
   ｒ　／Ｉ のような残りの露出時間を計算する段階を含む操作（ｅ
   ’１０）と置換され、それによって、時間ｔｒ　が経過
   した時露出が停止するように開ループで露出を停止する
   ことができることを特徴とする請求項１または２に記載
   の方法。
4. 【請求項４】上記段階（ｅ８）は、上記段階ｅ４〜ｅ８
   の期間ｔｃ　の間に、式； 　　　　ｍＡｓｃ　＝Ｉ×ｔｃ　　　　　　　　　　　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
   （１３）　によって定義される、ｍＡ．ｓを与えるｍＡ
   ｓｃ　を計算して、式； 　　　　ｍＡｓｒａ＝ｍＡｓｒ　−　ｍＡｓｃ　　　　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
   　　（１２）　のように、獲得すべきｍＡ．ｓの実際の
   値ｍＡｓｒａを決定することを特徴とする請求項１にま
   たは２に記載の方法。
5. 【請求項５】上記段階（ｅ１０）　は、さらに、式；　
   　　　　ｔｒｃ＝ｍＡｓｒａ／Ｉ　　　　　　　　　　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（
   １４）　で示される残りの露出時間ｔｒｃを計算し、ｔ
   ｒｃが、２つの連続した段階（ｅ３）の間の間隔に対応
   する値ｔ０　より小さくなると露出を停止させることを
   特徴とする請求項３に記載の方法。
6. 【請求項６】上記段階（ｅ３）から（ｅ１０）　を、下
   記の作業；段階（ｅ４）から（ｅ８）と、ｍＡ．ｓを　
   　　　　　ＣＥｔａｒｇｅｔ＝ｍＡｓｒａ×Ｄｃ　　　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（
   １６）のようにセル単位の信号に変換する段階からなる
   、与えられるべきｍＡ．ｓを予測する予測タスク（Ｔ．
   Ｅ．）セルが受けた信号によって目標値ＣＥｔａｒｇｅ
   ｔをデクリメントし、デクリメントされた値が値Ｖａｌ
   ０以下になると、露出を終了させることからなる中断タ
   スク（Ｔ．Ｃ．）に置き換えることを特徴とする請求項
   １、２または３に記載の方法。
7. 【請求項７】上記予測タスク（Ｔ．Ｅ．）は、露出中に
   、計算時間ｔｃ以上の期間互いに離れた瞬間ｔ１、ｔ２
   、・・・ｔｎで周期的に更新されることを特徴とする請
   求項６に記載の方法。
8. 【請求項８】 　　　　Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．ｓ／ＣＮＲ
   Ｄ（フィルム線量率）　　　　（９’）及び、 　　　　ｍＡｓｒａ＝（Ｌｒａ／Ｄｆ１）×ＣＮＲＤ（
   フィルム線量率）　　　　　　（１１’）（但し、これ
   らの式において、ＣＮＲＤ（フィルム線量率）は、レシ
   ーバのフィルム線量率の関数として指数化された非相反
   係数であり、フィルム線量率は、　　　　Ｄｆ１×Ｉ　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（１
   ７）　である） で表される非相反作用を考慮するように段階（ｅ６）及
   び（ｅ８）を変更することを特徴とする請求項１〜７の
   いずれか１項に記載の方法。
9. 【請求項９】上記係数ＣＮＲＤ（フィルム線量率）は、
   以下の段階； 露出時間（ｔｉ　）　の関数としてフィルム／増感板の
   組の非相反係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）　を測定し、フィル
   ム線量率（ｄｉ　）　の各露出時間（ｔｉ　）　を測定
   し、式；　　ＣＮＲＤ（ｄ）＝Ａ’０＋Ａ’１ｌｏｇ（
   １／ｄ）＋Ａ’２〔ｌｏｇ（１／ｄ）〕２　（２０）の
   ように、係数ＣＮＲＤ（ｄｉ　）　の標準化関数を算出
   し、それによって、所与のフィルム線量率に対応する係
   数を算出する ことによって得られることを特徴とする請求項８に記載
   の方法。
10. 【請求項１０】上記フィルム線量率ｄは、上記セルによ
    って測定されることを特徴とする請求項９に記載の方法
    。
11. 【請求項１１】上記フィルム線量率ｄｉ　は、式；　　
    　　ｄｉ　＝〔Ｌｒｅｆ　×ＣＮＲＴ（ｔｉ　）〕／　
    　ｔｉ　　　　　　　　　　　　　　　（２２）によっ
    て与えられることを特徴とする請求項９に記載の方法。
12. 【請求項１２】上記露出時間（ｔｉ　）　の関数である
    非相反係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）は、以下の段階；（ａ１
    ）　　Ｘ線管加熱電流を変更して、この電流の異なる値
    を得て、（ａ２）　　異なる露出時間ごとに積分回路に
    よって出力される値Ｍ（ｔｉ　）を読み取り、フィルム
    の光学濃度Ｄ０１　を得て、（ａ３）　　比　　　　　
    　　　Ｍ（ｔｉ　）／Ｍ（ｔｒｅｆ　）　　　　　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　（２９）　を計算
    し、それによって、ｔｉ　＝ｔｒｅｆ　の場合、値Ｍ（
    ｔｉ　）であるＭ（ｔｒｅｆ　）を有する係数ＣＮＲＴ
    （ｔｉ　）を計算する、ことによって得られることを特
    徴とする請求項９または１１に記載の方法。
13. 【請求項１３】上記係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）は、以下の
    段階； （ｇ１）　　露出時間を基準時間ｔｒｅｆ０に設定した
    時、可変の時間感光グラフによって第１の感光グラムＳ
    ｒｅｆ０を形成し、（ｇ２）　　異なる露出時間ｔｉ　
    で、可変の時間感光グラフによって、ｑ個の感光グラム
    Ｓ１　〜Ｓｑ　を形成し、（ｇ３）　　基準光学濃度Ｄ
    Ｏｒｅｆ０を選択し、（ｇ４）　　各感光グラムについ
    て、光学濃度ＤＯｒｅｆ０に対応する照射段階Ｅｃｈｒ
    ｅｆ０、Ｅｃｈ１・・・Ｅｃｈｉ・・・Ｅｃｈｑを測定
    し、（ｇ５）　　式；　　　　　　ＣＮＲＴ（ｔｉ　）
    ＝ｅｘｐ［ｌｏｇ１０〔（Ｅｃｈｒｅｆ０−Ｅｃｈｉ）
    ／Ｋ〕］（２８）によって、係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）を
    計算する、ことによって得られることを特徴とする請求
    項９または１１に記載の方法。
14. 【請求項１４】さらに、関数； 　　　　　　ＣＮＲＴ（ｔ）＝Ａ０　＋Ａ１　ｌｏｇ　
    ｔ＋Ａ２　〔ｌｏｇ　ｔ〕２　　　　　　　（１８）に
    よって、上記係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）を分析モデルの形
    態で標準化する操作を含むことを特徴とする請求項１２
    または１３に記載の方法。
15. 【請求項１５】上記基準ルミネーションを較正する操作
    （ｃ）は、下記の段階； 基準光学濃度ＤＯｒｅｆ０、標準厚さＥ０　、供給電圧
    Ｖ０　、露出時間ｔ０　及び積Ｉ０　×ｔ０　の値の所
    定のＸ線撮影条件下で撮影し、放射線量Ｄ０　を測定し
    、　　式　　Ｅｐ０＝ｇ’’（Ｖ０　、Ｄ０　）　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（７）に
    よって等価の厚さＥｐ０を計算し、 　　式　　Ｄｆ０＝ｆ’（Ｖ０　、Ｅ０　）−ｆ’’（
    Ｖ０　、Ｅ０　）　　　　（８）によってフィルム上の
    放射線量Ｄｆ０を計算し、　　式　　Ｌｆｉｌｍ＝Ｄｆ
    ０×Ｉ０　×ｔ０　　　　　　　　　　　　　　　　　
    　　　　　　　　　（２３）　によって、フィルム上の
    輝度Ｌｆｉｌｍを計算し、感光曲線によって基準光学濃
    度ＤＯｒｅｆ０に対応する照明段階Ｅｃｈｒｅｆ　を計
    算し、得られた写真の光学密度ＤＯｍ　を測定し、感光
    曲線によって照明段階Ｅｃｈｍ　を計算し、式；　　Ｌ
    ｒｅｆ　＝Ｌｆｉｌｍ×ｅｘｐ　［ｌｏｇ１０〔（Ｅｃ
    ｈｒｅｆ　−Ｅｃｈｍ　）／Ｋ〕］　　　（２５）　　
    　　　（但し、Ｋ＝２／ｌｏｇ１０（２）　　　　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
    （２６）　）　によって、基準ルミネーションを計算す
    る、を含むことを特徴とする請求項１〜１４のいずれか
    １項に記載の方法。
16. 【請求項１６】式８によってフィルム上の放射線量Ｄｆ
    ｏを測定するために、上記の等価の厚さＥｐｏを（Ｅｐ
    ｏ−ｓｕｐ．ｆｉｌｔｅｒ）　によって置換して、この
    ｓｕｐ．ｆｉｌｔｅｒは上記増感板と検出セルとの間の
    減衰から生じた追加のフィルタ作用であることを特徴と
    する請求項１５に記載の方法。
17. 【請求項１７】上記フィルム上の輝度は、式；　　　　
    Ｌｆｉｌｍ＝（Ｄｆ０×Ｉ０　×ｔ０　）／ＣＮＲＴ（
    ｔ０　）　　　　　　　　（２３’）　によって計算さ
    れることを特徴とする請求項１５または１６に記載の方
    法。
18. 【請求項１８】上記基準ルミネーションＬｒｅｆ　を、
    式；　　Ｌｃｖｎ　＝Ｌｒｅｆ　×ｅｘｐ　〔ＣＶＮ／
    Γ×Ｐ×ｌｏｇ（１０）　〕　　　　　　　　（２７）
    （但し、上記式において、ＣＶＮは、例えば、整数によ
    って示される黒化度の意図的な補正であり、Ｐは、光学
    密度の単位段階であり、Γは、感光曲線の線形部分の勾
    配である）　 のような、補正したルミネーションＬｃｖｎ　によって
    置換して、異なる黒化度（すなわち、光学濃度）を得る
    ことを特徴とする請求項１〜１７のいずれか１項に記載
    の方法。
19. 【請求項１９】上記レシーバがフィルム型であり、上記
    検出セルがレシーバの前方または後方に配置されている
    Ｘ線装置において、請求項１〜１８のいずれか１項に記
    載の方法を適用する方法にして、上記操作（ａ）及び（
    ｂ）は、（ａ’）　　画像レシーバとしてフィルムを使
    用して、上記Ｘ線装置を較正して、以下の分析モデル；
    　　　　　　　　　　　　　　Ｄ’ｆ　＝ｆ’’’　（
    Ｖｍ　、Ｅｐ）　　　　　　　　　　　　　　　　　（
    ３０）　を決定する、ようにし、上記段階（ｅ３）は、
    時間ｔ’後の放射線量Ｄ’ｆ１を測定する段階（ｅ’３
    ）にし、上記段階（ｅ４）及び（ｅ５）は、除去され、
    上記段階（ｅ６）、（ｅ７）及び（ｅ８）は、（ｅ’６
    ）　　　式；　　　　　　　　Ｌ’ｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄ’
    ｆ１×δｍＡ．ｓ（フィルム線量率）　　　　（９’’
    ）による、フィルムが受けたルミネーションＬ’ｆ　の
    計算、（ｅ’７）　　　式； 　　　　　　　　Ｌ’ｒａ＝Ｌｃｖｎ　−Ｌ’ｆ　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
    （１０’’）　による、選択される黒化度　（または光
    学濃度）　を得るために必要なルミネーションＬ’ｒａ
    の計算、（ｅ’８）　　　式；　　　　　　　　ｍＡｓ
    ’ｒａ＝Ｌ’ｒａ／Ｄ’ｆ１×ＣＮＲＤ（フィルム線量
    率）（１１’’）による、選択された黒化度（または光
    学濃度）を得るために、概算ｍＡ．ｓを与えるｍＡｓ’
    ｒａの計算、になることを特徴とする方法。
20. 【請求項２０】上記式（３０）において、上記の等価の
    厚さＥｐｏを（Ｅｐｏ−ｓｕｐ．ｆｉｌｔｅｒ）　と置
    換し、このｓｕｐ．ｆｉｌｔｅｒは上記増感板と検出セ
    ルとの間の減衰から生じた追加的フィルタ作用であるこ
    とを特徴とする請求項１９に記載の方法。
21. 【請求項２１】被検査物体に対して可変の期間Ｓのパル
    スの形態でＸ線を放射するＸ線管と、少なくとも１つの
    増感板とこの増感板によって放射された光の感応するフ
    ィルムとによって構成された、被検査物体の画像を形成
    するように被検査物体を通過したＸ線のためのＸ線レシ
    ーバと、このＸ線レシーバの後方に配置され、Ｘ線ビー
    ムを特徴付ける物理的変数を測定信号Ｌに変換すること
    のできる、上記被検査物体を通過したＸ線を検出するた
    めのセル、露出時間Ｓの間測定信号Ｌを積分し、信号Ｍ
    を出力する積分回路と、露出時間ＳとＸ線管の陽極電流
    Ｉの積Ｉ×Ｓ（またはｍＡ．ｓ）　に対するＭの比とし
    て与えられる放射線量Ｄを計算する装置とを備え、供給
    電圧Ｖが連続的または不連続的に変化する様々な値Ｖｍ
    　をとることができる、被検査物体を検査するためのＸ
    線装置における、Ｘ線フィルムの露出時間を自動的に決
    定する方法であって、下記の段階を含む、すなわち；（
    ａ）　　一定の基準条件下でフィルムが受けなければな
    らない基準ルミネーションＬｒｅｆ　を較正によって測
    定し、使用者が基準値として選択した黒化度（または光
    学濃度）を得て、そのあと、（ｂ１）　　　Ｘ線照射を
    受ける物体の位置を決定し、（ｂ２）　　　使用者が露
    出開始をトリガし、（ｂ３）　　　露出の開始からｔ’
    後に放射線量Ｄｆ１を測定し、（ｂ４）　　　式； 　　　　　　　　　　Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ
    ．ｓ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（９）
    によってフィルムが受けたルミネーションＬｆ　を計算
    し、（ｂ５）　　式； 　　　　　　　　　　Ｌｒａ＝Ｌｒｅｆ　−Ｌｆ　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（
    １０）　によって、黒化度（すなわち光学的濃度）を得
    るために必要なルミネーションＬｒａを計算し、（ｂ６
    ）　　　式；　　　　　　　　　　ｍＡｓｒ　＝Ｌｒａ
    ／Ｄｆ１　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
    　　　　　（１１）　によって、黒化度（すなわち光学
    的濃度）を得るために、概算ｍＡ．ｓを与えるｍＡｓｒ
    を計算し、（ｂ７）　　　段階ｂ３の開始から、ｍＡ．
    ｓの測定値ｍＡｓｍｅｓ　を測定し、（ｂ８）　　　─
    段階ｂ７で測定したｍＡ．ｓの測定値ｍＡｓｍｅｓ　が
    ｍＡｓｒ　に等しいかそれより大きい時、露出を停止さ
    せ、─段階ｂ７で測定したｍＡ．ｓの測定値がｍＡｓｒ
    　より小さいとき段階ｂ３に戻る、ことからなることを
    特徴とする方法。
22. 【請求項２２】上記段階（ｂ８）は、式；ｔｒ　＝ｍＡ
    ｓｒ　／Ｉ によって、残りの露出時間を計算する段階を含む操作（
    ｅ’８）に置き換えて、露出を開ループで停止させるこ
    とができ、それによって、時間ｔｒ　が経過すると露出
    が停止されることを特徴とする請求項２１に記載の方法
    。
23. 【請求項２３】上記段階（ｂ６）は、上記段階ｂ４〜ｂ
    ６の期間ｔｃ　の間に、式； 　　　　ｍＡｓｃ　＝Ｉ×ｔｃ　　　　　　　　　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
    （１３）　によって決定される、ｍＡ．ｓを与えるｍＡ
    ｓｃ　を計算して、式； 　　　　ｍＡｓｒａ＝ｍＡｓｒ　×ｍＡｓｃ　　　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
    　　（１２）　のように、獲得すべきｍＡ．ｓの実際の
    値ｍＡｓｒａを決定することを特徴とする請求項２１に
    記載の方法。
24. 【請求項２４】上記段階（ｂ８）　は、さらに、式；　
    　　　　ｔｒｃ＝ｍＡｓｒａ／Ｉ　　　　　　　　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（
    １４）　で示される残りの露出時間ｔｒｃを計算して、
    ｔｒｃが２つの連続した段階（ｂ３）の間の間隔に対応
    する値ｔ０　より小さいとき露出を停止させることを特
    徴とする請求項２２に記載の方法。
25. 【請求項２５】上記段階（ｂ３）から（ｂ８）を、下記
    の作業；段階（ｅ４）から（ｅ８）と、ＣＥｔａｒｇｅ
    ｔ＝ｍＡｓｒａ×Ｄｃ　　　　　　　　　　　　　　　
    　　　　　　　（１６）　のようにｍＡ．ｓをセル単位
    の信号に変換する段階とからなる、与えられるべきｍＡ
    ．ｓを予測する予測タスク（Ｔ．Ｅ．） セルが受けた信号によって目標値ＣＥｔａｒｇｅｔをデ
    クリメントし、デクリメントされた値が値Ｖａｌ０（Ｖ
    ａｌ０は、例えば、０である）以下になると、露出を終
    了させることからなる中断タスク（Ｔ．Ｃ．） に置き換えることを特徴とする請求項２１に記載の方法
    。
26. 【請求項２６】上記予測タスク（Ｔ．Ｅ．）は、露出中
    に、計算時間ｔｃ以上の期間互いに離れた瞬間ｔ１、ｔ
    ２、・・・ｔｎで周期的に更新されることを特徴とする
    請求項２５に記載の方法。
27. 【請求項２７】 　　　　Ｌｆ　＝Ｌａｍ＋Ｄｆ１×δｍＡ．ｓ／ＣＮＲ
    Ｄ（フィルム線量率）　　　　（９’）及び、 　　　　ｍＡｓｒａ＝（Ｌｒａ／Ｄｆ１）×ＣＮＲＤ（
    フィルム線量率）　　　　　　（１１’）（但し、これ
    らの式において、ＣＮＲＤ（フィルム線量率）は、レシ
    ーバのフィルム線量率の関数として指数化された非相反
    係数であり、フィルム線量率は、　　　　Ｄｆ１×Ｉ　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（１
    ７）　である） で表される非相反作用を考慮するように段階（ｂ４）及
    び（ｂ６）を変更することを特徴とする請求項２１に記
    載の方法。
28. 【請求項２８】上記係数ＣＮＲＤ（フィルム線量率）は
    、以下の段階； 露出時間（ｔｉ　）　の関数としてフィルム／増感板の
    組の非相反係数ＣＮＲＴ（ｔｉ　）　を測定し、フィル
    ム線量率（ｄｉ　）　の各露出時間（ｔｉ　）　を測定
    し、式；　　　　ＣＮＲＤ＝Ａ’０＋Ａ’１ｌｏｇ（１
    ／ｄ）＋Ａ’２〔ｌｏｇ（１／ｄ）〕２　（２０）のよ
    うに、係数ＣＮＲＤ（ｄｉ　）　の標準化関数を算出し
    、それによって、所与のフィルム線量率に対応する係数
    を算出する を実施することによって得られることを特徴とする請求
    項２７に記載の方法。
29. 【請求項２９】上記フィルム線量率ｄは、上記セルによ
    って測定されることを特徴とする請求項２８に記載の方
    法。
30. 【請求項３０】上記フィルム線量率ｄｉ　は、式；　　
    　　ｄｉ　＝〔Ｌｒｅｆ　×ＣＮＲＴ（ｔｉ　）〕／　
    　ｔｉ　　　　　　　　　　　（２２）によって示され
    ることを特徴とする請求項２９に記載の方法。
31. 【請求項３１】上記基準ルミネーションを較正するため
    の操作（ａ）は、下記の段階； 基準光学濃度ＤＯｒｅｆ０、標準厚さＥ０　、供給電圧
    Ｖ０　、露出時間ｔ０　及び積Ｉ０　×ｔ０　の値の所
    定のＸ線撮影条件下で撮影し、放射線量Ｄｆｏを測定し
    、　　式　　Ｌｆｉｌｍ＝Ｄｆ０×Ｉ０　×ｔ０　　　
    　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（
    ２３）によって、フィルム上の輝度Ｌｆｉｌｍを計算し
    、感光曲線によって基準光学濃度ＤＯｒｅｆ０に対応す
    る照明段階Ｅｃｈｒｅｆ　を計算し、得られた写真の光
    学密度ＤＯｍ　を測定し、感光曲線によって照明段階Ｅ
    ｃｈｍ　を計算し、式；　　Ｌｒｅｆ　＝Ｌｆｉｌｍ×
    ｅｘｐ　［ｌｏｇ１０〔（Ｅｃｈｒｅｆ　−Ｅｃｈｍ　
    ）／Ｋ〕］　　　（２５）　　　　　（但し、Ｋ＝２／
    ｌｏｇ１０（２）　　　　　　　　　　　　　　　　　
    　　　　　　　　　　　　　　（２６）　）　によって
    、基準ルミネーションを計算する、を含むことを特徴と
    する請求項２９に記載の方法。
32. 【請求項３２】上記フィルム上の輝度Ｌｆｉｌｍは、式
    ；　　　　Ｌｆｉｌｍ＝（Ｄｆ０×Ｉ０　×ｔ０　）／
    ＣＮＲＴ（ｔ０　）　　　　　　　　　　　　　（２３
    ’）によって計算されることを特徴とする請求項３１に
    記載の方法。
33. 【請求項３３】上記基準ルミネーションＬｒｅｆ　を、
    式；　　Ｌｃｖｎ　＝Ｌｒｅｆ　×ｅｘｐ　〔ＣＶＮ／
    Γ×Ｐ×ｌｏｇ（１０）　〕　　　　　　　　　　　　
    　（２７）　（但し、上記式において、ＣＶＮは、例え
    ば、整数によって示される黒化度の意図的な補正であり
    、Ｐは、光学密度の単位段階であり、Γは、感光曲線の
    線形部分の勾配である）　 のような、補正したルミネーションＬｃｖｎ　によって
    置換して、異なる黒化度（すなわち、光学濃度）を得る
    ことを特徴とする請求項３１または３２に記載の方法。