JPH06138179A - 未検出故障原因解析方法および装置 - Google Patents

未検出故障原因解析方法および装置

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JPH06138179A
JPH06138179A JP4288056A JP28805692A JPH06138179A JP H06138179 A JPH06138179 A JP H06138179A JP 4288056 A JP4288056 A JP 4288056A JP 28805692 A JP28805692 A JP 28805692A JP H06138179 A JPH06138179 A JP H06138179A
Authority
JP
Japan
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signal
information
undetected
failure
undetected failure
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4288056A
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English (en)
Inventor
Kinuko Tanaka
絹子 田中
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NEC Solution Innovators Ltd
Original Assignee
NEC Software Hokuriku Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 未検出故障の表示を行うとき、信号の活性化
状態も同時に表示する。 【効果】 未検出故障に関する信号が、故障を検出する
ための値が設定されていないためか、または、故障を検
出するための値が設定されているが伝達されていないた
めか、または、論理回路が初期化されていないためかの
いずれの原因で未検出故障となったのかを容易に解析す
ることが可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、論理回路における未検
出故障の原因を解析するための未検出故障原因解析方法
および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】論理回路における未検出故障の原因を解
析するための従来の未検出故障原因解析手段は、未検出
故障情報のみを表示し、未検出の故障に関する信号の活
性化状態に関しては何らの表示も行っていない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
未検出故障原因解析手段では、未検出故障に関する信号
が、故障を検出するための値が設定されていないため、
または、故障を検出するための値が設定されているが伝
達されていないため、または、論理回路が初期化されて
いないためのいずれの原因で未検出故障となったのかを
判断することが困難であるという欠点を有している。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の未検出故障原因
解析方法は、論理回路情報とテストパターンとを入力し
て故障シュミレーションを行うことによって未検出故障
情報と信号活性化状態情報とを出力し、前記未検出故障
情報と前記信号活性化状態情報とによって未検出故障の
信号の活性化状態を検索して前記未検出故障の信号に関
する活性化状態を表示し、前記活性化状態の表示情報に
よって前記未検出故障の原因を解析することを含んでい
る。
【0005】本発明の未検出故障原因解析装置は、論理
回路情報とテストパターンとを入力して故障シュミレー
ションを行うことによって未検出故障情報と信号活性化
状態情報とを出力する信号情報出力部と、前記未検出故
障情報と前記信号活性化状態情報とを入力して未検出故
障の信号の活性化状態を検索することによって前記未検
出故障の信号に関する活性化状態を表示する信号情報表
示部と、前記活性化状態の表示情報によって前記未検出
故障の原因を解析する未検出故障原因解析部とを備えて
いる。
【0006】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0007】図1は本発明の未検出故障原因解析装置の
一実施例を示すブロック図、図2は図1の実施例によっ
て未検出故障の原因の解析を行う論理回路の一例を示す
ブロック図、図3は図1の実施例によって故障シュミレ
ーションを行うためのテストパターンの一例を示すパタ
ーン図、図4は図1の実施例における未検出故障情報の
一例を示す情報図、図5は図1の実施例における信号活
性化状態情報の一例を示す情報図、図6は図1の実施例
における信号情報表示の一例を示す情報図である。
【0008】図1において、信号情報出力部1は、論理
回路情報4とテストパターン5とを入力し、故障シュミ
レーションを行って未検出故障情報6と信号活性化状態
情報7とを出力する。信号情報表示部2は、未検出故障
情報6と信号活性化情報7とを入力して未検出故障の信
号の活性化状態を検索し、未検出故障の信号に関する活
性化状態を表示する信号情報表示8を表示する。未検出
故障原因解析部3は、信号情報表示8に基いて、未検出
故障に関する信号が、故障を検出するための値が設定さ
れていないためか、または、故障を検出するための値が
設定されているが伝達されていないためか、または、論
理回路が初期化されていないためかのいずれの原因で未
検出故障となったのかの判断を行い、未検出故障原因情
報9を出力する。
【0009】上記のように構成した未検出故障原因解析
装置によって図2に例示した論理回路10の未検出故障
の原因の解析を行うときは、図3に例示するようなテス
トパターン5を与えて故障シュミレーションを行う。こ
の故障シュミレーションの結果、A信号11とB信号1
2の0故障が検出できなかったとき、図4に例示するよ
うな未検出故障情報6が出力される。この未検出故障情
報6により、A信号11は0/1共に値がセットされて
いるため活性化されているが、B信号12は、0にはセ
ットされているが、1にはセットされていないため、活
性化されていないことがわかる。従って、A信号11は
故障を検出するための値が設定されているが故障が出力
端子まで伝達されていないため未検出故障となったもの
であり、B信号12は、故障を検出するための値が設定
されていないために未検出故障となったものであること
がわかる。
【0010】信号活性化情報7の中に、X/Zという値
が現われたときは、論理回路が初期化されていないこと
を示し、初期化を行うためのテストパターンが必要とな
る。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の未検出故
障原因解析方法および装置は、未検出故障の表示を行う
とき、信号の活性化状態も同時に表示することにより、
未検出故障に関する信号が、故障を検出するための値が
設定されていないためか、または、故障を検出するため
の値が設定されているが伝達されていないためか、また
は、論理回路が初期化されていないためかのいずれの原
因で未検出故障となったのかを容易に解析することが可
能になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の未検出故障原因解析装置の一実施例を
示すブロック図である。
【図2】図1の実施例によって未検出故障の原因の解析
を行う論理回路の一例を示すブロック図である。
【図3】図1の実施例によって故障シュミレーションを
行うためのテストパターンの一例を示すパターン図であ
る。
【図4】図1の実施例における未検出故障情報の一例を
示す情報図である。
【図5】図1の実施例における信号活性化状態情報の一
例を示す情報図である。
【図6】図1の実施例における信号情報表示の一例を示
す情報図である。
【符号の説明】
1 信号情報出力部 2 信号情報表示部 3 未検出故障原因解析部 4 論理回路情報 5 テストパターン 6 未検出故障情報 7 信号活性化状態情報 8 信号情報表示 9 未検出故障原因情報 10 論理回路 11 A信号 12 B信号

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 論理回路情報とテストパターンとを入力
    して故障シュミレーションを行うことによって未検出故
    障情報と信号活性化状態情報とを出力し、前記未検出故
    障情報と前記信号活性化状態情報とによって未検出故障
    の信号の活性化状態を検索して前記未検出故障の信号に
    関する活性化状態を表示し、前記活性化状態の表示情報
    によって前記未検出故障の原因を解析することを含むこ
    とを特徴とする未検出故障原因解析方法。
  2. 【請求項2】 論理回路情報とテストパターンとを入力
    して故障シュミレーションを行うことによって未検出故
    障情報と信号活性化状態情報とを出力する信号情報出力
    部と、前記未検出故障情報と前記信号活性化状態情報と
    を入力して未検出故障の信号の活性化状態を検索するこ
    とによって前記未検出故障の信号に関する活性化状態を
    表示する信号情報表示部と、前記活性化状態の表示情報
    によって前記未検出故障の原因を解析する未検出故障原
    因解析部とを備えることを特徴とする未検出故障原因解
    析装置。
JP4288056A 1992-10-27 1992-10-27 未検出故障原因解析方法および装置 Withdrawn JPH06138179A (ja)

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