JPH0612513B2 - アナログ入力量の検出処理モジユール - Google Patents
アナログ入力量の検出処理モジユールInfo
- Publication number
- JPH0612513B2 JPH0612513B2 JP63069939A JP6993988A JPH0612513B2 JP H0612513 B2 JPH0612513 B2 JP H0612513B2 JP 63069939 A JP63069939 A JP 63069939A JP 6993988 A JP6993988 A JP 6993988A JP H0612513 B2 JPH0612513 B2 JP H0612513B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analog
- measurement
- input
- processing module
- input side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/02—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
- G01D3/022—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation having an ideal characteristic, map or correction data stored in a digital memory
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/25—Selecting one or more conductors or channels from a plurality of conductors or channels, e.g. by closing contacts
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Technology Law (AREA)
- Programmable Controllers (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Control By Computers (AREA)
- Microcomputers (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、請求項１の上位概念に記載の、例えばマイク
ロプロセッサ系又はメモリプログラミング可能な制御装
置における、アナログ入力量の測定値検出処理モジュー
ルに関する。
ロプロセッサ系又はメモリプログラミング可能な制御装
置における、アナログ入力量の測定値検出処理モジュー
ルに関する。
従来の技術 アナログ入力量のデジタル値への変換は公知でありかつ
それは今日の通常技術に属する。ＡＤ変換は主として、
デジタル指示部を備えた制御糸及び電子的な制御糸にお
いて使用され、その際デジタル値に変換されたアナログ
測定値は、引続く処理のために制御系に供給される。
それは今日の通常技術に属する。ＡＤ変換は主として、
デジタル指示部を備えた制御糸及び電子的な制御糸にお
いて使用され、その際デジタル値に変換されたアナログ
測定値は、引続く処理のために制御系に供給される。
市販のマイクロプロセッサは、例えばアナログ・デバ
イス社のＡＤ７５８１（アナログ・デバイス社のデータ
ブック、１９８４年S.10/１５９参照）のようなコンパ
チブルなＡＤ変換器を利用している。それは監視用論理
回路によって循環的に走査され、瞬時値をデータメモリ
に格納しかつデータバスに供給するマルチプレックス入
力側を有している。この場合、専ら電圧測定値量でしか
処理することができない点が不都合である。
イス社のＡＤ７５８１（アナログ・デバイス社のデータ
ブック、１９８４年S.10/１５９参照）のようなコンパ
チブルなＡＤ変換器を利用している。それは監視用論理
回路によって循環的に走査され、瞬時値をデータメモリ
に格納しかつデータバスに供給するマルチプレックス入
力側を有している。この場合、専ら電圧測定値量でしか
処理することができない点が不都合である。
アナログ・デバイス社のＡＤ６２５（アナログ・デバイ
ス社のデータブック、Ｕｐｄａｔｅ Ａｎｄ Ｓｅｌｅ
ｃｔｉｏｎ Ｇｕｉｄｅｓ3/111参照）のようなプログ
ラミング可能な測定増幅器も公知である。
ス社のデータブック、Ｕｐｄａｔｅ Ａｎｄ Ｓｅｌｅ
ｃｔｉｏｎ Ｇｕｉｄｅｓ3/111参照）のようなプログ
ラミング可能な測定増幅器も公知である。
この場合増幅係数は、基準抵抗を用いたモジュールのハ
ードウエアのスイッチング接続することによって実現さ
れる。
ードウエアのスイッチング接続することによって実現さ
れる。
種々異なった入力電圧を測定系の内部増幅によって整合
する方法も公知である。
する方法も公知である。
発明が解決しようとする問題点 上記のモジュール、系及び方法には、例えば電流又は電
圧のような種々異なった信号形態の処理又はセンサに対
する整合が同一の測定入力側において付加的なハードウ
ェア変形又は例えばリレー等の受動回路素子なしでは不
可能であるという欠点がある。
圧のような種々異なった信号形態の処理又はセンサに対
する整合が同一の測定入力側において付加的なハードウ
ェア変形又は例えばリレー等の受動回路素子なしでは不
可能であるという欠点がある。
本発明の課題は、冒頭に述べた形式のアナログ入力量の
測定値検出のための処理モジュールを、それぞれの入力
側が用途に応じてフレキシブルにスイッチング接続する
ことができかつ電圧測定値量又は電流測定値量の検出又
はセンサに対する整合のために用いられるように改善す
ることであり、その際入力形態及び測定値整合を付加的
なハードウェア変形又はリレー等のような受動回路素子
を用いずに、測定の前にユーザによって実施されるプロ
グラミングによってのみ行うことができるようにした
い。
測定値検出のための処理モジュールを、それぞれの入力
側が用途に応じてフレキシブルにスイッチング接続する
ことができかつ電圧測定値量又は電流測定値量の検出又
はセンサに対する整合のために用いられるように改善す
ることであり、その際入力形態及び測定値整合を付加的
なハードウェア変形又はリレー等のような受動回路素子
を用いずに、測定の前にユーザによって実施されるプロ
グラミングによってのみ行うことができるようにした
い。
問題点を解決するための手段 この課題は本発明によれば請求項１および２の特徴部分
に記載の構成によって解決される。
に記載の構成によって解決される。
請求項において使用されている用語の意味を正確に定義
しておく。
しておく。
１．プログラムメモリ このメモリには監視ユニットのシーケンスプログラムが
固定記憶されている。それは、入力領域′入力量及び引
続く処理の形式に関するプリセット値を指示する。
固定記憶されている。それは、入力領域′入力量及び引
続く処理の形式に関するプリセット値を指示する。
２．測定入力側 測定入力側とは、外部と接続されている素子の入力側の
１つである。それは、周辺装置に対する直接的なアクセ
スを表す。
１つである。それは、周辺装置に対する直接的なアクセ
スを表す。
３．測定入力側に対する記憶領域 それぞれの測定入力側は、プログラムメモリのプリセッ
ト値に相応して（1.参照）測定量がデジタルの形におい
て格納される内部記憶領域を使用することができる。そ
こから引続く処理のために監視ユニットの機能が決めら
れる。
ト値に相応して（1.参照）測定量がデジタルの形におい
て格納される内部記憶領域を使用することができる。そ
こから引続く処理のために監視ユニットの機能が決めら
れる。
４．循環的なマルチプレックス方法 循環的なマルチプレックス方法によって、1.で説明した
プログラムメモリのプリセット値に応じて2.で説明した
測定入力側が、アナログ値をデジタル量にする変換ユニ
ットに接続される。マルチプレクサがどのようにアナロ
グ値を受取るかの手順は1.で説明したプログラムメモリ
に固定記憶されている。通例アクセスは循環的に、即ち
発生順序で行われる。
プログラムメモリのプリセット値に応じて2.で説明した
測定入力側が、アナログ値をデジタル量にする変換ユニ
ットに接続される。マルチプレクサがどのようにアナロ
グ値を受取るかの手順は1.で説明したプログラムメモリ
に固定記憶されている。通例アクセスは循環的に、即ち
発生順序で行われる。
５．半導体メモリ 監視ユニットの内部機能シーケンスは半導体スイッチを
介してのみ実施することができる。この場合電荷によっ
てその導電率を急激に変化することができるMOSトラン
ジスタであって、それらは機械的なスイッチ素子に匹敵
する。
介してのみ実施することができる。この場合電荷によっ
てその導電率を急激に変化することができるMOSトラン
ジスタであって、それらは機械的なスイッチ素子に匹敵
する。
６．測定量の瞬時値 測定量の瞬時値とは、変換が始まったとき、２．で説明
した測定入力側に生じるアナログ値である。
した測定入力側に生じるアナログ値である。
７．監視ユニット 監視ユニットは論理機能部全体を総称しかつ1.乃至6.で
説明した個別シーケンスが正しく経過するようにする。
説明した個別シーケンスが正しく経過するようにする。
実施例 次に本発明の処理モジュールを図示の実施例につき図面
を用いて詳細に説明する。
を用いて詳細に説明する。
第１図は本発明の処理モジュール５０の基本回路図であ
る。この場合それぞれの測定入力側１−８にそれぞれ２
つの半導体スイッチ１１−１８及び２１−２８が設けら
れている。半導体スイッチ１１−１８の後ろに２つの入
力増幅器３１及び３２が設けられている。入力増幅器３
２は半導体スイッチ１１−１８の１つによって直接制御
され、一方入力増幅器３１は付加的に半導体スイッチ１
９を介して制御される。半導体スイッチ１０及び２０
は、どの入力増幅器３１，３２のどの測定量が後続増幅
器３５に供給されるべきであるかを決定する。後続増幅
器３５はそこに供給されたアナログ測定量を基準電位す
なわちアースに関連付けて増幅しかつこの出力測定量を
ＡＤ変換器３４において変換することができる。ＡＤ変
換器は測定量をデジタル測定値に変換し、それはそれか
ら監視ユニット４０の書込み−読出しメモリ４２に書込
まれかつ引続く処理のためにアドレス／データバスを介
して制御系に供給される。半導体スイッチ１１−２８の
導通制御に対して、唯一決定的なのは、測定の前にユー
ザによってプログラムメモリ４１に書込まれるプログラ
ムである。プログラムメモリ４１のこのプログラム内容
から結果的に、処理すべきアナログ測定量及び処理モジ
ュール５０のそれぞれの測定入力側１−８に対する所属
の測定領域が生じる。
る。この場合それぞれの測定入力側１−８にそれぞれ２
つの半導体スイッチ１１−１８及び２１−２８が設けら
れている。半導体スイッチ１１−１８の後ろに２つの入
力増幅器３１及び３２が設けられている。入力増幅器３
２は半導体スイッチ１１−１８の１つによって直接制御
され、一方入力増幅器３１は付加的に半導体スイッチ１
９を介して制御される。半導体スイッチ１０及び２０
は、どの入力増幅器３１，３２のどの測定量が後続増幅
器３５に供給されるべきであるかを決定する。後続増幅
器３５はそこに供給されたアナログ測定量を基準電位す
なわちアースに関連付けて増幅しかつこの出力測定量を
ＡＤ変換器３４において変換することができる。ＡＤ変
換器は測定量をデジタル測定値に変換し、それはそれか
ら監視ユニット４０の書込み−読出しメモリ４２に書込
まれかつ引続く処理のためにアドレス／データバスを介
して制御系に供給される。半導体スイッチ１１−２８の
導通制御に対して、唯一決定的なのは、測定の前にユー
ザによってプログラムメモリ４１に書込まれるプログラ
ムである。プログラムメモリ４１のこのプログラム内容
から結果的に、処理すべきアナログ測定量及び処理モジ
ュール５０のそれぞれの測定入力側１−８に対する所属
の測定領域が生じる。
半導体スイッチ１１−２８の配置及び入力増幅器３１及
び３２、後続増幅器３５、定電流源３０、ＡＤ変換器３
４及び論理回路３３に接続された監視ユニット４０から
成る回路形態によって、すべてのアナログ測定量が本発
明の処理モジュール５０によって処理することができる
ことになる。
び３２、後続増幅器３５、定電流源３０、ＡＤ変換器３
４及び論理回路３３に接続された監視ユニット４０から
成る回路形態によって、すべてのアナログ測定量が本発
明の処理モジュール５０によって処理することができる
ことになる。
第２図は本発明の処理モジュール５０のブロック図であ
る。
る。
第３図は書込み−読出しメモリ４２の基本構成を示し、
そこには測定入力側の瞬時値が循環的に記憶される。そ
のアドレス指定は制御系のマイクロプロセツサによって
直接行われる。データ語は読出し信号の付勢によって制
御系のデータバスに読出される。
そこには測定入力側の瞬時値が循環的に記憶される。そ
のアドレス指定は制御系のマイクロプロセツサによって
直接行われる。データ語は読出し信号の付勢によって制
御系のデータバスに読出される。
第４図は、プログラムメモリ４１の相応の記憶領域１′
−８′にユーザの側でプログラミングされた測定量及び
測定領域の例を示す。
−８′にユーザの側でプログラミングされた測定量及び
測定領域の例を示す。
第５図は、第４図に示した、測定入力側１−８の測定量
に対する半導体スイッチ１１−２８の状態を示す。
に対する半導体スイッチ１１−２８の状態を示す。
測定入力側１−８に対して、ユーザによって、第４図に
図示の測定量及び測定領域がプログラムメモリ４１にプ
ログラミングされる。プログラムメモリの記憶領域１′
−３′の以下に説明する最初の３つの処理ステップに基
いて、処理モジュール５０の機能経過について第１図乃
至第５図と関連して詳細に説明する。
図示の測定量及び測定領域がプログラムメモリ４１にプ
ログラミングされる。プログラムメモリの記憶領域１′
−３′の以下に説明する最初の３つの処理ステップに基
いて、処理モジュール５０の機能経過について第１図乃
至第５図と関連して詳細に説明する。
プログラムメモリ４１の記憶領域１′が制御系のマイク
ロプロセツサによってアドレス指定されると、論理回路
３３によって、第５図において測定入力側１に対して図
示されているように、以下ＨＳと記号で表す半導体スイ
ッチの状態１１−２８が生じる。
ロプロセツサによってアドレス指定されると、論理回路
３３によって、第５図において測定入力側１に対して図
示されているように、以下ＨＳと記号で表す半導体スイ
ッチの状態１１−２８が生じる。
半導体スイッチＨＳ１１及びＨＳ１０は閉成されてい
る。測定入力側１の測定電圧は半導体スイッチＨＳ１１
を介して入力増幅器３２に達しかつＨＳ１０を介して後
続増幅器に供給される。後続増幅器はこれらアナログ測
定量をデジタル測定値への変換のためにＡＤ変換器に転
送し、それからデジタル値は書込み−読出しメモリ４２
のアドレス０００にnBitを有するデータ語として記憶さ
れる（第３図）。それから測定入力側２では、センサ素
子に関する温度領域、ここではＮｉ１０００が検出され
るはずである。
る。測定入力側１の測定電圧は半導体スイッチＨＳ１１
を介して入力増幅器３２に達しかつＨＳ１０を介して後
続増幅器に供給される。後続増幅器はこれらアナログ測
定量をデジタル測定値への変換のためにＡＤ変換器に転
送し、それからデジタル値は書込み−読出しメモリ４２
のアドレス０００にnBitを有するデータ語として記憶さ
れる（第３図）。それから測定入力側２では、センサ素
子に関する温度領域、ここではＮｉ１０００が検出され
るはずである。
プログラムメモリ４１の記憶領域２′はそれに相応して
プログラミングされている。プログラムメモリ４１の記
憶領域２′が制御系のマイクロプロセツサによってアド
レス指定されると、半導体スイッチＨＳ１１−２８は論
理回路３３を介して測定入力側２に対して第５図に示す
状態をとる。半導体スイッチＨＳ１０，１２及び２２は
閉じている。
プログラミングされている。プログラムメモリ４１の記
憶領域２′が制御系のマイクロプロセツサによってアド
レス指定されると、半導体スイッチＨＳ１１−２８は論
理回路３３を介して測定入力側２に対して第５図に示す
状態をとる。半導体スイッチＨＳ１０，１２及び２２は
閉じている。
センサ素子、ここではＮｉ１０００を介して測定入力側
２に定流電源３０に相応して、半導体スイッチＨＳ２２
を介して電流が、アース９に流れる。その際発生する基
準電圧は半導体スイッチＨＳ１２を介して入力増幅器３
２に達しかつそこで増幅されかつ半導体スイッチＨＳ１
０を介して後続の増幅器３５に達する。
２に定流電源３０に相応して、半導体スイッチＨＳ２２
を介して電流が、アース９に流れる。その際発生する基
準電圧は半導体スイッチＨＳ１２を介して入力増幅器３
２に達しかつそこで増幅されかつ半導体スイッチＨＳ１
０を介して後続の増幅器３５に達する。
変換のためのアナログ測定値の準備及びアドレス００１
による書込み−読出しメモリ４２へのデジタル測定値の
記憶を、監視ユニット４０が制御する。
による書込み−読出しメモリ４２へのデジタル測定値の
記憶を、監視ユニット４０が制御する。
プログラムメモリ４１の記憶領域３′が制御系のマイク
ロプロセツサによってアドレス指定されると（第４
図）、半導体スイッチＨＳ１１−２８の状態が第５図に
測定入力側３に対して図示されているように設定され
る。
ロプロセツサによってアドレス指定されると（第４
図）、半導体スイッチＨＳ１１−２８の状態が第５図に
測定入力側３に対して図示されているように設定され
る。
この場合、半導体スイッチＨＳ１３およびＨＳ１９を介
して、入力側が基準抵抗３６を介してアース９に接続さ
れている入力増幅器３１に達する電流がアナログ測定量
として用いられる。基準抵抗３６に基いて相応に増幅さ
れた測定量は半導体スイッチＨＳ２０を介して後続の増
幅器３５に達する。
して、入力側が基準抵抗３６を介してアース９に接続さ
れている入力増幅器３１に達する電流がアナログ測定量
として用いられる。基準抵抗３６に基いて相応に増幅さ
れた測定量は半導体スイッチＨＳ２０を介して後続の増
幅器３５に達する。
増幅器３５を介するアナログ測定量の準備、デジタル測
定値への変換及びアドレス０１０に基づく監視ユニット
４０の書込み−読出しメモリ４への記憶は、最初の２つ
の処理ステップの場合と同じように行われる。
定値への変換及びアドレス０１０に基づく監視ユニット
４０の書込み−読出しメモリ４への記憶は、最初の２つ
の処理ステップの場合と同じように行われる。
ＡＤ変換器３４はWilkinson原理に従って動作するもの
を使用すると有利である。これにより付加的なサンプル
／ホール回路を省略することができる。
を使用すると有利である。これにより付加的なサンプル
／ホール回路を省略することができる。
請求項２に記載のように、本発明の処理モジュール５０
では、プログラムメモリ４１が付加的な記憶領域を有
し、そこにユーザが、処理すべきそれぞれの測定量に対
して、同じスケーリングに整合するために増幅係数をプ
ログラミングすることができる利点がある。
では、プログラムメモリ４１が付加的な記憶領域を有
し、そこにユーザが、処理すべきそれぞれの測定量に対
して、同じスケーリングに整合するために増幅係数をプ
ログラミングすることができる利点がある。
第１図は、本発明の処理ユニットの基本回路図であり、
第２図は、本発明の処理モジュールのブロック図であ
り、第３図は、本発明の処理モジュールの書込み−読出
しメモリの基本構成を示す図であり、第４図は、本発明
の処理モジュールのプログラムメモリに記憶される測定
量及び測定領域の例を示す図であり、第５図は、本発明
の処理モジュールの半導体ステップの状態を入力側及び
第４図に示す測定量及び測定領域の例との関連において
示す図である。 １−８…測定入力側、９…基準アース、１０−２８…半
導体スイッチ、３０…定電流源、３１，３２…入力増幅
器、３３…論理回路、３４…ＡＤ変換器、３５…後続増
幅器、４０…監視ユニット、４１…プログラムメモリ、
４２…書込み−読出しメモリ、５０…処理モジュール
第２図は、本発明の処理モジュールのブロック図であ
り、第３図は、本発明の処理モジュールの書込み−読出
しメモリの基本構成を示す図であり、第４図は、本発明
の処理モジュールのプログラムメモリに記憶される測定
量及び測定領域の例を示す図であり、第５図は、本発明
の処理モジュールの半導体ステップの状態を入力側及び
第４図に示す測定量及び測定領域の例との関連において
示す図である。 １−８…測定入力側、９…基準アース、１０−２８…半
導体スイッチ、３０…定電流源、３１，３２…入力増幅
器、３３…論理回路、３４…ＡＤ変換器、３５…後続増
幅器、４０…監視ユニット、４１…プログラムメモリ、
４２…書込み−読出しメモリ、５０…処理モジュール
Claims (2)
- 【請求項１】入力増幅器、後続の増幅器、ＡＤ変換器、
監視ユニット及びアナログ測定量を検出するための入力
側を有する、アナログ入力量の検出処理モジュールにお
いて、監視ユニット（４０）はそれぞれの測定入力側
（１−８）に対して固有の記憶領域（１′−８′）を使
用することができるプログラムメモリ（４１）を有して
おり、上記記憶領域においてそれぞれの測定入力側に対
するアナログ測定領域及びアナログ測定量の形式がプロ
グラミングされ、かつ上記測定入力側（１−８）はマル
チプレックス方式において循環的に測定領域、アナログ
測定量の形式及びアナログ測定量の瞬時値について走査
され、かつ上記プログラムメモリ（４１）の記憶内容に
依存して、半導体スイッチ（１１−２８）が測定サイク
ル内においてそれぞれの測定入力側（１−８）に対して
切換制御され（第５図）、かつアナログ測定量の瞬時値
がＡＤ変換器（３４）を介して変換されかつ上記監視ユ
ニット（４０）の書込み−読出しメモリ（４２）に書込
まれる（第３図）ことを特徴とするアナログ入力量の検
出処理モジュール。 - 【請求項２】プログラムメモリ（４１）は、そのプログ
ラム内容がＡＤ変換器（３４）を制御して変換のために
該ＡＤ変換器に供給されるすべてのアナログ測定量を同
じスケーリングにおいて変換するようにする記憶領域を
有している請求項１記載のアナログ入力量の検出処理モ
ジュール。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19873709805 DE3709805A1 (de) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | Verarbeitungsmodul zur erfassung analoger eingangsgroessen, insbesondere fuer mikroprozessorsysteme und speicherprogrammierbare steuerungen |
| DE3709805.5 | 1987-03-25 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63265321A JPS63265321A (ja) | 1988-11-01 |
| JPH0612513B2 true JPH0612513B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=6323943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63069939A Expired - Lifetime JPH0612513B2 (ja) | 1987-03-25 | 1988-03-25 | アナログ入力量の検出処理モジユール |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4926351A (ja) |
| EP (1) | EP0283889B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0612513B2 (ja) |
| AT (1) | ATE84152T1 (ja) |
| DE (2) | DE3709805A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0537307Y2 (ja) * | 1988-12-17 | 1993-09-21 | ||
| AT402459B (de) * | 1992-11-17 | 1997-05-26 | Elin Energieversorgung | Schaltungsanordnung zur aufbereitung von analogen strom- und spannungssignalen |
| JP2857554B2 (ja) * | 1992-12-28 | 1999-02-17 | 三菱電機株式会社 | センサ特性調整回路および方法 |
| DE4332403C2 (de) * | 1993-09-23 | 1998-07-23 | Tuchenhagen Gmbh | Elektrische Schaltungsanordnung zur Niveau-Grenzwerterfassung in Behältern mit elektrisch leitenden Medien |
| DE4405607A1 (de) * | 1994-02-22 | 1995-08-24 | Hey Tec Regelungstechn Gmbh | Schaltungseinrichtung zur Erfassung und Umsetzung einer Mehrzahl physikalischer Meßgrößen |
| DE4406823A1 (de) * | 1994-03-02 | 1995-09-07 | Jacob Elektronische Mes Und Re | Vorrichtung und Verfahren zur Verarbeitung von analogen elektrischen Signalen innerhalb eines digitalen Meßgerätes |
| DE4434553A1 (de) * | 1994-09-28 | 1996-04-04 | Wolfgang Schenk | Felddaten-Digitalwandler |
| DE29720492U1 (de) * | 1997-11-19 | 1998-02-12 | DELTA PLUS-elektronik-GmbH, 48429 Rheine | Steuerungsanordnung mit separatem Multiplexer |
| DE10109002C2 (de) * | 2001-02-23 | 2003-10-16 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Verarbeitung von Detektorsignalen |
| DE10201621B4 (de) * | 2002-01-16 | 2004-01-29 | Hansen & Reinders Gmbh & Co. Kg | Meßwertumformer für mehrere Sensoren und Meßwertumformungsverfahren |
| DE10318704B4 (de) * | 2003-04-24 | 2007-10-18 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Vorrichtung zur Ausgabe von Messsignalen |
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