JPS63265321A - アナログ入力量の検出処理モジユール - Google Patents
アナログ入力量の検出処理モジユールInfo
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- JPS63265321A JPS63265321A JP63069939A JP6993988A JPS63265321A JP S63265321 A JPS63265321 A JP S63265321A JP 63069939 A JP63069939 A JP 63069939A JP 6993988 A JP6993988 A JP 6993988A JP S63265321 A JPS63265321 A JP S63265321A
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- Japan
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 23
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/02—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
- G01D3/022—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation having an ideal characteristic, map or correction data stored in a digital memory
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/25—Selecting one or more conductors or channels from a plurality of conductors or channels, e.g. by closing contacts
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Technology Law (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Programmable Controllers (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Control By Computers (AREA)
- Microcomputers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、請求項１の上位概念に記載の、例えばマイク
ロプロセッサ系又はメモリプログラミング可能な制御装
置における、アナログ入力量の測定値検出処理モジュー
ルに関する。
ロプロセッサ系又はメモリプログラミング可能な制御装
置における、アナログ入力量の測定値検出処理モジュー
ルに関する。
従来の技術
アナログ入力量のデジタル値への変換は公知でありかつ
それは今日の通常技術に属する。
それは今日の通常技術に属する。
ＡＤ変換は主として、デジタル指示部を備えた制御系及
び電子的な制御系において使用され、その際デジタル値
に変換されたアナログ測定値は、引、胱＜処理のために
制御系に供給される。
び電子的な制御系において使用され、その際デジタル値
に変換されたアナログ測定値は、引、胱＜処理のために
制御系に供給される。
市販のマイクロプロセッサは、例えばアナログ・デバイ
ス社のＡＤ７５８１ （アナログ・デバイス社のデータ
ブック、１９８４年８．１０／１５９参照）のようなコ
ンバチデルなＡＤ変換器を゛利用している。それは監視
用ｍ埋回路によって循環的に走査され、瞬時値をデータ
メモリに格納しかつデータバスに供給するマルチルック
ス入力側を有している。この場合、専ら電圧測定値量で
しか処理することができない点が不都合である。
ス社のＡＤ７５８１ （アナログ・デバイス社のデータ
ブック、１９８４年８．１０／１５９参照）のようなコ
ンバチデルなＡＤ変換器を゛利用している。それは監視
用ｍ埋回路によって循環的に走査され、瞬時値をデータ
メモリに格納しかつデータバスに供給するマルチルック
ス入力側を有している。この場合、専ら電圧測定値量で
しか処理することができない点が不都合である。
アナログ・デバイス社のＡＤ６２５（アナログ・デバイ
ス社のデータデック、Ｕｐｄａｔｅ ＡｎｄＳｅｌｅｃ
ｔｉｏｎ Ｇｕｌｄｅｓ ３ ／ ｌ １１参照）の
ようなプログラミング可能な測定増幅器も公知である。
ス社のデータデック、Ｕｐｄａｔｅ ＡｎｄＳｅｌｅｃ
ｔｉｏｎ Ｇｕｌｄｅｓ ３ ／ ｌ １１参照）の
ようなプログラミング可能な測定増幅器も公知である。
この場合増幅係数は、基準抵抗を用いたモジュールめハ
ードウェアのスイッチング接続することによって実現さ
れる。
ードウェアのスイッチング接続することによって実現さ
れる。
種々異なった入力゛底圧を測定糸の内部増幅によって整
合する方法も公知である。
合する方法も公知である。
発明が解決しようとする問題点
上記のモジュール、系及び方法には、例えば電流又は電
圧のような種々異なった信号形態の処理又はセンサに対
する整合が同一の測定入力側において付加的なハードウ
ェア変形又は例えばリレー等の受動回路菓子なしでは不
可能であるという欠点がある。
圧のような種々異なった信号形態の処理又はセンサに対
する整合が同一の測定入力側において付加的なハードウ
ェア変形又は例えばリレー等の受動回路菓子なしでは不
可能であるという欠点がある。
本発明の課題は、冒頭に述べた形式のアナログ入力量の
測定値検出のための処理モジュールを、それぞ、れの入
力側が用途に応じてフレキシブルにスイッチング接続す
ることができかつ電圧測定値量又は電流測定値量の検出
又はセンサに対する整合のために用いられるように改善
することであり、その際入力形態及び測定値整合を付加
的なハードウェア変形又はリレー等のような受動回路菓
子を用いずに、測定の前にユーザによって実施されるプ
ログラミングによってのみ行うことができるようにした
い。
測定値検出のための処理モジュールを、それぞ、れの入
力側が用途に応じてフレキシブルにスイッチング接続す
ることができかつ電圧測定値量又は電流測定値量の検出
又はセンサに対する整合のために用いられるように改善
することであり、その際入力形態及び測定値整合を付加
的なハードウェア変形又はリレー等のような受動回路菓
子を用いずに、測定の前にユーザによって実施されるプ
ログラミングによってのみ行うことができるようにした
い。
問題点を解決するための手段
この課題は本発明によれば請求項１および２の考徴部分
に記載の溝底によって解決される。
に記載の溝底によって解決される。
請求項において使用されている用飴のム味を正確に定義
しておく。
しておく。
１、 プログラムメモリ
このメモリには監視ユニットの７−ケンスプログラムが
固定記憶されている。それば、入力領域１入力量及び引
続く処理の形式に関するプリセット値を指示する。
固定記憶されている。それば、入力領域１入力量及び引
続く処理の形式に関するプリセット値を指示する。
２、測定入力側
測定入力端とは、外部と接続されている素子の可入力側
の１つである。それは、周辺装置ｆ置に対する直接的な
アクセスを表す。
の１つである。それは、周辺装置ｆ置に対する直接的な
アクセスを表す。
６、測定入力側に対する記憶領域
それぞれの測に入力側は、プログラムメモリのプリセッ
ト値に相応して（１，参照）測定量がデジタルの形にお
いて格納される内部記ｔｉ頒域を使用することができる
。そこから引続く処理のために監視ユニットの機能が決
められる。
ト値に相応して（１，参照）測定量がデジタルの形にお
いて格納される内部記ｔｉ頒域を使用することができる
。そこから引続く処理のために監視ユニットの機能が決
められる。
４、循環的なマルチプレックス方法
循環的なマルチプレックス方法によって、１、で説明し
たプログラムメモリのプリセット値に応じて２６で説明
した測定入力側が、アナログ値をデジタル量にする変換
ユニットに接続される。マルチプレクサがどのようにア
ナログ値を受取るかの手順は１．で説明したプログラム
メモリに固定記憶されている。通例アクセスは循環的に
、即ち発生順序で行われる。
たプログラムメモリのプリセット値に応じて２６で説明
した測定入力側が、アナログ値をデジタル量にする変換
ユニットに接続される。マルチプレクサがどのようにア
ナログ値を受取るかの手順は１．で説明したプログラム
メモリに固定記憶されている。通例アクセスは循環的に
、即ち発生順序で行われる。
５、半導体メモリ
監視ユニットの内部機能シーケンスは半導体スイッチを
介してのみ突流することかできる。この場合′！１１荷
によってその都電率を急直に変化することができるＭＯ
Ｓ ）ランジスタで七って、それらは機械的なスイッチ
菓子に匹敵する。
介してのみ突流することかできる。この場合′！１１荷
によってその都電率を急直に変化することができるＭＯ
Ｓ ）ランジスタで七って、それらは機械的なスイッチ
菓子に匹敵する。
６．測定量の瞬時値
測定量の瞬時値とは、変換が始まったとき、２、で説明
した測定入力端に生じるアナログ値である。
した測定入力端に生じるアナログ値である。
Ｚ 監視ユニット
監視ユニットは論理機能郡全体を総称しかつ１．乃至６
．で説明した１ｖＡ別シーケンスが正しく経過するよう
にする。
．で説明した１ｖＡ別シーケンスが正しく経過するよう
にする。
実施例
次に本発明の処理モジュールを図示の実施例につき図面
を用いて詳細に説明する。
を用いて詳細に説明する。
第１図は本発明の処理モジュール５０の基本回路図でり
る。この場合それぞれの測定入力側１−８にそれぞれ２
つの半導体スイッチ１１−１８及び２１−２８が設けら
れている。半導体スイッチ１１−１８の後ろに２つの入
力増幅器３１及び３２が設けられていＬ０人力増幅器３
２は半導体スイッチ１ｉ−ｉａの１つによって直接制御
され、一方入力増幅器３１は付加的に半導体スイッチ１
日を介して制御される。半導体スイッチ１０及び２０は
、どの入力増幅器３１゜３２のどの測定蓋が後続増幅器
３５に供給されるべきであるかを決定する。後続増幅器
３５はそこに供給されたアナログ測定量を基準電位す力 なわちアースに関連付けて増幅しかつこの出匂測定量を
ＡＤ変換器３４において変換することができる。ＡＤ変
換器は測定量をデジタル測定値に変換し、それはそれか
ら監視ユニット４０の書込み一読出しメモリ４２に簀込
まれかつ引続く処理のためにアドレス／データバスを介
して制御系に供給される。半導体スイッチ１１−２８の
導通制御に対して唯一決定的なのは、測定の前にユーザ
によってプログラムメモリ４１に書込まれるプログラム
である。プログラムメモリ４１のこのプログラム内容か
ら結果的に、処理すべきアナログ測定量及び処理モジュ
ール５０のそれぞれの測定入力側１−８に対する所属の
測定領域が生じる。
る。この場合それぞれの測定入力側１−８にそれぞれ２
つの半導体スイッチ１１−１８及び２１−２８が設けら
れている。半導体スイッチ１１−１８の後ろに２つの入
力増幅器３１及び３２が設けられていＬ０人力増幅器３
２は半導体スイッチ１ｉ−ｉａの１つによって直接制御
され、一方入力増幅器３１は付加的に半導体スイッチ１
日を介して制御される。半導体スイッチ１０及び２０は
、どの入力増幅器３１゜３２のどの測定蓋が後続増幅器
３５に供給されるべきであるかを決定する。後続増幅器
３５はそこに供給されたアナログ測定量を基準電位す力 なわちアースに関連付けて増幅しかつこの出匂測定量を
ＡＤ変換器３４において変換することができる。ＡＤ変
換器は測定量をデジタル測定値に変換し、それはそれか
ら監視ユニット４０の書込み一読出しメモリ４２に簀込
まれかつ引続く処理のためにアドレス／データバスを介
して制御系に供給される。半導体スイッチ１１−２８の
導通制御に対して唯一決定的なのは、測定の前にユーザ
によってプログラムメモリ４１に書込まれるプログラム
である。プログラムメモリ４１のこのプログラム内容か
ら結果的に、処理すべきアナログ測定量及び処理モジュ
ール５０のそれぞれの測定入力側１−８に対する所属の
測定領域が生じる。
半導体スイッチ１１−２８の配置及び入力増幅器３１及
び３２、後続増幅器３５、定電流源３０、ＡＤ変換器３
４及び論理回路３３に接続された監視ユニット４０から
成る回路形態によって、すべてのアナログ測定量が本発
明の処理モジュール５０によって処理することができる
ことになる。
び３２、後続増幅器３５、定電流源３０、ＡＤ変換器３
４及び論理回路３３に接続された監視ユニット４０から
成る回路形態によって、すべてのアナログ測定量が本発
明の処理モジュール５０によって処理することができる
ことになる。
第２図は本発明の処理モジュール５０のゾロツク図であ
る。
る。
第６図は書込み一読出しメモリ４２の基本構成を示し、
そこには測定入力側の瞬時値が循環的に記憶される。そ
のアドレス指定は制御系のマイクロプロセッサによって
直接性われる。データ飴は読出し信号の付勢によって制
御系のデータバスに読出される。
そこには測定入力側の瞬時値が循環的に記憶される。そ
のアドレス指定は制御系のマイクロプロセッサによって
直接性われる。データ飴は読出し信号の付勢によって制
御系のデータバスに読出される。
第４図は、プログラムメモリ４１の相応の記憶領域１′
−８’にユーザの側でプログラミングされた測定量及び
測定′領域の例を示す。
−８’にユーザの側でプログラミングされた測定量及び
測定′領域の例を示す。
第５図は、第４図に示した、測定入力側１−８の測定量
に対する半導体スイッチ１１−２８の状態を示す。
に対する半導体スイッチ１１−２８の状態を示す。
測定入力側１−８に対して、ユーザによって、第４図に
図示の測定量及び測定領域がプログラムメモリ４１にプ
ログラミングされる。
図示の測定量及び測定領域がプログラムメモリ４１にプ
ログラミングされる。
プログラムメモリの記憶領域１′−３’の以下に説明す
る最初の６つの処理ステップに基いて、処理モジュール
５０の機能経過について第１図乃至第５図と関連して詳
細に説明する。プログラムメモリ４１の記憶領域１′が
制御系のマイクロプロセッサによってアドレス指定され
ると、論理回路３３によって、第５図において測定入力
側１に対して図示されているように、以下ＨＩ３１” と記号で表す半導体スイッチの １Ｋ１１−２８が生じ
る。
る最初の６つの処理ステップに基いて、処理モジュール
５０の機能経過について第１図乃至第５図と関連して詳
細に説明する。プログラムメモリ４１の記憶領域１′が
制御系のマイクロプロセッサによってアドレス指定され
ると、論理回路３３によって、第５図において測定入力
側１に対して図示されているように、以下ＨＩ３１” と記号で表す半導体スイッチの １Ｋ１１−２８が生じ
る。
半導体スイッチＨ８１ｉ及びＨ８１Ｑは閉成されている
。測定入力側１の測定電圧は半導体スイッチＨ８１ｉを
介して入力増幅器３２に達しかつＨ８１０ｅ介して後続
増幅器に供給される。後続増幅器はこれらアナログ測定
量をデジタル測定値への変換のためにＡＤ変換器に転送
し、それからデフタル値は簀込み一読出しメモリ４２の
アドレスＯＯＯにｎＢｉｔを有するデータ胎として記憶
される（第６図）。それから測定ン 入力側２では、ｊｒ素子に関する温度領域、ここではＮ
ｉｌ ０００が検出されるはずである。
。測定入力側１の測定電圧は半導体スイッチＨ８１ｉを
介して入力増幅器３２に達しかつＨ８１０ｅ介して後続
増幅器に供給される。後続増幅器はこれらアナログ測定
量をデジタル測定値への変換のためにＡＤ変換器に転送
し、それからデフタル値は簀込み一読出しメモリ４２の
アドレスＯＯＯにｎＢｉｔを有するデータ胎として記憶
される（第６図）。それから測定ン 入力側２では、ｊｒ素子に関する温度領域、ここではＮ
ｉｌ ０００が検出されるはずである。
プログラムメモリ４１の記憶領域２′はそれに相応して
プログラミングされている。プログラムメモリ４１の記
憶領域２′が制御系のマイクロプロセッサによってアド
レス指定されると、半導体スイッチＨＥ１１１−２８は
論理回路３３を介して測定入力側２に対して第５図に示
す状態をとる。半導体スイッチＨ８ｌ０，１２及び２２
は閉じている。
プログラミングされている。プログラムメモリ４１の記
憶領域２′が制御系のマイクロプロセッサによってアド
レス指定されると、半導体スイッチＨＥ１１１−２８は
論理回路３３を介して測定入力側２に対して第５図に示
す状態をとる。半導体スイッチＨ８ｌ０，１２及び２２
は閉じている。
センサ素子、ここではＮｉ１０００を介して測定入力側
２に定ｍ’！ｔ［＃、３１１に相応して、半導体スイッ
チＨ８２２を弁して電流が、アース９に流れる。その際
発生する基準電圧は半導体スイッチＨ８１２を介して入
力ｐＩＩ幅器３２に達しかつそこで増幅されかつ半導体
スイッチＨ１ｌｌ１１０を介して後続の増幅器３５に達
する。
２に定ｍ’！ｔ［＃、３１１に相応して、半導体スイッ
チＨ８２２を弁して電流が、アース９に流れる。その際
発生する基準電圧は半導体スイッチＨ８１２を介して入
力ｐＩＩ幅器３２に達しかつそこで増幅されかつ半導体
スイッチＨ１ｌｌ１１０を介して後続の増幅器３５に達
する。
変換のためのアナログ測定値の準備及びアトドレス００
１による簀込み一読出しメモリ４２へのデジタル測定値
の記憶を、監視ユニット４０が制御する。
１による簀込み一読出しメモリ４２へのデジタル測定値
の記憶を、監視ユニット４０が制御する。
プログラムメモリ４１の記憶領域３′が制御系のマイク
ロプロセッサによってアドレス指定されると（第４図）
、半導体スイッチＨ８１ｌ−２８の状態が第５図に測定
入力側３に対して図示されているように設定される。
ロプロセッサによってアドレス指定されると（第４図）
、半導体スイッチＨ８１ｌ−２８の状態が第５図に測定
入力側３に対して図示されているように設定される。
この場合、半導体スイッチＨ８１３およびＨ８１ｊｊを
介して、入力側が基準億抗３６を介してアース９に接続
されている入力増幅器３１に達する電流がアナログ測定
量として用いられる。基準砥抗３６に基いて相応に増幅
された測定量は半導体スイッチＨ８２０を介して後続の
増幅器３５に達する。
介して、入力側が基準億抗３６を介してアース９に接続
されている入力増幅器３１に達する電流がアナログ測定
量として用いられる。基準砥抗３６に基いて相応に増幅
された測定量は半導体スイッチＨ８２０を介して後続の
増幅器３５に達する。
増幅器３５を介するアナログ測定量の準備、デジタル測
定値への変換及びアドレス口１０に基づく監視ユニット
４０の書込み一読出しメモリ４２への記憶は、最初の２
つの処理ステップの場合と同じように行われる。
定値への変換及びアドレス口１０に基づく監視ユニット
４０の書込み一読出しメモリ４２への記憶は、最初の２
つの処理ステップの場合と同じように行われる。
ＡＤ変換器３４はＷｉｌｋｉｎｓｏｎ原理に従って動作
するものを使用すると有利でおる。これにより付加的な
サンプル／ホール回路を省略することができる。
するものを使用すると有利でおる。これにより付加的な
サンプル／ホール回路を省略することができる。
請求項２に記載のように、本発明の処理モジュール５０
では、プログラムメモリ４１が付加的な記憶領域を有し
、そこにユーザが、処理すべきそれぞれの測定量に対し
て、同じスケーリングに整合するために増幅係数をプロ
グラミングすることができるという利点がある。
では、プログラムメモリ４１が付加的な記憶領域を有し
、そこにユーザが、処理すべきそれぞれの測定量に対し
て、同じスケーリングに整合するために増幅係数をプロ
グラミングすることができるという利点がある。
第１図は、本発明の処理ユニットの基本回路図であり、
第２図は、本発明の処理モジュールのゾロツク図であり
、第６図は、本発明の処理モジュールの誉込み一読出し
メモリの基本構成を示す図でめり、第４図は、本発明の
処理モジュールのプログラムメモリに記憶される測定量
及び測定領域の例を示す図でりり、第５図は、本発明の
処理モジュールの半導体スイッチの格態 筐を入力側及び第４図に示す測定量及び測定領域の例と
の関連において示す図である。 １−８・・・測定入力側、９・・・基準アース、１〇−
２８・・・半導体スイッチ、３０・・・定電流源、３１
．３２・・・入力増幅器、３３・・・論理回路、３４・
・・ＡＤ変換器、３５・・・後続増幅器、４０・・・監
視ユニット、４１・・・プログラムメモリ、４２・・・
書込み一読出しメモリ、５０・・・処理モジュール 第２図 第３図
第２図は、本発明の処理モジュールのゾロツク図であり
、第６図は、本発明の処理モジュールの誉込み一読出し
メモリの基本構成を示す図でめり、第４図は、本発明の
処理モジュールのプログラムメモリに記憶される測定量
及び測定領域の例を示す図でりり、第５図は、本発明の
処理モジュールの半導体スイッチの格態 筐を入力側及び第４図に示す測定量及び測定領域の例と
の関連において示す図である。 １−８・・・測定入力側、９・・・基準アース、１〇−
２８・・・半導体スイッチ、３０・・・定電流源、３１
．３２・・・入力増幅器、３３・・・論理回路、３４・
・・ＡＤ変換器、３５・・・後続増幅器、４０・・・監
視ユニット、４１・・・プログラムメモリ、４２・・・
書込み一読出しメモリ、５０・・・処理モジュール 第２図 第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、入力増幅器、後続の増幅器、ＡＤ変換器、監視ユニ
ット及びアナログ測定量を検出するための入力側を有す
る、アナログ入力量の検出処理モジュールにおいて、監
視ユニット （４０）はそれぞれの測定入力側（１−８）に対して固
有の記憶領域（１′−８′）を使用することができるプ
ログラムメモリ（４１）を有しており、上記記憶領域に
おいてそれぞれの測定入力側に対するアナログ測定領域
及びアナログ測定量の形式がプログラミングされ、かつ
上記測定入力側（１−８）はマルチプレックス方式にお
いて循環的に測定領域、アナログ測定量の形式及びアナ
ログ測定量の瞬時値について走査され、かつ上記プログ
ラムメモリ（４１）の記憶内容に依存して、半導体スイ
ッチ（１１−２８）が測定サイクル内ににおいてそれぞ
れの測定入力側（１−８）に対して切換制御され（第５
図）、かつアナログ測定量の瞬時値がＡＤ変換器（３４
）を介して変換されかつ上記監視ユニット（４０）の書
込み−読出しメモリ（４２）に書込まれる（第３図）こ
とを特徴とするアナログ入力量の検出処理モジュール。 ２、プログラムメモリ（４１）は、そのプログラム内容
がＡＤ変換器（３４）を制御して変換のために該ＡＤ変
換器に供給されるすべてのアナログ測定量を同じスケー
リングにおいて変換するようにする記憶領域を有してい
る請求項１記載のアナログ入力量の検出処理モジュール
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3709805.5 | 1987-03-25 | ||
| DE19873709805 DE3709805A1 (de) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | Verarbeitungsmodul zur erfassung analoger eingangsgroessen, insbesondere fuer mikroprozessorsysteme und speicherprogrammierbare steuerungen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63265321A true JPS63265321A (ja) | 1988-11-01 |
| JPH0612513B2 JPH0612513B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=6323943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63069939A Expired - Lifetime JPH0612513B2 (ja) | 1987-03-25 | 1988-03-25 | アナログ入力量の検出処理モジユール |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4926351A (ja) |
| EP (1) | EP0283889B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0612513B2 (ja) |
| AT (1) | ATE84152T1 (ja) |
| DE (2) | DE3709805A1 (ja) |
Cited By (1)
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