JPH0612376B2 - 光学装置の画像検出方法 - Google Patents
光学装置の画像検出方法Info
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- JPH0612376B2 JPH0612376B2 JP61081132A JP8113286A JPH0612376B2 JP H0612376 B2 JPH0612376 B2 JP H0612376B2 JP 61081132 A JP61081132 A JP 61081132A JP 8113286 A JP8113286 A JP 8113286A JP H0612376 B2 JPH0612376 B2 JP H0612376B2
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- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Focusing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、リーダプリンタ等の光学装置であってオート
フォーカス機構付きのものに適用され、選択したフォー
カスゾーンにオートフォーカスに適する画像が含まれて
いるか否かを判別し、適切な画像が含まれるフォーカス
ゾーンを探し出すための画像検出方法に関するものであ
る。
フォーカス機構付きのものに適用され、選択したフォー
カスゾーンにオートフォーカスに適する画像が含まれて
いるか否かを判別し、適切な画像が含まれるフォーカス
ゾーンを探し出すための画像検出方法に関するものであ
る。
（発明の技術的背景） マイクロ写真原画の投影光（画像投影光）をスクリーン
や感光体に結像するマイクロ写真リーダやプリンタ、あ
るいは両者を組合わせたリーダプリンタが従来よりあ
る。この種の光学装置において自動的に焦点を合わせる
オートフォーカス（以下ＡＦという）機構を設ける場合
には、ＡＦを行う領域すなわちフォーカスゾーンを選定
してこの領域内の投影光がスクリーンや感光体の投影面
上に結像するように光学系を制御する。しかしこの際選
定した領域内に像が無い場合、例えば選定した領域が原
画の単一色のバックグラウンド領域に対応している場合
には、投影面上に像を結ぶことができない。このためＡ
Ｆ機構が正しく作動しないという問題があった。
や感光体に結像するマイクロ写真リーダやプリンタ、あ
るいは両者を組合わせたリーダプリンタが従来よりあ
る。この種の光学装置において自動的に焦点を合わせる
オートフォーカス（以下ＡＦという）機構を設ける場合
には、ＡＦを行う領域すなわちフォーカスゾーンを選定
してこの領域内の投影光がスクリーンや感光体の投影面
上に結像するように光学系を制御する。しかしこの際選
定した領域内に像が無い場合、例えば選定した領域が原
画の単一色のバックグラウンド領域に対応している場合
には、投影面上に像を結ぶことができない。このためＡ
Ｆ機構が正しく作動しないという問題があった。
（発明の目的） 本発明はこのような事情に鑑みなされたものであり、フ
ィルムに記録された画像を投影するＡＦ機構付きの光学
装置に適用され、ＡＦ機構が正しく作動するに足るコン
トラストを有する像を含む領域（フォーカスゾーン）を
探し出してＡＦ機構を正しく作動させることができる光
学装置の画像検出方法を提供することを目的とする。
ィルムに記録された画像を投影するＡＦ機構付きの光学
装置に適用され、ＡＦ機構が正しく作動するに足るコン
トラストを有する像を含む領域（フォーカスゾーン）を
探し出してＡＦ機構を正しく作動させることができる光
学装置の画像検出方法を提供することを目的とする。
（発明の構成） 本発明によればこの目的は、フィルムに記録された画像
の投影光を投影面上に結像させ、この投影画像内から選
定した一部の領域に対してオートフォーカス制御を行う
オートフォーカス機構付きの光学装置において、選出し
た領域の投影光をイメージセンサにより走査して得られ
る前記イメージセンサのパルス電圧を、前記イメージセ
ンサの一走査ごとに段階的に変化する参照電圧と比較
し、各参照電圧に対して前記パルス電圧が大となる画素
数を各参照電圧ごとに計数し、この計数値の参照電圧に
対する分布特性曲線の特徴に基づいて前記領域の画像が
オートフォーカスに適するか否かを判別し、その画像が
オートフォーカスに不適であれば前記領域を変更して同
様な判別を行い適切な領域を選出することを特徴とする
光学装置の画像検出方法、により達成される。
の投影光を投影面上に結像させ、この投影画像内から選
定した一部の領域に対してオートフォーカス制御を行う
オートフォーカス機構付きの光学装置において、選出し
た領域の投影光をイメージセンサにより走査して得られ
る前記イメージセンサのパルス電圧を、前記イメージセ
ンサの一走査ごとに段階的に変化する参照電圧と比較
し、各参照電圧に対して前記パルス電圧が大となる画素
数を各参照電圧ごとに計数し、この計数値の参照電圧に
対する分布特性曲線の特徴に基づいて前記領域の画像が
オートフォーカスに適するか否かを判別し、その画像が
オートフォーカスに不適であれば前記領域を変更して同
様な判別を行い適切な領域を選出することを特徴とする
光学装置の画像検出方法、により達成される。
ここに分布特性曲線の特徴として、例えば画素数が急変
した参照電圧以上の領域の面積を求め、この面積が設定
範囲内にあることから画像の有無を判別することができ
る。
した参照電圧以上の領域の面積を求め、この面積が設定
範囲内にあることから画像の有無を判別することができ
る。
またイメージセンサとしては一次元固体イメージセン
サ、例えばＣＣＤなどのラインセンサが適する。
サ、例えばＣＣＤなどのラインセンサが適する。
（実施例） 第１図は本発明の一実施例であるマイクロ写真リーダプ
リンタの全体概略図、第２図はオートフォーカス機構の
ブロック図、第３図は動作の流れ図、第４図は各部出力
波形図、第５図はＤ／Ａ変換器の出力を示す図、第６図
は露光調整方法の説明図、第７図は画像検出方法の説明
図である。
リンタの全体概略図、第２図はオートフォーカス機構の
ブロック図、第３図は動作の流れ図、第４図は各部出力
波形図、第５図はＤ／Ａ変換器の出力を示す図、第６図
は露光調整方法の説明図、第７図は画像検出方法の説明
図である。
第１図において符号１０はマイクロフィッシュやマイク
ロロールフィルムなどのマイクロ写真の原画である。１
２は光源であり、光源１２の光はコンデンサレンズ１
４、防熱フィルタ１６、反射鏡１８を介して原画１０の
下面に導かれる。リーダモードにおいては、原画１０の
透過光は、投影レンズ２０、反射鏡２２，２４，２６に
よって投影面としての透過型スクリーン２８に導かれ、
このスクリーン２８に原画１０の拡大投影像を結像す
る。プリンタモードにおいては、反射鏡２４は第１図仮
想線位置に回動し、投影光は反射鏡２２，３０，３２に
よってＰＰＣ方式のプリンタ３４に導かれる。このため
プリンタ３４の感光ドラム３６上に潜像が形成される。
この潜像は所定の極性に帯電されたトナーにより可視像
化され、このトナー像が転写紙３８に転写される。
ロロールフィルムなどのマイクロ写真の原画である。１
２は光源であり、光源１２の光はコンデンサレンズ１
４、防熱フィルタ１６、反射鏡１８を介して原画１０の
下面に導かれる。リーダモードにおいては、原画１０の
透過光は、投影レンズ２０、反射鏡２２，２４，２６に
よって投影面としての透過型スクリーン２８に導かれ、
このスクリーン２８に原画１０の拡大投影像を結像す
る。プリンタモードにおいては、反射鏡２４は第１図仮
想線位置に回動し、投影光は反射鏡２２，３０，３２に
よってＰＰＣ方式のプリンタ３４に導かれる。このため
プリンタ３４の感光ドラム３６上に潜像が形成される。
この潜像は所定の極性に帯電されたトナーにより可視像
化され、このトナー像が転写紙３８に転写される。
この実施例の画像検出装置は、回動可能な反射鏡４０、
投影レンズ４２、イメージセンサとしてのＣＣＤライン
センサ４４、サーボモータ４６等を備える、投影レンズ
２０を通過した投影光は反射鏡４０により投影レンズ４
２を通してラインセンサ４４に導かれる。ラインセンサ
４４はサーボモータ４６により光軸に直交する方向へ移
動可能となっている。また投影レンズ４２は、投影光が
スクリーン２８あるいは感光ドラム３６の投影面上に合
焦する位置に投影レンズ２０を置いた時に、ラインセン
サ４４の受光面上に正確に結像するように、その焦点距
離が決められている。
投影レンズ４２、イメージセンサとしてのＣＣＤライン
センサ４４、サーボモータ４６等を備える、投影レンズ
２０を通過した投影光は反射鏡４０により投影レンズ４
２を通してラインセンサ４４に導かれる。ラインセンサ
４４はサーボモータ４６により光軸に直交する方向へ移
動可能となっている。また投影レンズ４２は、投影光が
スクリーン２８あるいは感光ドラム３６の投影面上に合
焦する位置に投影レンズ２０を置いた時に、ラインセン
サ４４の受光面上に正確に結像するように、その焦点距
離が決められている。
焦点制御時には、サーボモータ４８で投影レンズ２０を
光軸方向に進退動させ、投影光をスクリーン２８あるい
は感光ドラム３６の投影面上に正しく結像させる。
光軸方向に進退動させ、投影光をスクリーン２８あるい
は感光ドラム３６の投影面上に正しく結像させる。
５０は制御回路であり、前記ラインセンサ４４の出力に
基づいて露光調整と、画像検出と、焦点制御とを順次行
う。
基づいて露光調整と、画像検出と、焦点制御とを順次行
う。
露光量調整は次のように行われる。まずＣＰＵ５２は電
源スイッチの投入によりＲＯＭ５４に予め記憶されたプ
ログラムに従い、出力ポート５６に信号を出力し、反射
鏡４０を投影光路に存在させるようにドライバ５８を作
動させて投影光をラインセンサ４４に導く。またＣＰＵ
５２は出力ポート５６を介して光源１２を例えば最も使
用頻度の多い光量で点灯させるように電源６０を制御す
る。さらにＣＰＵ５２は、乗算型Ｄ／Ａ変換器６２の出
力電圧Ｖｃを例えば最も低い電圧（０ボルト）とするよ
うに制御する。このＤ／Ａ変換器６２には、出力ポート
６４を介して２桁の１６進数（８ビットのＣＰＵ５２を
用いる場合）により示される指令値ｎが入力され、Ｄ／
Ａ変換器６２はこの入力される指令値ｎと基準電圧回路
６６から出力される基準電圧Ｖ０とを乗算して参照電圧
Ｖｃとして出力する。指令値ｎの最大値ｎ＝ＦＦでＶｃ
＝Ｖ０（２５５／２５６）、またｎ＝０でＶｃ＝０とな
るため、 Ｖｃ＝Ｖ０（ｎ−１）／ＦＦ…(1) の式に基づいて参照電圧Ｖｃを求めることができる。第
５図は指令値ｎに対する参照電圧Ｖｃの変化を示す。Ｃ
ＰＵ５２はまず最初においては指令値ｎ＝０を出力し
（第３図、ステップ１００）、参照電圧Ｖｃ＝０として
比較器６８の逆相入力端に入力する。
源スイッチの投入によりＲＯＭ５４に予め記憶されたプ
ログラムに従い、出力ポート５６に信号を出力し、反射
鏡４０を投影光路に存在させるようにドライバ５８を作
動させて投影光をラインセンサ４４に導く。またＣＰＵ
５２は出力ポート５６を介して光源１２を例えば最も使
用頻度の多い光量で点灯させるように電源６０を制御す
る。さらにＣＰＵ５２は、乗算型Ｄ／Ａ変換器６２の出
力電圧Ｖｃを例えば最も低い電圧（０ボルト）とするよ
うに制御する。このＤ／Ａ変換器６２には、出力ポート
６４を介して２桁の１６進数（８ビットのＣＰＵ５２を
用いる場合）により示される指令値ｎが入力され、Ｄ／
Ａ変換器６２はこの入力される指令値ｎと基準電圧回路
６６から出力される基準電圧Ｖ０とを乗算して参照電圧
Ｖｃとして出力する。指令値ｎの最大値ｎ＝ＦＦでＶｃ
＝Ｖ０（２５５／２５６）、またｎ＝０でＶｃ＝０とな
るため、 Ｖｃ＝Ｖ０（ｎ−１）／ＦＦ…(1) の式に基づいて参照電圧Ｖｃを求めることができる。第
５図は指令値ｎに対する参照電圧Ｖｃの変化を示す。Ｃ
ＰＵ５２はまず最初においては指令値ｎ＝０を出力し
（第３図、ステップ１００）、参照電圧Ｖｃ＝０として
比較器６８の逆相入力端に入力する。
比較器６８の正相入力端にはラインセンサ４４のパルス
電圧ｑが信号処理回路７０を介して入力される。比較器
６８の出力はカウンタ７２に入力される。ＣＰＵ５２は
動作初期にこのカウンタ７２の計数値Ｎを０に初期化す
る（ステップ１０２）。
電圧ｑが信号処理回路７０を介して入力される。比較器
６８の出力はカウンタ７２に入力される。ＣＰＵ５２は
動作初期にこのカウンタ７２の計数値Ｎを０に初期化す
る（ステップ１０２）。
次にＣＰＵ５２はラインセンサ４４の駆動回路を作動さ
せる。ラインセンサ４４はその駆動パルスｐに同期して
画素に入射する光量に対応するパルス電圧ｑを画素の配
列に従って順次出力する。すなわちラインセンサ４４の
受光面上の投影光が走査される。このパルス電圧ｑは、
各画素の特性のバラツキなどのために同じ光量が投影さ
れていても各画素毎に変動する。信号処理回路７０は各
画素の特性のバラツキを補正しかつ波形整形して第４図
（Ａ）に示すような矩形波ａとする。この図でＧは基準
黒レベル電圧を示し、この基準黒レベル電圧Ｇに対して
正側のパルス電圧Ｖａは各画素へ入射した露光量を示
す。また負側のパルスはリセットクロックのフィードス
ルーである。
せる。ラインセンサ４４はその駆動パルスｐに同期して
画素に入射する光量に対応するパルス電圧ｑを画素の配
列に従って順次出力する。すなわちラインセンサ４４の
受光面上の投影光が走査される。このパルス電圧ｑは、
各画素の特性のバラツキなどのために同じ光量が投影さ
れていても各画素毎に変動する。信号処理回路７０は各
画素の特性のバラツキを補正しかつ波形整形して第４図
（Ａ）に示すような矩形波ａとする。この図でＧは基準
黒レベル電圧を示し、この基準黒レベル電圧Ｇに対して
正側のパルス電圧Ｖａは各画素へ入射した露光量を示
す。また負側のパルスはリセットクロックのフィードス
ルーである。
この矩形波ａは比較器６８の正相入力端に入力される。
また比較器６８の逆相入力端には前記のように(1)式に
基づく参照電圧Ｖｃが入力される（ステップ１０４）。
従ってこの比較器６８はＶａとＶｃとを比較し（第３
図、ステップ１０６）、 Ｖａ＞Ｖｃ の時には第４図（Ｂ）に示すパルスｂを出力する。この
パルスｂはカウンタ７２に入力され、カウンタ７２の計
数値Ｎに１を加え（ステップ１０８）、そうでない時に
は計数値Ｎを変化させない。そしてこの動作を全ての画
素について繰り返す（ステップ１１０、１１２）。従っ
てこの計数値Ｎは、その時の光源１２の光度において、
Ｖａ＞Ｖｃとなる画素の数、換言すればポジの原画の場
合には、バックグラウンド領域（白）が投影された画素
の数を示している。この計数値Ｎは入力ポート７４を介
してＣＰＵ５２に読込まれ、さらにＲＡＭ７６に記憶さ
れる。なお最初は指令値ｎは０に設定されているので
（ステップ１００）、(1)式による参照電圧Ｖｃも０で
あり、カウンタ７２の計数値Ｎは原理的には全画素数に
等しくなる。
また比較器６８の逆相入力端には前記のように(1)式に
基づく参照電圧Ｖｃが入力される（ステップ１０４）。
従ってこの比較器６８はＶａとＶｃとを比較し（第３
図、ステップ１０６）、 Ｖａ＞Ｖｃ の時には第４図（Ｂ）に示すパルスｂを出力する。この
パルスｂはカウンタ７２に入力され、カウンタ７２の計
数値Ｎに１を加え（ステップ１０８）、そうでない時に
は計数値Ｎを変化させない。そしてこの動作を全ての画
素について繰り返す（ステップ１１０、１１２）。従っ
てこの計数値Ｎは、その時の光源１２の光度において、
Ｖａ＞Ｖｃとなる画素の数、換言すればポジの原画の場
合には、バックグラウンド領域（白）が投影された画素
の数を示している。この計数値Ｎは入力ポート７４を介
してＣＰＵ５２に読込まれ、さらにＲＡＭ７６に記憶さ
れる。なお最初は指令値ｎは０に設定されているので
（ステップ１００）、(1)式による参照電圧Ｖｃも０で
あり、カウンタ７２の計数値Ｎは原理的には全画素数に
等しくなる。
全画素について以上の各ステップの動作が完了すると、
ＣＰＵ５２は指令値ｎが最大値ＦＦになるまで（ステッ
プ１１４）指令値ｎを１づつ増加して（ステップ１１
６）、各ステップ動作を繰り返す。この指令値ｎを１づ
つ増やす動作は、第４図（Ａ）に示す参照電圧ＶｃをＶ
０／ＦＦづつ段階的に上昇させることに対応する。
ＣＰＵ５２は指令値ｎが最大値ＦＦになるまで（ステッ
プ１１４）指令値ｎを１づつ増加して（ステップ１１
６）、各ステップ動作を繰り返す。この指令値ｎを１づ
つ増やす動作は、第４図（Ａ）に示す参照電圧ＶｃをＶ
０／ＦＦづつ段階的に上昇させることに対応する。
以上の動作により、最初に設定した光源１２の光量にお
けるパルス電圧Ｖａが、指令値ｎにより決る参照電圧Ｖ
ｃ以上となる画素数Ｎの分布状態が第６図ｃに示すよう
に求められる。
けるパルス電圧Ｖａが、指令値ｎにより決る参照電圧Ｖ
ｃ以上となる画素数Ｎの分布状態が第６図ｃに示すよう
に求められる。
一般に文章などのマイクロ画像化されたネガの原稿で
は、像の部分はバックグラウンド領域に比べて非常に少
ない。従ってバックグラウンド領域に対応する各画素の
パルス電圧Ｖａとなるパルス数は非常に多くなる。この
ため分布特性曲線ｃは、参照電圧Ｖｃがこのバックグラ
ウンドに対応するパルス電圧Ｖａに近づくと急激に下降
する。
は、像の部分はバックグラウンド領域に比べて非常に少
ない。従ってバックグラウンド領域に対応する各画素の
パルス電圧Ｖａとなるパルス数は非常に多くなる。この
ため分布特性曲線ｃは、参照電圧Ｖｃがこのバックグラ
ウンドに対応するパルス電圧Ｖａに近づくと急激に下降
する。
ＣＰＵ５２はこの分布特性曲線ｃの画素数Ｎが急減する
ことから、バックグラウンドのパルス電圧Ｖａ（ｎ１）
を求める。例えばこの曲線ｃの傾きｋ＝｜ｄＮ／ｄｎ｜
を求め（ステップ１１８）、このｋが最大となる指令値
ｎ１を検出する（ステップ１２０）。一方ＲＯＭ５４に
は適正露光量の時の指令値ｎ０（あるいはＶ
ａ（ｎ０））（第６図）を予め記憶しておき、ＣＰＵ５
２は２つの指令値ｎ０とｎ１との偏差Δすなわち現在の
光量と適正光量との光量差を計算する（ステップ１２
２）。ＣＰＵ５２は次に出力ポート５６を介して電源６
０に信号を送り、光源１２の光量をこの光量差だけ変化
させる（ステップ１２４）。すなわち、特性曲線ｃの計
数値Ｎが急変する参照電圧Ｖｃ（ｎ１）を、適正露光量
に対応する参照電圧Ｖｃ（ｎ０）に一致させるように光
源１２の光量を制御する。このようにして適正露光量調
整が完了する。なおＣＰＵ５２は特性曲線ｃを偏差Δ＝
ｎ０−ｎ１だけ平行移動して得られる適正露光時の特性
曲線（補正後の特性曲線という）ｄ（第６図）を求めＲ
ＡＭ７６に記憶しておく。
ことから、バックグラウンドのパルス電圧Ｖａ（ｎ１）
を求める。例えばこの曲線ｃの傾きｋ＝｜ｄＮ／ｄｎ｜
を求め（ステップ１１８）、このｋが最大となる指令値
ｎ１を検出する（ステップ１２０）。一方ＲＯＭ５４に
は適正露光量の時の指令値ｎ０（あるいはＶ
ａ（ｎ０））（第６図）を予め記憶しておき、ＣＰＵ５
２は２つの指令値ｎ０とｎ１との偏差Δすなわち現在の
光量と適正光量との光量差を計算する（ステップ１２
２）。ＣＰＵ５２は次に出力ポート５６を介して電源６
０に信号を送り、光源１２の光量をこの光量差だけ変化
させる（ステップ１２４）。すなわち、特性曲線ｃの計
数値Ｎが急変する参照電圧Ｖｃ（ｎ１）を、適正露光量
に対応する参照電圧Ｖｃ（ｎ０）に一致させるように光
源１２の光量を制御する。このようにして適正露光量調
整が完了する。なおＣＰＵ５２は特性曲線ｃを偏差Δ＝
ｎ０−ｎ１だけ平行移動して得られる適正露光時の特性
曲線（補正後の特性曲線という）ｄ（第６図）を求めＲ
ＡＭ７６に記憶しておく。
次に制御回路５０はラインセンサ４４に画像を含む投影
光が入射しているか否かの判別、すなわち画像検出動作
を行う。この画像検出は、前記補正後の特性曲線ｄの特
徴に基づいて判断する。すなわちＡＦ動作に適した画像
は、多数の白黒像が頻繁に表われるものであり、この場
合には特性曲線ｄは第７図（Ａ）に示すように指令値ｎ
の増加に対して滑らかに下降する。これに対し補正後の
特性曲線ｄが第７図（Ｂ）に示すようにｎ０以上で著し
く急激に減少する場合は、バックグラウンドが過度に少
なく画像の大半が黒で占められていることが多く、また
第７図（Ｃ）に示すように補正後の特性曲線ｄにｎ０以
上でフラットな部分が生じる場合は画像にベタ部分が入
っている可能性が高い。
光が入射しているか否かの判別、すなわち画像検出動作
を行う。この画像検出は、前記補正後の特性曲線ｄの特
徴に基づいて判断する。すなわちＡＦ動作に適した画像
は、多数の白黒像が頻繁に表われるものであり、この場
合には特性曲線ｄは第７図（Ａ）に示すように指令値ｎ
の増加に対して滑らかに下降する。これに対し補正後の
特性曲線ｄが第７図（Ｂ）に示すようにｎ０以上で著し
く急激に減少する場合は、バックグラウンドが過度に少
なく画像の大半が黒で占められていることが多く、また
第７図（Ｃ）に示すように補正後の特性曲線ｄにｎ０以
上でフラットな部分が生じる場合は画像にベタ部分が入
っている可能性が高い。
画像検出はこのような特性曲線ｄの特徴を検出するもの
であり、例えばｎ０以上の面積Ｓ（第７図の斜線部分）
により判断することができる。この場合にはまずＣＰＵ
５２はこの面積Ｓを算出し（ステップ１２６）、この面
積Ｓが、第７図（Ｂ）の場合の面積Ｓ１より大きく、か
つ第７図（Ｃ）の場合の面積Ｓ２より小さいか否かを判
別し（ステップ１２８）、この範囲に無ければ、サーボ
モータ４６によりラインセンサ４４を移動させたり原画
１０を移動させて（ステップ１３０）、別の領域をライ
ンセンサ４４に導き、前記ステップ１００からの一連の
動作を再度行う。なおこの場合にはすでに露光調整は済
んでいるのでステップ１１８〜１２４を省くこともでき
る。また面積ＳがＳ１とＳ２の間に有れば（ステップ１
２８）、画像の白黒変化が十分に多く焦点制御可能なコ
ントラストを持つ画像が有るものと判別する。
であり、例えばｎ０以上の面積Ｓ（第７図の斜線部分）
により判断することができる。この場合にはまずＣＰＵ
５２はこの面積Ｓを算出し（ステップ１２６）、この面
積Ｓが、第７図（Ｂ）の場合の面積Ｓ１より大きく、か
つ第７図（Ｃ）の場合の面積Ｓ２より小さいか否かを判
別し（ステップ１２８）、この範囲に無ければ、サーボ
モータ４６によりラインセンサ４４を移動させたり原画
１０を移動させて（ステップ１３０）、別の領域をライ
ンセンサ４４に導き、前記ステップ１００からの一連の
動作を再度行う。なおこの場合にはすでに露光調整は済
んでいるのでステップ１１８〜１２４を省くこともでき
る。また面積ＳがＳ１とＳ２の間に有れば（ステップ１
２８）、画像の白黒変化が十分に多く焦点制御可能なコ
ントラストを持つ画像が有るものと判別する。
ＣＰＵは以上のようにして露光量調整（ステップ１００
〜１２４）および画像検出（ステップ１２６〜１３０）
を行った後、焦点制御を行う。この焦点制御のアルゴリ
ズムは種々可能であり、例えばいわゆる“山登り法”に
より投影レンズ２０の合焦位置を求めることができる。
この方法は先ず投影レンズ２０を最近または最遠焦点位
置（ここをｘ＝０とする）に移動し（ステップ１３
２）、前記信号処理回路７０が出力するパルス電圧Ｖａ
を各画素の露光量信号Ｉとし、この露光量信号Ｉの最大
値I(M)と最小値I(m)とを求める（ステップ１３４）。例
えばラインセンサ４４内のある画素の露光量信号ＩをＲ
ＡＭ７６に一時記憶し、次の画素の露光量信号Ｉとの大
小比較をし、大きい方をI(M)とし、小さい方をI(m)とし
て記憶し、順次この動作を全ての画素に対して繰り返す
ことによりＲＡＭ７６にI(M)、I(m)を記憶することがで
きる。ＣＰＵ５２は次に画像のコントラストの基準とし
て例えば次式で示される可視度V(x)を計算してＲＡＭ７
６に記憶する（ステップ１３８）。
〜１２４）および画像検出（ステップ１２６〜１３０）
を行った後、焦点制御を行う。この焦点制御のアルゴリ
ズムは種々可能であり、例えばいわゆる“山登り法”に
より投影レンズ２０の合焦位置を求めることができる。
この方法は先ず投影レンズ２０を最近または最遠焦点位
置（ここをｘ＝０とする）に移動し（ステップ１３
２）、前記信号処理回路７０が出力するパルス電圧Ｖａ
を各画素の露光量信号Ｉとし、この露光量信号Ｉの最大
値I(M)と最小値I(m)とを求める（ステップ１３４）。例
えばラインセンサ４４内のある画素の露光量信号ＩをＲ
ＡＭ７６に一時記憶し、次の画素の露光量信号Ｉとの大
小比較をし、大きい方をI(M)とし、小さい方をI(m)とし
て記憶し、順次この動作を全ての画素に対して繰り返す
ことによりＲＡＭ７６にI(M)、I(m)を記憶することがで
きる。ＣＰＵ５２は次に画像のコントラストの基準とし
て例えば次式で示される可視度V(x)を計算してＲＡＭ７
６に記憶する（ステップ１３８）。
V(x)＝{I(M)-I(m)}/{I(M)+I(m)} 投影レンズ２０をΔｘ移動して可視度Ｖ（ｘ＋Δｘ）を
同様にして求め、V(x)の増加率が０または負になるまで
（ステップ１４０）投影レンズ２０をΔｘづつ移動させ
る（ステップ１４２）。このようにして投影レンズ２０
の合焦位置を求める。
同様にして求め、V(x)の増加率が０または負になるまで
（ステップ１４０）投影レンズ２０をΔｘづつ移動させ
る（ステップ１４２）。このようにして投影レンズ２０
の合焦位置を求める。
この合焦位置は、合焦点を横断するように投影レンズを
一度移動させその時の可視度V(x)の変化特性曲線の半値
巾から合焦点を求めたり（半値巾法）、一度全範囲に亘
って投影レンズを移動させその時の可視度V(x)が最大と
なる位置を合焦として求めてもよい（全スキャン法）。
一度移動させその時の可視度V(x)の変化特性曲線の半値
巾から合焦点を求めたり（半値巾法）、一度全範囲に亘
って投影レンズを移動させその時の可視度V(x)が最大と
なる位置を合焦として求めてもよい（全スキャン法）。
ＣＰＵ５２は次に反射鏡４０を投影光路から退出させ、
通常のリーダまたはプリンタとしての動作を行う。
通常のリーダまたはプリンタとしての動作を行う。
以上の実施例では、分布特性曲線ｃを適正露光時の分布
特性曲線ｄに補正し、参照電圧Ｖｃがこの特性曲線ｄの
急減する参照電圧Ｖｃ（ｎ０）より大きい領域の面積Ｓ
を用い、この面積Ｓが所定の範囲内に入る場合には画像
が有るものし、この範囲内に無ければ画像は無いものと
判別する。しかし本発明はこれに限られるものではな
く、この特性曲線の他の特徴を用いて画像の有無を判別
するものも本発明は包含するものである。
特性曲線ｄに補正し、参照電圧Ｖｃがこの特性曲線ｄの
急減する参照電圧Ｖｃ（ｎ０）より大きい領域の面積Ｓ
を用い、この面積Ｓが所定の範囲内に入る場合には画像
が有るものし、この範囲内に無ければ画像は無いものと
判別する。しかし本発明はこれに限られるものではな
く、この特性曲線の他の特徴を用いて画像の有無を判別
するものも本発明は包含するものである。
一般的には、この面積Ｓが大きいほど画像を含む確率が
高く、また参照電圧Ｖｃの増加に対して計数値Ｎの減少
速度が大きいほど画像を含む確率は高い。従ってこのよ
うな特徴の１つあるいは１以上の特徴に基づいて画像の
有無を判別することも可能である。
高く、また参照電圧Ｖｃの増加に対して計数値Ｎの減少
速度が大きいほど画像を含む確率は高い。従ってこのよ
うな特徴の１つあるいは１以上の特徴に基づいて画像の
有無を判別することも可能である。
（発明の効果） 本発明は以上のように、フィルム画像から選出したフォ
ータスゾーンの投影光をイメージセンサにより走査して
得られるイメージセンサの各画素のパルス電圧を、一走
査ごとに段階的に変化する参照電圧と比較し、参照電圧
に対する画素数の分布特性を求め、この分布特性曲線の
特徴に基づいて画像の有無を検出し、適切な画像を含む
領域（フォーカスゾーン）を探し出すものであるから、
ＡＦ機構が正しく作動するのに適するコントラストを有
する領域（フォーカスゾーン）を選出して正しいＡＦ動
作を行わせることができる。
ータスゾーンの投影光をイメージセンサにより走査して
得られるイメージセンサの各画素のパルス電圧を、一走
査ごとに段階的に変化する参照電圧と比較し、参照電圧
に対する画素数の分布特性を求め、この分布特性曲線の
特徴に基づいて画像の有無を検出し、適切な画像を含む
領域（フォーカスゾーン）を探し出すものであるから、
ＡＦ機構が正しく作動するのに適するコントラストを有
する領域（フォーカスゾーン）を選出して正しいＡＦ動
作を行わせることができる。
第１図は本発明の一実施例であるマイクロ写真リーダプ
リンタの全体概略図、第２図はオートフォーカス機構の
ブロック図、第３図は動作の流れ図、第４図は各部出力
波形図、第５図はＤ／Ａ変換器の出力を示す図、第６図
は露光調整方法の説明図、第７図は画像検出方法の説明
図である。 １２……光源、 ４４……イメージセンサとしてのラインセンサ、 Ｖａ……パルス電圧、 Ｖｃ……参照電圧、 Ｎ……画素数、 ｃ……分布特性曲線。
リンタの全体概略図、第２図はオートフォーカス機構の
ブロック図、第３図は動作の流れ図、第４図は各部出力
波形図、第５図はＤ／Ａ変換器の出力を示す図、第６図
は露光調整方法の説明図、第７図は画像検出方法の説明
図である。 １２……光源、 ４４……イメージセンサとしてのラインセンサ、 Ｖａ……パルス電圧、 Ｖｃ……参照電圧、 Ｎ……画素数、 ｃ……分布特性曲線。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０３Ｂ 27/32 Ｃ 9017−2Ｋ
Claims (1)
- 【請求項１】フィルムに記録された画像の投影光を投影
面上に結像させ、この投影画像内から選定した一部の領
域に対してオートフォーカス制御を行うオートフォーカ
ス機構付きの光学装置において、 選出した領域の投影光をイメージセンサにより走査して
得られる前記イメージセンサのパルス電圧を、前記イメ
ージセンサの一走査ごとに段階的に変化する参照電圧と
比較し、各参照電圧に対して前記パルス電圧が大となる
画素数を各参照電圧ごとに計数し、この計数値の参照電
圧に対する分布特性曲線の特徴に基づいて前記領域の画
像がオートフォーカスに適するか否かを判別し、その画
像がオートフォーカスに不適であれば前記領域を変更し
て同様な判別を行い適切な領域を選出することを特徴と
する光学装置の画像検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61081132A JPH0612376B2 (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 光学装置の画像検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61081132A JPH0612376B2 (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 光学装置の画像検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62238512A JPS62238512A (ja) | 1987-10-19 |
| JPH0612376B2 true JPH0612376B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=13737868
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61081132A Expired - Fee Related JPH0612376B2 (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 光学装置の画像検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612376B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0612377B2 (ja) * | 1986-04-15 | 1994-02-16 | 富士写真フイルム株式会社 | 光学装置の画像検出方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6051105B2 (ja) * | 1979-12-24 | 1985-11-12 | 株式会社東芝 | 自動画質制御複写機 |
| JPS60218639A (ja) * | 1984-04-16 | 1985-11-01 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 複写装置 |
-
1986
- 1986-04-10 JP JP61081132A patent/JPH0612376B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62238512A (ja) | 1987-10-19 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |