JPH06123692A - レーザ回折式粒度分布測定方法 - Google Patents

レーザ回折式粒度分布測定方法

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定前の操作が簡単なレーザ回折式粒度分布
測定方法を提供すること。 【構成】 試料セル10に懸濁液が充満すると同時にレ
ーザ光を照射し、そのとき得られる粒度分布グラフを同
一画面上に重ね描きし、この重ね描きされた粒度分布グ
ラフの変化がなくなった時点で測定を開始するようにし
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ回折式粒度分布
測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】粒子の測定技術は、薬品、食品、セラミ
ックス、化粧品、塗料、色素など広い分野にわたって、
粉末状の物質の性能を決定し、また、評価する上で不可
欠であり、その重要性は日増しに高まっている。このよ
うな粒子の分布を測定する手法の一つにレーザ回折式粒
度分布測定方法がある。この粒度分布測定方法は、例え
ば粉体試料を分散媒と称される液体中に分散攪拌して懸
濁液とし、この懸濁液をフローセルに導入し、その状態
でフローセルに対してレーザ光を照射し、そのときの散
乱光を光検出器によって検出し、これによって得られる
回折光の強度分布を求め、フランホーファ回折、ミー散
乱理論に基づいて試料の粒度分布を求めるものである。
【0003】図2は上記レーザ回折式粒度分布測定方法
に用いる装置の構成を概略的に示すもので、この図にお
いて、1は分散バスで、その内部にはモータ2によって
回転する攪拌羽根3が設けられていると共に、底面4の
外部には図外の発振器によって振動する超音波振動子5
が設けられている。6は適宜の分散媒7を収容したタン
ク、8は分散媒供給管で、電磁弁などの開閉弁9を備
え、分散バス1の開口に開放接続されている。
【0004】10は懸濁液が充填される試料セルとして
のフローセルで、前記分散バス1とは、ポンプ11、切
換え弁12を備えた循環流路13によって接続され、こ
れらと共に懸濁液の循環系14を構成している。15は
フローセル10の一方の側に設けられるレーザ光源、1
6,17はフローセル10の他方の側に設けられる集光
レンズ、光検出器である。また、18は信号切換回路、
19はAD変換器である。
【0005】20はCPUで、装置の各部に対する各種
制御を行うと共に、前記AD変換器19を介して入力さ
れる光検出器17の信号を処理し、粒度分布演算を行う
ものである。21はCRTなどよりなる表示画面22の
周辺に各種のファンクションキー23を備えた表示操作
部で、表示画面22に前記粒度分布演算によって得られ
た出力を粒度分布グラフとして表示できるように構成さ
れている。また、24はプリンタで、前記粒度分布演算
の結果をプリントアウトするものである。
【0006】ところで、上記構成のレーザ回折式粒度分
布測定装置を用いて粒度分布測定を行うには、偏析のな
い均一な定常状態の懸濁液を循環系14に循環させ、懸
濁液で充填されているフローセル10に対してレーザ光
源15からレーザ光を照射する必要がある。
【0007】従来は、前記懸濁液が測定に適した定常状
態になっているか否かの判断を次のようにしていた。そ
の一つの手法は、超音波振動子5を動作後適宜の時間
(例えば4〜5分)経過後に懸濁液を循環系14に循環
させ、その状態でレーザ光をフローセル10に照射し、
そのとき、表示画面22において表示される、例えば図
4に示すような粒度分布グラフを比較用の基準粒度分布
グラフと比較して、両者に差がないとき、懸濁液が定常
状態になっていると判断する。
【0008】他の手法は、超音波振動子5を動作後、異
なる時間後に上記のようにして得た2つの粒度分布グラ
フを比較して、両者に差がないとき、懸濁液が定常状態
になっていると判断する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記前
者の手法においては、比較用の基準粒度分布グラフを複
数種用意する必要があり、これを適宜選択して用いる必
要があると共に、懸濁液が定常状態になるまで、何度も
粒度分布グラフを得るための操作を繰り返す必要があ
る。
【0010】これに対して、上記後者の手法において
は、比較用の基準粒度分布グラフを複数種用意する必要
はないものの、前者の手法と同様に、懸濁液が定常状態
になるまで、何度も粒度分布グラフを得るための操作を
繰り返す必要がある。
【0011】このように、従来のレーザ回折式粒度分布
測定方法は、その測定前の操作が大変面倒であった。
【0012】上述のような問題は、上述のように、懸濁
液を分散バス1において超音波分散させ、かつ、懸濁液
を分散バス1とフローセル10との間で循環させるよう
にしたものにおいてのみ生じていただけでなく、バス1
内において懸濁液の攪拌のみを行い、懸濁液を循環させ
る方式のものや、懸濁液の循環や超音波分散を行わず、
所謂回分式と呼ばれるバッチ方式のものにおいても同様
に生じているところである。
【0013】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的とするところは、測定前の操作が簡単
なレーザ回折式粒度分布測定方法を提供することにあ
る。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るレーザ回折式粒度分布測定方法は、試
料セルに懸濁液が充満すると同時にレーザ光を照射し、
そのとき得られる粒度分布グラフを同一画面上に重ね描
きし、この重ね描きされた粒度分布グラフの変化がなく
なった時点で測定を開始するようにしている。
【0015】
【作用】上記測定方法によれば、試料セルに懸濁液が充
満すると同時にレーザ光を照射するので、試料セルにお
ける懸濁液の充填直後から粒度分布グラフが得られ、時
間の経過と共に同一画面上に重ね描きされる。そして、
この重ね描きされた粒度分布グラフの変化を目視してい
て、前記変化がなくなった時点を、懸濁液が測定に適し
た定常状態になったときと判定するのである。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面を参照しなが
ら説明する。
【0017】図1は本発明に係るレーザ回折式粒度分布
測定方法の一例を示すフローチャートである。そして、
本測定方法を実施するための装置は、前記図2に示した
ものと本質的に異なるところがない。また、図3は前記
表示操作分散バス1の前面を拡大して示すもので、以
下、図1〜図3を参照して説明する。また、測定に供さ
れる試料は粉体であるものとする。
【0018】まず、図3に示すファンクションキー「注
入」を操作する。これによって、開閉弁9が開き、適宜
量の分散媒7を分散バス1に導入される(ステップS
1)。
【0019】ファンクションキー「循環」を操作する。
これによって、攪拌ポンプ11が動作し、分散媒7が循
環流路13に沿って循環系14を循環し、フローセル1
0内が分散媒7で満たされる(ステップS2)。
【0020】ファンクションキー「ブランク」を操作す
る。これによって、前記循環している分散媒7が充満し
ているフローセル10に対してレーザ光源15からレー
ザ光が照射され、粒子がない状態で散乱(回折)光量を
測定(ブランク測定)される。このときのデータはCP
U20にメモリされる(ステップS3)。
【0021】前記ブランク測定後、適宜量の試料を分散
バス1に投入する(ステップS4)。
【0022】ファンクションキー「攪拌」を操作する。
これによって、モータ2が動作し、攪拌羽根3が回転
し、試料を含んだ分散媒7が攪拌される。この動作と共
に、ファンクションキー「超音波」を操作する。これに
よって、超音波振動子5が動作して、試料が分散媒7中
に均一に分散されるように、超音波分散処理が行われ
る。そして、この超音波分散処理の開始と同時に、ファ
ンクションキー「循環」を操作する。これによって、ポ
ンプ11が動作して、分散バス1、フローセル10およ
び循環流路13で構成される循環系14に懸濁液が循環
する。この状態でフローセル10にレーザ光を照射する
(ステップS5)。
【0023】前記レーザ光の照射によって生ずる散乱光
が光検出器17に取り込まれる(ステップS6)。
【0024】そして、光検出器17からは前記散乱光の
強度に対応した信号が出力され、この信号は、信号切換
回路18、AD変換器19を介してCPU20に入力さ
れる。このCPU20においては、前記ブランク測定の
ときのデータを考慮にいれて粒度分布演算が行われる
(ステップS7)。
【0025】そして、前記粒度分布演算の結果は、粒度
分布グラフとして、表示操作部21の表示画面22上に
表示される。そして、前記ステップS6〜ステップS8
の動作は、散乱光が光検出器17に取り込まれている
間、繰り返して行われ、図3に示すように、粒度分布グ
ラフが経時的に次々と表示画面22上に重ね描き表示さ
れる(ステップS8)。
【0026】ここで、前記懸濁液が偏析がなく均一な状
態、すなわち、定常状態になれば、前記粒度分布グラフ
の変化がなくなるところから、測定担当者(オペレー
タ)は、前記粒度分布グラフにおける変化がなくなった
時点を、懸濁液が定常状態になった時点と判断すること
ができる。
【0027】そして、前記表示画面22上に重ね描きさ
れた粒度分布グラフは、操作キーなどを操作しないかぎ
り消えることがないので、例えばオペレータがなんらか
の都合で、表示操作部21などが設けられているところ
から離れていて戻ってきても最終の表示状態を維持して
おり、前記時期判断を誤りなく行うことができる。
【0028】前記懸濁液が定常状態になったと思われる
時点で、ファンクションキー「測定開始」を操作する
(ステップS9)ことにより、所定の測定が行われる。
つまり、循環系14に懸濁液が循環し、懸濁液が充填さ
れたフローセル10にレーザ光が照射される。
【0029】前記レーザ光の照射によって生ずる散乱光
が光検出器17に取り込まれ、光検出器17からは前記
散乱光の強度に対応した信号が出力され、この信号は、
信号切換回路18、AD変換器19を介してCPU20
に入力される。このCPU20においては、前記ブラン
ク測定のときのデータを考慮にいれて粒度分布演算が行
われる(ステップS10)。
【0030】そして、前記粒度分布演算の結果は、粒度
分布グラフとして、表示操作部21の表示画面22上に
表示される(ステップS11)。
【0031】所望の測定を行った後は、ファンクション
キー「ドレイン」を操作することにより、開閉弁12が
開き、循環系14内部の懸濁液は全て排出される(ステ
ップS12)。
【0032】その後、図外の洗浄液タンクから洗浄液を
循環系14に供給し、これを循環させることにより、循
環系14内部が洗浄され(ステップS13)、次の測定
まで待機する。
【0033】上述の実施例は、懸濁液を分散バス1にお
いて超音波分散させ、かつ、懸濁液を分散バス1とフロ
ーセル10との間で循環させるようにしたものであった
が、本発明は、これに限られるものではなく、バス1内
において懸濁液の攪拌のみを行い、懸濁液を循環させる
方式のものや、懸濁液の循環や超音波分散を行わず、所
謂回分式と呼ばれるバッチ方式のものにおいても同様に
適用できることは云うまでもない。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定に供される懸濁液が測定に適した定常状態に到達し
たかを極めて簡単に判断することができ、この種の測定
を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るレーザ回折式粒度分布測定方法の
手順の一例を示すフローチャートである。
【図2】前記測定方法を実施するための装置の構成を概
略的に示す図である。
【図3】本発明方法を実施した場合における表示画面に
表示される粒度分布グラフの一例を示す図である。
【図4】従来方法を実施した場合における表示画面に表
示される粒度分布グラフを示す図である。
【符号の説明】
10…試料セル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料セル内に収容されている懸濁液に対
    してレーザ光を照射し、そのときに得られる回折光パタ
    ーンに基づいて前記懸濁液における試料の粒度分布を測
    定するレーザ回折式粒度分布測定方法において、前記試
    料セルに懸濁液が充満すると同時にレーザ光を照射し、
    そのとき得られる粒度分布グラフを同一画面上に重ね描
    きし、この重ね描きされた粒度分布グラフの変化がなく
    なった時点で測定を開始するようにしたことを特徴とす
    るレーザ回折式粒度分布測定方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013024760A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Shimadzu Corp 粒度分布測定装置
JP2015059775A (ja) * 2013-09-17 2015-03-30 ポーラ化成工業株式会社 乳化化粧料の評価方法及び製造方法

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6043871A (en) * 1997-03-03 2000-03-28 Brigham Young University System and method for measuring blood platelet function
JP4374137B2 (ja) * 1997-11-28 2009-12-02 コンパニー ゼネラール デ エタブリッスマン ミシュラン−ミシュラン エ コムパニー アルミナ充填剤およびそのような充填剤を含むゴム組成物
GB9818348D0 (en) * 1998-08-22 1998-10-14 Malvern Instr Ltd Improvements relating to the measurement of particle size distribution
DE60015287T2 (de) * 2000-02-01 2006-02-02 Apv Homogenisers As Intelligente Qualitätsmessung und System zur Überwachung
JP2002062248A (ja) 2000-07-01 2002-02-28 Malvern Instruments Ltd 粒子サイズの分布を特定するための装置及び方法
IES20000617A2 (en) * 2000-08-02 2002-02-20 Millipore Ireland Bv Optical scattering monitor
US6864979B2 (en) * 2000-12-08 2005-03-08 Horiba, Ltd Particle size distribution measuring apparatus
EP1432972A1 (en) * 2001-09-07 2004-06-30 Inficon, Inc. Signal processing method for in-situ, scanned-beam particle monitoring
US8634072B2 (en) * 2004-03-06 2014-01-21 Michael Trainer Methods and apparatus for determining characteristics of particles
JP2007527997A (ja) * 2004-03-06 2007-10-04 マイケル トレイナー, 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置
US7843563B2 (en) * 2005-08-16 2010-11-30 Honeywell International Inc. Light scattering and imaging optical system
EP1990627B1 (en) * 2006-02-28 2015-04-15 Shimadzu Corporation Method of analysis in optical measurements
GB2436143A (en) * 2006-03-15 2007-09-19 Astech Projects Ltd Multiple sample processing
WO2009111615A2 (en) 2008-03-05 2009-09-11 Thrombovision, Inc. Systems for measuring properties of a physiological fluid suspension
JP5913787B2 (ja) * 2010-02-26 2016-04-27 株式会社堀場製作所 粒度分布測定装置
CN101793667A (zh) * 2010-03-24 2010-08-04 天津三星电机有限公司 采用激光粒子计数器间接测试无尘用品发尘量的方法
CN103792167A (zh) * 2014-01-22 2014-05-14 西安航天化学动力厂 一种测试12~14μm高氯酸铵粒度的方法
US9933350B2 (en) 2016-08-16 2018-04-03 International Business Machines Corporation Atmospheric particle counting
US11567017B2 (en) * 2021-05-20 2023-01-31 Kuwait Institute For Scientific Research Apparatus for measuring performance of suspension for cooling computer processing unit

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5418596B2 (ja) * 1971-09-07 1979-07-09
JP2667867B2 (ja) * 1988-03-30 1997-10-27 東亜医用電子株式会社 粒子解析装置
JPH0643949B2 (ja) * 1988-10-03 1994-06-08 大塚電子株式会社 粒径測定装置
JPH04232468A (ja) * 1990-12-28 1992-08-20 Nikkiso Co Ltd 懸濁液自動調製装置
JP2507483Y2 (ja) * 1991-08-17 1996-08-14 株式会社堀場製作所 レ―ザ回折式粒度分布測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013024760A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Shimadzu Corp 粒度分布測定装置
JP2015059775A (ja) * 2013-09-17 2015-03-30 ポーラ化成工業株式会社 乳化化粧料の評価方法及び製造方法

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