JPH06112363A - 半導体パッケージ - Google Patents

半導体パッケージ

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JPH06112363A
JPH06112363A JP25525092A JP25525092A JPH06112363A JP H06112363 A JPH06112363 A JP H06112363A JP 25525092 A JP25525092 A JP 25525092A JP 25525092 A JP25525092 A JP 25525092A JP H06112363 A JPH06112363 A JP H06112363A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
printed wiring
gold plating
copper circuit
solder resist
Prior art date
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Pending
Application number
JP25525092A
Other languages
English (en)
Inventor
Munetake Yamada
宗勇 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP25525092A priority Critical patent/JPH06112363A/ja
Publication of JPH06112363A publication Critical patent/JPH06112363A/ja
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント配線板と封止樹脂との密着性を高め
て剥離が発生することを防ぐ。 【構成】 プリント配線板1の表面に銅回路2、ソルダ
ーレジスト3、金メッキ4を施すと共にプリント配線板
1の表面に半導体チップ5を実装し、これらを封止樹脂
6で封止した半導体パッケージを作成する。この半導体
パッケージにおいて、銅回路2、ソルダーレジスト3、
金メッキ4の少なくともいずれかに部分的に開口部7を
設けてプリント配線板1の基材面8を露出させる。開口
部7にプリント配線板1の基材面8を露出させることに
よって、プリント配線板1と封止樹脂6の間に広い面積
で銅回路2、ソルダーレジスト3、金メッキ4が介在す
ることをなくす。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板を実装
基板とするQFPやその他PGA、SOPなどの半導体
パッケージに関するものである。
【0002】
【従来の技術】QFPなど半導体パケージとして、図3
(a)に示すようにプリント配線板1を実装基板とする
ものが提供されている。すなわち、銅箔を表面に張った
ガラス布基材エポキシ樹脂積層板など銅張り積層板の銅
箔をエッチング加工等することによって回路形成してプ
リント配線板1を作成する。このプリント配線板1の表
面にはその中央部に銅箔でチップ搭載部12が設けてあ
り、また銅箔で放射状の銅回路2が設けてある。そして
チップ搭載部12にIC等の半導体チップ5を搭載する
と共に半導体チップ5の電極と銅回路2の内側端部のイ
ンナーリード部2aとを金線等のワイヤー13でボンデ
ィングし、また銅回路2の外側端部のアウターリード部
2bにリードフレームのリード14を接合し、これらを
エポキシ樹脂等の封止樹脂6でモールドして封止するこ
とによって、QFPなど半導体パッケージを製造するこ
とができるものである。
【0003】ここで、銅回路2のインナーリード部2a
には金線で形成されるワイヤー13をボンディングする
ための金メッキ4が電解メッキ等して施されるが、コス
トダウンの上で銅回路2の全面に金メッキ4がされない
ようにする必要があり、図3(b)のようにプリント配
線板1の表面にソルダーレジスト3を塗布して銅回路2
を部分的に被覆することがおこなわれている(図3
(b)において斜線でソルダーレジスト3を、点々で金
メッキ4を示す)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、銅回路2やソ
ルダーレジスト3、金メッキ4に対する封止樹脂6の密
着性は、プリント配線板1の銅箔が除去された地肌面で
ある基材面8に対する封止樹脂6の密着性と比較して大
きく劣り、封止樹脂6との接着力は次のような順であ
る。
【0005】基材面8>銅回路2≒ソルダーレジスト3
>金メッキ4 そして上記のようにソルダーレジスト3を塗布する結
果、プリント配線板1の表面に占めるこれら銅回路2、
ソルダーレジスト3、金メッキ4の面積の割合は70〜
80%以上になり、封止樹脂6の大部分はこれら密着性
の低い銅回路2、ソルダーレジスト3、金メッキ4を介
してプリント配線板1に接着されることになる。この結
果、密着性の低い銅回路2、ソルダーレジスト3、金メ
ッキ4の表面から封止樹脂6が図3(a)のように界面
剥離し、この剥離箇所6aに水分が浸入して絶縁劣化が
発生したり、ワイヤー13が引っ張られて切断したりす
るおそれがあった。
【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、プリント配線板と封止樹脂との密着性を高めて剥
離が発生することを防ぐことができる半導体パッケージ
を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、プリント配線
板1の表面に銅回路2、ソルダーレジスト3、金メッキ
4を施すと共にプリント配線板1の表面に半導体チップ
5を実装し、これらを封止樹脂6で封止した半導体パッ
ケージにおいて、銅回路2、ソルダーレジスト3、金メ
ッキ4の少なくともいずれかに部分的に開口部7を設け
てプリント配線板1の基材面8を露出させて成ることを
特徴とするものである。
【0008】本発明にあって、プリント配線板1の表面
にその基材面8を50%以上の面積で露出させるのがよ
い。また本発明にあって、プリント配線板1の表面のう
ち銅回路2、ソルダーレジスト3、金メッキ4が占める
面積を50%以下にするのがよい。さらに本発明にあっ
て、銅回路2の表面を粗面化するのがよい。
【0009】
【作用】銅回路2、ソルダーレジスト3、金メッキ4の
少なくともいずれかに部分的に開口部7を設けてプリン
ト配線板1の基材面8を露出させることによって、プリ
ント配線板1と封止樹脂6の間に広い面積で銅回路2、
ソルダーレジスト3、金メッキ4が介在することをなく
し、プリント配線板1と封止樹脂6との密着性を高める
ことができる。
【0010】
【実施例】以下、本発明を実施例によって詳述する。プ
リント配線板1は、銅箔を表面に張ったガラス布基材エ
ポキシ樹脂積層板など銅張り積層板の銅箔をエッチング
加工して、回路形成することによって作成されるもので
あり、プリント配線板1の表面には銅箔のエッチング加
工によるチップ搭載部12と放射状の多数本の銅回路2
が設けてある。そしてプリント配線板1の表面に図1
(b)のようにソルダーレジスト3を塗布することによ
って、内側端部のインナーリード部2aと外側端部のア
ウターリード部2bを除いて銅回路2をソルダーレジス
ト3で被覆し、さらに金メッキ浴にプリント配線板1を
浸漬すると共に銅回路2に通電して電解金メッキをおこ
なうことによって、インナーリード部2aや外側端部の
アウターリード部2bの表面に金メッキ4が施してある
(図1(b)において斜線でソルダーレジスト3を、点
々で金メッキ4を示す)。
【0011】ここで本発明では、銅回路2やソルダーレ
ジスト3、金メッキ4に図2に示すような開口部7を多
数設けてあり、この開口部7を通してプリント配線板1
の基材面(銅箔を除去した積層板の表面)8が露出され
るようにしてある。開口部7は銅回路2、ソルダーレジ
スト3、金メッキ4のうち少なくともいずれかに設けら
れていればよい。
【0012】上記のように作成されるプリント配線板1
において、各銅回路2のアウターリード部2bにリード
フレームのリード14を接合し、チップ搭載部12にI
C等の半導体チップ5を搭載すると共に半導体チップ5
の電極と各銅回路2のインナーリード部2aとを金線等
のワイヤー13でボンディングする。そしてこれらをエ
ポキシ樹脂等の封止樹脂6でモールドして封止すること
によって、図1(a)に示すようなQFPなどの半導体
パッケージを作成することができるものである。図1
(a)において15はスルーホールである。
【0013】このように作成される半導体パッケージに
あって、封止樹脂6との密着性の低い銅回路2やソルダ
ーレジスト3、金メッキ4には開口部7を設けてあるた
めに、銅回路2やソルダーレジスト3、金メッキ4が広
い面積で形成されていても部分的に開口部7を通してプ
リント配線板1の基材面8が露出し、封止樹脂6はプリ
ント配線板1の基材面8と良好に密着して封止樹脂6と
プリント配線板1との界面で剥離が発生することを防ぐ
ことができるものである。従って、剥離の発生による絶
縁劣化やワイヤー13の切断等の不良発生を低減するこ
とができるものである。
【0014】上記のように銅回路2やソルダーレジスト
3、金メッキ4に開口部7を設けることによって、プリ
ント配線板1の基材面8がプリント配線板1の表面に対
して50%以上の面積で露出されるようにするのがよ
い。基材面8を50%以上の面積で露出させるにあたっ
ては、このように開口部7を設けて露出する基材面8が
多くなるようにする他に、銅回路2やソルダーレジスト
3、金メッキ4の大きさをできるだけ小さく設計して露
出面8の面積を大きくするようにしておこなうようにし
てもよい。
【0015】また、銅回路2やソルダーレジスト3、金
メッキ4に開口部7を設けることによって、プリント配
線板1の表面のうちこれらが占める面積を50%以下に
するのがよい。銅回路2やソルダーレジスト3、金メッ
キ4の面積を50%以下にするにあたっては、このよう
に開口部7を設る他に、銅回路2やソルダーレジスト
3、金メッキ4の大きさをできるだけ小さく設計してこ
れらの面積を小さくするようにしておこなうようにして
もよい。
【0016】さらに、銅回路2と封止樹脂6との密着性
を高めるために、ショットブラスト等の機械的粗面化処
理をおこなったり、黒化処理(酸化処理)等の化学的粗
面化処理をおこなったりして、銅回路2の表面に粗面を
形成するようにしてもよい。
【0017】
【発明の効果】上記のように本発明は、銅回路、ソルダ
ーレジスト、金メッキの少なくともいずれかに部分的に
開口部を設けてプリント配線板の基材面を露出させるよ
うにしたので、銅回路やソルダーレジスト、金メッキが
広い面積で形成されていても部分的に開口部を通してプ
リント配線板の基材面が露出し、プリント配線板と封止
樹脂の間に広い面積で銅回路やソルダーレジスト、金メ
ッキが介在することをなくすことができるものであり、
プリント配線板と封止樹脂との密着性を高めて剥離が発
生することを防ぐことができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すものであり、(a)は
断面図、(b)はプリント配線板の一部の平面図であ
る。
【図2】同上の開口部の形成状態を示す拡大した平面図
である。
【図3】従来例を示すものであり、(a)は断面図、
(b)はプリント配線板の一部の平面図である。
【符号の説明】
1 プリント配線板 2 銅回路 3 ソルダーレジスト 4 金メッキ 5 半導体チップ 6 封止樹脂 7 開口部 8 基材面

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント配線板の表面に銅回路、ソルダ
    ーレジスト、金メッキを施すと共にプリント配線板の表
    面に半導体チップを実装し、これらを封止樹脂で封止し
    た半導体パッケージにおいて、銅回路、ソルダーレジス
    ト、金メッキの少なくともいずれかに部分的に開口部を
    設けてプリント配線板の基材面を露出させて成ることを
    特徴とする半導体パッケージ。
  2. 【請求項2】 プリント配線板の表面に銅回路、ソルダ
    ーレジスト、金メッキを施すと共にプリント配線板の表
    面に半導体チップを実装し、これらを封止樹脂で封止し
    た半導体パッケージにおいて、プリント配線板の表面に
    その基材面を50%以上の面積で露出させて成ることを
    特徴とする半導体パッケージ。
  3. 【請求項3】 プリント配線板の表面に銅回路、ソルダ
    ーレジスト、金メッキを施すと共にプリント配線板の表
    面に半導体チップを実装し、これらを封止樹脂で封止し
    た半導体パッケージにおいて、プリント配線板の表面の
    うち銅回路、ソルダーレジスト、金メッキが占める面積
    を50%以下にして成ることを特徴とする半導体パッケ
    ージ。
  4. 【請求項4】 プリント配線板の表面に銅回路、ソルダ
    ーレジスト、金メッキを施すと共にプリント配線板の表
    面に半導体チップを実装し、これらを封止樹脂で封止し
    た半導体パッケージにおいて、銅回路の表面を粗面化し
    て成ることを特徴とする半導体パッケージ。
JP25525092A 1992-09-25 1992-09-25 半導体パッケージ Pending JPH06112363A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09205164A (ja) * 1995-12-20 1997-08-05 Samsung Electron Co Ltd 半導体チップパッケージ及びその製造方法
US6204454B1 (en) 1997-12-27 2001-03-20 Tdk Corporation Wiring board and process for the production thereof
JP2015018934A (ja) * 2013-07-11 2015-01-29 株式会社伸光製作所 プリント基板およびその製造方法
JP2015115432A (ja) * 2013-12-11 2015-06-22 ローム株式会社 半導体装置
JP2016213422A (ja) * 2015-05-13 2016-12-15 株式会社伸光製作所 プリント配線板及びその製造方法
JP2018142746A (ja) * 2018-06-20 2018-09-13 ローム株式会社 半導体装置
US10908442B1 (en) 2019-07-17 2021-02-02 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus

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Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20001017