JPH0569388B2 - - Google Patents
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- JPH0569388B2 JPH0569388B2 JP24583586A JP24583586A JPH0569388B2 JP H0569388 B2 JPH0569388 B2 JP H0569388B2 JP 24583586 A JP24583586 A JP 24583586A JP 24583586 A JP24583586 A JP 24583586A JP H0569388 B2 JPH0569388 B2 JP H0569388B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 6
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、VTR(ビデオテープレコーダ)、
磁気デイスクなどの磁気記録再生装置の記録再生
特性を測定する記録再生特性測定装置に関するも
のである。
磁気デイスクなどの磁気記録再生装置の記録再生
特性を測定する記録再生特性測定装置に関するも
のである。
従来、この種の記録再生特性測定装置として
は、例えばテレビジヨン学会1984年全国大会の講
演7−15において発表されたVTRの電磁変換特
性の自動測定装置が知られている。そして、本出
願人はこのような自動測定装置の問題点を解消す
るものとして、先に、特願昭60−73108号を出願
した。
は、例えばテレビジヨン学会1984年全国大会の講
演7−15において発表されたVTRの電磁変換特
性の自動測定装置が知られている。そして、本出
願人はこのような自動測定装置の問題点を解消す
るものとして、先に、特願昭60−73108号を出願
した。
第9図はこの発明の先願である上記特願昭60−
73108号明細書に開示された記録再生特性測定装
置を示す構成図である。この第9図において、1
は被測定VTR、2は回転ドラム、3はテープ、
4は磁気ヘツド、5はロータリトランスであり、
これらは被測定VTR1の構成要素をなしている。
73108号明細書に開示された記録再生特性測定装
置を示す構成図である。この第9図において、1
は被測定VTR、2は回転ドラム、3はテープ、
4は磁気ヘツド、5はロータリトランスであり、
これらは被測定VTR1の構成要素をなしている。
ロータリトランス5は再生時に磁気ヘツド4の
再生信号をスイツチ6,7を介して再生アンプ8
に送出するようになつており、記録時に記録アン
プ9の出力がスイツチ6,7を介して磁気ヘツド
4に送出されるようになつている。
再生信号をスイツチ6,7を介して再生アンプ8
に送出するようになつており、記録時に記録アン
プ9の出力がスイツチ6,7を介して磁気ヘツド
4に送出されるようになつている。
再生アンプ8の出力はスペクトルアナライザ1
2に送るようにしており、このスペクトルアナラ
イザ12、発振器10、アツテネータ11とコン
ピユータ13は制御バスライン14を介してデー
タの授受を行うようにしている。
2に送るようにしており、このスペクトルアナラ
イザ12、発振器10、アツテネータ11とコン
ピユータ13は制御バスライン14を介してデー
タの授受を行うようにしている。
発振器10の出力はアツテネータ11を介して
記録アンプ9に送出るようにしている。
記録アンプ9に送出るようにしている。
第10図は、第9図の記録再生特性測定装置に
よつて測定された記録再生特性を示す図である。
第10図に示す記録再生特性は、磁気ヘツド4の
記録電流に対する再生電圧の特性曲線につき、周
波数f115〜f317をパラメータとして表わしたもの
である。
よつて測定された記録再生特性を示す図である。
第10図に示す記録再生特性は、磁気ヘツド4の
記録電流に対する再生電圧の特性曲線につき、周
波数f115〜f317をパラメータとして表わしたもの
である。
上記のような記録再生特性を求める場合には、
まず、被測定VTR1を記録状態とし、試験信号
を発生する発振器10を周波数f1付近に設定し、
アツテネータ11の減衰量を数段階に設定するこ
とにより、磁気ヘツド4に記録電流をi-2,i-1,
i0,i+1,i+2などの大きさに順次設定する。
まず、被測定VTR1を記録状態とし、試験信号
を発生する発振器10を周波数f1付近に設定し、
アツテネータ11の減衰量を数段階に設定するこ
とにより、磁気ヘツド4に記録電流をi-2,i-1,
i0,i+1,i+2などの大きさに順次設定する。
次に被測定VTR1を再生状態とし、さきほど
記録した信号を順次に再生する。このとき、磁気
ヘツド4からの再生信号は、再生アンプ8を通し
てスペクトラムアナライザ12よりその再生電圧
が読み取られる。
記録した信号を順次に再生する。このとき、磁気
ヘツド4からの再生信号は、再生アンプ8を通し
てスペクトラムアナライザ12よりその再生電圧
が読み取られる。
上記した記録再生特性測定装置においては、記
録時における記録電流の条件は、周波数のわずか
な変化として伝達される。例えば、第11図に示
すように、記録電流の3dBの変化と周波数の△f
の変化が同時に行われて記録されるため、この信
号を記録したテープを再生すれば、再生信号の周
波数から記録電流を知ることができ、第10図に
示すような特性を得ることができる。ここで、△
fは約10kHz程度とし、第10図に示すf=f1,
f2,f3なる周波数変化に比べて十分に小さいもと
なつている。
録時における記録電流の条件は、周波数のわずか
な変化として伝達される。例えば、第11図に示
すように、記録電流の3dBの変化と周波数の△f
の変化が同時に行われて記録されるため、この信
号を記録したテープを再生すれば、再生信号の周
波数から記録電流を知ることができ、第10図に
示すような特性を得ることができる。ここで、△
fは約10kHz程度とし、第10図に示すf=f1,
f2,f3なる周波数変化に比べて十分に小さいもと
なつている。
VTRなどの回転ヘツド式磁気記録再生装置は
後述するこの発明に適用される被測定VTRにお
ける回転ドラムと磁気ヘツドの配置関係を示す第
2図のように、磁気ヘツド4が、回転ドラム2上
に取り付けられており、回転ドラム2にテープ3
を斜めに巻きつけているため、磁気ヘツド4の回
転位置によつて磁気ヘツド4の磁気媒体の接触状
態が変化する場合がある。
後述するこの発明に適用される被測定VTRにお
ける回転ドラムと磁気ヘツドの配置関係を示す第
2図のように、磁気ヘツド4が、回転ドラム2上
に取り付けられており、回転ドラム2にテープ3
を斜めに巻きつけているため、磁気ヘツド4の回
転位置によつて磁気ヘツド4の磁気媒体の接触状
態が変化する場合がある。
このような場合、磁気ヘツド4の回転に同期し
て再生出力が変化する。
て再生出力が変化する。
従来の記録再生特性測定装置は以上のように構
成されているので、周波数および記録電流が定ま
れば再生出力は時間軸においての最大値または平
均値などの一意に定まつた値しか得ることができ
ず、磁気ヘツド4と磁気媒体の各相対位置におけ
る再生出力を得ることができないため、磁気ヘツ
ドと磁気媒体の相対位置における接触状態の変化
による記録再生特性の変化を測定することができ
ないなどの問題点があつた。
成されているので、周波数および記録電流が定ま
れば再生出力は時間軸においての最大値または平
均値などの一意に定まつた値しか得ることができ
ず、磁気ヘツド4と磁気媒体の各相対位置におけ
る再生出力を得ることができないため、磁気ヘツ
ドと磁気媒体の相対位置における接触状態の変化
による記録再生特性の変化を測定することができ
ないなどの問題点があつた。
この発明は、かかる問題点を解決するためにな
されたもので、磁気記録再生装置の磁気ヘツドと
磁気媒体の各相対位置における記録再生特性を測
定する記録再生測定装置を得ることを目的とす
る。
されたもので、磁気記録再生装置の磁気ヘツドと
磁気媒体の各相対位置における記録再生特性を測
定する記録再生測定装置を得ることを目的とす
る。
この発明に係る記録再生特性測定装置は、磁気
記録再生装置からの再生信号を連続的に検波する
検波器と、検波器の出力をデイジタル変換するア
ナログ/デイジタルコンバータと、このアナロ
グ/デイジタルコンバータの出力を記憶するメモ
リと、このメモリの記憶内容から磁気ヘツドと磁
気媒体の各相対位置における記録再生特性を測定
する手段とを設けたものである。
記録再生装置からの再生信号を連続的に検波する
検波器と、検波器の出力をデイジタル変換するア
ナログ/デイジタルコンバータと、このアナロ
グ/デイジタルコンバータの出力を記憶するメモ
リと、このメモリの記憶内容から磁気ヘツドと磁
気媒体の各相対位置における記録再生特性を測定
する手段とを設けたものである。
の発明においては、磁気記録再生装置からの再
生信号を検波器で連続的に検波してその再生出力
の電圧の振幅を検出してアナログ/デイジタルコ
ンバータでアナログ/デイジタル変換してメモリ
に連続して記憶し、磁気ヘツドと磁気媒体の各相
対位置における記録再生特性を測定する。
生信号を検波器で連続的に検波してその再生出力
の電圧の振幅を検出してアナログ/デイジタルコ
ンバータでアナログ/デイジタル変換してメモリ
に連続して記憶し、磁気ヘツドと磁気媒体の各相
対位置における記録再生特性を測定する。
以下、この発明の記録再生特性測定装置の実施
例について図面に基づき説明する。第1図はその
一実施例の構成を示すブロツク図である。この第
1図において、第9図と同一部分に同一符号を付
してその構成の説明を省略し、第9図とは異なる
部分を重点的に述べる。
例について図面に基づき説明する。第1図はその
一実施例の構成を示すブロツク図である。この第
1図において、第9図と同一部分に同一符号を付
してその構成の説明を省略し、第9図とは異なる
部分を重点的に述べる。
この第1図は第9図と比較しても明らかなよう
に、第1図では第9図で示したアスペクトラムア
ナライザに代えてバンドパスフイルタ、ローパス
フイルタなどのフイルタ121、検波器122、
A/D(アナログ/デイジタル)コンバータ12
3、メモリ124が縦続接続されており、フイル
タ121には再生アンプ8の出力が導入されるよ
うになつている。このメモリ124は制御バスラ
ン14を通してコンピユータ13とデータの授受
を行うようになつている。この他の部分は第9図
と同様である。
に、第1図では第9図で示したアスペクトラムア
ナライザに代えてバンドパスフイルタ、ローパス
フイルタなどのフイルタ121、検波器122、
A/D(アナログ/デイジタル)コンバータ12
3、メモリ124が縦続接続されており、フイル
タ121には再生アンプ8の出力が導入されるよ
うになつている。このメモリ124は制御バスラ
ン14を通してコンピユータ13とデータの授受
を行うようになつている。この他の部分は第9図
と同様である。
第2図は既述したように被測定VTR1におけ
る磁気ヘツド4、テープ3、回転ドラム2の構成
を示す図であり、20は回転ドラム2の回転方
向、21はテープの進行方向をそれぞれ示す矢印
でである。
る磁気ヘツド4、テープ3、回転ドラム2の構成
を示す図であり、20は回転ドラム2の回転方
向、21はテープの進行方向をそれぞれ示す矢印
でである。
この第2図においては回転ドラム2上に磁気ヘ
ツド4a,4bが互いに180゜の角度に対向して取
り付けられている。回転ドラム2に、テーブ3が
180゜強の角度で斜めに巻きつけられている。この
ため、磁気ヘツド4aはもしくは磁気ヘツド4b
のどちらか一方もしくは両方が必ずテーブ3と接
触している。
ツド4a,4bが互いに180゜の角度に対向して取
り付けられている。回転ドラム2に、テーブ3が
180゜強の角度で斜めに巻きつけられている。この
ため、磁気ヘツド4aはもしくは磁気ヘツド4b
のどちらか一方もしくは両方が必ずテーブ3と接
触している。
次に動作について説明する。記録時において
は、コンピユータ13からの制御信号により発振
器10、アツテネータ11を制御し、アツテネー
タ11を通して発振器10から目的の試験信号
を、記録アンプ9に入力し、スイツチ6,7およ
びロータリトランス5を通して磁気ヘツド4に与
える。磁気ヘツド4により試験信号は電流から磁
界に変換され、テーブ3に記録される。
は、コンピユータ13からの制御信号により発振
器10、アツテネータ11を制御し、アツテネー
タ11を通して発振器10から目的の試験信号
を、記録アンプ9に入力し、スイツチ6,7およ
びロータリトランス5を通して磁気ヘツド4に与
える。磁気ヘツド4により試験信号は電流から磁
界に変換され、テーブ3に記録される。
また、再生時においては、テープ3に記録され
た記録磁化が磁気ヘツド4により電圧に変換さ
れ、ロータリトランス5およびスイツチ6,7を
通り、再生アンプ8で増幅される。
た記録磁化が磁気ヘツド4により電圧に変換さ
れ、ロータリトランス5およびスイツチ6,7を
通り、再生アンプ8で増幅される。
再生アンプ8で増幅された再生信号はフイルタ
121により高調波成分を取り除かれ、基本波成
分のみにされたのち、検波器122により連続的
に再生信号の振幅を検出し、A/Dコンバータ1
23によりデイジタル信号に変換し、メモリ12
4に連続的に記憶する。
121により高調波成分を取り除かれ、基本波成
分のみにされたのち、検波器122により連続的
に再生信号の振幅を検出し、A/Dコンバータ1
23によりデイジタル信号に変換し、メモリ12
4に連続的に記憶する。
第2図に示したように磁気ヘツド4は回転ドラ
ム2上に取り付けられて回転しているため、回転
ドラム2の回転に同期して磁気ヘツド4とテープ
3の接触状態が変化する場合がある。このような
場合、磁気ヘツド4のギヤツプ近傍についてみれ
ば、テープ3との間に微小なスペーシングが生ず
る。
ム2上に取り付けられて回転しているため、回転
ドラム2の回転に同期して磁気ヘツド4とテープ
3の接触状態が変化する場合がある。このような
場合、磁気ヘツド4のギヤツプ近傍についてみれ
ば、テープ3との間に微小なスペーシングが生ず
る。
接触状態が変化すれば、前記スペーシングが変
化し、再生出力が変化する。
化し、再生出力が変化する。
このような場合の再生出力をフイルタ121の
出力で見ると、例えば第3図aのようになり、検
波器122の出力で見ると、その振幅値が取り出
されて、第3図bのようになる。
出力で見ると、例えば第3図aのようになり、検
波器122の出力で見ると、その振幅値が取り出
されて、第3図bのようになる。
次に、A/Dコンバータ123によりデイジタ
ル信号に変換され、メモリ124に第3図cに示
すような形で記憶される。
ル信号に変換され、メモリ124に第3図cに示
すような形で記憶される。
このメモリ124に記憶されたデータをコンピ
ユータ13によつてドラム入口および出口に相当
する個所を検出し、処理することにより、第4図
に示すように、磁気ヘツド4の各回転位置におけ
る再生出力を得ることができる。
ユータ13によつてドラム入口および出口に相当
する個所を検出し、処理することにより、第4図
に示すように、磁気ヘツド4の各回転位置におけ
る再生出力を得ることができる。
また、複数の周波数において、上記の測定を行
なうことにより、第6図に示すように磁気ヘツド
の各回転位置における周波数特性を得ることがで
きる。そのため、従来の記録再生特性測定装置で
は、得ることのできなかつた、磁気ヘツドの回転
位置に対するスペーシングの変化を以下に示すよ
うな方法によつて得ることができ、磁気ヘツド
と、テープの接触状態の解析に役立つ。
なうことにより、第6図に示すように磁気ヘツド
の各回転位置における周波数特性を得ることがで
きる。そのため、従来の記録再生特性測定装置で
は、得ることのできなかつた、磁気ヘツドの回転
位置に対するスペーシングの変化を以下に示すよ
うな方法によつて得ることができ、磁気ヘツド
と、テープの接触状態の解析に役立つ。
最適記録電流で記録再生された信号の周波数特
性は、(スペーシング損失)+(ヘツドコア損失)+
(再生ギヤツプ損失)によつて決まることが、電
子通信学会磁気記録研究会資料MR75−28などで
知られており、磁気ヘツドの回転位置によつて再
生信号の周波数特性が変化するとすれば、スペー
シングの変化によるものと考えられる。
性は、(スペーシング損失)+(ヘツドコア損失)+
(再生ギヤツプ損失)によつて決まることが、電
子通信学会磁気記録研究会資料MR75−28などで
知られており、磁気ヘツドの回転位置によつて再
生信号の周波数特性が変化するとすれば、スペー
シングの変化によるものと考えられる。
スペーシング変化量は次の(1)式によつて求める
ことができる。
ことができる。
スペーシング変化量△S=v/K・△Ls/f〔m〕
…(1)
この(1)式において、
vは相対速度〔m/S〕、fは周波数〔Hz〕、△Ls
はスペーシング損失の化量〔dB〕、Kは比例定数、 である。
はスペーシング損失の化量〔dB〕、Kは比例定数、 である。
磁気ヘツドの各回転位置における周波数特性の
うち第6図におけるPoのように周波数特性が最
ものびているものを基準として、磁気ヘツドの各
回転位置の周波数特性との差を求めると、第7図
のようになる。
うち第6図におけるPoのように周波数特性が最
ものびているものを基準として、磁気ヘツドの各
回転位置の周波数特性との差を求めると、第7図
のようになる。
第7図のグラフにおける磁気ヘツドの各回転位
置におけるグラフの傾きを前記(1)式の△Ls/fに代 入することにより、第5図に示すような磁気ヘツ
ド各回転位置におけるスペーシンング変化量を求
めることができる。
置におけるグラフの傾きを前記(1)式の△Ls/fに代 入することにより、第5図に示すような磁気ヘツ
ド各回転位置におけるスペーシンング変化量を求
めることができる。
第5図に示すスペーシング変化量は、スペーシ
ングが最も小さい磁気ヘツド回転位置のスペーシ
ングを0としたときの相対スペーシングである。
ングが最も小さい磁気ヘツド回転位置のスペーシ
ングを0としたときの相対スペーシングである。
なお、上記実施例では、メモリ124に記憶さ
れたデータをコンピユータ13を用いて処理する
ことにより、ドラム入口および出口に相当する個
所を検出したが、回転ドラム2の回転に同期した
信号または再生信号そのものをトリガにしてデー
タをメモリ124に記憶することにより、メモリ
124の特定の番地がドラム入口および出口に相
当するようにしてもよい。
れたデータをコンピユータ13を用いて処理する
ことにより、ドラム入口および出口に相当する個
所を検出したが、回転ドラム2の回転に同期した
信号または再生信号そのものをトリガにしてデー
タをメモリ124に記憶することにより、メモリ
124の特定の番地がドラム入口および出口に相
当するようにしてもよい。
また、上記実施例では、VTRの記録再生特性
を測定する場合について説明したが、磁気デイス
クなどの他の磁気記録再生装置であつてもよい。
を測定する場合について説明したが、磁気デイス
クなどの他の磁気記録再生装置であつてもよい。
さらに、上記実施例では、フイルタ121、検
波器122、A/Dコンバータ123、メモリ1
24は別ブロツクとして構成されているが、これ
らのブロツクは測定結果をデイジタル出力できる
スペクトラムアナライザの基本構成要素であり、
第8図に示すように、上記のフイルタ121、検
波器122、A/Dコンバータ123、メモリ1
24によるブロツクの代りに測定結果をデイジタ
ル出力できるスペクトラムアナライザを周波数ス
パンを0として用いてもよい。
波器122、A/Dコンバータ123、メモリ1
24は別ブロツクとして構成されているが、これ
らのブロツクは測定結果をデイジタル出力できる
スペクトラムアナライザの基本構成要素であり、
第8図に示すように、上記のフイルタ121、検
波器122、A/Dコンバータ123、メモリ1
24によるブロツクの代りに測定結果をデイジタ
ル出力できるスペクトラムアナライザを周波数ス
パンを0として用いてもよい。
このような構成にすることにより、第9図に示
した従来の記録再生特性測定装置と同一の構成に
おいて磁気ヘツドと磁気媒体の各相対位置におけ
る記録再生特性を得ることができる。
した従来の記録再生特性測定装置と同一の構成に
おいて磁気ヘツドと磁気媒体の各相対位置におけ
る記録再生特性を得ることができる。
この発明は以上説明したとおり、再生信号の振
幅値を連続して記憶できるように構成されている
ので、磁気ヘツドと磁気媒体の各相対位置におけ
る記録再生特性を測定することができ、磁気ヘツ
ドと磁気記録媒体の接触状態の解析に役立つなど
の効果がある。
幅値を連続して記憶できるように構成されている
ので、磁気ヘツドと磁気媒体の各相対位置におけ
る記録再生特性を測定することができ、磁気ヘツ
ドと磁気記録媒体の接触状態の解析に役立つなど
の効果がある。
第1図はこの発明の記録再生特性測定装置の一
実施例の構成を示すブロツク図、第2図はこの発
明および従来の記録再生特性測定装置に適用され
るVTRの回転ドラム、テープ、磁気ヘツドの構
成を示す図、第3図は第1図の記録再生特性測定
装置の各部の信号の波形または状態を示す図、第
4図はこの発明の記録再生特性測定装置による磁
気ヘツド回転位置対再生出力の測定結果例を示す
図、第5図は同上記録再生特性測定装置による磁
気ヘツド回転位置対磁気ヘツドテープスペーシン
グの測定結果を示す図、第6図は同上記録再生特
性測定装置における磁気ヘツドの各回転位置によ
る周波数対再生出力の測定結果を示す図、第7図
は第6図の測定結果による周波数特性が最も延び
ているものを基準として磁気ヘツドの各回転位置
の再生周波数特性図、第8図はこの発明の記録再
生特性測定装置の他の実施例の構成を示すブロツ
ク図、第9図はこの発明の先願である記録再生特
性測定装置を示す構成図、第10図は第9図の記
録再生特性測定装置によつて測定された記録再生
特性を示す図、第11図は第9図の記録再生特性
測定装置における記録電流と周波数との関係を示
す図である。 1……被測定VTR、2……回転ドラム、3…
…テープ、4……磁気ヘツド、5……ロータリト
ランス、6,7……スイツチ、8……再生アン
プ、9……記録アンプ、10……発振器、11…
…アツテネータ、12……スペクトラムアナライ
ザ、13……コンピユータ、14……制御バスラ
イン、121……フイルタ、122……検波器、
123……A/Dコンバータ、124……メモ
リ。なお、図中、同一符号は同一または相当部分
を示す。
実施例の構成を示すブロツク図、第2図はこの発
明および従来の記録再生特性測定装置に適用され
るVTRの回転ドラム、テープ、磁気ヘツドの構
成を示す図、第3図は第1図の記録再生特性測定
装置の各部の信号の波形または状態を示す図、第
4図はこの発明の記録再生特性測定装置による磁
気ヘツド回転位置対再生出力の測定結果例を示す
図、第5図は同上記録再生特性測定装置による磁
気ヘツド回転位置対磁気ヘツドテープスペーシン
グの測定結果を示す図、第6図は同上記録再生特
性測定装置における磁気ヘツドの各回転位置によ
る周波数対再生出力の測定結果を示す図、第7図
は第6図の測定結果による周波数特性が最も延び
ているものを基準として磁気ヘツドの各回転位置
の再生周波数特性図、第8図はこの発明の記録再
生特性測定装置の他の実施例の構成を示すブロツ
ク図、第9図はこの発明の先願である記録再生特
性測定装置を示す構成図、第10図は第9図の記
録再生特性測定装置によつて測定された記録再生
特性を示す図、第11図は第9図の記録再生特性
測定装置における記録電流と周波数との関係を示
す図である。 1……被測定VTR、2……回転ドラム、3…
…テープ、4……磁気ヘツド、5……ロータリト
ランス、6,7……スイツチ、8……再生アン
プ、9……記録アンプ、10……発振器、11…
…アツテネータ、12……スペクトラムアナライ
ザ、13……コンピユータ、14……制御バスラ
イン、121……フイルタ、122……検波器、
123……A/Dコンバータ、124……メモ
リ。なお、図中、同一符号は同一または相当部分
を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 磁気記録再生装置の記録再生特性を測定する
記録再生測定装置において、 制御信号によつて設定された発振周波数と振幅
の周期性信号を試験信号して発生し前記磁気記録
再生装置に記録する試験信号源と、前記磁気記録
再生装置からの再生信号の基本波成分を取り出す
フイルタと、このフイルタを通つた再生出力の振
幅を連続的に検出する検波器と、この検波器によ
り検出された再生出力の振幅をデイジタル信号に
変換するアナログ/デイジタルコンバータと、こ
のアナログ/デイジタルコンバータからのデイジ
タル信号を記憶するメモリと、このメモリの記憶
内容を処理するコンピユータを備え、磁気ヘツド
と磁気媒体の各相対位置における記録再生特性を
得ることを特徴とする記録再生特性測定装置。 2 フイルタと検波器とアナログ/デイジタルコ
ンバータとメモリとして、測定結果をデイジタル
出力できるスペクトラム・アナライザを周波数ス
パンを0にして用いることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の記録再生特性測定装置。 3 記録再生特性を得る手段は前記磁気ヘツドと
磁気媒体の各相対位置における記録再生特性を複
数の周波数について測定し、磁気ヘツドと磁気媒
体の各相対位置における周波数特性を求め、前記
周波数特性の変化を、磁気ヘツドと磁気媒体の相
対位置に対するスペーシングの変化として求める
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第
2項記載の記録再生特性測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24583586A JPS6398574A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | 記録再生特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24583586A JPS6398574A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | 記録再生特性測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6398574A JPS6398574A (ja) | 1988-04-30 |
JPH0569388B2 true JPH0569388B2 (ja) | 1993-09-30 |
Family
ID=17139556
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24583586A Granted JPS6398574A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | 記録再生特性測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6398574A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100231887B1 (ko) * | 1997-02-20 | 1999-12-01 | 윤문수 | 고주파 자기특성 측정시스템 |
JP3546351B2 (ja) | 1999-12-22 | 2004-07-28 | 株式会社日立製作所 | 磁気ディスクまたは磁気ヘッドの検査装置 |
-
1986
- 1986-10-15 JP JP24583586A patent/JPS6398574A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6398574A (ja) | 1988-04-30 |
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