JPS6132724B2 - - Google Patents
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- JPS6132724B2 JPS6132724B2 JP6047578A JP6047578A JPS6132724B2 JP S6132724 B2 JPS6132724 B2 JP S6132724B2 JP 6047578 A JP6047578 A JP 6047578A JP 6047578 A JP6047578 A JP 6047578A JP S6132724 B2 JPS6132724 B2 JP S6132724B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 10
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- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 5
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自動磁気ヘツド特性検査装置に関す
る。
る。
最近のVTRの記録密度は急激に増加して来
た。VHS型VTRにおいては、テープ速度3.33
（cm/S）、ヘツド相対速度5.5〔m/S〕、しかも磁
気テープ上でのビデオトラツク間のガードをアジ
マス記録によつて省くという傾向になつている。
このアジマス記録の場合、磁気ヘツドのギヤツプ
傾きが異なり、かつ電磁変換特性がほぼ同一の２
個の磁気ヘツドをペアにして用いる。このため磁
気ヘツドのペアを選び出す作業が必要になつてく
る。この磁気ヘツド特性としては、最適記録電流
特性およびび周波数特性があり、これらのオシロ
スコープにより目視検査で行なつていた。この方
法によると、測定個数も少なく目視誤差が大き
い。
た。VHS型VTRにおいては、テープ速度3.33
（cm/S）、ヘツド相対速度5.5〔m/S〕、しかも磁
気テープ上でのビデオトラツク間のガードをアジ
マス記録によつて省くという傾向になつている。
このアジマス記録の場合、磁気ヘツドのギヤツプ
傾きが異なり、かつ電磁変換特性がほぼ同一の２
個の磁気ヘツドをペアにして用いる。このため磁
気ヘツドのペアを選び出す作業が必要になつてく
る。この磁気ヘツド特性としては、最適記録電流
特性およびび周波数特性があり、これらのオシロ
スコープにより目視検査で行なつていた。この方
法によると、測定個数も少なく目視誤差が大き
い。
本発明はかかる欠点を解消し、磁気ヘツド特性
を誤差少なく自動的に検査できる自動磁気ヘツド
特性検査装置を提供するものである。
を誤差少なく自動的に検査できる自動磁気ヘツド
特性検査装置を提供するものである。
以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。まずテープ走行系を第１図で説明する。被測
定磁気テープはサプライリール１よりテイクアツ
プリール２に向かつて移動し、固定ヘツド３（以
後キユーヘツドと略す）および検査用ビデオヘツ
ドＡ，Ｂを取付けた回転シリンダ４によつて各種
信号を記録する。また回転シリンダの回転位相の
検出は回転シリンダ４を駆動するヘツドモータ５
の回転軸に取り付けたマグネツト６の漏洩磁束を
デイテクシヨンヘツド７によつて検出する。
る。まずテープ走行系を第１図で説明する。被測
定磁気テープはサプライリール１よりテイクアツ
プリール２に向かつて移動し、固定ヘツド３（以
後キユーヘツドと略す）および検査用ビデオヘツ
ドＡ，Ｂを取付けた回転シリンダ４によつて各種
信号を記録する。また回転シリンダの回転位相の
検出は回転シリンダ４を駆動するヘツドモータ５
の回転軸に取り付けたマグネツト６の漏洩磁束を
デイテクシヨンヘツド７によつて検出する。
次に測定動作について説明する。回転シリンダ
４に検査用ビデオヘツドＡ，Ｂを２個取り付け、
ヘツドモータ５に装着する。次に第２図において
スタートスイツチSW１をONすると、シーケン
スコントロール部８はヘツドモータ５を回転さ
せ、サプライモータおよびテイクアツプモータを
駆動させ、被測定テープを移動させる。同時に記
録再生切換スイツチSW２，SW３，SW４を記録
側ＲにONし、検査用ビデオヘツドＡ，Ｂのチヤ
ンネル切換スイツチSW５をＡヘツド側にONす
る。次にシーケンスコントロール部８は第１の周
波数発振器９を発振させ（以後頭出し発振器と云
う）、タイムチヤートの第３図ａに示すように、
テープ走行が安定するまでの一定期間（0.3
〔Ｓ〕〜１〔Ｓ〕）、第１の周波数信号（以後頭出
し信号と云う）を記録増幅器１０を通してキユー
ヘツド１９に供給し、被測定磁気テープに記録す
る。次に該コントロール部８は頭出し検査用ビデ
オヘツドＡ，Ｂの電磁変換特性を測定するための
基準発振器１１（以後SGと略す）のゲートを開
き、周波数パラメータをf1に設定するとともに電
流設定回路１２の出力をA1〔ｍAp−ｐ〕に設定
する。SG１１の出力はアツテネータ１３、記録
増幅器１４、スイツチSW２，SW５を経て検査
用ビデオヘツドＡに供給される。次に記録電流は
前記検査用ビデオヘツドＡに直列接続した抵抗Ｒ
の両端電圧で検出され、増幅器１５、スイツチ
SW３を通つてエンベロープ検波回路１６に入力
される。該エンベロープ検波回路１６の出力は電
圧比較器１７に入力され電流設定回路１２の出力
と比較され、差信号はアツテネータ１３に供給さ
れ、SG１１の基準測定用信号出力を調整し、検
査用ビデオヘツドＡの記録電流をI1〔ｍAp−
ｐ〕に設定した測定用信号を得る。記録時間は
SG１１および検査用ビデオヘツドＡの記録電流
が安定するまでの時間、およびＡ／Ｄコンバータ
処理時間等により第３図ｂに示すように数十〔ｍ
Ｓ〕以上記録を行なう。と同時に第２の周波数発
振器１８（以後キユー発振器と略す）のゲートを
開き、前記の検査用ビデオヘツドＡの記録電流が
流れている期間もしくはそれより短かく第３図Ｃ
に示すタイミングで第２の周波数信号（以後キユ
ー信号と略す）を記録増幅器１０、スイツチSW
４を通してキユーヘツド１９に供給し頭出し信号
と同じトラツク上に記録する。検査用ビデオヘツ
ドＡの記録電流I1〔ｍAp−ｐ〕が記録終了する
と、次に電流設定値をI2〔ｍAp−ｐ〕に変えて
記録する。と同時に、測定ポイントを示すためキ
ユー発振器１８のゲートを開きキユー信号を記録
する。このように、以後第３図ｂに示すように、
記録電流をI3，I4，I5，I6と順次変化させて記録
し、次に周波数バラメータをf2，f3，f4と変化さ
せて前記した順序で記録電流を変えて記録する。
記録が終了するとチヤンネル切換スイツチSW５
をＢヘツド側にONし、前述したと同様に記録電
流および周波数パラメータを順次変化させながら
記録を行なう。全ての周波における記録が終了す
ると、シーケンスコントロール部８は記録再生切
換スイツチSW２，SW３，SW４を再生側Ｐに
ONする。と同時に、現在回転シリンダーに取り
付けた検査用ビデオヘツドＡ，Ｂを測定する際に
キユーヘツド１９で被測定テープの一端に記録し
た頭出し信号の位置に被測定テープを巻き戻す。
４に検査用ビデオヘツドＡ，Ｂを２個取り付け、
ヘツドモータ５に装着する。次に第２図において
スタートスイツチSW１をONすると、シーケン
スコントロール部８はヘツドモータ５を回転さ
せ、サプライモータおよびテイクアツプモータを
駆動させ、被測定テープを移動させる。同時に記
録再生切換スイツチSW２，SW３，SW４を記録
側ＲにONし、検査用ビデオヘツドＡ，Ｂのチヤ
ンネル切換スイツチSW５をＡヘツド側にONす
る。次にシーケンスコントロール部８は第１の周
波数発振器９を発振させ（以後頭出し発振器と云
う）、タイムチヤートの第３図ａに示すように、
テープ走行が安定するまでの一定期間（0.3
〔Ｓ〕〜１〔Ｓ〕）、第１の周波数信号（以後頭出
し信号と云う）を記録増幅器１０を通してキユー
ヘツド１９に供給し、被測定磁気テープに記録す
る。次に該コントロール部８は頭出し検査用ビデ
オヘツドＡ，Ｂの電磁変換特性を測定するための
基準発振器１１（以後SGと略す）のゲートを開
き、周波数パラメータをf1に設定するとともに電
流設定回路１２の出力をA1〔ｍAp−ｐ〕に設定
する。SG１１の出力はアツテネータ１３、記録
増幅器１４、スイツチSW２，SW５を経て検査
用ビデオヘツドＡに供給される。次に記録電流は
前記検査用ビデオヘツドＡに直列接続した抵抗Ｒ
の両端電圧で検出され、増幅器１５、スイツチ
SW３を通つてエンベロープ検波回路１６に入力
される。該エンベロープ検波回路１６の出力は電
圧比較器１７に入力され電流設定回路１２の出力
と比較され、差信号はアツテネータ１３に供給さ
れ、SG１１の基準測定用信号出力を調整し、検
査用ビデオヘツドＡの記録電流をI1〔ｍAp−
ｐ〕に設定した測定用信号を得る。記録時間は
SG１１および検査用ビデオヘツドＡの記録電流
が安定するまでの時間、およびＡ／Ｄコンバータ
処理時間等により第３図ｂに示すように数十〔ｍ
Ｓ〕以上記録を行なう。と同時に第２の周波数発
振器１８（以後キユー発振器と略す）のゲートを
開き、前記の検査用ビデオヘツドＡの記録電流が
流れている期間もしくはそれより短かく第３図Ｃ
に示すタイミングで第２の周波数信号（以後キユ
ー信号と略す）を記録増幅器１０、スイツチSW
４を通してキユーヘツド１９に供給し頭出し信号
と同じトラツク上に記録する。検査用ビデオヘツ
ドＡの記録電流I1〔ｍAp−ｐ〕が記録終了する
と、次に電流設定値をI2〔ｍAp−ｐ〕に変えて
記録する。と同時に、測定ポイントを示すためキ
ユー発振器１８のゲートを開きキユー信号を記録
する。このように、以後第３図ｂに示すように、
記録電流をI3，I4，I5，I6と順次変化させて記録
し、次に周波数バラメータをf2，f3，f4と変化さ
せて前記した順序で記録電流を変えて記録する。
記録が終了するとチヤンネル切換スイツチSW５
をＢヘツド側にONし、前述したと同様に記録電
流および周波数パラメータを順次変化させながら
記録を行なう。全ての周波における記録が終了す
ると、シーケンスコントロール部８は記録再生切
換スイツチSW２，SW３，SW４を再生側Ｐに
ONする。と同時に、現在回転シリンダーに取り
付けた検査用ビデオヘツドＡ，Ｂを測定する際に
キユーヘツド１９で被測定テープの一端に記録し
た頭出し信号の位置に被測定テープを巻き戻す。
巻き戻しが完了すると、再び記録した方向に被
測定テープを走行させるが、再生における測定用
信号のタイミングは、第４図ａに示すように、フ
イールド期間の測定用信号がフレーム周期でバー
スト状に再生される。再生測定用信号を見ると、
ヘツドとテープ間の当接変化、テープ感度のテー
プ長方向における変化およびドロツプアウト等に
よつて再生測定用信号のエンベロープはたえず変
化している。また１フイールド内のエンベロープ
を見ても拡大図（第５図ａ，ｂ）に示すように両
エツヂ部分（第１図のビデオヘツドとテープの当
り初めまたはヘツドとテープの離れ際の部分）は
エンベロープが悪くなる。そこで、デイテクシヨ
ンヘツド７を調整して再生測定用信号の両エツヂ
より３〜４〔ｍＳ〕内側にデイテクシヨンパルス
が位置するようにする。検査用ビデオヘツドＡ，
Ｂより得られる再生測定用信号は再生増幅器２０
にて任意のレベルまで増幅され、切換スイツチ
SW３を通つてエンベロープ検波回路１６に入力
され、第４図ｄに示すような方形波状のDC出力
電圧となり、Ａ／Ｄコンバータ２１に入力され
る。前述したように再生測定用信号の大きさは変
動するため１個の再生測定用信号のＡ／Ｄ変換出
力で出力表示を行なうと、測定誤差が大きくな
る。そこで、キユー信号（第３図ｃ）が再生され
る期間のエンベロープをエンベロープ検波回路１
６で検波し、その信号をＡ／Ｄ変換して平均値表
示すれば測定誤差を少なくすることができる。Ａ
ヘツド再生の場合、デイテクシヨンヘツド７より
得られる信号は波形整形もともなつた第１のゲー
ト回路２２を介して第２のゲート回路２４に入力
される。（第４図ｂ）。一方キユーヘツド１９より
再生される信号は再生増幅器２５で任意のレベル
まで増幅されるが、同一のトラツクに頭出し信号
（第３図ａ）とキユー信号（第３図ｃ）を記録し
ているため、キユー信号分離は第１の帯域増幅器
２６で行なわれる。すなわち第１の帯域増幅器２
６の出力は波形整形回路２７で波形整形され、第
４図ｆに示すような信号となつて第２のゲート回
路２４のゲートを開き、先に入力された第１のゲ
ート回路２２の出力信号（第４図ｂ）を第３のゲ
ート回路２８に入力する。従つて第３のゲート回
路２８はデイテクシヨンパルス（第４図ｂ）に同
期してＡ／Ｄコンバータ２１のゲートを開く（第
４図ｇ）。Ａ／Ｄコンバータ２１は入力されるエ
ンベロープ検波回路１６出力をデイジタル量に変
換して蓄積カウンタ２９に入力するとともに第４
図ｈに示すようなＡ／Ｄ変換完了信号を出力し、
計数カウンタ３０および第３のゲート回路２８に
入力する。第３のゲート回路２８は第４図ｇに示
すようにＡ／Ｄ変換完了信号によりＡ／Ｄコンバ
ータ２１のゲートを閉じ、再び次のデイテクシヨ
ンパルスが第１のゲート回路２２に入力されて第
２のゲート回路２４が次のパルスを発生するまで
の間、エンベロープ検波回路１６出力を受けつけ
ない。この動作をキユー信号が再生されている期
間繰り返す。一方波形整形回路２７の出力をシー
ケンスコントロール部８に帰還する。シーケンス
コントロール部８は波形整形回路２７の出力（第
４図ｆ）の立ち下がり信号によつて蓄積カウンタ
２９に集計されたデイジタル量を計数カウンタ３
０の出力で除算し、レヂスタ３１に検査用ビデオ
ヘツドＡのヘツド出力をEc′として蓄積する。こ
のEc′なる値は再生増幅器２０、エンベロープ検
波回路１６、Ａ／Ｄコンバータ２１の温度ドリフ
トおよび検査用ビデオヘツドを変えることによつ
て再生増幅器２０の利得変化等による測定誤差を
含んだものである。このためヘツド出力Ec′がレ
ヂスタ３１に入力されると、スイツチSW６を
ONし、SG１１の基準測定用信号を抵抗R′，Ｒで
分離して検査用ビデオヘツドＡに加える。こゝで
検査用ビデオヘツドＡに加えたSG１１の基準信
号出力をEcとすれば、この信号はスイツチSW
５，SW２を通つて再生増幅器２０およびエンベ
ロープ検波回路１６を経てＡ／Ｄコンバータ２１
に入力され、デイジタル量ＥcDに変換される。こ
のデイジタル量はレヂスタ３２に蓄積される。こ
のレヂスタ３２の出力でレヂスタ３１の出力を除
算し、これに検査用ビデオヘツド入力信号Ecの
デイジタル変換した一定値を乗算した結果をｅh
とすれば、 ｅh＝Ｅｃ′／ＥｃＤ・Ec となり測定回路系の誤差を除去することができ
る。このヘツド出力の真値ｅhを表示回路３３に
入力し表示する。この出力をグラフに画くと第６
図に示すような検査用ビデオヘツドの電磁変換特
性を得ることができる。次にＢヘツドの再生であ
るが、波形整形されたデイテクシヨンパルス（第
４図ｂ）とＢヘツド再生測定用信号（第４図ａ）
とは1/2周期遅れている。そこでデイテクシヨン
ヘツド７より得られる信号を遅延回路２３に入力
し、波形整形をおこない第４図ｃに示すように1/
２周期遅延させＢヘツド再生信号（第４図ａ）と
位相を一致させる。この遅延回路２３の出力を第
１のゲート回路２２に入力し、シーケンスコント
ロール部８によつて該遅延回路２３出力を第２の
ゲート回路２４に入力する。以後は前述したよう
に動作してＢヘツドの電磁変換特性を得ることが
できる。これらのＡ，Ｂヘツド出力を規格値と比
較して自動的に合否判定を行ない、測定装置は自
動的に停止し、一連の特性検査を終了する。
測定テープを走行させるが、再生における測定用
信号のタイミングは、第４図ａに示すように、フ
イールド期間の測定用信号がフレーム周期でバー
スト状に再生される。再生測定用信号を見ると、
ヘツドとテープ間の当接変化、テープ感度のテー
プ長方向における変化およびドロツプアウト等に
よつて再生測定用信号のエンベロープはたえず変
化している。また１フイールド内のエンベロープ
を見ても拡大図（第５図ａ，ｂ）に示すように両
エツヂ部分（第１図のビデオヘツドとテープの当
り初めまたはヘツドとテープの離れ際の部分）は
エンベロープが悪くなる。そこで、デイテクシヨ
ンヘツド７を調整して再生測定用信号の両エツヂ
より３〜４〔ｍＳ〕内側にデイテクシヨンパルス
が位置するようにする。検査用ビデオヘツドＡ，
Ｂより得られる再生測定用信号は再生増幅器２０
にて任意のレベルまで増幅され、切換スイツチ
SW３を通つてエンベロープ検波回路１６に入力
され、第４図ｄに示すような方形波状のDC出力
電圧となり、Ａ／Ｄコンバータ２１に入力され
る。前述したように再生測定用信号の大きさは変
動するため１個の再生測定用信号のＡ／Ｄ変換出
力で出力表示を行なうと、測定誤差が大きくな
る。そこで、キユー信号（第３図ｃ）が再生され
る期間のエンベロープをエンベロープ検波回路１
６で検波し、その信号をＡ／Ｄ変換して平均値表
示すれば測定誤差を少なくすることができる。Ａ
ヘツド再生の場合、デイテクシヨンヘツド７より
得られる信号は波形整形もともなつた第１のゲー
ト回路２２を介して第２のゲート回路２４に入力
される。（第４図ｂ）。一方キユーヘツド１９より
再生される信号は再生増幅器２５で任意のレベル
まで増幅されるが、同一のトラツクに頭出し信号
（第３図ａ）とキユー信号（第３図ｃ）を記録し
ているため、キユー信号分離は第１の帯域増幅器
２６で行なわれる。すなわち第１の帯域増幅器２
６の出力は波形整形回路２７で波形整形され、第
４図ｆに示すような信号となつて第２のゲート回
路２４のゲートを開き、先に入力された第１のゲ
ート回路２２の出力信号（第４図ｂ）を第３のゲ
ート回路２８に入力する。従つて第３のゲート回
路２８はデイテクシヨンパルス（第４図ｂ）に同
期してＡ／Ｄコンバータ２１のゲートを開く（第
４図ｇ）。Ａ／Ｄコンバータ２１は入力されるエ
ンベロープ検波回路１６出力をデイジタル量に変
換して蓄積カウンタ２９に入力するとともに第４
図ｈに示すようなＡ／Ｄ変換完了信号を出力し、
計数カウンタ３０および第３のゲート回路２８に
入力する。第３のゲート回路２８は第４図ｇに示
すようにＡ／Ｄ変換完了信号によりＡ／Ｄコンバ
ータ２１のゲートを閉じ、再び次のデイテクシヨ
ンパルスが第１のゲート回路２２に入力されて第
２のゲート回路２４が次のパルスを発生するまで
の間、エンベロープ検波回路１６出力を受けつけ
ない。この動作をキユー信号が再生されている期
間繰り返す。一方波形整形回路２７の出力をシー
ケンスコントロール部８に帰還する。シーケンス
コントロール部８は波形整形回路２７の出力（第
４図ｆ）の立ち下がり信号によつて蓄積カウンタ
２９に集計されたデイジタル量を計数カウンタ３
０の出力で除算し、レヂスタ３１に検査用ビデオ
ヘツドＡのヘツド出力をEc′として蓄積する。こ
のEc′なる値は再生増幅器２０、エンベロープ検
波回路１６、Ａ／Ｄコンバータ２１の温度ドリフ
トおよび検査用ビデオヘツドを変えることによつ
て再生増幅器２０の利得変化等による測定誤差を
含んだものである。このためヘツド出力Ec′がレ
ヂスタ３１に入力されると、スイツチSW６を
ONし、SG１１の基準測定用信号を抵抗R′，Ｒで
分離して検査用ビデオヘツドＡに加える。こゝで
検査用ビデオヘツドＡに加えたSG１１の基準信
号出力をEcとすれば、この信号はスイツチSW
５，SW２を通つて再生増幅器２０およびエンベ
ロープ検波回路１６を経てＡ／Ｄコンバータ２１
に入力され、デイジタル量ＥcDに変換される。こ
のデイジタル量はレヂスタ３２に蓄積される。こ
のレヂスタ３２の出力でレヂスタ３１の出力を除
算し、これに検査用ビデオヘツド入力信号Ecの
デイジタル変換した一定値を乗算した結果をｅh
とすれば、 ｅh＝Ｅｃ′／ＥｃＤ・Ec となり測定回路系の誤差を除去することができ
る。このヘツド出力の真値ｅhを表示回路３３に
入力し表示する。この出力をグラフに画くと第６
図に示すような検査用ビデオヘツドの電磁変換特
性を得ることができる。次にＢヘツドの再生であ
るが、波形整形されたデイテクシヨンパルス（第
４図ｂ）とＢヘツド再生測定用信号（第４図ａ）
とは1/2周期遅れている。そこでデイテクシヨン
ヘツド７より得られる信号を遅延回路２３に入力
し、波形整形をおこない第４図ｃに示すように1/
２周期遅延させＢヘツド再生信号（第４図ａ）と
位相を一致させる。この遅延回路２３の出力を第
１のゲート回路２２に入力し、シーケンスコント
ロール部８によつて該遅延回路２３出力を第２の
ゲート回路２４に入力する。以後は前述したよう
に動作してＢヘツドの電磁変換特性を得ることが
できる。これらのＡ，Ｂヘツド出力を規格値と比
較して自動的に合否判定を行ない、測定装置は自
動的に停止し、一連の特性検査を終了する。
また再生の際の被測定テープ巻き戻しにおいて
何らかの故障でテープ巻き戻しすぎた場合、キユ
ーヘツド１９トラツクより得られる信号を第２の
帯域増幅器３４によつて第４図ｅに示すように頭
出し信号のみを分離し、第４のゲート回路３５に
入力し、キユー信号の波形整形回路２７のゲート
を第４図ｉに示すように開く。これによつて初め
てＡ／Ｄコンバータ２１に入力される再生測定用
信号のエンベロープ検波出力をＡ／Ｄ変換するこ
とができる。それとともに１回測定で記録された
キユー信号（第４図ｆ）の数は、測定用記録電流
パラメータ数ｍ（第６図では６）と周波数パラメ
ータ数ｎ（第６図では３）と検査用ヘツド数２と
から2mn個（第６図で考えると32個）となる。シ
ーケンスコントロール部８は波形整形回路２７よ
り得られる信号を周期検定してキユー信号を判別
（第４図ｆの如く1S間隔で発生するパルスをキユ
ー信号と判定する）し、カウント数が2mn（32
個）に達すると、第４のゲート回路３５を閉じ
（第４図ｉ）、波形整形回路２７が出力しないよう
にする。これりより、これ以後Ａ／Ｄコンバータ
２１に入力される信号はＡ／Ｄ変換されない。ま
た磁気テープ巻戻し量が少なく、一定時間待つて
も頭出し信号がキユーヘツド１９から再生されな
い場合は、シーケンスコントロール部８は測定を
停止させる機能も付加されている。
何らかの故障でテープ巻き戻しすぎた場合、キユ
ーヘツド１９トラツクより得られる信号を第２の
帯域増幅器３４によつて第４図ｅに示すように頭
出し信号のみを分離し、第４のゲート回路３５に
入力し、キユー信号の波形整形回路２７のゲート
を第４図ｉに示すように開く。これによつて初め
てＡ／Ｄコンバータ２１に入力される再生測定用
信号のエンベロープ検波出力をＡ／Ｄ変換するこ
とができる。それとともに１回測定で記録された
キユー信号（第４図ｆ）の数は、測定用記録電流
パラメータ数ｍ（第６図では６）と周波数パラメ
ータ数ｎ（第６図では３）と検査用ヘツド数２と
から2mn個（第６図で考えると32個）となる。シ
ーケンスコントロール部８は波形整形回路２７よ
り得られる信号を周期検定してキユー信号を判別
（第４図ｆの如く1S間隔で発生するパルスをキユ
ー信号と判定する）し、カウント数が2mn（32
個）に達すると、第４のゲート回路３５を閉じ
（第４図ｉ）、波形整形回路２７が出力しないよう
にする。これりより、これ以後Ａ／Ｄコンバータ
２１に入力される信号はＡ／Ｄ変換されない。ま
た磁気テープ巻戻し量が少なく、一定時間待つて
も頭出し信号がキユーヘツド１９から再生されな
い場合は、シーケンスコントロール部８は測定を
停止させる機能も付加されている。
以上本発明によれば、磁気ヘツドの電磁変換特
性を自動的に得ることができるので磁気ヘツド
の、合否判定を自動的に行ない得るものであり、
磁気ヘツドの選別を容易に実施することができ
る。
性を自動的に得ることができるので磁気ヘツド
の、合否判定を自動的に行ない得るものであり、
磁気ヘツドの選別を容易に実施することができ
る。
第１図はテープ走行系の該略図、第２図は本発
明の一実施例を示すブロツク図、第３図ａ〜ｃは
記録時のタイミングチヤート、第４図ａ〜ｉは再
生時のタイミングチヤート、第５図ａ，ｂは第４
図ａ，ｂの拡大図、第６図は検査ビデオヘツド電
磁変換特性図である。 ７……デイテクシヨンヘツド、９……頭出し発
振器、１１……基準発振器、１２……電流設定回
路、１３……アツテネータ、１６……エンベロー
プ検波回路、１８……キユー発振器、１９……キ
ユーヘツド、２１……Ａ／Ｄコンバータ、２９…
…蓄積カウンタ、３０……計数カウンタ、３１，
３２……レヂスタ、Ａ，Ｂ……検査用ビデオヘツ
ド。
明の一実施例を示すブロツク図、第３図ａ〜ｃは
記録時のタイミングチヤート、第４図ａ〜ｉは再
生時のタイミングチヤート、第５図ａ，ｂは第４
図ａ，ｂの拡大図、第６図は検査ビデオヘツド電
磁変換特性図である。 ７……デイテクシヨンヘツド、９……頭出し発
振器、１１……基準発振器、１２……電流設定回
路、１３……アツテネータ、１６……エンベロー
プ検波回路、１８……キユー発振器、１９……キ
ユーヘツド、２１……Ａ／Ｄコンバータ、２９…
…蓄積カウンタ、３０……計数カウンタ、３１，
３２……レヂスタ、Ａ，Ｂ……検査用ビデオヘツ
ド。
Claims (1)
- １ 測定用磁気ヘツドを磁気記録媒体に当接させ
て磁気ヘツドまたは磁気記録媒体の一方を摺動さ
せ、記録時において周波数およびレベルを順次変
化させた測定用信号を測定用磁気ヘツドを介して
磁気記録媒体に記録する手段および同時に上記測
定用信号の変化に同期して前記記録媒体にキユー
信号を記録する手段を設け、再生時において前記
記録媒体より測定用磁気ヘツドを介して得られる
再生測定用信号をエンベロープ検波した後にデイ
ジタル量に変化する手段を設け、前記再生測定用
信号と同期して再生される前記キユー信号によつ
て、前記キユー信号期間における前記再生測定用
信号のデイジタル量の平均化した第１のデイジタ
ル量を算出するとともに、周波数のみを順次変化
させた基準測定用信号を前記測定用磁気ヘツドを
介して前記と同様エンベロープ検波した後に第２
のデイジタル量に変換し、該第２のデイジタル量
で前記第１のデイジタル量を除算し、かつ前記測
定用磁気ヘツドに加えた基準測定用信号の絶対値
を乗算して測定用磁気ヘツドの電磁変換特性を測
定するようにしたことを特徴とする自動磁気ヘツ
ド特性検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6047578A JPS54151405A (en) | 1978-05-19 | 1978-05-19 | Automatic inspecting apparatus of magnetic head characteristic |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6047578A JPS54151405A (en) | 1978-05-19 | 1978-05-19 | Automatic inspecting apparatus of magnetic head characteristic |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54151405A JPS54151405A (en) | 1979-11-28 |
| JPS6132724B2 true JPS6132724B2 (ja) | 1986-07-29 |
Family
ID=13143328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6047578A Granted JPS54151405A (en) | 1978-05-19 | 1978-05-19 | Automatic inspecting apparatus of magnetic head characteristic |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54151405A (ja) |
-
1978
- 1978-05-19 JP JP6047578A patent/JPS54151405A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54151405A (en) | 1979-11-28 |
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