JPS6252373B2 - - Google Patents

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JPS6252373B2
JPS6252373B2 JP55024126A JP2412680A JPS6252373B2 JP S6252373 B2 JPS6252373 B2 JP S6252373B2 JP 55024126 A JP55024126 A JP 55024126A JP 2412680 A JP2412680 A JP 2412680A JP S6252373 B2 JPS6252373 B2 JP S6252373B2
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Hiromoto Katayama
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Japan Broadcasting Corp
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/22Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor for reducing distortions
    • G11B20/225Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor for reducing distortions for reducing wow or flutter

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Rotational Drive Of Disk (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、磁気録画・再生装置(以下VTRと
略す)のビデオヘツド回転系やテープ走行系の制
御性能評価ならびに外乱要因の分析を正確かつ容
易に行うための時間軸変動成分分析装置に関する
もので、VTRの記録、再生過程における速度変
動によつて生じる再生信号の時間軸変動成分をス
ペクトル分析しようとするものである。
一般に時間軸変動を測定する手法として、単一
周波数の被測定信号を磁気テープ上に記録して、
再生信号の周波数変動を測定する方法が知られて
いるが、このような方法で回転ヘツド形式VTR
による再生信号の時間軸変動を測定するためには
以下に示す事項を考慮しなければならない。
(1) 再生信号が時間的に不連続なバースト状にな
つている。すなわち、ヘツドが複数個あつても
そのうちの1つに注目して時間軸変動を測定す
るヘツドがテープに接触しない期間が生じ、従
つて再生信号が時間的に不連続なバースト状に
なつてしまう。
(2) 磁気テープの表面傷やごみの挿入が原因とな
つてドロツプアウトを生じる。
ここで、第1図に従来の周波数変動測定系の一
例を示し、その場合に生じる問題点を第2図を参
照して説明する。第1図において、1は無変調信
号発生器、2は記録増幅器、3は回転トランス、
4は回転ドラム、5はビデオヘツド、6は磁気テ
ープ、7はスイツチ、8は再生増幅器、9は周波
数弁別器、10はスペクトル分析器である。
信号発生器1からの無変調出力信号は、記録増
幅器2で増幅され、スイツチ7と回転トランス3
を通してビデオヘツド5に供給され、磁気テープ
6上に記録される。再生時には磁気テープ6上の
信号がビデオヘツド5によつて再生され、スイツ
チ7と再生増幅器8を通して周波数弁別器9に供
給される。周波数弁別器9は再生信号11の周波
数変動を電位変動に変換するものであり、変動成
分のみを出力12として取り出す。この周波数弁
別器9からの周波数弁別出力12をスペクトル分
析器10に供給しスペクトル分析する。
以上のような従来の測定系では、前述の様な問
題があつた。すなわち、再生増幅器8の出力信号
11には第2図AおよびB、更には第2図Aおよ
びBを部分的に拡大して示す第2図CおよびDに
示すように無信号部分17とドロツプアウト15
が存在する。このために周波数弁別器9の周波数
弁別出力12にはそれぞれ無信号部分17に対す
る出力部分18、ドロツプアウト15に対する出
力部分16などの変化が現われる。このような周
波数弁別出力12をそのままスペクトル分析器1
0の被分析入力にすると、周期的に生じる無信号
部分やランダムに現われるドロツプアウト部分に
よる大きな変化が出力側で生じ、その変化の影響
により正確にスペクトル分析できなかつた。
以上に説明したように、従来は、VTRの再生
信号の周波数変動を測定するには、回転ヘツド形
式VTRの機構上発生する無信号部分やVTR全般
に関し突発的に発生するドロツプアウトによる大
幅な振幅低下が大きな問題であつた。
そこで、本発明の目的は、上述した問題点の解
決を図つた時間軸変動成分分析装置を提供するこ
とにある。
本発明は、かかる目的達成のために、無変調信
号を磁気記録再生装置に記録し、その記録信号を
再生して得られた出力信号を周波数弁別器に通し
て前記出力信号の変動成分を抽出し、該変動成分
を入力デジタルメモリに記憶し、その記憶内容を
高速フーリエ変換演算部に供給してデジタル演算
を施すことにより前記変動成分を高速フーリエ変
換してスペクトル分析することにより、前記磁気
記録再生装置の記録再生過程における速度変動に
よつて生じる再生信号の時間軸変動成分を分析す
る装置において、前記磁気記録再生装置からの再
生信号の振幅低下の著しい部分に対応してゲート
信号を発生させ、該ゲート信号により記録時と同
じ無変調信号を前記磁気記録再生装置からの再生
信号に挿入すると共に、前記入力デジタルメモリ
に、前記周波数弁別器からの出力信号のうち、前
記磁気記録再生装置からの再生信号の振幅低下の
著しい部分に相当する部分を除いて、標本化して
書き込むようにしたことを特徴とするものであ
る。
本発明では、再生信号の無信号部分および大幅
な振幅低下部分に対応するゲート信号を発生さ
せ、このゲート信号により記録時に信号発生器で
発生させた同じ信号を挿入する手段によつて見か
け上無信号部分をなくし、さらに、このとき再生
信号と挿入信号の接続部分において発生する瞬時
的な位相変化が原因となつて生じる周波数弁別器
の出力波形に現れるトランジエントをスペクトル
分析器の入力側でこのトランジエントを避けるよ
うに工夫することにより、正確なスペクトル分析
を行うようにしたものである。
以下に図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
本発明時間軸変動成分分析装置の構成の一例を
第3図に示す。ここで、第1図と同様の個所には
同一符号を付すことにする。本例においても、再
生信号11を得るまでの過程は第1図と同様なの
でその説明は省略する。第3図において、19は
パーマロイ等の磁性体、20は磁気ヘツド、21
はパルス整形回路、22は無信号ゲートパルス発
生回路、23はアンド回路、24はドロツプアウ
ト検出器、25はアナログゲート、26は第7図
につき後に詳述する入力制御パルス発生回路であ
る。
第3図示の装置を第4図の信号波形図を参照し
ながら詳述していく。再生信号11はドロツプア
ウト検出器24とアナログゲート25に供給され
る。ドロツプアウト検出器24では再生信号の大
幅な振幅低下をエンベロープ検波器と振幅弁別器
により検出して、ドロツプアウト検出出力27を
形成する。アンド回路23では、この検出出力と
回路22からの無信号ゲートパルス29とのアン
ド出力を取り出し、ゲート信号30を形成する。
このゲート信号30はアナログゲート25に供給
され、このゲート25で再生信号11に信号発生
器1からの出力信号32を挿入するのに用いられ
る。
なお、無信号ゲートパルス発生回路22では、
回転ドラム4に埋めこまれた磁性体19と磁気ヘ
ツド20およびパルス整形回路21によつて形成
されたドラム回転パルス28を用いて無信号ゲー
トパルス29を形成する。このパルス29は、第
4図に示すように、実際の無信号継続時間より少
し長い継続時間を有する負パルスである。
上述したように、ゲート信号30に応じて、出
力信号32を再生信号11に挿入することによ
り、アナログゲート25の出力信号、すなわち周
波数弁別入力信号31は、第4図に示すように、
見かけ上無信号部分がない信号となる。従つて、
この場合の周波数弁別器9からの周波数弁別出力
33では挿入された信号の部分が第4図に示すよ
うに一定値になつており、第2図Bに示した出力
部分16および18のような周波数弁別出力値の
大きな変化は現れなくなる。
しかしながら、この場合にもまだ次のような問
題が残つている。
(1) 周波数弁別器9の周波数弁別出力33には、
一般に種々の要因による変化が含まれておりラ
ンダムに近い信号であり、第5図に示すよう
に、ほぼランダムな連続信号35と方形波36
との積をとつた積出力波形37で近似できる。
従つて、この積出力波形37のスペクトル成分
には当然方形波36の成分スペクトルが含まれ
ることになるがその成分は時間軸変動成分を表
わすものではない。
(2) 周波数弁別器9の入力信号31は再生信号1
1と挿入信号32との接続点で瞬時的に位相が
変化するので、第4図の周波数弁別出力33に
示すようにパルス状変化が生じるが、この成分
も正しい時間軸変動成分とは無関係に高域スペ
クトラム成分を増加させる不都合を生じる。
以上のような問題点を解決するために、本発明
では、スペクトル分析器10の内部にある入力デ
ータを記憶するための入力デジタルメモリのデー
タ書き込みを適切に制御して、第4図の波形34
に示すように、挿入信号である無信号部分とその
近傍の部分を除去して周波数弁別出力33のうち
の周波数変動を含む部分のみを連続した信号とし
て入力デジタルメモリに記憶させる。波形34に
示す矢印は連続した信号を形成する際の接続点を
表わしている。それに加えて、波形34に点線で
示し前述のドロツプアウト部に相当するパルスを
除去するために、同じくサンプルをやめたり、入
力データの読み込みをやめるようにする。
次に、入力デジタルメモリの動作を上述したよ
うに制御するための入力データゲート信号を発生
させる回路配置の一例を第6図に示し、その各部
の動作を第7図の信号波形図を参照して説明す
る。第6図において、45,46,47および4
8は、それぞれ、入力パルスを時間τ,τ
τおよびτ4secだけ遅延させるパルス遅延回
路、49および50はR―Sフリツプフロツプ、
51はエンベロープ検波器、52および53は、
それぞれ、振幅E1およびE2のレベルを弁別する
振幅弁別器、54はアンド回路である。
パルス整形回路21からのドラム回転パルス2
8をパルス遅延回路45でτ1sec遅延させて遅延
パルス38を形成し、さらにこのパルス38をパ
ルス遅延回路46でτ2sec遅延させて遅延パルス
39を形成する。これらの遅延パルス38および
39はそれぞれフリツプフロツプ49および50
のセツト入力端子Sに加えられて、フリツプフロ
ツプ49および50の各出力端子Qから取り出さ
れる各ゲート信号29および42の生起位置を設
定するのに用いられる。パルス遅延回路47で遅
延パルス39をτ3sec遅延させて遅延パルス40
を形成し、さらにこのパルス40をパルス遅延回
路48でτ4sec遅延させて遅延パルス41を形成
する。これらの遅延パルス41および40はそれ
ぞれフリツプフロツプ49および50のリカツト
入力端子Rに加えられて、ゲート信号29および
42の各幅を設定するのに用いられる。以上のよ
うに、遅延パルス38と41とにより無信号ゲー
トパルス29が形成され、遅延パルス39と40
とによりゲート信号42が形成されるので、第7
図に示されるように、ゲート信号42のゲート幅
Tbをゲート信号29のゲート幅Taよりも狭くす
ることができる。
再生信号11をエンベロープ検波器51でエン
ベロープ検波した出力を振幅弁別器52および5
3に供給して、第7図に示すように、各弁別レベ
ルE1およびE2で振幅弁別し、それにより振幅弁
別出力27および43を取り出す。ゲート信号4
3は、上述したように、ドロツプアウト部に一定
レベルの連続波を挿入するのに必要なものであ
り、その接続部で発生するトランジエントを除去
するために挿入連続波よりも僅かに幅の広い負パ
ルスである。ゲート信号27のパルス幅はゲート
信号43のパルス幅より狭く、そのために振幅弁
別レベルE2をE1よりも若干高いレベルに設定し
ておくものとする。このように振幅弁別レベル
E1およびE2を設定することにより、ゲート信号
43のドロツプアウト部分を見かけ上広くするこ
とができる。
ゲート信号27とフリツプフロツプ49のQ出
力29とをアンド回路23に供給し、そのアンド
出力として前述の無変調信号挿入用のゲート信号
30を得る。ゲート信号43とフリツプフロツプ
50のQ出力42とをアンド回路54に供給し、
そのアンド出力として入力データゲート信号44
を形成し、この入力データゲート信号44をスペ
クトル分析器10に供給する。
次に、スペクトル分析器10においてその入力
デジタルメモリを上述した入力データゲート信号
44で制御する制御回路の一例を第8図に示し、
その各部動作を第9図の信号波形を参照しながら
説明する。第8図において、64は入力増幅器、
65はサンプルホールド回路、66はA/D変換
器、67は入力デジタルメモリ、68は高速フー
リエ変換(FFT:Fast Fourier Transform)演
算部、69はアンド回路、70はR―Sフリツプ
フロツプ、71はアンド回路、72はA/D変換
パルス発生器、73は書き込みパルス発生器、7
4は入力番地カウンタ、75は入力リセツトパル
ス発生器、76はメモリ内容表示制御装置、77
は陰極線管等の表示装置である。
第8図において、55は、第9図示のような信
号波形をもつ、スペクトル分析器10の測定開始
を示すシステムスタート信号であり、56は高速
フーリエ変換演算部68内でのサンプリングに用
いられるクロツクパルスである。アンド回路69
では入力データゲート信号44とシステムスター
ト信号55との論理積をとり、そのアンド出力を
フリツプフロツプ70のセツト入力端子Sに供給
する。フリツプフロツプ70のQ出力、すなわち
クロツクゲート信号57、入力データゲート信号
44およびクロツクパルス56をアンド回路71
に供給し、フリツプフロツプ70のセツト中にお
いて、入力データゲート信号44が高レベルの期
間のみクロツクパルス56をアンド回路71から
取り出してゲーテツドクロツク58とする。この
ゲーテツドクロツク58をA/D変換パルス発生
器72、書き込みパルス発生器73および入力番
地カウンタ74に供給し、ゲーテツドクロツク5
8が現われている期間中のみA/D変換器66や
入力番地カウンタ74が動作し、かつ入力デジタ
ルメモリ67に周波数弁別出力33が記憶される
ようにする。入力番地カウンタ74はゲーテツド
クロツク58の2番目から動作、第9図の波形6
1に示すようにLSB内容が変化していく。そして
ゲーテツドクロツク58が入力データゲート信号
44の低レベル部分においてなくなればその時点
の番地jを維持したままカウント動作を停止し、
次に入来するクロツク58で再びカウント動作を
開始する。そのカウント番地の値が1024に達する
と入力番地カウンタ74のMSB出力62が高レ
ベルになり、そのMSB出力62が入力リセツト
パルス発生器75に供給されることにより、この
パルス発生器75では入力リセツトパルス63を
瞬時に発生する。この入力リセツトパルス63を
フリツプフロツプ70のリセツト入力端子Rに供
給し、それによりシステムスタート信号55、ク
ロツクゲート信号57およびA/D変換出力59
などをリセツトする。この時点が入力データ書き
込み終了時点であり、スペクトル分析器10の高
速フーリエ変換演算部68の動作開始時点にな
る。入力番地カウンタ74は高速フーリエ変換演
算部68から発生される演算完了パルス78によ
りリセツトされ、その時点でスペクトル分析器1
0は次に入来する周波数弁別出力44を入力する
ためにシステムスタート信号55を高レベルにし
次の動作を開始する。
次に、本発明装置による時間軸変動測定の実測
例を第10図A〜Dに示す。ここで、第10図A
およびBは、本発明の一部、すなわち、無信号部
分に無変調信号を挿入するのみの場合の測定結果
を示し、第10図Aはスペクトル分析器10に記
憶された入力波形をA/D変換した信号波形、第
10図Bはそのスペクトル測定結果を示す。ここ
では、入力波形の無変調信号挿入部Xにパルス状
変化Yが現われており、このパルス状変化の影響
で第10図Bに示すようにスペクトルの低減
(1kHz以下)に乱れが生じ、かつ高域部が平担に
なつている。第10図CおよびDは本発明による
測定例を示し、第10図Cはスペクトル分析器1
0に記憶された入力波形をD/A変換した信号波
形、第10図Dはそのスペクトル測定結果を示
す。本発明により、無変調信号挿入とスペクトル
分析器10の入力デジタルメモリ67を制御する
ことにより、入力デジタルメモリ67内で無信号
部分およびドロツプアウト部分を除去して、回転
ドラム4の数回転におけるデータをもとに分析す
れば、第10図Cに示すようにパルス状変化部分
が除去された連続波形が入力デジタルメモリ67
に記憶され、スペクトル測定結果は、第10図D
に示すように、その低域や高域部が乱されずに正
確なスペクトルを測定できることがわかる。
以上に詳述したように、本発明では、再生信号
の無信号の部分およびドロツプアウト部分を検出
し、その検出部分に無変調信号を挿入するので、
周波数弁別出力の大きな変化をなくすことがで
き、さらにスペクトル分析器の入力系を適切に制
御して、無変調信号挿入部分とその接続部分を除
去するので、これらの不要部分の影響をなくすこ
とができ、しかもまた数回のヘツド回転による再
生信号を継続接続するのでヘツド回転よりも低い
周波数成分をも正確に分析することができる。更
に加えて、本発明によれば、VTR再生信号の無
信号部分と振幅低下の著しいドロツプアウト部分
を適切に処理できるので、従来困難であつた回転
ヘツド形式VTR、磁気デイスクおよび磁気シー
ト装置それに固定ヘツド形式の記録再生装置など
の時間軸変動成分を容易かつ正確に分析でき、あ
るいは突発的な短時間で減衰する非周期的な信号
の分析にも有効に利用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の周波数変動測定系の構成の一例
を示すブロツク線図、第2図A〜Dはその再生信
号の周波数弁別出力の説明用信号波形図、第3図
は本発明時間軸変動成分分析装置の構成の一例を
示すブロツク線図、第4図はその動作説明用の各
部信号波形図、第5図は同じく周波数弁別出力の
説明用信号波形図、第6図は本発明における入力
データゲート信号発生のための回路配置の一例を
示すブロツク線図、第7図はその各部信号波形
図、第8図は入力デジタルメモリの制御回路の構
成例を示すブロツク線図、第9図はその各部信号
波形図、第10図A〜Dは本発明装置による時間
軸変動測定例を示すグラフである。 1…信号発生器、2…記録増幅器、3…回転ト
ランス、4…回転ドラム、5…ビデオヘツド、6
…磁気テープ、7…スイツチ、8…再生増幅器、
9…周波数弁別器、10…スペクトル分析器、1
9…磁性体、20…磁気ヘツド、21…パルス整
形回路、22…無信号ゲートパルス発生回路、2
3…アンド回路、24…ドロツプアウト検出器、
25…アナログゲート、26…入力制御パルス発
生回路、45,46,47,48…パルス遅延回
路、49,50…R―Sフリツプフロツプ、51
…エンベロープ検波器、52,53…振幅弁別
器、54…アンド回路、64…入力増幅器、65
…サンプルホールド回路、66…A/D変換器、
67…入力デジタルメモリ、68…高速フーリエ
変換演算部、69…アンド回路、70…R―Sフ
リツプフロツプ、71…アンド回路、72…A/
D変換パルス発生器、73…書き込みパルス発生
器、74…入力番地カウンタ、75…入力リセツ
トパルス発生器、76…メモリ内容表示制御装
置、77…表示装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 無変調信号を磁気記録再生装置に記録し、そ
    の記録信号を再生して得られた出力信号を周波数
    弁別器に通して前記出力信号の変動成分を抽出
    し、該変動成分を入力デジタルメモリに記憶し、
    その記憶内容を高速フーリエ変換演算部に供給し
    てデジタル演算を施すことにより前記変動成分を
    高速フーリエ変換してスペクトル分析することに
    より、前記磁気記録再生装置の記録再生過程にお
    ける速度変動によつて生じる再生信号の時間軸変
    動成分を分析する装置において、前記磁気記録再
    生装置からの再生信号の振幅低下の著しい部分に
    対応してゲート信号を発生させ、該ゲート信号に
    より記録時と同じ無変調信号を前記磁気記録再生
    装置からの再生信号に挿入すると共に、前記入力
    デジタルメモリに、前記周波数弁別器からの出力
    信号のうち、前記磁気記録再生装置からの再生信
    号の振幅低下の著しい部分に相当する部分を除い
    て、標本化して書き込むようにしたことを特徴と
    する磁気記録再生装置用時間軸変動成分分析装
    置。
JP2412680A 1980-02-29 1980-02-29 Analyzing device for time base fluctuation components for magnetic recording and reproducing device Granted JPS56124152A (en)

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