JPH0566874B2 - - Google Patents
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- JPH0566874B2 JPH0566874B2 JP62097472A JP9747287A JPH0566874B2 JP H0566874 B2 JPH0566874 B2 JP H0566874B2 JP 62097472 A JP62097472 A JP 62097472A JP 9747287 A JP9747287 A JP 9747287A JP H0566874 B2 JPH0566874 B2 JP H0566874B2
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Landscapes
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Description
[産業上の利用分野]
本発明は、書き換え可能な相変化型光メモリ記
録膜材料に係り、特に、記録された情報の消去時
間が短く、記録状態が安定である光メモリ記録膜
材料に関する。 [従来の技術] 一般に相変化型光メモリ記録膜は、非晶質と結
晶の間の相変化の際に起こる反射率の変化を利用
し記録を行うものである。すなわち、非晶質状態
が情報が記録された状態に相当し、結晶化すれ
ば、情報が消去されたことになる。記録は、レー
ザ光を記録膜上に約1μm2に集光して加熱し、そ
の部分を溶融した後、急冷して非晶質化すること
によつて行われる。また、消去は、レーザ光の出
力を記録時のものより小さくし(すなわち、融点
よりも低温となる出力で加熱し)、かつ照射時間
を記録時のものよりも長くすることによつて行な
われる。 この種の相変化型光メモリ記録膜において、消
去時間が1μsecより短くなり、特に0.2μsec程度に
までなると、円形ビームをもつ半導体レーザを1
個だけもつ光ヘツドで、記録、読み取り、消去が
可能になり、光ヘツドが小形で軽量になり、その
分アクセスタイムも短くしうるという大きな利点
が生ずる。 一方、相変化型光メモリ記録膜材料として、
Sb2Te3を中心としたSb−Te系材料が、 (i) 105回以上の記録、消去の繰り返しを行なう
ことができ書き換え可能である、 (ii) Sb2Te3結晶は六方晶系であるので、結晶状
態と非結晶状態との反射率差が20%以上であ
る、 (iii) Sb2Te3近傍の組成の化合物は耐酸化性、耐
環境性にすぐれている 等の利点を有するため研究が進められている。例
えば、NTT電気通信研究所の船越らは、昭和61
年度秋季応用物理学会学術講演会予稿集の29a−
ZE−3及び29a−ZE−4において、Sb−Te系記
録膜材料について、Sb2Te3近傍の組成の化合物
が消去速度が速く、かつ非晶質状態が安定である
と報告している。しかしながら、この予稿集に記
録されたSb−Te系記録膜材料では、消去時間の
最も短いものでも1μsecであり、従来通りの消去
用と記録読取り用の2個の半導体レーザをもつ光
ヘツドが必要となる。 [発明が解決しようとする問題点] 従つて本発明の目的は、記録の消去時間が
1μsec以上と長い、従来のSb−Te系記録膜材料の
消去性を改良し、1μsec未満の消去時間を有し、
上述の半導体レーザを1個のみもつ光ヘツドでも
記録、読み取り、消去が可能なSb−Te系記録膜
材料を提供することにある。 [問題点を解決するための手段] Sb−Te系記録膜の場合、非晶質状態の約1μm2
の部分にレーザ光を当てたとき、その部分のまわ
りの結晶質から結晶が内部に向かつて成長して行
き、全部が結晶化されれば記録の消去が行われた
ことになるが、本発明者らは、非晶質部分の内部
に結晶の核になるものが存在すれば、それだけ結
晶化速度は速くなり、消去も速くなることに着目
し、結晶の核となる物質について探索した結果、
Ir及びAuから選ばれる少なくとも1種からなる
粒子が有効であり、これらの金属粒子を含有する
光メモリ記録膜材料は1μsec未満、最短で0.2〜
0.3μsecの消去時間を有することを見い出した。 従つて本発明は、原子%でSb34〜45%、Te55
〜66%であるSb−Te系基礎ガラス1gに対して
Ir及びAuから選ばれる少なくとも1種を0.02〜
0.25g加えたことを特徴とする書き換え可能な相
変化型光メモリ記録膜材料にある。 以下、本発明を詳細に説明する。 本発明の光メモリ記録膜材料において母材とし
て用いられるものはSb−Te系基礎ガラスであり、
該基礎ガラスの組成は原子%でSb34〜45%、
Te55〜66%である。その理由はSbが34%未満で
Teが66%を超えると、Sb2Te3結晶の核となるIr
及びAuから選ばれる少なくとも1種の粒子を存
在させてもSb2Te3の結晶化速度が速くならず、
消去速度が1μsec以上となり、またSbが45%を超
え、Teが55%未満であると、Ir及びAuから選ば
れる少なくとも1種の粒子を存在させてSb2Te3
の結晶化速度を速くしても消去速度が依然として
1μsec以上となるのに対し、上記範囲内であれば、
1μsec未満の消去速度が達成されるからである。
基礎ガラスの組成はSb36〜44%、Te56〜64%で
あるのがより好ましく、Sb38〜42%、Te58〜62
%であるのが最も好ましい。 また本発明の光メモリ記録膜材料において、
Sb2Te3の結晶の核となり、記録の消去時間の短
縮化を実現するIr及びAuから選ばれる少なくと
も1種は前記の基礎ガラス1gに対して0.02〜
0.25g添加する。その理由はIr、Au又はこれらの
混合物の量が0.02g/g未満であると、Ir粒子、
Au粒子の数が少なくてSb2Te3の結晶化速度が速
くならず記録消去時間が1μsec以上となつてしま
い、また0.25g/gを超えると、いかに速く冷却
しても非晶質にならず記録膜として使用不可であ
るからである。Ir及びAuから選ばれる少なくと
も1種の特に好ましい添加量は0.04〜0.16g/g
である。 本発明の光メモリ記録膜材料は、通常のスパツ
タ法等によつて基板に適用され、光メモリ記録膜
が形成される。記録膜の形成に先立ち、基板上に
SiO2膜等の下地層を設けても良く、また記録膜
の形成後に、SiO2膜等の保護層を設けても良い。
また基板としては、ガラス基板その他の任意の基
板が使用される。 [実施例] 以下、本発明の実施例について詳細に説明す
る。 実施例 1 Sb40原子%、Te60原子%からなる基礎ガラス
原料250gにIrを20g(基礎ガラス1gに対して
0.08gに相当)添加したものを石英ガラスアンプ
ルに対し真空封入し、900℃で20時間溶融した後、
ステンレス製の成形型に流し込んで、直径100mm、
厚さ5mmのスパツタターゲツトを作製した。 直径30mm、厚さ2mmの石英ガラス基板に、まず
下地層としてSiO2膜(膜厚100nm)をスパツタ
した後、上記のスパツタターゲツトを用いて、記
録膜(膜厚100nm)をスパツタし、さらにその
上に、保護膜としてSiO2膜(膜厚100nm)をス
パツタした。得られたデイスクに、まず出力15m
Wの半導体レーザ光を約1μmに集光して1μsec〜
10μsec照射し、次いで出力8mWの半導体レーザ
光を照射し、融点以上に加熱した後、冷却して記
録膜の初期動作状態となる初期化を行つた。次に
出力15mWのレーザ光を0.2μsec照射して記録膜
を非晶質すなわち記録状態にした後、レーザ光の
パルス幅と強度を変えて、どのくらいのパルス幅
で照射したら結晶化すなわち消去できるかを求め
たところ出力8mWでパルス幅が0.2μsecであつ
た。 また本実施例のIr添加Sb−Te系記録膜材料の
結晶化曲線は、記録膜上にSiO2膜があると正確
に測定できないので、以下に示すようにして行な
つた。すなわち、Sb40Te60ガラス1gIr0.08g添
加したガラスからなる、上述のスパツタターゲツ
トを用いて、スパツタすることにより、石英ガラ
ス基板に記録膜(膜厚1000Å)を形成させた後、
レーザ光を照射して温度を約550℃に上昇させて
記録膜を一度溶解する。次に300℃に加熱して結
晶化し、これを150nsecのパルス幅のレーザ光で
急熱急冷して非晶質化する。更にこれを特別に高
感度示差走査熱量計(理学電機製:DSC 8240B)
を用いて結晶化曲線を測定する。得られた結晶化
曲線は第1図の曲線Aに示すように温度260℃付
近に半値巾が狭くシヤープな発熱ピークが認めら
れ、この発熱ピークは記録膜中のIr粒子が
Sb2Te3の結晶化の核として働いていることを示
すものである(なお参考のためIr無添加の
Sb40Te60ガラスの結晶化曲線を第1図の曲線B
に示すが、同図の曲線Aと異なり、Sb2Te3の結
晶化の核として働くIr粒子が存在しないために
Sb2Te3の結晶化速度が遅く、発熱ピークがブロ
ードであつた)。 また、示差走査熱量計での熱分析の結果から得
られた結晶化温度と昇温速度との関係から、結晶
化の活性化エネルギーを求めたところ2.7eVとな
り、非晶質状態は充分安定であることがわかつ
た。 実施例 2 Sb42原子%、Te58原子%からなる基礎原料250
gにAuを20g(基礎ガラス1gに対して0.08g
に相当)添加したものを用いて、実施例1と同様
の方法でスパツタターゲツトを作製した。 実施例1と同様に、SiO2膜と記録膜をスパツ
タした後、半導体レーザ光を照射し初期化した。
次に、15mWのレーザ光を0.2μsec照射して非晶
質化し、レーザ光の強度とパルス幅を変えて結晶
化に必要な最小のパルス幅を求めたところ出力8
mWでパルス幅が0.3μsecであつた。 また、実施例1と同様に、高感度示差走査熱量
計を用いて結晶化曲線を測定したところ、第2図
に示すように半値幅巾が狭くシヤープな発熱ピー
クが約260℃において認められ、この発熱ピーク
は記録膜中のAu粒子がSb2Te3の結晶化の核とし
て働いていることを示すものである。 また、示差走査熱量計での熱分析結果から得ら
れた結晶化温度と昇温温度との関係から結晶化エ
ネルギーを求めたところ2.8eVであり、非晶質状
態は充分安定であることがわかつた。 実施例 3〜4 表−1に示したような組成比のSb−Te系基礎
ガラス1gにIr、Au又はIrとAuの混合物を表−
1に示したような割合で添加して得られた記録膜
材料について実施例1、2と同様にして消去時間
及び結晶化の活性エネルギーを測定した。結果は
表−1に示した。
録膜材料に係り、特に、記録された情報の消去時
間が短く、記録状態が安定である光メモリ記録膜
材料に関する。 [従来の技術] 一般に相変化型光メモリ記録膜は、非晶質と結
晶の間の相変化の際に起こる反射率の変化を利用
し記録を行うものである。すなわち、非晶質状態
が情報が記録された状態に相当し、結晶化すれ
ば、情報が消去されたことになる。記録は、レー
ザ光を記録膜上に約1μm2に集光して加熱し、そ
の部分を溶融した後、急冷して非晶質化すること
によつて行われる。また、消去は、レーザ光の出
力を記録時のものより小さくし(すなわち、融点
よりも低温となる出力で加熱し)、かつ照射時間
を記録時のものよりも長くすることによつて行な
われる。 この種の相変化型光メモリ記録膜において、消
去時間が1μsecより短くなり、特に0.2μsec程度に
までなると、円形ビームをもつ半導体レーザを1
個だけもつ光ヘツドで、記録、読み取り、消去が
可能になり、光ヘツドが小形で軽量になり、その
分アクセスタイムも短くしうるという大きな利点
が生ずる。 一方、相変化型光メモリ記録膜材料として、
Sb2Te3を中心としたSb−Te系材料が、 (i) 105回以上の記録、消去の繰り返しを行なう
ことができ書き換え可能である、 (ii) Sb2Te3結晶は六方晶系であるので、結晶状
態と非結晶状態との反射率差が20%以上であ
る、 (iii) Sb2Te3近傍の組成の化合物は耐酸化性、耐
環境性にすぐれている 等の利点を有するため研究が進められている。例
えば、NTT電気通信研究所の船越らは、昭和61
年度秋季応用物理学会学術講演会予稿集の29a−
ZE−3及び29a−ZE−4において、Sb−Te系記
録膜材料について、Sb2Te3近傍の組成の化合物
が消去速度が速く、かつ非晶質状態が安定である
と報告している。しかしながら、この予稿集に記
録されたSb−Te系記録膜材料では、消去時間の
最も短いものでも1μsecであり、従来通りの消去
用と記録読取り用の2個の半導体レーザをもつ光
ヘツドが必要となる。 [発明が解決しようとする問題点] 従つて本発明の目的は、記録の消去時間が
1μsec以上と長い、従来のSb−Te系記録膜材料の
消去性を改良し、1μsec未満の消去時間を有し、
上述の半導体レーザを1個のみもつ光ヘツドでも
記録、読み取り、消去が可能なSb−Te系記録膜
材料を提供することにある。 [問題点を解決するための手段] Sb−Te系記録膜の場合、非晶質状態の約1μm2
の部分にレーザ光を当てたとき、その部分のまわ
りの結晶質から結晶が内部に向かつて成長して行
き、全部が結晶化されれば記録の消去が行われた
ことになるが、本発明者らは、非晶質部分の内部
に結晶の核になるものが存在すれば、それだけ結
晶化速度は速くなり、消去も速くなることに着目
し、結晶の核となる物質について探索した結果、
Ir及びAuから選ばれる少なくとも1種からなる
粒子が有効であり、これらの金属粒子を含有する
光メモリ記録膜材料は1μsec未満、最短で0.2〜
0.3μsecの消去時間を有することを見い出した。 従つて本発明は、原子%でSb34〜45%、Te55
〜66%であるSb−Te系基礎ガラス1gに対して
Ir及びAuから選ばれる少なくとも1種を0.02〜
0.25g加えたことを特徴とする書き換え可能な相
変化型光メモリ記録膜材料にある。 以下、本発明を詳細に説明する。 本発明の光メモリ記録膜材料において母材とし
て用いられるものはSb−Te系基礎ガラスであり、
該基礎ガラスの組成は原子%でSb34〜45%、
Te55〜66%である。その理由はSbが34%未満で
Teが66%を超えると、Sb2Te3結晶の核となるIr
及びAuから選ばれる少なくとも1種の粒子を存
在させてもSb2Te3の結晶化速度が速くならず、
消去速度が1μsec以上となり、またSbが45%を超
え、Teが55%未満であると、Ir及びAuから選ば
れる少なくとも1種の粒子を存在させてSb2Te3
の結晶化速度を速くしても消去速度が依然として
1μsec以上となるのに対し、上記範囲内であれば、
1μsec未満の消去速度が達成されるからである。
基礎ガラスの組成はSb36〜44%、Te56〜64%で
あるのがより好ましく、Sb38〜42%、Te58〜62
%であるのが最も好ましい。 また本発明の光メモリ記録膜材料において、
Sb2Te3の結晶の核となり、記録の消去時間の短
縮化を実現するIr及びAuから選ばれる少なくと
も1種は前記の基礎ガラス1gに対して0.02〜
0.25g添加する。その理由はIr、Au又はこれらの
混合物の量が0.02g/g未満であると、Ir粒子、
Au粒子の数が少なくてSb2Te3の結晶化速度が速
くならず記録消去時間が1μsec以上となつてしま
い、また0.25g/gを超えると、いかに速く冷却
しても非晶質にならず記録膜として使用不可であ
るからである。Ir及びAuから選ばれる少なくと
も1種の特に好ましい添加量は0.04〜0.16g/g
である。 本発明の光メモリ記録膜材料は、通常のスパツ
タ法等によつて基板に適用され、光メモリ記録膜
が形成される。記録膜の形成に先立ち、基板上に
SiO2膜等の下地層を設けても良く、また記録膜
の形成後に、SiO2膜等の保護層を設けても良い。
また基板としては、ガラス基板その他の任意の基
板が使用される。 [実施例] 以下、本発明の実施例について詳細に説明す
る。 実施例 1 Sb40原子%、Te60原子%からなる基礎ガラス
原料250gにIrを20g(基礎ガラス1gに対して
0.08gに相当)添加したものを石英ガラスアンプ
ルに対し真空封入し、900℃で20時間溶融した後、
ステンレス製の成形型に流し込んで、直径100mm、
厚さ5mmのスパツタターゲツトを作製した。 直径30mm、厚さ2mmの石英ガラス基板に、まず
下地層としてSiO2膜(膜厚100nm)をスパツタ
した後、上記のスパツタターゲツトを用いて、記
録膜(膜厚100nm)をスパツタし、さらにその
上に、保護膜としてSiO2膜(膜厚100nm)をス
パツタした。得られたデイスクに、まず出力15m
Wの半導体レーザ光を約1μmに集光して1μsec〜
10μsec照射し、次いで出力8mWの半導体レーザ
光を照射し、融点以上に加熱した後、冷却して記
録膜の初期動作状態となる初期化を行つた。次に
出力15mWのレーザ光を0.2μsec照射して記録膜
を非晶質すなわち記録状態にした後、レーザ光の
パルス幅と強度を変えて、どのくらいのパルス幅
で照射したら結晶化すなわち消去できるかを求め
たところ出力8mWでパルス幅が0.2μsecであつ
た。 また本実施例のIr添加Sb−Te系記録膜材料の
結晶化曲線は、記録膜上にSiO2膜があると正確
に測定できないので、以下に示すようにして行な
つた。すなわち、Sb40Te60ガラス1gIr0.08g添
加したガラスからなる、上述のスパツタターゲツ
トを用いて、スパツタすることにより、石英ガラ
ス基板に記録膜(膜厚1000Å)を形成させた後、
レーザ光を照射して温度を約550℃に上昇させて
記録膜を一度溶解する。次に300℃に加熱して結
晶化し、これを150nsecのパルス幅のレーザ光で
急熱急冷して非晶質化する。更にこれを特別に高
感度示差走査熱量計(理学電機製:DSC 8240B)
を用いて結晶化曲線を測定する。得られた結晶化
曲線は第1図の曲線Aに示すように温度260℃付
近に半値巾が狭くシヤープな発熱ピークが認めら
れ、この発熱ピークは記録膜中のIr粒子が
Sb2Te3の結晶化の核として働いていることを示
すものである(なお参考のためIr無添加の
Sb40Te60ガラスの結晶化曲線を第1図の曲線B
に示すが、同図の曲線Aと異なり、Sb2Te3の結
晶化の核として働くIr粒子が存在しないために
Sb2Te3の結晶化速度が遅く、発熱ピークがブロ
ードであつた)。 また、示差走査熱量計での熱分析の結果から得
られた結晶化温度と昇温速度との関係から、結晶
化の活性化エネルギーを求めたところ2.7eVとな
り、非晶質状態は充分安定であることがわかつ
た。 実施例 2 Sb42原子%、Te58原子%からなる基礎原料250
gにAuを20g(基礎ガラス1gに対して0.08g
に相当)添加したものを用いて、実施例1と同様
の方法でスパツタターゲツトを作製した。 実施例1と同様に、SiO2膜と記録膜をスパツ
タした後、半導体レーザ光を照射し初期化した。
次に、15mWのレーザ光を0.2μsec照射して非晶
質化し、レーザ光の強度とパルス幅を変えて結晶
化に必要な最小のパルス幅を求めたところ出力8
mWでパルス幅が0.3μsecであつた。 また、実施例1と同様に、高感度示差走査熱量
計を用いて結晶化曲線を測定したところ、第2図
に示すように半値幅巾が狭くシヤープな発熱ピー
クが約260℃において認められ、この発熱ピーク
は記録膜中のAu粒子がSb2Te3の結晶化の核とし
て働いていることを示すものである。 また、示差走査熱量計での熱分析結果から得ら
れた結晶化温度と昇温温度との関係から結晶化エ
ネルギーを求めたところ2.8eVであり、非晶質状
態は充分安定であることがわかつた。 実施例 3〜4 表−1に示したような組成比のSb−Te系基礎
ガラス1gにIr、Au又はIrとAuの混合物を表−
1に示したような割合で添加して得られた記録膜
材料について実施例1、2と同様にして消去時間
及び結晶化の活性エネルギーを測定した。結果は
表−1に示した。
【表】
【表】
表−1より明らかなように実施例3〜14の記録
膜材料においても、0.9μsec以下の消去時間と2.7
〜2.9eVの活性化エネルギーが得られ、消去の迅
速性と記録の安定性が確保されていた。 なお、上述の実施例1、2の結果も併せて考察
すると、Sbが38〜42%、Teが58〜62%である基
礎ガラスを用い、該基礎ガラス1gに対してIr及
び/又はAuを0.04〜0.16g添加した場合に消去時
間が0.2〜0.3μsecと極めて短く、最も優れている
ことが明らかである。 [発明の効果] 以上の通り、本発明によれば、極めて短時間で
記録の消去を行うことができ、また記録状態も充
分安定な書き換え可能な相変化型光メモリ記録膜
材料が得られる。
膜材料においても、0.9μsec以下の消去時間と2.7
〜2.9eVの活性化エネルギーが得られ、消去の迅
速性と記録の安定性が確保されていた。 なお、上述の実施例1、2の結果も併せて考察
すると、Sbが38〜42%、Teが58〜62%である基
礎ガラスを用い、該基礎ガラス1gに対してIr及
び/又はAuを0.04〜0.16g添加した場合に消去時
間が0.2〜0.3μsecと極めて短く、最も優れている
ことが明らかである。 [発明の効果] 以上の通り、本発明によれば、極めて短時間で
記録の消去を行うことができ、また記録状態も充
分安定な書き換え可能な相変化型光メモリ記録膜
材料が得られる。
第1図は、本発明の、Ir添加Sb40Te60ガラスか
らなる記録膜材料の結晶化曲線図(図中A)及び
従来の、Ir無添加Sb40Te60ガラスからなる記録膜
材料の結晶化曲線図(図中B)であり、第2図
は、本発明のAu添加Sb42Te58ガラスからなる記
録膜材料の結晶化曲線図である。
らなる記録膜材料の結晶化曲線図(図中A)及び
従来の、Ir無添加Sb40Te60ガラスからなる記録膜
材料の結晶化曲線図(図中B)であり、第2図
は、本発明のAu添加Sb42Te58ガラスからなる記
録膜材料の結晶化曲線図である。
Claims (1)
- 1 原子%でSb34〜45%、Te55〜66%であるSb
−Te系基礎ガラス1gに対してIr及びAuから選
ばれる少なくとも1種を0.02〜0.25g加えたこと
を特徴とする書き換え可能な相変化型光メモリ記
録膜材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62097472A JPS63263643A (ja) | 1987-04-22 | 1987-04-22 | 書き換え可能な相変化型光メモリ記録膜材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62097472A JPS63263643A (ja) | 1987-04-22 | 1987-04-22 | 書き換え可能な相変化型光メモリ記録膜材料 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63263643A JPS63263643A (ja) | 1988-10-31 |
JPH0566874B2 true JPH0566874B2 (ja) | 1993-09-22 |
Family
ID=14193246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62097472A Granted JPS63263643A (ja) | 1987-04-22 | 1987-04-22 | 書き換え可能な相変化型光メモリ記録膜材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63263643A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2834131B2 (ja) * | 1988-03-28 | 1998-12-09 | 株式会社日立製作所 | 情報記録用薄膜 |
JP2776847B2 (ja) * | 1988-12-05 | 1998-07-16 | 株式会社日立製作所 | 情報記録用薄膜及び情報の記録再生方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62152786A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-07 | Hitachi Ltd | 相変化記録媒体 |
JPS62202345A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 書換型光記録媒体 |
JPS62208441A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 書換型光デイスク用記録媒体 |
JPS62208442A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 書換型光記録媒体 |
JPS6376120A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 消去可能型光記録媒体 |
-
1987
- 1987-04-22 JP JP62097472A patent/JPS63263643A/ja active Granted
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62152786A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-07 | Hitachi Ltd | 相変化記録媒体 |
JPS62202345A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 書換型光記録媒体 |
JPS62208441A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 書換型光デイスク用記録媒体 |
JPS62208442A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 書換型光記録媒体 |
JPS6376120A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 消去可能型光記録媒体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63263643A (ja) | 1988-10-31 |
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