JPH0565831B2 - - Google Patents

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JPH0565831B2
JPH0565831B2 JP59108919A JP10891984A JPH0565831B2 JP H0565831 B2 JPH0565831 B2 JP H0565831B2 JP 59108919 A JP59108919 A JP 59108919A JP 10891984 A JP10891984 A JP 10891984A JP H0565831 B2 JPH0565831 B2 JP H0565831B2
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JP
Japan
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pattern
memory
data
width
waveform
Prior art date
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JP59108919A
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JPS60252278A (ja
Inventor
Katsumi Kobayashi
Takayuki Nakajima
Tetsuo Aoki
Noboru Akyama
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Priority to EP85106364A priority patent/EP0163267B1/en
Priority to DE85106364T priority patent/DE3587620T2/de
Priority to US06/737,467 priority patent/US4701918A/en
Publication of JPS60252278A publication Critical patent/JPS60252278A/ja
Publication of JPH0565831B2 publication Critical patent/JPH0565831B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は論理回路が正常に動作するか否かを
試験する場合に用いられるロジツクアナライザに
関し、特にパターン信号を発生するパターン発生
器を具備し、パターン発生器から被試験回路にパ
ターン信号を与え、その応答出力信号を取込んで
正しく応動しているか否かを判定することができ
るロジツクアナライザの改良に関するものであ
る。
「従来技術」 従来のロジツクアナライザは一般に被試験回路
の各部の動作信号を取込んでその波形を表示し、
表示された波形から回路が正しく動作しているか
否かを判断する回路試験器として利用されてい
る。回路が正しく動作しているか否かの判定は利
用者が表示された論理波形のタイミングを見て判
断するものであるから、良否を判断するには被試
験回路の動作をよく知らなければならない。従つ
てだれにでも簡単に試験を行なうことができるも
のではなく、使用方法がむずかしいものとされて
いる。
このため最近の傾向として簡単なパターン発生
器を設け、パターン発生器からパターン信号を被
試験回路に与え、その応答出力と期待値とを比較
し、一致、不一致を見て被試験回路の良否を判定
する構造としたロジツクアナライザが製品化され
始めている。
「発明が解決しようとしている問題点」 パターン発生機能を具備した場合、パターン信
号の波形を自由に設定できる構造とすることが要
求される。つまりパターン信号波形の形式を
NRZ波形かRZ波形にするか、或はRZ波形の場
合その極性及び基準タイミングからの遅延時間
と、信号の幅を自由に設定できることが要求され
る。
従来のパターン発生機能を具備したロジツクア
ナライザはパターン信号を設定した結果は入力し
た設定数値と極性を文字及び記号で表示するだけ
のものであつた。つまりどのようなパターン信号
を設定したかを直視的に表示する機能はない。よ
つてパターン信号の波形を設定した人は表示され
た数値と記号から複数のパターン信号相互の位相
関係を想像し、その設定で良いか否かを判定しな
ければならない不都合がある。特にパターン信号
の種類が2〜3種類程度であれば文字及び記号の
表示だけでも実用に耐えられる。然し乍らパター
ン信号の種類が多くなつて来るのに伴つて想像が
困難となり設定がむずかしくなる欠点が生じる。
「問題点を解決するための手段」 この発明ではパターン信号の設定状態を文字及
び記号等で表示すると共に文字及び記号の表示に
パターン信号波形を加えて表示させるように構成
したものである。
従つてこの発明によればパターン信号の設定状
態を文字及び記号で表示すると共にその文字及び
記号によつて決まるパターン信号波形を並べて表
示することができるからパターン信号の設定状態
を一目で把握することができる。
「実施例」 第1図にパターン発生器を具備したロジツクア
ナライザの全体の構成を示す。図中1はデータ取
込装置、2はパターン発生器、3はマイクロコン
ピユータをそれぞれ示す。これらデータ取込装置
1とパターン発生器2はバスライン4によつてマ
イクロコンピユータ3に接続され、マイクロコン
ピユータ3の制御によりデータ取込装置1とパタ
ーン発生器2が動作する。
パターン発生器2はパターンメモリ2Aと、遅
延メモリ2Bと、幅メモリ2Cと、パターンメモ
リ2Aの読出すアドレス信号を発生するマイクロ
コードシーケンサ2Dと、遅延メモリ2B及び幅
メモリ2Cにアドレス信号を与えアドレスカウン
タ2E,2Fと、パターンメモリ2Aから出力さ
れるパターンデータPAと、遅延メモリ2Bから
出力される遅延データTDと、幅メモリ2Cから
出力される幅データTWが与えられてRZ波形或
はNRZ波形のパターン信号を発生する信号発生
器2Gと、この信号発生器2Gから出力される例
えば64チヤンネル分のパターン信号を増幅するド
ライバ群2Hとによつて構成される。
パターンメモリ2A、遅延メモリ2B、幅メモ
リ2Cにはマイクロコンピユータ3からパターン
データ、遅延データ、幅データが転送されて収納
される。尚パターンメモリ2Aにはパターンデー
タの他にパターン発生プログラムのインストラク
シヨンをコード化したマイクロコードを転送して
記憶する。これらパターンデータ、遅延データ、
幅データは試験開始時に入力手段11から入力さ
れて設定される他に、以前設定したことがあるデ
ータは例えばフロツピーデイスク装置のような記
憶器12に取込んでおき、この記憶器12からマ
イクロコンピユータ3に取出すように構成するこ
とができる。
パターンメモリ2Aに収納されたパターンデー
タの順序はパターンメモリ2Aから読出されるマ
イクロコードをマイクロコードシーケンサ2Dに
よつて解読し、マイクロコードシーケンサ2Dに
よつてアドレス制御され読出され読出される。パ
ターン発生器2のパターン発生周期は第2図Aに
示すPGクロツクの周期Taで決定される。パター
ンメモリ2Aから読出されるパターンデータの一
例を第2図Bに示す。遅延メモリ2B及び幅メモ
リ2Cはアドレスカウンタ2E,2Fによつてア
クセスされる。アドレスカウンタ2E,2Fは第
2図Cに示すTGクロツクを計数し、TGクロツ
クの周期TbでPGクロツクの1周期Taを分割し、
遅延メモリ2Bに記憶した遅延時間τDを持つ遅延
データTD(第2図D)と、幅メモリ2Cに記憶
した幅情報τWを持つ幅データTW(第2図E)を
読出す。
パターンメモリ2Aと、遅延メモリ2Bと、幅
メモリ2Cから読出されたパターンデータPAと、
遅延データTDと、幅データTWが信号発生器2
Gに与えられ、この信号発生器2Gにおいて基準
タイミングから遅延データTDによつて与えられ
る遅延時間τDと、パルス幅τWを持つRZ信号又は
NRZ信号が作られドライバ群2Hに与えられる。
尚2Iは被試験回路5の特定した信号を取込む
入力プローブを示し、この入力プローブ2Iを介
して取込んだ信号をマイクロコードシーケンサ2
Dに与え、外部制御信号として利用する。また6
はパターン発生器2から出力されるパターン信号
を被試験回路5の各部に与えるプローブを示す。
プローブは例えば64チヤンネルの容量を持つてい
るものとする。
データ取込装置1の入力側には例えば4個のプ
ローブ7A,7B,7C,7Dを有し、各プロー
ブ7A〜7Dから16本の接続線8が導出され、全
部で64チヤンネルの信号を取込むことができる構
造となつている。プローブ7A〜7Dで取込んだ
被試験信号は波形整形回路1Aにおいてロジツク
アナライザのクロツクに同期してH論理かL論理
かを判定し、正規化しながら高速メモリ1Bに取
込む。高速メモリ1Bはメモリ書込制御回路1C
によつて制御されて入力される被試験信号を順次
記憶する。1Dはワード検出器を示す。このワー
ド検出器1Dは入力される被試験信号の取込開始
ワード及び終了ワードを記憶しており、記憶した
ワードが入力されことを検出して書込開始と書込
終了のトリガ信号をメモリ書込制御回路1Cに与
える。
マイクロコンピユータ3は中央処理装置3Aと
読出専用メモリ(以下ROMと称す)3Bと、書
込読出可能なメモリ(以下RAMと称す)3Cと
によつて構成される。ROM3Bにはデータ取込
装置1とパターン発生器2及び後に説明する表示
器9等を所定の順序で動作させるためのプログラ
ムが収納される。RAM3Cには入力手段11か
ら入力したパターン発生用のパターンデータ(パ
ターン信号の極性、基準タイミングからの遅延時
間、幅情報)及びマイクロコードが収納され、こ
のパターンデータとマイクロコード及び遅延デー
タ、幅データをパターン発生器2のパターンメモ
リ2A、遅延メモリ2B、幅メモリ2Cに転送し
記憶させる。またパターンデータとマイクロコー
ド及び遅延データ、幅データは通信インターフエ
ース13を介して外部からRAM3C又は記憶装
置12に取込むことができる。
一方9は表示装置を示す。この表示装置9はビ
デオメモリ9Aと、このビデオメモリ9Aに書込
を行なう制御器9Bと陰極線管9Cとによつて構
成され、ビデオメモリ9Aに記憶したデータが繰
返し読出されて陰極線管9Cに表示される。
この発明においてはRAM3Cに取込んだパタ
ーンデータ、遅延データ、幅データを表示装置9
に転送し、パターンデータ、遅延データ、幅デー
タに基づいてその設定数値と極性を表わす記号等
を第3図に点線14で囲んで示すように表示させ
ると共に、この数値表示及び記号表示部分14と
並んでその数値と記号によつて決まるパターン信
号の波形Pa,Pb,Pc……Phを表示するものであ
る。尚Sはスケールを示す。
このためにはパターンデータを波形表示データ
に変換してビデオメモリ9Aに記憶する手段を設
ける。この波形表示データに変換する手段はマイ
クロコンピユータ3によつて構成することができ
る。第4図にパターンデータを波形表示データに
変換しビデオメモリ9Aに記憶させるプログラム
のフローチヤートを示す。
ステツプにより第3図に示す陰極線管の表示
面に表示されたクロツク周期表示欄CLKにカー
ソルが点滅し、クロツクの周期Taを入力するよ
うに促がす。パターン信号波形Pa〜Phはクロツ
クの周期Taを1/10の分解能で遅延時間τDと幅
τWを設定できる。つまりクロツクPGの周期Taを
設定するとスケールSの10目盛の間が設定した周
期Taに対応した時間となる。第3図に示す表示
例ではTa=100ナノ秒に設定した場合を示す。
ステツプではグループAの極性欄POL1にカ
ーソルが点滅しグループAの極性を設定するよう
に促される。操作者はこのとき(+)又は(−)
キイーを操作することによりグループAの極性を
設定することができる。この例ではグループAに
+極性を設定した場合を示す。
ステツプではグループAの遅延時間設定欄
DEL1にカーソルが点滅し、グループAの遅延時
間を入力する状態を表示する。遅延時間を入力す
るとステツプでカーソルが幅設定欄WID1に点
滅し幅データを入力する状態を表示する。第3図
に示す例では幅をゼロに設定した場合を示す。幅
をゼロに設定した場合はパターン発生器2は
NRZ信号を出力するものとする。
ステツプで幅の設定がゼロか否かを判定し、
幅がゼロに設定されている場合はルーチンLA
分岐する。ルーチンLAではステツプで始点か
ら遅延点までNRZ波形の上下の2本の線――――をビ
デオメモリ9Aの対応するアドレス位置に記憶す
る。またステツプで遅延点にNRZ波形の信号
転換点を表わす〓〓を記憶する。ステツプで終了
点までNRZ波形の上下の2本の線――――を記憶す
る。ステツプでルーチンLAが終了する。ビデ
オメモリ9Aは書込時以外は読出状態に制御さ
れ、陰極線管9Cにビデオメモリ9Aの内容を表
示する。ステツプを実行することにより例えば
Aグループのパターン設定状態が波形Paとして
表示される。
ステツプを実行した後ステツプに移る。ス
テツプでは設定終了のキイー入力が有るか否か
を判定し、キイー入力がなければステツプに戻
りグループBの設定が促がされる。Bグループの
パターンデータを入力するとグループBに設定し
たパターン波形Pbが表示される。第3図の例で
はグループA〜Dに幅ゼロを設定した場合を示
す。従つてグループA〜Dの波形表示欄にNRZ
波形Pa,Pb,Pc,Pdが表示される。またグルー
プB,C,Dの遅延時間は20ナノ秒、40ナノ秒、
60ナノ秒に設定した場合を示す。
グループEに幅を20ナノ秒を設定した場合を示
す。幅に関してゼロ以外の数値を設定した場合は
RZ波形を出力する状態に設定される。つまり幅
がゼロでない場合はステツプからステツプに
分岐する。ステツプでは極性を判定する。極性
が(+)に設定されている場合はルーチンLB
分岐する。ルーチンLBではステツプにおいて、
ビデオメモリ9Aの対応するグループの波形表示
アドレス領域に始点から遅延点までRZ波形のL
論理レベル線……――を記憶する。第3図の例ではグ
ループEの遅延時間を30ナノ秒に設定した場合を
示す。よつてグループEの波形表示欄に始点から
スケールSの3目盛分だけL論理線を表示する。
ステツプでは遅延点に正極性パルスの前縁波
形〓をビデオメモリ9Aに書込む、ステツプで
幅数分だけH論理線――……を書込み、ステツプで
(遅延時間+幅)の位置に後縁波形〓を書込む。
ステツプでは終了点までL論理……――を書込む。
ステツプを実行したことによりルーチンLB
終了し、ステツプで設定終了の有無を判定し、
設定終了のキイー入力が無ければステツプに戻
る。
ステツプにおいて極性を(−)に設定した場
合はステツプからルーチンLCに分岐する。ル
ーチンLCではビデオメモリ9Aの設定されたグ
ループの波形記憶領域に負極性パターン信号波形
を書込む動作を行なう。つまりステツプで始点
から遅延までH論理線――……を書込む。ステツプ
で遅延点に前縁波形〓を書込む。ステツプで幅
設定数分だけL論理線……――を書込む。ステツプ
で(遅延時間+幅)の位置に後縁波形〓を書込
む。ステツプで終了点までH論理線――……を書込
む。
第3図の例ではグループGとHに(−)極性を
設定し、これに対応して負極性のパターン信号波
形PgとPhを表示させた場合を示す。
ステツプにおいて設定終了指令を検出すると
ステツプに分岐し、ビデオメモリ9Aを連続読
出モードに切換え、設定プログラムを終了する。
尚表示器9の表示面には数値表示部14と波形
表示部の外にプローブ6の各チヤンネルにどのグ
ループのパターン信号を出力しているかを表示す
るようにしている。つまりこの例ではプローブA
の0〜15(A=10、F=15を表わす)チヤンネル
にグループAのパターン信号を出力している状態
を示す。またプローブBの0〜15チヤンネルには
グループBのパターン信号を出力をしている状態
を示す。またプローブCの0〜9チヤンネルには
グループCのパターン信号を出力し、10,11
チヤンネルにはグループBのパターン信号を出力
し、12〜15チヤンネルにはグループAのパタ
ーン信号を出力している状態を示す。プローブD
の0〜15チヤンネルにはグループDのパターン信
号を出力している状態を示している。このように
各プローブの任意のチヤンネルに任意のグループ
のパターン信号を出力するように設定することが
できる。
「効果」 上述したようにこの発明によればパターンデー
タの設定状態を文字及び記号表示するだけでな
く、波形としても表示するように構成したからパ
ターン信号の相互の関係を一目して確認できるた
め、パターンデータの設定を容易に行なえる利点
が得られる。
上記実施例ではスケールSとして周期Taを
1/10に分割する目盛としたが、その分割数は任
意に変更できることは容易に理解できよう。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すブロツク
図、第2図はパターン発生器の動作を説明するた
めの波形図、第3図はこの発明の要部の表示例を
説明するための正面図、第4図はこの発明の要部
の動作を説明するためのフローチヤートである。 1:データ取込装置、2:パターン発生器、
3:マイクロコンピユータ、4:バスライン、
5:被試験回路、6:出力プローブ、7:入力プ
ローブ、9:表示器、11:入力手段、12:記
憶装置、13:通信インターフエース。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 A 複数のパターン信号を同時に発生するこ
    とができるパターン発生器を具備したロジツク
    アナライザにおいて、 B 基準タイミングからの遅延時間と幅を決める
    複数のパターン信号の波形データを入力する入
    力手段と、 C 入力された複数のパターン信号の波形データ
    に対応する数値を記憶する記憶装置と、 D 記憶した複数のパターン信号の波形データに
    対応する数値を文字、記号として表示すると共
    に文字表示に対応して上記文字、記号に基づい
    て決められるパターン信号波形を基準タイミン
    グを揃えて同時に並列に表示する表示装置と、 を設けて成るロジツクアナライザ。
JP59108919A 1984-05-28 1984-05-28 ロジツクアナライザ Granted JPS60252278A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59108919A JPS60252278A (ja) 1984-05-28 1984-05-28 ロジツクアナライザ
EP85106364A EP0163267B1 (en) 1984-05-28 1985-05-23 Logic analyzer
DE85106364T DE3587620T2 (de) 1984-05-28 1985-05-23 Logikanalysator.
US06/737,467 US4701918A (en) 1984-05-28 1985-05-24 Logic analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59108919A JPS60252278A (ja) 1984-05-28 1984-05-28 ロジツクアナライザ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60252278A JPS60252278A (ja) 1985-12-12
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ID=14496972

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JP59108919A Granted JPS60252278A (ja) 1984-05-28 1984-05-28 ロジツクアナライザ

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4677620A (en) * 1985-02-28 1987-06-30 Tektronix, Inc. Graphical input of timing relationships
US4860291A (en) * 1987-12-28 1989-08-22 Tektronix, Inc. Test vector definition system employing template concept
EP0339286A3 (en) * 1988-03-31 1993-03-17 Tektronix, Inc. Test system for acquiring, calculating and displaying representations of data sequences

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JPS60252278A (ja) 1985-12-12

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