JPH0565587B2 - - Google Patents

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JPH0565587B2
JPH0565587B2 JP60033775A JP3377585A JPH0565587B2 JP H0565587 B2 JPH0565587 B2 JP H0565587B2 JP 60033775 A JP60033775 A JP 60033775A JP 3377585 A JP3377585 A JP 3377585A JP H0565587 B2 JPH0565587 B2 JP H0565587B2
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JP
Japan
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wafer
wafer holder
thin film
jig
film forming
Prior art date
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JP60033775A
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JPS61194175A (ja
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Yukio Yoshino
Toshiaki Ikeda
Tooru Kasatsugu
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はウエハ表面に薄膜形成粒子を付着させ
てウエハ表面に薄膜を形成する薄膜形成装置に関
する。
(従来技術) 一般に、この種の薄膜形成装置としては、真空
蒸着装置やスパツタリング装置等が知られてい
る。
これら真空蒸着装置やスパツタリング装置は、
真空容器内で、治具に設けられたウエハホルダに
ウエハを取り付け、薄膜を形成する材料からなる
蒸発源(真空蒸着装置の場合)もしくはターゲツ
ト(スパツタリング装置の場合)から飛び出した
薄膜形成粒子の飛翔軌跡中に配置し、ウエハ表面
に薄膜形成粒子を付着させて薄膜を形成するもの
である。
ところで、いわゆるバツチ処理によりウエハに
薄膜を形成する真空蒸着装置やスパツタリング装
置では、治具に多数のウエハホルダを設け、これ
らウエハホルダに夫々ウエハを取り付けてウエハ
に薄膜を形成するようにしているが、従来より、
各ウエハにほゞ厚さが等しく、均等に薄膜が形成
されるように、上記治具は、蒸発源もしくはター
ゲツトに対して予め理論計算により求められた等
膜厚面内に、これらウエハが配置されるように設
計されている。
真空蒸着装置において、蒸発源が点源とみなせ
る場合には、等膜厚面は理論計算とほゞ一致す
る。しかしながら、平面状のターゲツトを有する
スパツタリング装置や平面蒸発源を使用する真空
蒸着装置では、ターゲツトや蒸発源が平面である
ため、等膜厚面は理論計算どおりにはならない。
しかも、等膜厚面は真空容器の真空度、雰囲気ガ
スあるいはスパツタ用の印加電圧等の条件によつ
ても変化する。このような事情から、スパツタリ
ング装置や平面蒸着源を使用する真空蒸着装置の
治具の設計は実際には難度が高く、治具に対する
ウエハホルダの取付角度を含めて、治具の設計は
多数の試作品を製作し、各試作品について試験を
繰り返し、最適な設計値を決定する、いわゆるカ
ツトアンドトライの手法によらざるを得なかつ
た。
(発明の目的) 本発明は薄膜形成装置における上記事情に鑑み
てなされたものであつて、治具の設計が容易でウ
エハの保持および取り外しが簡単かつ容易に行
え、良好な膜厚分布を得ることができ、軸配向性
の良好な化合物薄膜を容易に形成することができ
る薄膜形成装置を提供することを目的としてい
る。
(発明の構成) このため、本発明は、真空容器内で治具に支持
されたウエハホルダに、薄膜が形成されるウエハ
が保持されて薄膜形成粒子の飛翔軌跡中に配置さ
れ、このウエハ表面に薄膜形成粒子が付着してウ
エハ表面に薄膜が形成されるようにした薄膜形成
装置において、上記ウエハホルダは、支持部材に
より治具に対して傾動可能に支持される一方、こ
の支持部材を支軸として上記ウエハホルダを回動
させてウエハホルダの粒子の飛翔軌跡に対する角
度を調整する調整ねじと、ウエハホルダの周縁に
てウエハホルダの表面側に突出し、ウエハが当止
められる当止め片と、一端がウエハホルダの裏面
側に固定され、他端が上記当止め片にほぼ対向し
て上記ウエハホルダの周縁から内側に切り込まれ
てなる切込みに嵌入して上記ウエハホルダの裏面
側から表面側に位置するウエハの周縁を経てこの
周縁の内側に鉤状に湾曲するとともに、この切込
みに嵌入した状態で上記ウエハの周縁に圧接する
スプリング部材とを備え、上記当止め片とスプリ
ング部材の上記他端との間にてウエハを上記スプ
リング部材のばね力でウエハホルダ上に保持する
ようにしたことを特徴としている。
(発明の効果) 本発明によれば、治具のウエハホルダは、治具
に着脱可能かつ角度調節可能に取着するようにし
たので、詳細な数値計算や多数の試作品を製作す
ることなく、比較的容易に治具を設計することが
でき、しかも、ウエハホルダの治具に対する取付
角度を調整することにより、軸配向性の良好な化
合物薄膜を形成することができ、薄膜形成条件の
変化による薄膜分布の変化にも容易に対処するこ
とができ、ウエハの径が変わるとそれに対応して
ウエハホルダを交換することもできる。
さらに、本発明によれば、一端がウエハホルダ
の裏面側に固定されてなる上記スプリング部材
は、その他端がウエハホルダの周縁から内側に切
り込まれてなる切込みに嵌入して上記ウエハホル
ダの裏面側から表面側に位置するウエハの周縁を
経てこの周縁の内側に鉤状に湾曲していて、この
切込みに嵌入した状態で上記ウエハの周縁に圧接
し、ウエハを当止め片に向かつて付勢しているの
で、ウエハがウエハホルダの下側となつてウエハ
ホルダが回転しても、ウエハが当止め片と鉤状の
スプリング部材の他端との間に挾持され、ウエハ
の落下、位置ずれ等が発生することがなく、しか
もウエハをウエハホルダから外すときに、スプリ
ングを延ばすだけで容易にウエハをウエハホルダ
から取り外すことができる。
(実施例) 以下に、添付の図面を参照して本発明の実施例
を説明する。
スパツタリング装置に本発明を適用した実施例
を第1図に示す。
上記スパツタリング装置は、真空容器1内に椀
形の治具2が支持され、この治具2に取着された
ウエハホルダ3に保持されるウエハ(図示せず。)
に対して、薄膜形成物質材料からなるターゲツト
4が上記真空容器1の床部に配置された陰極板5
の上に固定されている。この陰極板5には、電源
Eより、治具3(陽極)に対して負(マイナス)
の高電圧もしくは高周波電圧が印加される。
上記治具2は、真空容器1の天井部に設けられ
中心軸Qに取着されたアームArの先端に軸Pの
まわりに回転可能に取り付けられている。上記中
心軸Qおよび軸Pはいずれもモータ(図示せず。)
により駆動され、上記治具2は、真空容器1内
で、軸Pのまわりに自転しつゝ中心軸Qのまわり
を公転する。
上記真空容器1は弁6を介して主ポンプ7に、
また、弁8を介して補助ポンプ9に夫々接続され
ている。上記主ポンプ7と補助ポンプ9とは弁1
0により結合されている。上記真空容器1には、
さらに、弁11を介して、アルゴン(Ar)や酸
素(O2)等の雰囲気ガスを供給する雰囲気ガス
供給源12が接続されている。
上記のような基本的な構成を有するスパツタリ
ング装置において、治具2のウエハホルダ3は、
第2図aおよび第2図bに夫々その底面図および
平面図を示すように、薄膜を形成するウエハ13
の形状に合わせて、金属板をこのウエハ13の径
よりもやゝ大きな径を有する円板状に打ち抜いた
ものである。
ウエハホルダ3は、その裏面に、第3図に示す
ように、このウエハボルダ3を治具2に取着する
ための2本のねじ14,14を備えている。これ
ら2本のねじ14,14は、ウエハホルダ3の裏
面に、溶接等により、このウエハホルダ3に対し
て垂直に固定されている。
一方、上記ウエハホルダ3の周縁部には、ねじ
14,14の間にほゞ等しい間隔をおいて切欠き
15,15を形成するとともに、これら切欠き1
5,15にほゞ対向する位置に、ねじ14,14
の間隔よりもやゝ大きな間隔をおいて、ウエハ1
3を当て止める当止め片16,16をウエハホル
ダ3の表面側に切り起している。
上記切欠き15,15とねじ14,14との間
には、ウエハ13をウエハホルダ3の表面に固定
するためのコイルスプリング17,17が張り渡
されている。各コイルスプリング17は、その各
一端17aがねじ14に引掛けられ、その各他端
17bがウエハホルダ13の切欠き15内で、ウ
エハホルダ13の裏面側から表面側へ鉤形に折曲
されて上記切欠き15の先端に引掛けられてい
る。ウエハ13は、上記コイルスプリング17,
17の他端17b,17bとウエハホルダ3の当
止め片16,16との間に、第2図bに示すよう
に、コイルスプリング17,17のバネ力により
保持される。
上記ウエハホルダ3はまた、その治具2への取
付角度を調整する調整ねじ18を取り付けるた
め、上記切欠き15,15の間から径方向外向き
に突出する調整ねじ取付片19を有している。こ
の調整ねじ取付片19にはねじ孔(図示せず。)
を設け、このねじ孔に上記調整ねじ18がウエハ
ホルダ3の表面から裏面に向つてねじ込まれてい
る。
以上に説明したウエハホルダ3は、第3図に示
すように、そのねじ14,14が治具2に設けら
れた孔2a,2aに挿通され、治具2の裏面側
で、ナツト22,22により抜け止めされる。ナ
ツト22,22は、調整ねじ18の先端面および
ウエハホルダ3の中心に関して調整ねじ取付片1
9とは反対側のウエハホルダ3の周縁位置23が
治具2に当接するまで締められる。第3図からも
明らかなように、ウエハホルダ3の治具2に対す
る角度の調整は、ナツト22,22を緩め、調整
ネジ18のウエハホルダ3からの突出量lを変え
ることにより調整することができる。
第1図のスパツタリング装置では、陰極板5に
薄膜形成材料、たとえばセラミツクス材料あるい
は金属からなるターゲツト4を固定するととも
に、ウエハホルダ3にウエハを固定し、真空容器
1を密封した後、先ず、弁6を開いて真空容器1
内の空気を排気する。次いで、弁6を閉じるとと
もに弁8,10を開いて主ポンプ7および補助ポ
ンプ9により真空容器1が10-6ないし10-7Torr
程度の真空度となるまで排気する。
その後、弁11を開き、雰囲気ガス供給源12
から、アルゴン(Ar)、酸素(O2)等の雰囲気ガ
スを真空容器1内に導入し、真空容器1内を10-1
〜10-4Torr程度の真空度とする。この状態で陰
極5を水冷しながら、ターゲツト4に電源Eより
直流電圧あるいは高周波電圧を印加することによ
り、治具2のウエハホルダ3に保持されたウエハ
にターゲツト4より薄膜形成物質粒子ガスがスパ
ツタされる。
上記スパツタリングにより、多数のウエハ13
上に形成された薄膜が、各ウエハ13によつて異
なつている場合には、ウエハホルダ2の調整ねじ
18とナツト22とにより、既に説明したように
して、ウエハホルダ3の治具2に対する角度を調
整すればよい。この調整により、全てのウエハ1
3について、均一な膜厚分布が得られる。また、
ウエハ13に化合物薄膜を形成する際に、軸配向
性の良好な化合物薄膜を形成することができる。
上記実施例において、第2図aおよび第2図b
に示すウエハホルダ3に代えて、例えば第4図に
その底面を、また、第5図に治具2への取付け状
態を夫々に示すようなウエハホルダ3′を使用す
ることもできる。
上記ウエハホルダ3′は、上記ウエハホルダ3
において、その上記周縁位置23を径方向外向き
に突出させた後、この突出部分を円筒状に形成し
て軸受部24とし、この軸受部24に支軸25を
挿通し、その両端部25a,25aをほゞ直角に
折曲するとともにねじ溝を形成し、上記両端部2
5a,25aを治具2に設けた孔(図示せず。)
に挿通して各端部25aをナツト26,26で治
具2に固定するようにしたものである。
上記ウエハホルダ3′は、支軸25のまわりに
揺動可能に支持され、治具2に対する角度は調整
ねじ18′により調整される。この調整ねじ1
8′は、ウエハホルダ3に設けられた調整ねじ取
付片19に、抜止めワツシヤ27により回転可能
かつ抜脱不自在に取着されるとともに、治具2に
設けられたねじ孔(図示せず。)にねじ込まれて
いる。従つて、上記調整ねじ18′を回転させる
ことにより、ウエハホルダ3に設けられた上記取
付片19と治具2との間隔が変化し、ウエハホル
ダ3′の治具2に対する角度が調整される。上記
ウエハホルダ3′のコイルスプリング17,17
の一端17a,17aは、上記ウエハホルダ3′
に形成された切起し片28,28に掛け止められ
ている。
第4図および第5図において、第2図aおよび
第3図に対応する部分には対応する符号を付して
示し、重複する部分の説明は省略する。
また、上記ウエハホルダ3,3′の形状は、円
形のものに限定されず、四角形状や他の形状を有
するものであつてもよく、コイルスプリング17
は、他の形式のスプリングを使用することもでき
る。
本発明はスパツタリング装置の他に、真空蒸着
装置にも適用することができることはいうまでも
ない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る薄膜形成装置の一実施例
の概略の構成を示す説明図、第2図aおよび第2
図bは夫々第1図の薄膜形成装置のウエハホルダ
の底面図および平面図、第3図は第2図aおよび
第2図bのウエハホルダの治具への取付説明図、
第4図はウエハホルダの変形例の底面図、第5図
は第4図のウエハホルダの治具への取付説明図で
ある。 1……真空容器、2……治具、3,3′……ウ
エハホルダ、4……ターゲツト、13……ウエ
ハ、14……ねじ、16……当止め片、17……
コイルスプリング、17a……一端、17b……
他端、18,18′……調整ねじ、22……ナツ
ト、24……軸受部、25……支軸、26……ナ
ツト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 真空容器内で治具に支持されたウエハホルダ
    に、薄膜が形成されるウエハが保持されて薄膜形
    成粒子の飛翔軌跡中に配置され、このウエハ表面
    に薄膜形成粒子が付着してウエハ表面に薄膜が形
    成されるようにした薄膜形成装置において、 上記ウエハホルダは、支持部材により治具に対
    して傾動可能に支持される一方、この支持部材を
    支軸として上記ウエハホルダを回動させてウエハ
    ホルダの粒子の飛翔軌跡に対する角度を調整する
    調整ねじと、ウエハホルダの周縁にてウエハホル
    ダの表面側に突出し、ウエハが当止められる当止
    め片と、一端がウエハホルダの裏面側に固定さ
    れ、他端が上記当止め片にほぼ対向して上記ウエ
    ハホルダの周縁から内側に切り込まれてなる切込
    みに嵌入して上記ウエハホルダの裏面側から表面
    側に位置するウエハの周縁を経てこの周縁の内側
    に鉤状に湾曲するとともに、この切込みに嵌入し
    た状態で上記ウエハの周縁に圧接するスプリング
    部材とを備え、上記当止め片とスプリング部材の
    上記他端との間にてウエハを上記スプリング部材
    のばね力でウエハホルダ上に保持するようにした
    ことを特徴とする薄膜形成装置。
JP3377585A 1985-02-21 1985-02-21 薄膜形成装置 Granted JPS61194175A (ja)

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JP3377585A JPS61194175A (ja) 1985-02-21 1985-02-21 薄膜形成装置

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JP3377585A JPS61194175A (ja) 1985-02-21 1985-02-21 薄膜形成装置

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JPS61194175A JPS61194175A (ja) 1986-08-28
JPH0565587B2 true JPH0565587B2 (ja) 1993-09-20

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JPS52146787A (en) * 1976-06-01 1977-12-06 Mitsubishi Electric Corp Jig for evaporation

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JPS52146787A (en) * 1976-06-01 1977-12-06 Mitsubishi Electric Corp Jig for evaporation

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JPS61194175A (ja) 1986-08-28

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