JPH03232963A - セラミックス膜被覆方法 - Google Patents
セラミックス膜被覆方法Info
- Publication number
- JPH03232963A JPH03232963A JP2712290A JP2712290A JPH03232963A JP H03232963 A JPH03232963 A JP H03232963A JP 2712290 A JP2712290 A JP 2712290A JP 2712290 A JP2712290 A JP 2712290A JP H03232963 A JPH03232963 A JP H03232963A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base material
- film
- ceramics film
- coating
- ion plating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 32
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 abstract description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 6
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 abstract description 3
- 238000007788 roughening Methods 0.000 abstract description 2
- 230000008719 thickening Effects 0.000 abstract description 2
- 230000013707 sensory perception of sound Effects 0.000 abstract 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001315 Tool steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007888 film coating Substances 0.000 description 1
- 238000009501 film coating Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、円盤状または円筒状基材の表面にセラミッ
クスの膜を形成するセラミックス膜被覆方法に関する。
クスの膜を形成するセラミックス膜被覆方法に関する。
〔従来の技術]
工具鋼の表面を窒化チタン膜で被覆すると、それによっ
て得られる被覆材料の耐磨耗性、切削性等の特性が向上
し、工具寿命を延長させることが知られている。例えば
、(1)「金属表面技術」(1985)第36巻第8号
、第330−334頁には、RFイ(1) オンブレーティングによるステンレス板上への窒化チタ
ン膜の形成が、(2) rMaterials 5c
ienceand Technology (1986
) J Jan、 Vol、2. p、59−68には
、化学蒸着法(CVD法)による0、08%C工具鋼へ
のTiN膜の形成が、(3)「真空(1986) 、第
29巻第3号、第152−159頁には、マグネトロン
スパッタ法による各種基板上への窒化チタン膜の作製が
、それぞれ報告されている。
て得られる被覆材料の耐磨耗性、切削性等の特性が向上
し、工具寿命を延長させることが知られている。例えば
、(1)「金属表面技術」(1985)第36巻第8号
、第330−334頁には、RFイ(1) オンブレーティングによるステンレス板上への窒化チタ
ン膜の形成が、(2) rMaterials 5c
ienceand Technology (1986
) J Jan、 Vol、2. p、59−68には
、化学蒸着法(CVD法)による0、08%C工具鋼へ
のTiN膜の形成が、(3)「真空(1986) 、第
29巻第3号、第152−159頁には、マグネトロン
スパッタ法による各種基板上への窒化チタン膜の作製が
、それぞれ報告されている。
PVD法の内イオンプレーティング法は、CVD法など
に比べ低温で処理でき、母材への強度劣化のダメージを
与えないため、近年注目されている。
に比べ低温で処理でき、母材への強度劣化のダメージを
与えないため、近年注目されている。
しかしながら、前記イオンプレーティング法は3次元形
状の物に膜を形成する瞭、指向性があり、むらなく被覆
するには、位置を変え数回被覆しなければならなかった
。薄板鋼販切断用のサイドトリマー丸刃のような円盤状
工具では、エツジ部の被覆状態が工具の特性を決める。
状の物に膜を形成する瞭、指向性があり、むらなく被覆
するには、位置を変え数回被覆しなければならなかった
。薄板鋼販切断用のサイドトリマー丸刃のような円盤状
工具では、エツジ部の被覆状態が工具の特性を決める。
例えば、エツジ(2)
部を形成する2面の被覆状態が不均一だと、使用中応力
が集中し、膜の剥離や変形を助長し、工具寿命を減少さ
せるため、好ましくない。また、膜厚が不十分(例えば
2側以下)であったり、被膜と基材との密着強度が低い
(例えばスクラッチテスターによる臨界剥離荷重値が2
ON以下)部分があると、工具としての使用に耐えない
。
が集中し、膜の剥離や変形を助長し、工具寿命を減少さ
せるため、好ましくない。また、膜厚が不十分(例えば
2側以下)であったり、被膜と基材との密着強度が低い
(例えばスクラッチテスターによる臨界剥離荷重値が2
ON以下)部分があると、工具としての使用に耐えない
。
この発明は、イオンプレーティング法による前記問題点
を解決するもので、円盤状または円筒状基材に均一にセ
ラミックス膜を形成することを可能にするものである。
を解決するもので、円盤状または円筒状基材に均一にセ
ラミックス膜を形成することを可能にするものである。
すなわち、本発明はイオンプレーティング方法によって
、円盤状あるいは円筒状基材に、たとえばTiNなどの
セラミックス膜を被覆するに際し、前記基材に揺動と円
周方向の回転を与えつつ被覆を行うセラミックス膜の被
覆方法である。
、円盤状あるいは円筒状基材に、たとえばTiNなどの
セラミックス膜を被覆するに際し、前記基材に揺動と円
周方向の回転を与えつつ被覆を行うセラミックス膜の被
覆方法である。
以下図面に基づいて本発明を更に説明する。
まず、本発明の方法を実施する装置を第1図に(3)
示す。図において真空処理室5内に円盤状又は円筒状の
ような断面円形状基材1を揺動かつ円周方向への回転可
能に配設すると共に、該基材1の下位に電子銃蒸発源4
を設け、ハース内の蒸着金属をイオン化するイオン化電
極3をその上部に設ける。2は反応ガス導入パイプで、
真空処理室内へ反応ガスを導入する。
ような断面円形状基材1を揺動かつ円周方向への回転可
能に配設すると共に、該基材1の下位に電子銃蒸発源4
を設け、ハース内の蒸着金属をイオン化するイオン化電
極3をその上部に設ける。2は反応ガス導入パイプで、
真空処理室内へ反応ガスを導入する。
前記基材1に揺動と回転を与える装置を第2図に示す。
基材1を回転軸6に固着し、該回転軸6の一端を回転機
構(図示せず)に連結する。また、該回転軸6を揺動板
8上に固設された軸受7−1゜7−2で保持する。
構(図示せず)に連結する。また、該回転軸6を揺動板
8上に固設された軸受7−1゜7−2で保持する。
該揺動板8には揺動軸9−1.9−2が突設されており
、該揺動軸9−1が揺動機構(図示せず)に連結されて
いる。
、該揺動軸9−1が揺動機構(図示せず)に連結されて
いる。
10−1.112は揺動軸受である。
かかる装置において、基材1に例えばTiNなどのセラ
ミックス膜を被覆するに際し、回転軸6を基材1の円周
方向に連続的に回転して、基材1を回転すると共に、揺
動軸9−1.9−2に揺動を(4) 与えて、基材1を蒸発源4に対し連続的または断続的に
傾斜させる。揺動の範囲は第3図に示す角度θ、すなわ
ち、基材1の成膜面Aと蒸発源4とのなす角度を10度
以上、170度以下になるように設定する。
ミックス膜を被覆するに際し、回転軸6を基材1の円周
方向に連続的に回転して、基材1を回転すると共に、揺
動軸9−1.9−2に揺動を(4) 与えて、基材1を蒸発源4に対し連続的または断続的に
傾斜させる。揺動の範囲は第3図に示す角度θ、すなわ
ち、基材1の成膜面Aと蒸発源4とのなす角度を10度
以上、170度以下になるように設定する。
基材1にこのような回動を与えると、イオン化電極3で
イオン化された蒸着金属が基材側面と円周面に均一に被
覆されるのである。
イオン化された蒸着金属が基材側面と円周面に均一に被
覆されるのである。
すなわち、基材の回転は、被膜の局所的厚膜化および被
膜表面の粗度化を抑制する。また、特定部分のイオン衝
撃による温度上昇を抑え、基材への温度によるダメージ
を少なくする。
膜表面の粗度化を抑制する。また、特定部分のイオン衝
撃による温度上昇を抑え、基材への温度によるダメージ
を少なくする。
揺動は、成膜面と蒸発源とのなす角度を適切にするため
に必要である。成膜面と蒸発源のなす角度が10度以下
または170度以上で固定した場合は、第1表に示すよ
うに、充分な膜厚と密着力を持った膜ができない。円盤
状または円筒状基材には、成膜面が円周面と2つの側面
があり、これら成膜面を均質に同一バッチで成膜するに
は、揺動を断続的または連続的に行なうことが必要であ
る。
に必要である。成膜面と蒸発源のなす角度が10度以下
または170度以上で固定した場合は、第1表に示すよ
うに、充分な膜厚と密着力を持った膜ができない。円盤
状または円筒状基材には、成膜面が円周面と2つの側面
があり、これら成膜面を均質に同一バッチで成膜するに
は、揺動を断続的または連続的に行なうことが必要であ
る。
(5)
〔実施例〕
(実施例1)
第1図に示す装置において、400φで40陶の厚みの
ある板状の冷間金型用鋼(JIS、 5KDII相当材
)を基材1にした。400°Cで基材1を加熱保持し、
前処理として0.2 Torrのアルゴン雰囲気中で4
00V、2AのDCボンバードを行なった。
ある板状の冷間金型用鋼(JIS、 5KDII相当材
)を基材1にした。400°Cで基材1を加熱保持し、
前処理として0.2 Torrのアルゴン雰囲気中で4
00V、2AのDCボンバードを行なった。
その後、蒸発金属をチタンとしたハースを使用し、蒸発
源4の電子銃の出力をl0KV、 300mA、反応
半ガス導入バイブ2より導入した窒素ガスの圧力を4
X 10− ’Torr、イオン化電極3のイオン化電
圧を40V、イオン化電流を70Aで処理し、蒸発金属
をイオン化した。バイアス電圧は一500vとし、この
条件で、イオンプレーティングを60分間行なった。回
転と揺動は第2図に示す治具を使った。
源4の電子銃の出力をl0KV、 300mA、反応
半ガス導入バイブ2より導入した窒素ガスの圧力を4
X 10− ’Torr、イオン化電極3のイオン化電
圧を40V、イオン化電流を70Aで処理し、蒸発金属
をイオン化した。バイアス電圧は一500vとし、この
条件で、イオンプレーティングを60分間行なった。回
転と揺動は第2図に示す治具を使った。
回転は10rpm 、揺動は15分ごとに基材側面が蒸
発源となす角度(第3図の角度θ)が、22度と158
度となるように交互にした。
発源となす角度(第3図の角度θ)が、22度と158
度となるように交互にした。
被膜は第1表に示すような特性を示し、基材に均一に成
膜することができた。密着強度は、0.2(6) mmRのダイヤモンドコーンを使用したときの臨界剥離
荷重値である。
膜することができた。密着強度は、0.2(6) mmRのダイヤモンドコーンを使用したときの臨界剥離
荷重値である。
第 1 表
(実施例2)
基材1を20rpmで回転し、揺動を連続的に行ない、
他は実施例1と同様の方法でイオンプレーティングを行
なった。結果を第2表に示すが、これも効果的であるこ
とを確認した。
他は実施例1と同様の方法でイオンプレーティングを行
なった。結果を第2表に示すが、これも効果的であるこ
とを確認した。
(7)
第
表
〔発明の効果]
この発明によれば、円盤状または円筒状基材に均一にセ
ラミックス膜を形成することができるので、工具寿命の
長い被覆工具鋼等を製造することができる。
ラミックス膜を形成することができるので、工具寿命の
長い被覆工具鋼等を製造することができる。
(8)
第1図は本発明の装置を示す概略断面側面図、第2図は
本発明の基材保持部の概略斜視図、第3図は成膜面と蒸
発源との角度を示す説明図である。 1・・・基材、 2・・・反応ガス導入パイプ、 3・・・イオン化電極、 4・・・電子銃蒸発源、
5・・・真空処理室、 6・・・回転軸、7−1
.7−2・・・軸受、 8・・・揺動板、1−1.9−
2・・・揺動軸、 1(1−1、10−2・・・軸受。
本発明の基材保持部の概略斜視図、第3図は成膜面と蒸
発源との角度を示す説明図である。 1・・・基材、 2・・・反応ガス導入パイプ、 3・・・イオン化電極、 4・・・電子銃蒸発源、
5・・・真空処理室、 6・・・回転軸、7−1
.7−2・・・軸受、 8・・・揺動板、1−1.9−
2・・・揺動軸、 1(1−1、10−2・・・軸受。
Claims (1)
- イオンプレーティング方法によって、円盤状あるいは円
筒状基材にセラミックス膜を被覆するに際し、前記基材
に揺動と円周方向の回転を与えることを特徴とするセラ
ミックス膜被覆方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2712290A JPH03232963A (ja) | 1990-02-08 | 1990-02-08 | セラミックス膜被覆方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2712290A JPH03232963A (ja) | 1990-02-08 | 1990-02-08 | セラミックス膜被覆方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03232963A true JPH03232963A (ja) | 1991-10-16 |
Family
ID=12212255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2712290A Pending JPH03232963A (ja) | 1990-02-08 | 1990-02-08 | セラミックス膜被覆方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03232963A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6635330B2 (en) | 1999-04-09 | 2003-10-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for forming thin film, spheroid coated with thin film, light bulb using the spheroid and equipment for film formation |
JP2009120928A (ja) * | 2007-11-19 | 2009-06-04 | Kojima Press Co Ltd | 基材の支持装置及びスパッタリング装置 |
RU2693227C1 (ru) * | 2018-04-25 | 2019-07-01 | Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Уралавиаспецтехнология" | Способ нанесения эрозионностойких покрытий на лопатки блиска газотурбинного двигателя из титановых сплавов |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4926182A (ja) * | 1972-07-04 | 1974-03-08 | ||
JPS61192033A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-26 | Fujitsu Ltd | 磁気デイスク媒体の製造方法 |
JPS61243169A (ja) * | 1985-04-19 | 1986-10-29 | Fuji Electric Co Ltd | スパツタリング装置 |
-
1990
- 1990-02-08 JP JP2712290A patent/JPH03232963A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4926182A (ja) * | 1972-07-04 | 1974-03-08 | ||
JPS61192033A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-26 | Fujitsu Ltd | 磁気デイスク媒体の製造方法 |
JPS61243169A (ja) * | 1985-04-19 | 1986-10-29 | Fuji Electric Co Ltd | スパツタリング装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6635330B2 (en) | 1999-04-09 | 2003-10-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for forming thin film, spheroid coated with thin film, light bulb using the spheroid and equipment for film formation |
US6726816B2 (en) | 1999-04-09 | 2004-04-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for forming thin film, spheroid coated with thin film, light bulb using the spheroid and equipment for film formation |
JP2009120928A (ja) * | 2007-11-19 | 2009-06-04 | Kojima Press Co Ltd | 基材の支持装置及びスパッタリング装置 |
US8110078B2 (en) | 2007-11-19 | 2012-02-07 | Kojima Press Industry Co., Ltd. | Substrate supporting device and sputtering apparatus including the same |
RU2693227C1 (ru) * | 2018-04-25 | 2019-07-01 | Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное предприятие "Уралавиаспецтехнология" | Способ нанесения эрозионностойких покрытий на лопатки блиска газотурбинного двигателя из титановых сплавов |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4336118A (en) | Methods for making deposited films with improved microstructures | |
JP3408539B2 (ja) | 半導体ウェーハ上の蒸着膜の特性制御 | |
JP6963551B2 (ja) | 真空処理装置及び基板を処理するための方法 | |
EP1815040B1 (en) | Method for deposition of a layer on a razor blade edge and razor blade | |
JP2009041040A (ja) | 真空蒸着方法および真空蒸着装置 | |
GB2446593A (en) | Coating apparatus utilising linear magnetic field. | |
JPH0240739B2 (ja) | Supatsutasochi | |
JPH03232963A (ja) | セラミックス膜被覆方法 | |
JPH02125861A (ja) | 被処理物の表面に被膜を形成する方法 | |
JP3056222B2 (ja) | スパッタ装置およびスパッタ方法 | |
JP3544907B2 (ja) | マグネトロンスパッタ装置 | |
JPH04329869A (ja) | 蒸着装置及び蒸着方法 | |
CN111139439A (zh) | 一种在大面积衬底上磁控溅射制备薄膜的方法 | |
JP3439993B2 (ja) | マグネトロンスパッタ装置 | |
JPS6116346B2 (ja) | ||
US20100155935A1 (en) | Protective coating for semiconductor substrates | |
JP2001207258A (ja) | 回転磁石およびインライン型スパッタリング装置 | |
WO2020183827A1 (ja) | 成膜方法 | |
JPS62211373A (ja) | スパツタリング装置 | |
JP4396885B2 (ja) | マグネトロンスパッタ装置 | |
JPS60211065A (ja) | 箔の製造方法 | |
CN108118292B (zh) | 覆膜440c不锈钢刀片及其制备方法 | |
JPH02298263A (ja) | スパッタ装置 | |
CN108060403B (zh) | 氮铝化钛薄膜及其制备方法 | |
JPS62211372A (ja) | スパツタリング装置 |