JPH0555086U - Ｌｓｉテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ソケットボードに設けられた信号変換回路の
バラツキを信号変換回路毎に校正する。 【構成】ＤＵＴを検査するＬＳＩテスタにおいて、入力
側に設けられたレベルシフト回路が、任意波形発生器の
印加する基準電圧に基づいて出力する電圧を測定する電
圧測定器と、基準電圧に基づいてレベルシフト回路が出
力する電圧を電圧測定器に切り換えると共に、検査信号
をＤＵＴに切り換える第一のスイッチ手段と、出力側に
設けられた分圧回路に、任意波形発生器が印加する基準
電圧とＤＵＴが出力する応答信号とを切り換えて出力す
る第二のスイッチ手段とを設け、入出力側に設けられた
分圧回路とレベルシフト回路のゲイン及びオフセットを
校正する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、被検査対象物（以下ＤＵＴという）とソケットボードを介して検査 信号を授受するＬＳＩテスタに関し、更に詳しくは、ソケットボードに設けられ た信号変換回路が検査信号に与える影響を信号変換回路毎に校正し、正確にＤＵ Ｔの測定を行うことができるＬＳＩテスタに関する。

【０００２】

【従来の技術】

ＬＳＩテスタは、検査のための各種の信号をＤＵＴに加え、その結果ＤＵＴか ら出力される応答信号をテスタの各測定モジュールに導入してＤＵＴの品質を検 査する装置である。 このため、ＬＳＩテスタは、ＤＵＴの各ピンと各種の信号を授受できるように 各モジュールから引き出された信号ケーブルをソケットボードを介してＤＵＴと 接続している。 ソケットボードは、測定するＤＵＴに応じて交換されるようになっていて、Ｄ ＵＴとテスタ間で授受される検査信号が測定に適正な波形で得られるようにＤＵ Ｔの入出力側に信号変換回路が設けられている。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

このような従来のＬＳＩテスタは、信号変換回路を構成する電子部品のバラツ キが信号変換回路の特性を左右するために、ＤＵＴから出力された応答信号を信 号変換回路のバラツキを考慮して判断しなければならず、測定マージンが厳しい ものになっていた。このため、ＤＵＴの良否判定や等級分けが困難になる場合が あり、信号変換回路毎に校正を行う必要があった。

【０００４】 本考案は、このような点に鑑みてなされたもので、テスタからソケットボード の信号変換回路に基準電圧を印加し、この基準電圧に基づいて信号変換回路が出 力した電圧によって、信号変換回路の校正データを求めるようにしたもので、信 号変換回路の校正によって、ＤＵＴを正確に測定することができるＬＳＩテスタ を提供することを目的としている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

このような目的を達成するために本考案は、 被測定対象物の入力側に設けられた分圧回路とレベルシフト回路を介して任意 波形発生器によって検査信号を与え、この検査信号に基づいて被測定対象物が出 力した応答信号を出力側に設けられた分圧回路とレベルシフト回路を介して入力 し、前記被測定対象物の良否を判断するＬＳＩテスタにおいて、 前記入力側に設けられたレベルシフト回路が、前記任意波形発生器の印加する 基準電圧に基づいて出力する電圧を測定する電圧測定器と、 前記基準電圧に基づいて前記レベルシフト回路が出力する電圧を前記電圧測定 器に切り換えると共に、前記検査信号を前記被測定対象物に切り換える第一のス イッチ手段と、 前記出力側に設けられた分圧回路に、前記任意波形発生器が印加する基準電圧 と前記被測定対象物が出力する応答信号とを切り換えて出力する第二のスイッチ 手段と、 を設け、前記任意波形発生器が印加する基準電圧に基づいて、入出力側に設け られた分圧回路とレベルシフト回路のゲイン及びオフセットを校正するようにし たことを特徴としている。

【０００６】

【作用】

本考案の各構成要素は、次のような作用をする。 電圧測定装置は、任意波形発生器が印加する基準電圧に基づいてレベルシフト 回路が出力する電圧を測定する。 第一のスイッチ手段は、レベルシフト回路が出力する信号をＤＵＴと電圧測定 装置とに切り換えて出力する。 第二のスイッチ手段は、ＤＵＴの出力する応答信号と任意波形発生器が印加す る基準電圧とを切り換えて分圧回路に出力する。

【０００７】

【実施例】

以下、図面を用いて本考案の一実施例を詳細に説明する。図１は、本考案のＬ ＳＩテスタの一実施例を示した構成ブロック図である。図中、１０はテスタで、 ソケットボード２０を介して検査信号をソケットボード２０に搭載されたＤＵＴ ３０と授受する。 ２１はＤＵＴ３０の各ピンに対応して設けられた検査信号変換回路で、テスタ １０の任意波形発生器１１から入力した検査信号Ｓ₁をＤＵＴ３０に合った検査 信号Ｓ_1*に変換し、リレーＲＬ₁のａ接点を介してＤＵＴ３０に出力する。

【０００８】 ２１Ａは検査信号Ｓ₁の振幅を任意に変調する分圧回路、２１Ｂは分圧回路２ １Ａから入力される検査信号Ｓ₁に直流成分を加減し、オフセットを補正するレ ベルシフト回路である。 検査信号変換回路２１は、測定が行われる前に、構成される電子部品の特性の バラツキの影響を除くため、任意波形発生器１１から基準電圧Ｖ_1i（ｉ＝１〜ｎ ）が印加されて校正がなされる。 校正は、リレーＲＬ₁がｂ接点に接続された後、異なった値の基準電圧Ｖ_1iが 検査信号変換回路２１にｎ回印加されて行われる。

【０００９】 直流電圧測定器１２は、検査信号変換回路２１が基準電圧Ｖ_1iに基づいて出力 した電圧Ｘ_1iを測定し、その電圧データをＣＰＵ（図省略）に伝達する。 ＣＰＵは、直流電圧測定器１２が測定した電圧Ｘ_1iデータと任意波形発生器１ １が検査信号変換回路２１に印加した基準電圧Ｖ_1iとに基づいて校正データを求 め、任意波形発生器１１とレベルシフト回路２１Ｂに校正データを設定する。

【００１０】 ２２はＤＵＴ３０の出力側にリレーＲＬ₂を介して設けられた応答信号変換回 路で、ＤＵＴ３０から入力した応答信号Ｓ_2*を任意波形解析器１３で測定できる 信号Ｓ₂に変換してテスタ１０に出力する。 応答信号変換回路２２は、分圧回路２２Ａとレベルシフト回路２２Ｂから構成 されていて、検査信号変換回路２１と同様に、任意波形発生器１１から印加され る基準電圧Ｖ_2iによって校正される。

【００１１】 校正は、リレーＲＬ₂がｂ接点に接続され、任意波形発生器１１から異なった 値の基準電圧Ｖ_2iが応答信号変換回路２２にｎ数回印加されて行われる。 任意波形解析器１３は、応答信号変換回路２２が基準電圧Ｖ_2iに基づいて出力 した電圧Ｘ_2iを測定し、その電圧データをＣＰＵ（図省略）に伝達する。 ＣＰＵは、任意波形解析器１３が測定した電圧データＸ_2iと任意波形発生器１ １が応答信号変換回路２２に印加した基準電圧Ｖ_2iとに基づいて校正データを求 め、任意波形解析器１３とレベルシフト回路２２Ｂに校正データを設定する。 １４は直流電圧発生器で、ＣＰＵの校正データに基づいた電圧Ｖ_1S,2Sをレベ ルシフト回路２１Ｂ、２２Ｂに印加し、オフセット補正を行う。

【００１２】 図２は、本考案のＬＳＩテスタの校正動作を説明するためのフロチャートであ る。 尚、校正は、検査信号変換回路２１を代表して行い、応答信号変換回路２２は 検査信号変換回路２１と、ほぼ同じ校正動作であるために省略する。

【００１３】 リレーＲＬ₁を接点ｂ側に接続する（ステップ(1)）。 任意波形発生器１１により基準電圧Ｖ_1i（ｉ＝１〜ｎ）を検査信号変換回路２ １に印加する（ステップ(2)）。ここで、ｎは検査信号変換回路２１に印加する 基準電圧Ｖ_1iの印加回数を示したもので、一般的には、異なった電圧値の電圧が ｎ数回指定される。 直流電圧測定器１２は、リレーＲＬ₁の接点ｂを介して入力した検査信号変換 回路２１の出力する電圧Ｘ_1iを測定し、その測定結果をＣＰＵに出力する（ステ ップ(3)）。

【００１４】 ＣＰＵは、直流電圧測定器１２の測定結果を記憶すると共に、測定が必要回数 行われたかどうかを判断する。即ち、異なった値の基準電圧がｎ回数与えられた かどうかの判断を行う。 測定回数が初期に設定したｎ回数に満たない場合は、再びステップ(2)に戻り 、測定回数が指定された回数ｎになるまでプロセスを繰り返えす（ステップ（４ ））。

【００１５】 測定回数が指定された回数ｎになると、ＣＰＵは、直流電圧測定器１２が得た 測定結果Ｘ_1iと任意波形発生器１１が印加した基準電圧Ｖ_1iとに基づき、Ｖ_1i■ →Ｘ_1i＊ｋ＋Ｃの演算を行い、ｋ及びＣの値を得る（ステップ(5)）。 続いて、ＣＰＵは、ここで得たｋの値に基づき、任意波形発生器１１にゲイン を校正する校正データを出力する。この場合は１／ｋの校正データが出力される （ステップ(6)）。 さらに、ＣＰＵは、Ｃの値に基づいて、レベルシフト回路２１Ａにオフセット を補正する校正データを出力する。この場合は−Ｃの校正データが出力される（ ステップ(7)）。 このようにして、検査信号変換回路２１の校正が終了すると、リレーＲＬ₁は 、ａ接点に切り換えられ、テスタは測定動作に入る（ステップ(8)）。尚、応答 信号変換回路２２についても測定動作の開始前までには、同様な校正が行われる 。 テスタは、ＤＵＴ３０を測定するための検査信号Ｓ_1*を検査信号変換回路２１ を介してＤＵＴ３０に出力し（ステップ(9)）、ＤＵＴ３０が検査信号Ｓ_1*に基 づいて出力する応答信号Ｓ_2*を測定する（ステップ(10)）。

【考案の効果】

以上詳細に説明したように、本考案のＬＳＩテスタは、ソケットボードに設け られた信号変換回路に、任意波形発生器によって既知の基準電圧を印加し、信号 変換回路の校正をするようにしたもので、ＤＵＴの測定を正確に行えるため、Ｄ ＵＴの良否判定や等級分けの測定マージンを大きくとることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案のＬＳＩテスタの一実施例を示した構成
ブロック図である。

【図２】本考案のＬＳＩテスタの校正動作を説明するた
めのフロチャートである。

【符号の説明】

１２ 直流電圧測定器 ２１ 検査信号変換回路 ２２ 応答信号変換回路 ＲＬ_1,2 リレー

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定対象物の入力側に設けられた分圧
   回路とレベルシフト回路を介して任意波形発生器によっ
   て検査信号を与え、この検査信号に基づいて被測定対象
   物が出力した応答信号を出力側に設けられた分圧回路と
   レベルシフト回路を介して入力し、前記被測定対象物の
   良否を判断するＬＳＩテスタにおいて、 前記入力側に設けられたレベルシフト回路が、前記任意
   波形発生器の印加する基準電圧に基づいて出力する電圧
   を測定する電圧測定器と、 前記基準電圧に基づいて前記レベルシフト回路が出力す
   る電圧を前記電圧測定器に切り換えると共に、前記検査
   信号を前記被測定対象物に切り換える第一のスイッチ手
   段と、 前記出力側に設けられた分圧回路に、前記任意波形発生
   器が印加する基準電圧と前記被測定対象物が出力する応
   答信号とを切り換えて出力する第二のスイッチ手段と、 を設け、前記任意波形発生器が印加する基準電圧に基づ
   いて、入出力側に設けられた分圧回路とレベルシフト回
   路のゲイン及びオフセットを校正するようにしたことを
   特徴としたＬＳＩテスタ。