JP2002296556A - Ｌｃｄアレイテスタの校正方法 - Google Patents
Ｌｃｄアレイテスタの校正方法Info
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- JP2002296556A JP2002296556A JP2001096517A JP2001096517A JP2002296556A JP 2002296556 A JP2002296556 A JP 2002296556A JP 2001096517 A JP2001096517 A JP 2001096517A JP 2001096517 A JP2001096517 A JP 2001096517A JP 2002296556 A JP2002296556 A JP 2002296556A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ゴールデンサンプルを用いることなく、ＬＣ
Ｄアレイテスタの動作の確認及び検査精度のチェックを
再現性良好に行う。 【解決手段】 複数の画素センサチャンネルを備え、各
画素センサチャンネルには入力される電圧をデジタル値
に変換して測定する電圧測定機能と、所定の電圧を生成
して出力するパターン生成機能とを有するＬＣＤアレイ
テスタの校正に際して、被測定対象として予め各種特性
が分かっていて、且つ同一の物が容易に手に入る基準容
量を用い、画素センサチャンネル毎に、前記パターン生
成機能から発生された電圧により前記基準容量を充電し
た後、前記基準容量の保持電圧を前記電圧測定機能で測
定する動作を複数回行うことにより得られた複数の測定
電圧値を用いて、前記画素センサチャンネル間のバラツ
キを補正するための補正値を求める。
Ｄアレイテスタの動作の確認及び検査精度のチェックを
再現性良好に行う。 【解決手段】 複数の画素センサチャンネルを備え、各
画素センサチャンネルには入力される電圧をデジタル値
に変換して測定する電圧測定機能と、所定の電圧を生成
して出力するパターン生成機能とを有するＬＣＤアレイ
テスタの校正に際して、被測定対象として予め各種特性
が分かっていて、且つ同一の物が容易に手に入る基準容
量を用い、画素センサチャンネル毎に、前記パターン生
成機能から発生された電圧により前記基準容量を充電し
た後、前記基準容量の保持電圧を前記電圧測定機能で測
定する動作を複数回行うことにより得られた複数の測定
電圧値を用いて、前記画素センサチャンネル間のバラツ
キを補正するための補正値を求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置（Ｌ
ＣＤ）の性能を検査するＬＣＤアレイテスタの品質管理
に係り、特にＬＣＤアレイテスタの校正方法に関する。
ＣＤ）の性能を検査するＬＣＤアレイテスタの品質管理
に係り、特にＬＣＤアレイテスタの校正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＬＣＤアレイテスタのような検査
装置自体の品質を管理するためには、良品としての動作
の保証された実デバイス（いわゆるゴールデンサンプ
ル）の測定結果を用いて動作の確認、検査精度のチェッ
クを行っていた。
装置自体の品質を管理するためには、良品としての動作
の保証された実デバイス（いわゆるゴールデンサンプ
ル）の測定結果を用いて動作の確認、検査精度のチェッ
クを行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、被検査対象で
あるゴールデンサンプルは経年変化や温度などの環境変
化によりその動作が変化する可能性がある。それ故、こ
の方法では、被検査対象の測定再現性がどの程度あるの
か疑問であり、その特性についても充分把握ができない
ため、その分、ＬＣＤアレイテスタの動作の確認及び検
査精度のチェックの精度が保証されないという問題があ
った。その上、ゴールデンサンプルが破損した場合、同
じ物を作り出すことは非常に困難であるため、以降、別
のゴールデンサンプルを用いてＬＣＤアレイテスタの動
作の確認及び検査精度のチェックを行ったとしても、以
前のゴールデンサンプルを用いた場合とでは特性の連続
性が得られないという問題もあった。
あるゴールデンサンプルは経年変化や温度などの環境変
化によりその動作が変化する可能性がある。それ故、こ
の方法では、被検査対象の測定再現性がどの程度あるの
か疑問であり、その特性についても充分把握ができない
ため、その分、ＬＣＤアレイテスタの動作の確認及び検
査精度のチェックの精度が保証されないという問題があ
った。その上、ゴールデンサンプルが破損した場合、同
じ物を作り出すことは非常に困難であるため、以降、別
のゴールデンサンプルを用いてＬＣＤアレイテスタの動
作の確認及び検査精度のチェックを行ったとしても、以
前のゴールデンサンプルを用いた場合とでは特性の連続
性が得られないという問題もあった。
【０００４】本発明の目的は、ゴールデンサンプルを用
いることなく、ＬＣＤアレイテスタの動作の確認及び検
査精度のチェックを再現性良好に行うことができるＬＣ
Ｄアレイテスタの校正方法を提供することである。
いることなく、ＬＣＤアレイテスタの動作の確認及び検
査精度のチェックを再現性良好に行うことができるＬＣ
Ｄアレイテスタの校正方法を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明の特徴は、複数の画素センサチャン
ネルを備え、各画素センサチャンネルには入力される電
圧をデジタル値に変換して測定する電圧測定機能と、所
定の電圧を生成して出力するパターン生成機能とを備え
たＬＣＤアレイテスタの校正方法において、被測定対象
として基準容量を用い、画素センサチャンネル毎に、前
記パターン生成機能より発生された電圧によって前記基
準容量を充電した後、前記基準容量の保持電圧を前記電
圧測定機能で測定する動作を複数回行うことにより複数
の測定電圧値を得、これら複数の測定電圧値を用いて前
記画素センサチャンネル間のバラツキを補正する補正値
を求めることにある。
に、請求項１の発明の特徴は、複数の画素センサチャン
ネルを備え、各画素センサチャンネルには入力される電
圧をデジタル値に変換して測定する電圧測定機能と、所
定の電圧を生成して出力するパターン生成機能とを備え
たＬＣＤアレイテスタの校正方法において、被測定対象
として基準容量を用い、画素センサチャンネル毎に、前
記パターン生成機能より発生された電圧によって前記基
準容量を充電した後、前記基準容量の保持電圧を前記電
圧測定機能で測定する動作を複数回行うことにより複数
の測定電圧値を得、これら複数の測定電圧値を用いて前
記画素センサチャンネル間のバラツキを補正する補正値
を求めることにある。
【０００６】請求項２の発明の特徴は、前記画素センサ
チャンネル毎に求まった複数の電圧測定値の平均電圧値
を求め、得られた各画素センサチャンネルの平均電圧値
から全画素センサチャンネルの平均電圧値を求め、この
全画素センサチャンネルの平均電圧値と前記各画素セン
サチャンネルの平均電圧値の差分を各画素センサチャン
ネルの補正値とすることにある。
チャンネル毎に求まった複数の電圧測定値の平均電圧値
を求め、得られた各画素センサチャンネルの平均電圧値
から全画素センサチャンネルの平均電圧値を求め、この
全画素センサチャンネルの平均電圧値と前記各画素セン
サチャンネルの平均電圧値の差分を各画素センサチャン
ネルの補正値とすることにある。
【０００７】請求項３の発明の特徴は、前記画素センサ
チャンネル毎に求まった複数の電圧測定値の平均電圧値
を求め、前記基準容量の予め分かっている容量値から一
意的に求められる保持電圧値と前記各画素センサチャン
ネルの平均電圧値の差分を各センサチャンネルの補正値
とすることにある。
チャンネル毎に求まった複数の電圧測定値の平均電圧値
を求め、前記基準容量の予め分かっている容量値から一
意的に求められる保持電圧値と前記各画素センサチャン
ネルの平均電圧値の差分を各センサチャンネルの補正値
とすることにある。
【０００８】複数の画素センサチャンネルを持つＬＣＤ
アレイテスタにおいて、標準とするデバイスを使用し、
１チャンネルずつ校正を行い、装置の品質を管理する。
アレイテスタにおいて、標準とするデバイスを使用し、
１チャンネルずつ校正を行い、装置の品質を管理する。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図１は、本発明のＬＣＤアレイテ
スタの校正方法の一実施形態を説明する説明図である。
４個の画素センサチャンネル（以下ｃｈ１〜４と記載）
を備えたＬＣＤアレイテスタ１に、校正回路２が接続さ
れている。
に基づいて説明する。図１は、本発明のＬＣＤアレイテ
スタの校正方法の一実施形態を説明する説明図である。
４個の画素センサチャンネル（以下ｃｈ１〜４と記載）
を備えたＬＣＤアレイテスタ１に、校正回路２が接続さ
れている。
【００１０】ここで、ＬＣＤアレイテスタ１は複数の画
素センサチャンネル（以下、単にチャンネルと称するこ
ともある）１１−１〜１１−４を有している。そして、
各画素センサチャンネルは、Ａ／Ｄコンバータ１１１、
デジタル電圧測定部１１２、パターン生成部１１３、並
びに、デジタル電圧測定部１１２とパターン生成部１１
３のいずれか一方を入出力端子に接続するスイッチ１１
４を有している（図１では、画素センサチャンネル１１
−１のみ内部を図示している）。
素センサチャンネル（以下、単にチャンネルと称するこ
ともある）１１−１〜１１−４を有している。そして、
各画素センサチャンネルは、Ａ／Ｄコンバータ１１１、
デジタル電圧測定部１１２、パターン生成部１１３、並
びに、デジタル電圧測定部１１２とパターン生成部１１
３のいずれか一方を入出力端子に接続するスイッチ１１
４を有している（図１では、画素センサチャンネル１１
−１のみ内部を図示している）。
【００１１】校正回路２は、画素センサ切替スイッチ２
１、基準容量切替スイッチ２２及び基準デバイスである
基準容量２３を有している。ここで、基準容量２３とし
ては、予め諸特性が分かっており、且つ同一のものが容
易に手に入るものを使用する。
１、基準容量切替スイッチ２２及び基準デバイスである
基準容量２３を有している。ここで、基準容量２３とし
ては、予め諸特性が分かっており、且つ同一のものが容
易に手に入るものを使用する。
【００１２】次に、本実施形態の校正動作について図
２、図３のフローチャートを参照して説明する。まず、
基準容量２３の保持電圧をＬＣＤアレイテスタ１のチャ
ンネルｃｈ１のみでｍ回（３０回以上が望ましい）繰り
返し測定し、このチャンネルの平均値電圧を（１）式に
より求める。
２、図３のフローチャートを参照して説明する。まず、
基準容量２３の保持電圧をＬＣＤアレイテスタ１のチャ
ンネルｃｈ１のみでｍ回（３０回以上が望ましい）繰り
返し測定し、このチャンネルの平均値電圧を（１）式に
より求める。
【００１３】
【数１】 具体的には（図２参照）、まず、スイッチ２１をチャン
ネルｃｈ１へ接続し（ステップ２０１）、次にスイッチ
２２をオンし、スイッチ１１４をパターン生成部１１３
ヘ接続することによりパターン生成部１１３で発生され
た電圧パターンを基準容量２３へ印加して、基準容量２
３を充電する（ステップ２０２）。一定時間スイッチ２
２をオフにする間、スイッチ１１４をＡ／Ｄコンバータ
１１１へ接続し、その後スイッチ２２を再びオンし、基
準容量２３の保持電圧ＶをＡ／Ｄコンバータ１１１に入
力する。デジタル電圧測定部１１２はＡ／Ｄコンバータ
１１１によりデジタル値に変換された保持電圧Ｖを測定
する（ステップ２０３）。この時、読み取った値がＶ１
となる。このような測定をｍ回行う（ステップ２０
４）。ここで、基準容量２３の保持電圧Ｖを測定するこ
とは、この基準容量２３の容量を測定することと等価で
ある。
ネルｃｈ１へ接続し（ステップ２０１）、次にスイッチ
２２をオンし、スイッチ１１４をパターン生成部１１３
ヘ接続することによりパターン生成部１１３で発生され
た電圧パターンを基準容量２３へ印加して、基準容量２
３を充電する（ステップ２０２）。一定時間スイッチ２
２をオフにする間、スイッチ１１４をＡ／Ｄコンバータ
１１１へ接続し、その後スイッチ２２を再びオンし、基
準容量２３の保持電圧ＶをＡ／Ｄコンバータ１１１に入
力する。デジタル電圧測定部１１２はＡ／Ｄコンバータ
１１１によりデジタル値に変換された保持電圧Ｖを測定
する（ステップ２０３）。この時、読み取った値がＶ１
となる。このような測定をｍ回行う（ステップ２０
４）。ここで、基準容量２３の保持電圧Ｖを測定するこ
とは、この基準容量２３の容量を測定することと等価で
ある。
【００１４】同様に、チャンネルｃｈ２〜ｃｈ４につい
ても、上記と同様に基準容量２３の保持電圧をＬＣＤア
レイテスタ１の各チャンネル毎にｍ回繰り返し測定し、
これを全てのチャンネルの測定が終了するまで行う（ス
テップ２０５）。
ても、上記と同様に基準容量２３の保持電圧をＬＣＤア
レイテスタ１の各チャンネル毎にｍ回繰り返し測定し、
これを全てのチャンネルの測定が終了するまで行う（ス
テップ２０５）。
【００１５】その後（図３参照）、各チャンネル毎に得
られたｍ個の測定値から各チャンネルの平均値電圧を
（１）式により求める（ステップ３０１）。但し、この
場合はｎ＝２〜４である。
られたｍ個の測定値から各チャンネルの平均値電圧を
（１）式により求める（ステップ３０１）。但し、この
場合はｎ＝２〜４である。
【００１６】上記のようにして求めた各チャンネル毎の
測定結果を、測定電圧とその出現頻度との関係として図
４（ａ）〜（ｄ）のように纏めることができる。更に、
これら図４に示した各チャンネルの測定結果は図５に示
すようにひとつの図にまとめて表示することができる。
ここで、図５では長方形の縦方向が測定電圧の分布を示
しており、 Ｖが全チャンネルの平均電圧である。
測定結果を、測定電圧とその出現頻度との関係として図
４（ａ）〜（ｄ）のように纏めることができる。更に、
これら図４に示した各チャンネルの測定結果は図５に示
すようにひとつの図にまとめて表示することができる。
ここで、図５では長方形の縦方向が測定電圧の分布を示
しており、 Ｖが全チャンネルの平均電圧である。
【００１７】この全チャンネルの平均値Ｖは式（２）で
求める（ステップ３０２）。
求める（ステップ３０２）。
【００１８】
【数２】 ここで、全チャンネルの平均値 Ｖと各チャンネルの
平均値 Ｖｎの差を式（３）のように求め、このΔｎ
を補正値とする（ステップ３０３）。
平均値 Ｖｎの差を式（３）のように求め、このΔｎ
を補正値とする（ステップ３０３）。
【００１９】 Δｎ＝Ｖ−Ｖｎ 但し、ｎ＝１〜４ …（３） （３）式で求めた補正値を各チャンネルの測定値に加算
することにより、各チャンネルの平均値が揃い、測定値
の片寄りが無＜なる。なお、各チャンネルの測定値は式
（４）のようになる。
することにより、各チャンネルの平均値が揃い、測定値
の片寄りが無＜なる。なお、各チャンネルの測定値は式
（４）のようになる。
【００２０】 Ｖ＝ Ｖｎ−Δｎ 但し、ｎ＝１〜４…（４） 本実施形態によれば、経年変化や使用環境の変化特性が
明確に分かっており、同一の物が容易に手に入るコンデ
ンサを基準容量２３として、ＬＣＤアレイテスタ１の校
正に使用しているため、ＬＣＤアレイテスタ１のチャン
ネル間のバラツキの校正を精度が保証された状態で、且
つ再現性良好に行うことができる。また、基準容量２３
が破壊された場合でも、同一性能の物が容易に手に入る
ため、新しい基準容量２３を用いて校正した場合と以前
の校正との間に特性の連続性を保持することができる。
明確に分かっており、同一の物が容易に手に入るコンデ
ンサを基準容量２３として、ＬＣＤアレイテスタ１の校
正に使用しているため、ＬＣＤアレイテスタ１のチャン
ネル間のバラツキの校正を精度が保証された状態で、且
つ再現性良好に行うことができる。また、基準容量２３
が破壊された場合でも、同一性能の物が容易に手に入る
ため、新しい基準容量２３を用いて校正した場合と以前
の校正との間に特性の連続性を保持することができる。
【００２１】このようにして校正されたＬＣＤアレイテ
スタ１を用いてＬＣＤの画素の容量を測定した場合、各
チャンネル間の測定容量にバラツキがなくなり、例えば
輝度に斑のない高品質のＬＣＤの製造に寄与することが
できる。
スタ１を用いてＬＣＤの画素の容量を測定した場合、各
チャンネル間の測定容量にバラツキがなくなり、例えば
輝度に斑のない高品質のＬＣＤの製造に寄与することが
できる。
【００２２】尚、上記実施形態では、全チャンネルの平
均値 Ｖを各チャンネルの補正値を算出する場合の基
準とした。この場合は各チャンネルの測定する画素容量
は相対値で校正されることになる。しかし、基準容量２
３の予め分かっている容量値から、上記したパターン生
成部１１３により前記基準容量２３を充電した場合に、
この基準容量２３で保持される電圧Ｖ０は一意的に決ま
るため、この保持電圧Ｖ０を補正値算出のための基準と
しても良い。この場合は、各チャンネルの測定する画素
容量は絶対値で校正されることになる。
均値 Ｖを各チャンネルの補正値を算出する場合の基
準とした。この場合は各チャンネルの測定する画素容量
は相対値で校正されることになる。しかし、基準容量２
３の予め分かっている容量値から、上記したパターン生
成部１１３により前記基準容量２３を充電した場合に、
この基準容量２３で保持される電圧Ｖ０は一意的に決ま
るため、この保持電圧Ｖ０を補正値算出のための基準と
しても良い。この場合は、各チャンネルの測定する画素
容量は絶対値で校正されることになる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のＬＣＤア
レイテスタの校正方法によれば、ゴールデンサンプルを
用いることなく、ＬＣＤアレイテスタの動作の確認及び
検査精度のチェックを再現性良好に行うことができる。
レイテスタの校正方法によれば、ゴールデンサンプルを
用いることなく、ＬＣＤアレイテスタの動作の確認及び
検査精度のチェックを再現性良好に行うことができる。
【図１】本発明のＬＣＤアレイテスタの校正方法の一実
施形態を説明する説明図。
施形態を説明する説明図。
【図２】ＬＣＤアレイテスタの校正のための基準容量の
保持電圧の測定処理手順を示したフローチャート。
保持電圧の測定処理手順を示したフローチャート。
【図３】基準容量の保持電圧の測定値から各画素センサ
チャンネルの補正値を求める手順を示したフローチャー
ト。
チャンネルの補正値を求める手順を示したフローチャー
ト。
【図４】測定電圧とその頻度との関係を画素センサチャ
ンネル毎に示した説明図。
ンネル毎に示した説明図。
【図５】測定電圧の分布を画素センサチャンネル毎に示
した説明図。
した説明図。
【符号の説明】 １…ＬＣＤアレイテスタ ２…校正回路 １１−１〜１１−４…画素センサチャンネル ２１…画素センサ切替スイッチ ２２…基準容量切替スイッチ ２３…基準容量 １１１…Ａ／Ｄコンバータ １１２…デジタル電圧測定部 １１３…パターン生成部 １１４…スイッチ
Claims (3)
- 【請求項１】 複数の画素センサチャンネルを備え、各
画素センサチャンネルには入力される電圧をデジタル値
に変換して測定する電圧測定機能と、所定の電圧を生成
して出力するパターン生成機能とを備えたＬＣＤアレイ
テスタの校正方法において、 被測定対象として基準容量を用い、画素センサチャンネ
ル毎に、前記パターン生成機能より発生された電圧によ
って前記基準容量を充電した後、前記基準容量の保持電
圧を前記電圧測定機能で測定する動作を複数回行うこと
により複数の測定電圧値を得、これら複数の測定電圧値
を用いて前記画素センサチャンネル間のバラツキを補正
する補正値を求めることを特徴とするＬＣＤアレイテス
タの校正方法。 - 【請求項２】 前記画素センサチャンネル毎に求まった
複数の電圧測定値の平均電圧値を求め、得られた各画素
センサチャンネルの平均電圧値から全画素センサチャン
ネルの平均電圧値を求め、この全画素センサチャンネル
の平均電圧値と前記各画素センサチャンネルの平均電圧
値の差分を各画素センサチャンネルの補正値とすること
を特徴とする請求項１に記載のＬＣＤアレイテスタの校
正方法。 - 【請求項３】 前記画素センサチャンネル毎に求まった
複数の電圧測定値の平均電圧値を求め、前記基準容量の
予め分かっている容量値から一意的に求められる保持電
圧値と前記各画素センサチャンネルの平均電圧値の差分
を各センサチャンネルの補正値とすることを特徴とする
請求項１に記載のＬＣＤアレイテスタの校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001096517A JP2002296556A (ja) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | Ｌｃｄアレイテスタの校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001096517A JP2002296556A (ja) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | Ｌｃｄアレイテスタの校正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002296556A true JP2002296556A (ja) | 2002-10-09 |
Family
ID=18950423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001096517A Pending JP2002296556A (ja) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | Ｌｃｄアレイテスタの校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002296556A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7050027B1 (en) | 2004-01-16 | 2006-05-23 | Maxim Integrated Products, Inc. | Single wire interface for LCD calibrator |
| WO2018182771A1 (en) * | 2017-03-30 | 2018-10-04 | Axon Enterprise, Inc. | Systems and methods for calibrating a tester for a conducted electrical weapon |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63282669A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-18 | サイモンズ プリシジャン プロダクツ，インコーポレイティド | 電気部品のキャパシタンスと抵抗を測定するための方法及び装置 |
| JPH03200121A (ja) * | 1989-12-13 | 1991-09-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 薄膜トランジスタアレイのアナログ試験方法及び装置 |
| JPH04155267A (ja) * | 1990-10-18 | 1992-05-28 | Kikusui Electron Corp | 入力信号の最大値最小値検出装置 |
| JPH0635414A (ja) * | 1992-07-16 | 1994-02-10 | Nec Corp | アクティブマトリクス型液晶表示装置とその駆動方法 |
-
2001
- 2001-03-29 JP JP2001096517A patent/JP2002296556A/ja active Pending
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