KR20080000876A - 플리커 측정 장치, 액정 표시 장치의 테스트 시스템 및액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법 - Google Patents

플리커 측정 장치, 액정 표시 장치의 테스트 시스템 및액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법 Download PDF

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Abstract

플리커 튜닝을 쉽게 할 수 있는 플리커 측정 장치, 액정 표시 장치의 테스트 시스템 및 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법이 제공된다. 플리커 측정 장치는 피테스트 액정 표시 장치의 다수의 표시 영역에 테스트용 공통 전압을 각각 제공하는 전압 제공부 및 상기 다수의 표시 영역을 스캐닝하여, 상기 각 표시 영역의 플리커 수치를 제공하는 플리커 측정부를 포함한다.
액정 표시 장치, 플리커, 플리커 측정 장치, 플리커 튜닝 방법

Description

플리커 측정 장치, 액정 표시 장치의 테스트 시스템 및 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법{Flicker measuring apparatus, test system of liquid crystal display and flicker tuning method of liquid crystal display}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 시스템을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 플리커 측정 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 4는 액정 표시 장치의 구동 장치를 설명하기 위한 회로도이다.
(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)
10: 액정 표시 장치의 테스트 시스템
100: 피테스트 액정 표시 장치
150: 구동 장치 200: 플리커 측정 장치
230: 전압 제공부 260: 플리커 측정부
262: 스캐닝부 264: 연산부
266: 표시부
본 발명은 플리커 측정 장치, 액정 표시 장치의 테스트 시스템 및 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법에 관한 것이다.
액정 표시 장치는 화소 전극 및 박막 트랜지스터가 형성된 제1 기판과, 공통 전극 및 컬러 필터가 형성된 제2 기판과, 제1 및 제2 기판 사이에 주입된 액정층을 포함한다. 제1 기판의 화소 전극과 제2 기판의 공통 전극 간의 전위차에 따라 액정이 틸트(tilt)되어 영상이 표시된다. 화소 전극에는 데이터 전압이 인가되고, 공통 전극에는 공통 전압이 인가된다. 화소 전극에는 프레임마다 공통 전압을 기준으로 음의 전압과 양의 전압이 반전되는 데이터 전압이 인가된다.
그런데, 킥백(kickback) 현상으로 인해, 공통 전압을 기준으로 음의 전압과 양의 전압의 RMS값이 다르게 되어 플리커(flicker)가 발생한다. 플리커는 액정패널 내의 영역마다 다르게 나타나므로, 액정패널을 여러 영역으로 구분하여 영역마다 플리커를 측정하고, 공통 전압의 전압 레벨을 조절하여 플리커를 튜닝(tuning)해야 한다.
그러나 액정패널 내의 다수의 영역중 하나의 영역에 대해 공통 전압을 조절함으로써 튜닝하는 경우, 공통 전극은 하나의 도전체로 이루어져 있으므로, 다른 영역에 영향을 미쳐 액정 패널 전체적으로 플리커 수치를 낮추도록 튜닝하기에 어려움이 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 쉽게 플리커를 측정할 수 있는 플리커 측정 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 쉽게 플리커를 튜닝할 수 있는 액정 표시 장치의 테스트 시스템을 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제는 쉽게 플리커를 튜닝할 수 있는 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 태양에 따른 플리커 측정 장치는 피테스트 액정 표시 장치의 다수의 표시 영역에 테스트용 공통 전압을 각각 제공하는 전압 제공부 및 상기 다수의 표시 영역을 스캐닝하여, 상기 각 표시 영역의 플리커 수치를 제공하는 플리커 측정부를 포함한다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 태양에 따른 액정 표시 장치의 테스트 시스템은 다수의 표시 영역으로 구분되고, 상기 각 표시 영역은 테스트용 공통 전압과 영상 데이터의 차이에 따라 영상을 표시하는 피테스트 액정 표시 장치 및 상기 다수의 표시 영역에 테스트용 공통 전압을 각각 제공하는 전압 제공부와, 상기 다수의 표시 영역을 스캐닝하여 상기 각 표시 영역의 플리커 수치 를 제공하는 플리커 측정부를 포함하여, 상기 다수의 표시 영역에 제공되는 테스트용 공통 전압을 각각 조절하여 상기 플리커 수치를 최적화하는 플리커 측정 장치를 포함한다.
상기 또 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 태양에 따른 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법은 저항값의 변경을 통해 전압 레벨이 조절되는 공통 전압을 출력하는 구동 장치와, 다수의 표시 영역으로 구분되는 액정 패널로, 상기 각 표시 영역은 공통 전압과 영상 데이터의 차이에 따라 영상을 표시하는 액정 패널을 포함하는 피테스트 액정 표시 장치를 제공하는 단계와, 상기 다수의 표시 영역에 각각 테스트용 공통 전압을 제공하고, 상기 각 표시 영역의 플리커를 측정하는 단계와, 상기 각 표시 영역별로 상기 테스트용 공통 전압을 조절하면서, 상기 각 표시 영역의 플리커 수치를 소정 값 이하로 낮추는 목표 공통 전압을 찾는 단계와, 상기 구동 장치가 상기 목표 공통 전압의 전압 레벨을 출력하도록 상기 구동 장치를 조작하는 단계를 포함한다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 시스템을 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 플리커 측정 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 1을 참조하면, 액정 표시 장치의 테스트 시스템(10)은 피테스트 액정 표시 장치(100)와, 플리커 측정 장치(200)를 포함한다.
피테스트 액정 표시 장치(100)는 다수의 표시 영역(A-H)으로 구분되고, 각 표시 영역(A-H)에 제공된 테스트용 공통 전압과 영상 데이터 전압의 차이에 따라 영상을 표시한다.
플리커 측정 장치(200)는 피테스트 액정 표시 장치(100)와 전기적으로 연결되어, 피테스트 액정 표시 장치(100)에 테스트용 공통 전압을 인가하고, 테스트용 공통 전압과 영상 데이터의 차이에 따라 표시 되는 영상을 감지하여 플리커를 측정한다.
도 2를 참조하여 구체적으로 설명하면, 플리커 측정 장치(200)는 전압 제공부(230)와 플리커 측정부(260)를 포함하고, 플리커 측정부(260)는 스캐닝부(262), 연산부(264) 및 표시부(266)를 포함한다.
전압 제공부(230)는 피테스트 액정 표시 장치(100)에 다수의 표시 영역(A-H)마다 각각 테스트용 공통 전압(TVcom)을 제공한다.
스캐닝부(262)는 각 표시 영역(A-H)을 빠른 시간내에 스캐닝하여 각 표시 영역(A-H)의 휘도(LIGHT)를 감지한다. 여기서 휘도(LIGHT)는 각 표시 영역(A-H)으로부터 발산되는 광량을 통해 감지될 수 있으며, 이때 스캐닝부(262)는 광센서를 포 함할 수 있다. 스캐닝부(262)는 각 표시 영역(A-H)의 휘도(LIGHT)를 감지한 후, 각 휘도(LIGHT)에 대응하는 측정 신호(TS)를 연산부(264)에 제공한다.
연산부(264)는 스캐닝부(262)로부터 측정 신호(TS)를 입력받아, 플리커 수치(FS)를 계산한다. 그리고, 계산된 플리커 수치(FS)를 표시부(266)에 제공한다.
표시부(266)는 연산부(264)로부터 플리커 수치 신호(FS)를 제공받고, 전압 제공부(230)로부터 테스트용 공통 전압(TVcom)의 전압 레벨 신호(VS)를 제공받아, 플리커 수치와 테스트용 공통 전압(TVcom)의 전압 레벨을 각 표시 영역(A-H)별로 표시 한다.
여기서, 전압 제공부(230)는 테스트용 공통 전압(TVcom)의 전압 레벨을 조절할 수 있는데, 표시부(266)을 통해 모든 표시 영역(A-H)의 플리커 수치를 확인하면서 조절할 수 있다. 즉, 모든 표시 영역(A-H)의 플리커 수치가 소정 값 이하가 되도록 테스트용 공통 전압(TVcom)의 전압 레벨을 조절할 수 있다. 이때, 테스트용 공통 전압(TVcom)의 전압 레벨의 조절은 매뉴얼(manual) 방식으로 조절될 수도 있고, 또는 플리커 측정 장치(도 1의 200 참조)가 자동으로 각 표시 영역(A-H)의 플리커 수치를 소정 값 이하로 낮추도록 테스트용 공통 전압을 조절할 수도 있다.
이러한 액정 표시 장치의 테스트 시스템(10)에 의하면, 피테스트 액정 표시 장치(100)의 전 표시 영역(A-H)의 플리커를 거의 동시에 측정할 수 있다. 또한 액정 표시 장치의 테스트 시스템(10)을 통해 액정 표시 장치의 플리커 튜닝을 쉽게 할 수 있는데, 이하에서 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법을 도 3 및 도 4를 참조하여 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법을 설명하기 위한 순서도이고 도 4는 액정 표시 장치의 구동 장치를 설명하기 위한 회로도이다. 이하에서는 액정 패널이 도 1에 도시된 바와 같이 8개의 표시 영역(A-H)으로 구분된 경우를 예로 들어 설명한다.
도 3을 참조하여 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법을 설명하면, 먼저, 구동 장치와 다수의 표시 영역(도 1의 A-H 참조)으로 구분되는 액정 패널을 포함하는 피테스트 액정 표시 장치(도 1의 100 참조)를 제공한다(S310).
여기서 피테스트 액정 표시 장치(도 1의 100 참조)는 저항값의 변경을 통해 전압 레벨이 조절되는 다수의 공통 전압을 출력하는 구동 장치와, 다수의 표시 영역(도 1의 A-H 참조)으로 구분되는 액정 패널로, 각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)은 공통 전압과 영상 데이터의 차이에 따라 영상을 표시 하는 액정 패널을 포함한다.
도 4를 참조하여 구동 장치(150)를 구체적으로 설명하면, 구동 장치(150)는 외부로부터 인가되는 기준 공통 전압(Vcoms)을 제1 내지 제8 전압 디바이더(D1-D8)를 이용하여 제1 내지 제8 원시 전압(Vn1-Vn8)을 생성한다. 제1 내지 제8 증폭부(OP1-OP8)는 제1 내지 제8 원시 전압(Vn1-Vn8)을 각각 증폭하여 제1 내지 제8 공통 전압(Vcom1- Vcom8)을 생성한다. 여기서 제1 내지 제8 증폭부(OP1-OP8)는 오피 앰프(op-amp)를 포함할 수 있다.
제1 내지 제8 공통 전압(Vcom1- Vcom8)은, 구동 장치(150)와 액정 패널을 전기적으로 연결하는 커넥터(미도시)를 통해 도 1에 도시된 피테스트 액정 표시 장치(100)의 8개의 표시 영역(A-H)에 각각 인가된다. 다만, 이 단계에서 구동 장 치(150)는 피테스트 액정 표시 장치(100)에 제1 내지 제8 공통 전압(Vcom1- Vcom8)을 제공하지 않는다.
이어서, 제1 내지 제8 표시 영역(도 1의 A-H 참조)에 각각 테스트용 공통 전압을 제공하여 각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)의 플리커를 측정한다(S320).
구체적으로 설명하면, 전압 제공부(도 1의 230 참조)는 8개의 테스트용 공통 전압을 구동 장치(150)의 8개의 출력 단자(TP1-TP8)에 각각 제공한다. 8개의 테스트용 공통 전압은 커넥터(미도시)를 통해 8개의 표시 영역(도 1의 A-H 참조)에 각각 제공된다.
각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)은 테스트용 공통 전압과 영상 데이터의 차이에 따라 영상을 표시하게 되고, 플리커 장치의 플리커 측정부(260)가 각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)의 플리커를 측정한다. 여기서, 표시부(도 1의 266 참조)는 각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)별로 플리커 수치와 테스트용 공통 전압의 전압 레벨을 표시한다.
그 후, 각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)별로 8개의 테스트용 공통 전압의 전압 레벨를 조절하면서, 각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)의 플리커 수치가 소정 값 이하로 낮추는 목표 공통 전압을 찾는다(S330).
여기서 목표 공통 전압은 각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)별로 플리커 수치를 소정 값 이하로 만드는 테스트용 공통 전압의 전압 레벨을 의미한다. 따라서 전압 제공부(도 1의 230 참조)를 조절하면서 8개의 목표 공통 전압을 찾는다.
이때, 8개의 표시 영역(도 1의 A-H 참조)중, 하나의 표시 영역(도 1의 A-H 참조)의 테스트용 공통 전압을 조절하면, 다른 표시 영역(도 1의 A-H 참조)에 영향을 주어 플리커 수치가 변동된다. 그러나 표시부(도 1의 266 참조)를 통해 모든 표시 영역(도 1의 A-H 참조)의 변동되는 플리커 수치를 확인할 수 있으므로, 모든 표시 영역(도 1의 A-H 참조)의 플리커 수치를 확인하면서 각 테스트용 공통 전압을 조절하여 각 표시 영역(도 1의 A-H 참조)의 플리커 수치가 소정 값 이하로 낮추는 8개의 목표 공통 전압을 쉽게 찾을 수 있다.
다음으로, 외부에서 기준 공통 전압(Vcoms)을 구동 장치(150)에 제공한 후, 목표 공통 전압을 출력하도록 구동 장치(150)를 조작한다(S340).
예를 들어, 전압 디바이더(D1-D8)의 저항 비를 조절하여 각 출력 노드에서 목표 공통 전압이 출력되도록 할 수 있다. 여기서 저항 비는 각 전압 디바이더(D1-D8)의 제1 저항(R1-R8)의 저항값을 변경하여 조절될 수 있다. 또는 각 증폭부(OP1-OP8)의 전압 이득을 변경하여 각 출력 단자(TP1-TP8)에서 목표 공통 전압이 출력되도록 할 수 있다.
다수의 표시 영역(도 1의 A-H 참조)중, 하나의 표시 영역(도 1의 A-H 참조)마다 플리커 튜닝을 하면, 다른 표시 영역(도 1의 A-H 참조)에 영향을 주어 플리커 수치가 변동되지만, 이러한 액정 표시 장치의 튜닝 방법에 의하면, 모든 표시 영역(도 1의 A-H 참조)에 대해 플리커 수치를 최적화하는 목표 공통 전압을 찾고, 목표 공통 전압을 출력하도록 구동 장치를 조작하므로, 플리커 튜닝이 쉽게 된다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
상술한 바와 같은 본 발명에 실시예들에 따른 플리커 측정 장치, 액정 표시 장치의 테스트 시스템 및 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법에 의하면, 쉽게 플리커 튜닝이 가능하다.

Claims (11)

  1. 피테스트 액정 표시 장치의 다수의 표시 영역에 테스트용 공통 전압을 각각 제공하는 전압 제공부; 및
    상기 다수의 표시 영역을 스캐닝하여, 상기 각 표시 영역의 플리커 수치를 제공하는 플리커 측정부를 포함하는 플리커 측정 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 플리커 측정부는 상기 다수의 표시 영역을 스캐닝하여 상기 각 표시 영역의 휘도를 감지하고 상기 휘도에 대응하는 측정 신호를 출력하는 스캐닝부와, 상기 측정 신호를 입력받아 상기 각 표시 영역에 대한 플리커 수치를 계산하는 연산부와, 상기 각 표시 영역별로 상기 플리커 수치를 표시하는 표시부를 포함하는 플리커 측정 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 표시부는 상기 각 표시 영역별로 상기 테스트용 공통 전압의 전압 레벨을 더 표시하는 플리커 측정 장치.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 스캐닝부는 광센서를 포함하는 플리커 측정 장치.
  5. 다수의 표시 영역으로 구분되고, 상기 각 표시 영역은 테스트용 공통 전압과 영상 데이터의 차이에 따라 영상을 표시하는 피테스트 액정 표시 장치; 및
    상기 다수의 표시 영역에 테스트용 공통 전압을 각각 제공하는 전압 제공부와, 상기 다수의 표시 영역을 스캐닝하여 상기 각 표시 영역의 플리커 수치를 제공하는 플리커 측정부를 포함하여, 상기 다수의 표시 영역에 제공되는 테스트용 공통 전압을 각각 조절하여 상기 플리커 수치를 최적화하는 플리커 측정 장치를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 테스트용 공통 전압의 조절은 매뉴얼(manual) 방식으로 조절되는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  7. 제 5항에 있어서,
    상기 플리커 측정부는 상기 다수의 표시 영역을 스캐닝하여 상기 각 표시 영역의 휘도를 감지하고 상기 휘도에 대응하는 측정 신호를 출력하는 스캐닝부와, 상기 측정 신호를 입력받아 상기 각 표시 영역에 대한 플리커 수치를 계산하는 연산부와, 상기 각 표시 영역별로 상기 플리커 수치를 표시하는 표시부를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 표시부는 상기 각 표시 영역별로 상기 테스트용 공통 전압의 전압 레벨을 더 표시하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  9. 제 7항에 있어서,
    상기 스캐닝부는 광센서를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  10. 저항값의 변경을 통해 전압 레벨이 조절되는 다수의 공통 전압을 출력하는 구동 장치와, 다수의 표시 영역으로 구분되는 액정 패널로, 상기 각 표시 영역은 공통 전압과 영상 데이터의 차이에 따라 영상을 표시하는 액정 패널을 포함하는 피테스트 액정 표시 장치를 제공하는 단계;
    상기 다수의 표시 영역에 각각 테스트용 공통 전압을 제공하고, 상기 각 표시 영역의 플리커를 측정하는 단계;
    상기 각 표시 영역별로 상기 테스트용 공통 전압을 조절하면서, 상기 각 표시 영역의 플리커 수치를 소정 값 이하로 낮추는 목표 공통 전압을 찾는 단계; 및
    상기 목표 공통 전압을 출력하도록 상기 구동 장치를 조작하는 단계를 포함하는 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 구동 장치를 조작하는 단계는 상기 목표 공통 전압을 출력하도록 상기 저항값을 조절하는 액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법.
KR1020060058726A 2006-06-28 2006-06-28 플리커 측정 장치, 액정 표시 장치의 테스트 시스템 및액정 표시 장치의 플리커 튜닝 방법 KR20080000876A (ko)

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CN107894670A (zh) * 2017-12-20 2018-04-10 无锡特恒科技有限公司 闪烁值自动检查机构

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