JPH055065B2 - - Google Patents

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JPH055065B2
JPH055065B2 JP59179026A JP17902684A JPH055065B2 JP H055065 B2 JPH055065 B2 JP H055065B2 JP 59179026 A JP59179026 A JP 59179026A JP 17902684 A JP17902684 A JP 17902684A JP H055065 B2 JPH055065 B2 JP H055065B2
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JP
Japan
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circuit
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JP59179026A
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Satoru Yoshimoto
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PFU Ltd
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PFU Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、論理回路基板あるいはLSI等をテス
トするための回路試験装置において、ジヤンプ命
令を用いて多様なテストパターンを生成するとと
もに、高速にテストパターンを発生することので
きる高速パターン発生回路に関する。
〔従来の技術〕
従来のパターン発生回路には、ジヤンプ命令を
用いてパターン配列を変更可能にし多様なパター
ンを発生できるようにしたものと、複数のメモリ
にそれぞれ異なるテストパターン群をインタリー
ブ方式で格納しておき、出力時に各メモリから交
互に選択読み出しして高速にパターンを発生でき
るようにしたものとがある。しかし、一般に前者
は低速動作となり、後者は発生できるパターンが
固定されているのが普通である。次に、具体的よ
り詳しく説明する。
第2図は、ジヤンプ命令を用いる方式の従来の
パターン発生回路の一例である。図中、21はプ
ログラムカウンタ、22はパターン記憶部、23
は制御回路、24はバツフアである。パターン記
憶部22の内部は、パターンデータ部22aと、
アドレスデータ部22bおよびコマンド部22c
からなるコントロールデータ部に分かれている。
コントロールデータおよびパターンデータの一
例を第3図に示す。
プログラムカウンタ21からアドレスが出力さ
れ、パターン記憶部22がアクセスされる。パタ
ーン記憶部22は、アドレスに従つてデータを出
力する。パターンデータ部22aの出力データ
は、図示されていないフオーマツタおよびコンパ
レータに供給するためのバツフア24に入力され
る。また同時にコマンド部22cの出力データす
なわちコマンドは、制御回路23に送られる。
制御回路23は、コマンド部22cから送られ
たコマンドを解読し、それがジヤンプ命令であつ
たならば、アドレスデータ部22bからプログラ
ムカウンタ21に送られたアドレスデータを有効
とし、プログラムカウンタ21の次の発生アドレ
スとすることによつてパターンの分岐を可能にす
る。
次に、第3図に示すデータを用いて動作例のシ
ーケンスを第4図に示す。プログラムカウンタ2
1がアドレス“0”を出力すると、パターン記憶
部22からは、NOP(ノー・オペレーシヨン)命
令とパターンデータが出力される。制御回路23
はNOP命令を受けとるが、ジヤンプ命令ではな
いためプログラムカウンタ21に対しては何ら影
響を与えない。
従つて、プログラムカウンタ21はインクリメ
ントしたアドレス“1”を出力する。アドレス
“1”の示すパターン記憶部22の内容もNOP命
令であるため、同様の動作が行われる。
プログラムカウンタ21がアドレス“2”を出
力した時、パターン記憶部22からはJMP(ジヤ
ンプ)命令が出力される。この時、制御回路23
は、ジヤンプ命令であることを認識し、アドレス
データ部22bの出力データを有効とし、プログ
ラムカウンタ21の次のアドレス出力とする。
従つて、プログラムカウンタ21はアドレス
“2”の次にアドレス“9”を発生し、パターン
データの出力シーケンスを変化させる。
このパターン発生方法は、少ない記憶容量で多
様なパターン配列を生成することができる特長が
あるが、プログラムカウンタ21からのアドレス
出力サイクルによつてパターン発生速度が限定さ
れるために、高速パターンデータを発生すること
ができない。
このような欠点に鑑みて、第5図に示すような
高速パターン発生回路が提供されている。
第5図において、51はプログラムカウンタ、
52および53はパターン記憶部、54および5
5はAND回路、56はOR回路、57はバツフ
ア、58は遅延回路、59はインバータ回路を示
す。
また第6図は、第5図の回路に適用されるパタ
ーンデータの一例であり、61はフロツピイ等に
格納されている状態でのパターンデータ(0)、
(1)、(2)、……を示し、62および63はそれぞれ
パダーンデータ61の配列を偶数アドレスと奇数
アドレスに交互に分配して作成されたパターンデ
ータを示す。
これらのパターンデータ62,63がそれぞれ
第5図のパターン記憶部52,53に格納され
る。プログラムガウンタ51からは、パターン記
憶部52,53に同時並行して入力されるアドレ
スが発生される。パターン記憶部52,53の出
力を時分割的に選択するためにAND回路54,
55、OR回路56、インバータ回路59からな
るマルチプレクサ機構が使用される。すなわちプ
ログラムカウンタ51からのアドレス出力の
LSB(最下位ビツト)がタイミングをとるための
遅延回路58を通じて、AND回路54とインバ
ータ回路59に送られる。インバータ回路59の
出力はAND回路55に送られる。これにより、
AND回路54および55は、プログラムカウン
タ51からアドレスが出力されるたびにタイミン
グをずらして順次ゲートオンとなり、パターン記
憶部52,53の出力を交互に選択する。
このパターン発生回路のシーケンスを第7図に
示す。プログラムカウンタ51からのアドレス出
力のうちLSBは遅延回路58の出力となり、
パターン記憶部52,53の出力データ、を
時分割に選択し、フオーマツタおよびコンパレー
タにパターンデータを供給するためのバツフア5
7への入力を発生する。このパターン発生回路
においては、に示すアドレスアクセスタイムの
2倍の速度でパターンを発生することができる。
しかし、パターンデータの連続的な発生しか行
えず、ジヤンプ命令を含む多様なパターンの発生
はできず柔軟性がない。例えば第7図において、
のパターンデータ(0)を読み出した後、アド
レス“6”のデータを次に発生しようとしても、
のデータ(0)の次のデータ(1)の位置でデータ
(6)を発生することはできない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のパターン発生回路は発生パターンの多様
性と高速性を併せもつことができなかつた。しか
し最近、論理回路基板あるいはLSIなどのテスト
対象は、大規模化、複雑化する一方であり、テス
トに長時間を要しているのが現状である。そのた
め、より多様なパターンを高速で発生することが
できるパターン発生回路の開発が急務となつてい
る。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記問題点を解決するために、パタ
ーン記憶部をアクセスする際に、現在のアドレス
情報と次サイクルのアドレス情報を同時に発生す
ることが可能なアドレス記憶部を設けることによ
つて、ジヤンプ命令を含むパターン高速に発生す
ることを可能にするものである。整列されたパタ
ーン配列と、このパターン配列をアクセスする順
序が任意のアドレス配列の2段階メモリ構成と
し、アドレス配列にはジヤンプ命令を許容するこ
とにより任意に配列順序をとることを可能にする
とともに、アドレス配列を多重化して現アドレス
と複数の後続アドレスが同時に読み出されるよう
にするものである。これにより、パターン発生の
多重化と、プログラムカウンタの先回り制御が可
能になり、パターン発生の多様化と高速化とが実
現できる。
実施例 第1図に本発明の1実施例回路の構成を示す。
図においては、1はプログラムカウンタ、2は
アドレス記憶部、2aは昇順のベースアドレス
部、2bはベースアドレスの次に実行される第2
アドレス部、2cはさらに次に実行される第3ア
ドレス部、3および4はパターン記憶部、5およ
び6はAND回路、7はインバータ回路、8はOR
回路、9はバツフア、10は書込み制御部、11
はパターンデータフアイルである。
また第8図は、第1図の実施例回路に使用され
る各種データ具体例を示したもので、81はパタ
ーンデータフアイル11内のパターンデータ、8
1aはコントロールデータ部、81bはパターン
データ部、82はアドレス記憶部2内のアドレス
データ、82aはベースアドレス、82bは第2
アドレス、82cは第3アドレス、83および8
4はそれぞれパターン記憶部3および4内のパタ
ーン配列である。書込み制御部10がアドレス記
憶部2及びパターン記憶部3,4に対して、アド
レス情報およびパターンデータの書込みを行う。
書込み制御部10は、内部のパターンデータフ
アイル11に記憶しているパターンデータ81の
コントロールデータ部81aに従つて、アドレス
記憶部2にアドレス情報を書込む。書込み制御部
10は、アドレス“0”からパターンデータ81
の深さ分のアドレスを発生する。
書込み制御部10は、ベース・アドレス“0”
のとき、アドレス記憶部2のベースアドレス部2
aに対してアドレスデータ“0”を書込む。同時
にパターンデータ81のアドレス“0”から、コ
ントロールデータが出力され、コマンドNOPが
認識され、次に出力されるアドレスが“1”であ
ると判断する。従つて書込み制御部10は、アド
レスデータ“1”をアドレス記憶部2の第2アド
レス部2bに書込むと同時に、パターンデータ8
1のアドレス“1”からコントロールデータを読
み出す。そしてそのコマンド部のNOP命令で、
次のアドレスが“2”であるものと認識する。
書込み制御部10はアドレス記憶部2の第3ア
ドレス部2cにアドレスデータ“2”を書込む。
次に書込み制御部10は、ベースアドレスをイン
クリメントし、アドレス“1”とし、前述した動
作を繰り返す。このようにして、アドレス記憶部
2には、アドレス情報が多重に書込まれる。さら
に書込み制御部10は、ベースアドレスと同じア
ドレス情報をアドレス記憶部2のベースアドレス
部2aに書込むと同時に、パターンデータフアイ
ル11から読み出されたパターンデータをパター
ン記憶部3,4に書込む。その書込まれた状態が
第8図のパターン配列83,84に示されてい
る。
第8図において、パターン配列83,84の内
容は同じで、しかも、パターンデータ81のパタ
ーンデータ部81bの配列と同じである。他方、
アドレスデータ82においては、ベースアドレス
部82aが、パターンデータ81のコントロール
データ部81aの命令アドレスに対応し、第2ア
ドレス82bおよび第3アドレス82cが、それ
ぞれ82aのベースアドレスの命令に続いて実行
される命令とさらにその次の命令の各アドレスを
表している。
第3アドレス82cは、プログラムカウンタ1
を更新する値として使用され、またアドレスデー
タ82はプログラムカウンタ1の出力アドレスに
よつてアクセスされるから、アドレスデータ82
のアクセス順序は、第3アドレス82cによつて
決定されることになる。
もしもパターンデータ81のコントロールデー
タ部81aにジヤンプ命令JMPが含まれていな
ければ、アドレスデータ82のアクセス出力は、
(012)、(234)、(456)、……となる。しかし、ジ
ヤンプ命令JMPを含む図示の例では、(012)、
(283)、(345)、……となる。
ここで、読み出されたベースアドレス82aは
パターン配列83をアクセスするアドレスとな
り、同様に第2アドレス82bはパターン配列8
4をアクセスするアドレスとなるから、パターン
配列83,84から並行して読み出されるパター
ンは、図示の例では、 (0)、(1) (2) 、(8) (3) 、(4) … … となる。これをAND回路5,6、インバータ回
路7、OR回路8、からなるマルチプレクサ機構
を通すことにより、交互に選択して一本化し、 (0)、(1)、(2)、(8)、(3)、(4)、…のパターンデ
ータ出力を得ることができる。
以上のように、アドレス記憶部2及びパターン
記憶部3,4に書込みを行うことによつて、高速
にしかも、ジヤンプ命令を含むテストパターンを
発生することが可能である。
次に第9図に従つて、本実施例のパターン発生
動作シーケンスを説明する。プログラムカウンタ
1からアドレスが出力される。アドレスはア
ドレス記憶部2に入力され、アドレス出力、
、を得る。アドレスはパターン記憶部3
に、アドレスはパターン記憶部4に入力され、
それぞれパターンデータが出力される。アドレス
はプログラムカウンタ1に入力され、次のアド
レスとなる。パターン記憶部3,4からの出力
、は、時分割信号によつて選択され、パタ
ーンデータが得られる。
従つてパターンデータの発生サイクルはパター
ンデータアクセスサイクルの2倍の速度で、しか
もジヤンプ命令を含むことが可能となり、パター
ン作成に大きな自由度を与えるものである。
なお、アドレス記憶部2およびパターン記憶部
3,4をさらに多重化すれば、一層高速化が可能
である。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によればジヤンプ命令を
利用してパターン配列を多様化する機能をそなえ
ながら同時にパターン記憶部を多重化してパター
ン発生周期を短縮させたことにより、高速に大量
のパターンを連続発生させることが可能となり、
大規模論理回路、LSI等の試験の能率を著しく改
善することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例の回路図、第2図は
従来例の回路図、第3図は第2図の従来例回路の
データの1例を示す説明図、第4図はその動作シ
ーケンス図、第5図は他の従来例の回路図、第6
図はそのデータの1例を示す説明図、第7図はそ
の動作シーケンス図、第8図は第1図に示した実
施例回路に使用されるデータの1例を示す説明
図、第9図は本実施例回路の動作シーケンス図で
ある。 図中、1はプログラムカウンタ、2はアドレス
記憶部、3および4はパターン記憶部、5および
6はAND回路、7はインバータ回路、8はOR回
路、9はバツフア、10は書込み制御部、11は
パターンデータフアイルを示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 同一のパターンデータを格納した複数のパタ
    ーン記憶部と、該複数のパターン記憶部を順次ア
    クセスするためのアドレスと自アドレス記憶部の
    次のアクセス位置を指定するアドレスの配列を格
    納したアドレス記憶部と、該アドレス記憶部をア
    クセスするためのアドレスを発生するプログラム
    カウンタと、上記複数のパターン記憶部から出力
    されたパターンデータを時分割的に多重化するス
    イツチ回路とをそなえ、上記アドレス記憶部は、
    プログラムカウンタから出力されたアドレスによ
    りアクセスされたとき、上記複数のパターン記憶
    部をそれぞれアクセスするための複数のアドレス
    と自アドレス記憶部の次のアクセス位置を指定す
    るアドレスとを同時に出力し、該出力された自ア
    ドレス記憶部の次のアクセス位置を指定するアド
    レスを上記プログラムカウンタに設定することに
    より、該アドレス記憶部より複数のパターン記憶
    部をアクセスするためのアドレスを連続的に発生
    させ、該複数のパターン記憶部をアクセスして一
    連のパターンデータを上記スイツチ回路より発生
    させることを特徴とする高速パターン発生回路。
JP59179026A 1984-08-28 1984-08-28 高速パタ−ン発生回路 Granted JPS6156984A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59179026A JPS6156984A (ja) 1984-08-28 1984-08-28 高速パタ−ン発生回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59179026A JPS6156984A (ja) 1984-08-28 1984-08-28 高速パタ−ン発生回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6156984A JPS6156984A (ja) 1986-03-22
JPH055065B2 true JPH055065B2 (ja) 1993-01-21

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ID=16058812

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JP59179026A Granted JPS6156984A (ja) 1984-08-28 1984-08-28 高速パタ−ン発生回路

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JP (1) JPS6156984A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100374328B1 (ko) 2000-06-03 2003-03-03 박현숙 칩 설계 검증 및 테스트 장치 및 방법

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JPS6156984A (ja) 1986-03-22

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