JPH054689B2 - - Google Patents

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JPH054689B2
JPH054689B2 JP62321173A JP32117387A JPH054689B2 JP H054689 B2 JPH054689 B2 JP H054689B2 JP 62321173 A JP62321173 A JP 62321173A JP 32117387 A JP32117387 A JP 32117387A JP H054689 B2 JPH054689 B2 JP H054689B2
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Ebansu Batoson Buraian
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Tektronix Inc
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/033Pointing devices displaced or positioned by the user, e.g. mice, trackballs, pens or joysticks; Accessories therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • G01R13/28Circuits for simultaneous or sequential presentation of more than one variable
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • G01R13/34Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/347Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies using electro-optic elements

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はタツチスクリーン制御機器、特にタツ
チスクリーンからの入力データがコンピユータに
取り込まれたことをオペレータに確認表示するタ
ツチスクリーン制御機器の制御確認表示方法に関
する。 [従来技術] 光学式タツチスクリーンは一般に1組の光検出
器と1組の発光ダイオード(LED)を有し各
LEDと光検出器は1対1に対応している。光検
出器及びLEDは端末スクリーンの周囲に各LED
とそれに対応する光検出器が夫々対辺上に相互に
向かいあうように固定されており、各LEDから
発射された光はスクリーン上を通過して対応する
光検出器に送られる。LEDから発射された光線
のあるものはスクリーン上を垂直方向に通過し、
他の光線は水平方向に通過するようにLEDと光
検出器はスクリーンの周囲に配置されている。こ
のような垂直方向及び水平方向の光線群によりス
クリーンの前面に長方形の光線格子が形成され
る。互いに平行な光線は十分接近しているので、
オペレータ(操作者)が指でスクリーンに触れる
と普通は指が少なくとも1本の垂直光線と少なく
とも1本の水平光線を遮り、対応する光検出器に
入射する光線を遮断する。各光検出器は、光線を
検出するか否かに応じて高論理状態或いは低論理
状態の出力信号を発生し、指が少なくとも1本ず
つの垂直方向及び水平方向の光線を遮断していれ
ば、光検出器の出力信号の状態からスクリーン上
の指の位置が確定出来る。一般に、垂直及び水平
方向の光線が遮断されると、コンピユータはそれ
らの光線の交点を含む長方形の領域である特定の
接触区域内の点にオペレータが接触したと判断す
るようにプログラムされている。 このように、特定の接触区域への接触に応答す
るコンピユータは、押ボタンを押した場合の応答
と同様の動作をタツチスクリーンへの接触によつ
て制御し得る。従つて、タツチスクリーンは、ス
クリーン上にメニユー(選択項目)等を表示する
オシロスコープの如きコンピユータ制御機器に広
く使用されている。このような機器では、オペレ
ータは選択項目に対応する押ボタン等を押したり
する事なく、スクリーン上に表示されたメニユー
に触れるだけで所望の動作を選択出来るので、タ
ツチスクリーンは押ボタンの必要性を解消或いは
低減することが出来るだけではなく、メニユーを
直接的且つ直観的に選択出来るので、オペレータ
が動作の選択を間違える確立を低減することも出
来る。 [発明が解決しようとする問題点] このように、タツチスクリーンの入力装置には
多くの利点が有るが、その反面、キーボードや押
ボタンの入力装置にはない欠点も有する。即ち、
各押ボタンは視覚的に他のものと区別出来るの
で、オペレータは自分が押したボタンを確認する
ことが出来、他の押ボタンではなくオペレータが
押した特定のボタンに応じてコンピユータが動作
することを当然のこととして納得出来る。しか
し、タツチスクリーンの場合一般にオペレータは
スクリーン前面の光線が見えないので、接触区域
を視覚的に確認出来ない。従つて、特に光線の間
隔が接近している場合には、コンピユータが特定
の接触区域の接触を検出したのか、或いは隣の接
触区域の接触を検出したのかオペレータは判別出
来ないことがある。更に、オペレータの指はある
程度震えているので、指が光線を間欠的に遮断す
ることにより、コンピユータは1つ以上の接触区
域が繰り返し触れられたかのように誤解するかも
知れないが、そのようなコンピユータの誤解が生
じたことをオペレータは知ることが出来なかつ
た。 そこで、タツチスクリーンの動作をコンピユー
タがどのように確認したのかをオペレータが確認
出来るように表示する方法及び装置が必要とな
る。 従つて、本発明の目的は、タツチスクリーンか
らの入力に応じて動作するコンピユータが、タツ
チスクリーンのどの部分が触れられたと認識した
か、及びオペレータが接触をやめてからどのよう
な応答動作をするかをオペレータに知らせること
の出来る新規な方法を提供することである。 [問題点を解決するための手段及び作用] コンピユータがスクリーン上に表示した選択項
目や図形等(以下これらを総称してメニユーと記
す)及び波形をオペレータが選択するのに用いる
タツチスクリーン装置は、1組の光検出器とそれ
に対応する1組のLEDを有し、これら光検出器
及びLEDにより、スクリーン上の水平方向及び
垂直方向に通過する光線群が形成される。これら
水平方向及び垂直方向の光線群は夫々規則的な間
隔で配列され、スクリーン前面に長方形の光線格
子が形成される。オペレータがスクリーンに触れ
ると、指がLEDからの水平方向及び垂直方向の
光線を遮断し、それに対応する光検出器への光線
の入射を阻止する。各光検出器は光線を検出した
かどうかに応じて、高論理状態或いは低論理状態
の信号を発生し、走査回路が繰り返し各光検出器
の状態を走査し、どの光線が遮断されたかを示す
データをコンピユータに送る。このデータからコ
ンピユータは、水平方向及び垂直方向の光線の交
点を囲む長方形の特定の接触区域内の点をオペレ
ータがいつ触れたか、及び接触をいつ止めたかを
判断する。オペレータが接触した接触区域がスク
リーン上に表示されたメニユーの一部に含まれて
いれば、オペレータがそのメニユーを選択したと
コンピユータは判断し、それに応じた動作を実行
する。この応答動作には、その特定のメニユーが
選択されたことを示す為にそのメニユーを強調表
示したり、或いはスクリーンから抹消したりする
ことが含まれる。 本発明によれば、スクリーンに表示されている
メニユーの中の1つのメニユーの一部を含む接触
区域にオペレータが触れると、コンピユータはそ
の触れられたメニユーをスクリーン上で識別出来
るような表示を行う。本発明の好適実施例では、
選択されたメニユーを明るい実線で囲んでいる。
この表示により、オペレータが特定のメニユーに
触れ他の接触区域に触れずに指を離すと、コンピ
ユータがその特定のメニユーを選択することをオ
ペレータに知らせる。 また、本発明によれば、スクリーン上のメニユ
ー表示領域以外の領域、即ち波形表示領域内にあ
る接触区域が接触されたとコンピユータが判断し
た場合、コンピユータは接触された接触区域をス
クリーン上に表示する。本発明の好適実施例で
は、この接触区域も明るい実線で囲まれる。これ
によりオペレータが特定の接触区域に触れたとコ
ンピユータは判断し、オペレータが指を離すとそ
の特定の接触区域内の波形が選択されることをオ
ペレータに知らせる。 更に、本発明によれば、オペレータが触れた接
触区域がメニユー表示領域内であつても、その接
触区域の中にスクリーン上に表示されたどのメニ
ユーの一部も存在しないとコンピユータが判断す
ると、その接触された接触区域をスクリーン上に
表示する。本発明の好適実施例では、この接触区
域は明るい破線で囲まれる。これによりコンピユ
ータは、特定の接触区域がタツチされたことを判
断したが、オペレータが指を離してもメニユーは
何も選択されないことをオペレータに知らせる。 [実施例] 本発明は、コンピユータ制御型デジタル・オシ
ロスコープのように、スクリーン上の表示を制御
するコンピユータがタツチスクリーンからの入力
に応じてオペレータに確認表示をするシステムに
関する。第1図はコンピユータ制御のデジタル・
オシロスコープ10の前面を示しており、本体シ
ヤーシ12、該本体シヤーシに固定されたフロン
トパネル14、制御つまみ16、スクリーン1
7、フロントパネル上の押ボタン18、及び3個
のプラグイン20,22,24を含んでいる。各
プラグインはフロントパネル14上の対応するス
ロツトを介して本体シヤーシ12に挿入される小
型の抜き取り可能なシヤーシを有し、オシロスコ
ープ10のハードウエアのサブシステムを構成し
ている。これらプラグインのハードウエア・サブ
システムは本体シヤーシ12の後方の結線部を介
して垂直チヤンネル増幅器、トリガ回路及び他の
回路などと相互接続している。各プラグインは固
有のフロントパネルを有し、各フロントパネル上
には押ボタン、制御つまみ、入力ジヤツク等を追
加することができる。 スクリーン17はオシロスコープの出力した波
形、メニユー、データ及び他の図形や文字等を表
示する。「つまみ」のメニユーは常にスクリーン
17の領域21に表示されており、つまみ16の
機能を表示し、且つ制御するのに用いられる。
「座標軸」のメニユーは常に領域25に表示され、
波形表示領域27に表示された波形の水平方向及
び垂直方向の座標目盛の表示と制御に用いられ
る。「ポツプアツプ」メニユーはオシロスコープ
の種々の動作を調整するのに用いられ、波形表示
領域27の波形に一時的に重ねて表示される。
「メツセージ」メニユーはオペレータへのメツセ
ージを表示し、座標軸メニユー25に一時的に重
ねて表示される。 オシロスコープ10の有するタツチスクリーン
19は、スクリーン17の周囲に複数の光源と光
検出器を配列し、スクリーン上の光線格子のどの
領域(接触区域)にオペレータが触れたかを検出
することにより、オシロスコープにデータを入力
することが出来る。タツチスクリーン19に用い
ることにより、オペレータはスクリーンに表示さ
れたメニユーを選択したり、波形を選択すること
も出来る。また、オペレータは各表示波形の垂直
位置、垂直座標目盛、トリガレベル、表示色、輝
度などの種々の表示属性を調整することがで出来
る。特定の表示波形の表示属性を変更するには、
オペレータは最初波形に触れて、その後指をスク
リーンから離す。オシロスコープに内蔵されたコ
ンピユータは、タツチスクリーンが発生したデー
タからオペレータの接触した接触区域を判断し、
もし波形がその接触区域内を通過していればその
波形が選択されたと判断する。オペレータはスク
リーンにメニユーも表示させて、つまみの動作を
再指定することにより、オペレータの調整したい
波形の表示属性を制御することも出来る。一旦波
形が選択され、つまみの機能が適宜指定される
と、オシロスコープ10はつまみ16のどんな動
作にも応答して選択された波形の表示属性を変更
する。 本発明によれば、オペレータがスクリーンに表
示された単一の選択メニユーを含む接触区域に触
れたとコンピユータが判断すると、コンピユータ
はその選択メニユーが接触されたことを識別出来
るようにスクリーン上に表示する。好適実施例で
は、その選択メニユーは明るい実線で囲まれる。
この表示によりオペレータは、指をスクリーンか
ら離して他の接触区域にタツチしなければコンピ
ユータがその選択メニユーの動作を実行するはず
であることを確認出来る。オペレータが波形表示
領域27内の接触区域に接触したとコンピユータ
が判断すると、コンピユータはその接触区域を明
るい実線で囲み、この表示によりコンピユータが
特定の接触区域への接触を検出したこと、及びオ
ペレータの指がスクリーンから離れたらその接触
区域内を通過している波形が選択されることをオ
ペレータに知らせることが出来る。他方、オペレ
ータが触れた接触区域が波形表示領域27外にあ
り、且つその接触区域内に選択メニユーが何も含
まれていないとコンピユータが判断すると、その
接触区域は明るい破線で囲まれ、この表示により
コンピユータは特定の接触区域への接触を検出し
たが、オペレータがスクリーンから指を離しても
何の応答動作も実行されないことをオペレータに
知らせることが出来る。 従つて、オシロスコープ10はオペレータが現
在接触している選択メニユーをコンピユータがど
のように認識しているか示す情報をオペレータに
視覚的に確認させることが出来る。オペレータの
接触が選択メニユーの領域外ならば、オペレータ
が現在触れている接触区域の境界線が明示され
る。また、オペレータがスクリーンから指を離す
とコンピユータがどのような動作を実行するかも
明示する。もしメニユーが実線で囲まれていれ
ば、そのメニユーが選択され、もし接触区域が実
線で囲まれていれば、その接触区域を通過してい
る波形が選択される。もし接触区域が破線で囲ま
れていれば、選択動作は何も実行されない。 第2図は、第1図のオシロスコープ10のハー
ドウエアを示すブロツク図である。被測定装置か
らの信号はプラグイン20,22,24の入力ジ
ヤツクを介してオシロスコープ10に入力し、プ
ラグインの前段処理後、波形及びトリガ入力とし
てデジタイザ30に供給される。デジタイザ30
は選択された入力信号をデジタル変換して、連続
した入力信号サンプルの値を表す波形データ列を
出力し、これらの波形データ列はメモリ管理装置
(MMU)34を介して波形メモリ32に送られ
て記憶される。MMU34は波形メモリ32への
複数のアクセス要求を調停する装置である。
MMU34については、1986年9月26日出願の米
国特許出願第912024号(特願昭62−242386号に対
応)の明細書に詳細に記載されている。MMU3
4を介して表示コントローラ36が、波形メモリ
32内の波形データ列を取り込んでオシロスコー
プ表示のビツトマツプを生成し、表示メモリ38
に格納する。表示コントローラ36は周期的にビ
ツトマツプ情報を表示メモリ38から取り込み、
その情報を表示ドライバ40に送つて、オシロス
コープ10のスクリーン上にビツトマツプ情報に
応じた表示を出力する。 マイクロコンピユータ(MPU)44は制御線、
データ線、及びアドレス線を含むコンピユータ・
バス45及びMMU34を介して波形メモリ32
のデータの読み出し及び書き込みを行う。MPU
44は好適にはインテル社製80286型プロセツサ
を含み、更に、高速演算動作のためにインテル社
製80287型コプロセツサ及び高速入出力動作にた
めにインテル社製82258型直接メモリアクセス
(DMA)コントローラを内蔵していても良い。
MPU44は読み出し専用メモリ(ROM)46
に記憶されているソフトウエア(又はフアームウ
エア)の制御により動作し、ランダム・アクセ
ス・メモリ(RAM)48には一時的にデータを
格納する。ROM46及びRAM48はバス45
を介してアクセスされる。MPU44はプログラ
ムに従つて、例えばプラグイン20,22,2
4、デジタイザ30、表示コントローラ36等の
動作状態の制御などの多くの機能を果たす。プラ
グイン20,22,24とバス45を適当な手段
で接続している入出力インターフエース50を介
してMPU44は各プラグインに制御信号を供給
する。MPU44は更にデジタイザ30の動作モ
ードを制御し得る。即ち、MPU44からバス4
5及びMMU34を介して送られたコマンドが波
形メモリ32に記憶され、その後、デジタイザ3
0が波形メモリ32からそのコマンドを読み出す
のである。また、MPU44はMMU34にコマ
ンドを送り、波形メモリに記憶されたどの波形デ
ータ列を表示コントローラ36に送り表示させる
かを決める。更に、MPU44はスクリーン17
上のメニユー、図形及びデータ表示も制御するた
めにMMU34にコマンドを送り、波形メモリ3
2内の表示制御データの表示コントローラ36へ
の転送を制御する。 オシロスコープ10の本体フロントパネル上の
つまみ16、押ボタン18からの入力信号、各プ
ラグインのフロントパネル上のつまみ、押ボタ
ン、スイツチからの入力信号、及びタツチスクリ
ーン19からの入力信号は入出力インターフエー
ス50に検出され、各入力信号に応じたメツセー
ジがMPU44に送られる。これらのメツセージ
に応じてMPU44は選択した動作モードに応じ
たオシロスコープの種々のサブシステムを構成す
る。リアルタイムクロツク49は規則的にMPU
44に割り込み信号を供給するための装置であ
る。この割り込み信号の目的については後述す
る。 タツチスクリーンの動作を監視し、評価する方
法及び装置に関しては、米国特許出願第939645号
の明細書に記載されている。第4図は、タツチス
クリーン19と、MPU44と、タツチスクリー
ンの入出力のための入出力インターフエース50
の一部分を示すブロツク図である。タツチスクリ
ーン19は、11個のLEDをスクリーン17の上
辺に沿つて横1列に配置し、22個のLEDをスク
リーンの左辺に沿つて縦1列に配置している。こ
れらのLED51は、スクリーン17の直前に11
×22の光線格子を発生させる。33個の光検出器5
2はスクリーン17の右辺及び底辺に並べて配置
され、各光検出器は、対応する各LEDからの光
線がスクリーン上を通過して直接対辺上に達した
ときにその光線を検出することが出来る。オペレ
ータがスクリーンにタツチすると、指が光検出器
の検出する光線を1本以上遮り、光検出器52は
対応するLED51からの光線を検出しているか
否かを示す状態出力信号を発生する。 入出力インターフエース50に内蔵されている
走査回路53は好適にはインテル社製8279型プロ
グラマブル・キーボード・インターフエース装置
を含み、「検出マトリクス」モードで動作する。
走査回路53は、3ビツトの計数出力(S0−S2)
を発生し、この計数出力がデコーダ54にデコー
ドされてその時点の計数出力値に応じて、8本の
デコーダ出力線の1本を高論理状態にする。8本
のデコーダ出力線の中の5本はバツフア群55に
入力し、バツフア群55の各出力は、11個が水平
に、22個が垂直に配置された33個のLED51の
8個までの別々のLED群を夫々駆動する。光検
出器52の各出力信号は8個のバツフア群56の
1個に夫々入力し、バツフア群56の出力(R0
−R7)は走査回路53に入力される。 走査動作中には、走査回路53は計数出力
(S0−S2)の値を周期的に増加している。この計
数出力値が増加されると、デコーダ54は8本の
出力線の中の1本を順次高状態にし、これによ
り、バツフア群55の対応するバツフアの出力が
最大8個までのLED群を駆動する。駆動された
LEDから発生された光線をオペレータが遮断し
なければ、光線を検出した各光検出器はバツフア
群56の1個のバツフアの入力を高状態に駆動す
るので、そのバツフアの出力が高状態になる。オ
ペレータの指が1本の光線を遮断すると、光検出
器52の1個の出力が低状態に変化し、その状態
変化がバツフア群56の出力線(R0−R7)の1
本の状態を変化させる。走査回路53に内蔵され
ている8×8ビツトのメモリは計数出力(S0−
S2)の8個の異なる値に応じて戻され最大8個
までの信号(R0−R7)の各状態を格納する。計
数出力値は限界値(111)に達すると、(000)に
リセツトされてから再に計数を開始する。各計数
出力値に対して取り込まれた新しいデータ(R0
−R7)は以前の計数サイクル中に同じ計数出力
値に対して取り込まれた以前のデータを置換す
る。従つて、走査回路53の内部メモリの64ビツ
トの中の33個の各データは、最後の走査サイクル
中に33個の光検出器52の中の対応する1個の光
検出器が光線を検出したか否かを示している。内
部メモリ内の残りの31個のデータビツトはタツチ
スクリーンの出力信号の状態を示すためには用い
られない。 走査回路53には、現在の計数出力(S0−S2)
の値に応じて生じた入力信号(R0−R7)の現在
の状態と、計数出力値が前回に同じ値であつたと
きに内部メモリに記憶されたデータの状態とを比
較する手段も内蔵している。走査回路53は入力
信号(R0−R7)の少なくとも1個の状態が変化
したと判断すると、前回記憶されたデータを新し
いデータに置換し、MPU44に割り込み信号
(INT)を送つてから走査動作を一時停止する。
MPU44は割り込み信号を受け取ると、8ビツ
トデータバス57を介して走査回路の内部メモリ
から64ビツトのデータを総て読み出す。MPU4
4はこれらのデータから、オペレータがタツチス
クリーンのどこに触れたかを判断する。MPU4
4は走査回路からデータを取り込んで処理する
と、割り込み終了コマンドを走査回路53に送
り、走査動作を再開させる。 MPU44から走査回路53に供給される他の
信号は、走査回路の動作タイミングに用いられる
クロツク信号(CLK)、走査動作を初期化するリ
セツト信号(RESET)、走査回路内のデータバ
ス・インターフエース回路をデータ送受信可能に
するチツプセレクト信号(CS)、バス57のデー
タの流れを制御する読み出し信号(RD*)及び
書き込み信号(WR*)(*の印はアクテイブ・
ローの信号を意味する。)、及びバス57を介して
走査回路53に送られた信号がデータなのかコマ
ンドなのかを示すMPU44にアドレス線(A0)
の信号がある。 MPU44がスクリーン上のオペレータによる
接触位置を判断する分解能はタツチスクリーン1
9に使用されている水平及び垂直方向の光線の数
によつて決まる。1本の垂直光線と1本の水平光
線がオペレータの指で遮断されると、MPU44
は例えば2本の光線の交点を囲む長方形の領域で
ある特定の「接触区域」58の中に指があること
を判断することが出来る。従つて、各光線の交点
により各接触区域の中心が決まり、スクリーン1
7は複数の接触区域により格子状に分割されてい
る。 タツチスクリーンからの入力データを処理する
MPU44の動作は、タツチスクリーン割り込み
ルーチンと、クロツク信号割り込みルーチンによ
つて制御される。タツチスクリーン割り込みルー
チンの動作は、タツチスクリーンの出力データの
変化に応じて走査回路53がMPU44に割り込
みをしたときに開始される。タツチスクリーン割
り込みルーチンが実行されると、MPU44は走
査回路53に記憶されているタツチスクリーンの
データを読み出し、そのデータに応じてパラメー
タの値をオペレータの接触位置の座標を示す値
か、或いはオペレータがスクリーンへの接触を止
めたことを示す値のどちらか一方の値に設定す
る。クロツク信号割り込みルーチンの動作は第2
図のクロツク49が割り込み信号を(好適には
20msの周期で)出力している限り、周期的に開
始される。クロツク信号割り込みルーチンが実行
されると、タツチスクリーン割り込みルーチンの
期間中に設定されたパラメータが示す現在の接触
区域の座標が、予め定めた数のクロツク信号が割
り込む期間中に同じ値のままであるか否かを
MPU44が判断し、もし、そうであれば指令
(コマンド)がコマンドキユーの中に格納される。
この指令はオペレータが触れた接触区域の座標情
報を含んでいるか、或いはオペレータがスクリー
ンから指を離したことを示す情報を含んでいる。
このコマンドキユーの中の各指令により、その指
令が有するタツチスクリーン情報に応じてMPU
44が種々の応答動作をする為のルーチンが呼び
出される。 第5図の流れ図はタツチスクリーン割り込みル
ーチンを示している。第5図において、タツチス
クリーン割り込みルーチンが開始されると、ブロ
ツク60では、MPU44が走査回路53からタ
ツチスクリーンのデータを取り込み、1対のフラ
グ(FLAG)x touch data valid、及びy
touch data validを「偽(FALSE)」に設定す
る。その後ブロツク62では、MPU44はタツ
チスクリーンのデータをビツト毎に処理して、オ
ペレータの指が垂直方向の光線を遮断し、そのデ
ータがオペレータの触れた接触区域のY座標を示
しているかどうかを判断する。ビツトデータがオ
ペレータによる垂直光線の遮断を示していたら、
ブロツク64でMPU44は、Y座標を表すよう
にパラメータ(y touch data)の値を設定
し、フラグ(y touch valid)を「真
(TRUE)」に設定する。ブロツク62で有効な
Y座標が見付からない場合、或いはブロツク64
の命令を実行した後ではブロツク66で、MPU
44はタツチスクリーンのデータを検査して、オ
ペレータの接触により水平光線が遮断されて、そ
のデータがオペレータの接触した接触区域のX座
標を表しているかどうかを判断する。有効なX座
標が見付かると、ブロツク68でMPU44はX
座標を表すようにパラメータ(x touch
data)の値を設定し、フラグ(x touch
valid)を「真」に設定する。 次のブロツク70では、両方のフラグ(x
touch valid及びy touch valid)の状態が共
に「真」であるか否かを判断し、「真」ならばパ
ラメータ(x touch data及びy touch
date)により表される座標の接触区域にオペレー
タが接触したことになる。この場合にはブロツク
72で、2個のパラメータ(x touch data
hold及びy touch data hold)が夫々パラメ
ータ(x touch data及びy touch data)
の値に等しく設定される。ブロツク72の実行後
か或いはブロツク70で両フラグの少なくとも一
方が「真」でなかつた場合には、ブロツク74で
MPU44は、両フラグ(x touch valid及び
touch valid)の状態が共に「偽」であるか
否かを判断する。もし両フラグの状態が「偽」で
あれば、これはオペレータがスクリーンから指を
離したことを示し、ブロツク76では、パラメー
タ(x touch data hold及びy touch
data hold)の値を、オペレータがスクリーン
に接触していない状態を表す16進数の「FF」の
値に夫々設定する。その後か、或いはブロツク7
4で両フラグ(x touch valid及びy touch
valid)の少なくとも一方が「偽」でない場合
には、ブロツク78でMPU44は走査回路53
に割り込み終了指令をおくり、走査動作を再開さ
せる。その後、タツチスクリーン割り込みルーチ
ンは終了する。 従つて、第5図のタツチスクリーン割り込みル
ーチンが実行されると、MPU44は走査回路5
3が発生したタツチスクリーンのデータを読み込
み、オペレータの指が垂直光線及び水平光線を遮
断したかどうかを判断して、オペレータの接触が
あつた場合には、パラメータ(x touch data
hold及びy touch data hold)をオペレー
タが接触した接触区域の座標を表す値に設定す
る。垂直光線及び水平光線がどちらも遮断されて
いない場合には、MPU44はパラメータ(x
touch data hold及びy touch data hold)
をオペレータがスクリーンに接触していないこと
を表す値「FF」に設定する。 しかし、もしタツチスクリーンのデータが、オ
ペレータの指により垂直光線は遮断されたが水平
光線が遮断されなかつたり、或いは水平光線は遮
断されたが垂直光線が遮断されなかつた場合に
は、MPU44はパラメータ(x touch data
hold及びy touch data hold)の値を変更
しない。このような状況、即ち、垂直光線は遮断
されるが水平光線は遮断されない、或いはその逆
の場合が発生するのは、オペレータが鉛筆の先端
のような物でスクリーンの微少部分に接触たよう
な場合が考えられる。ここで、走査回路53は、
1回に最大8個までの光検出器の出力データしか
読み込まず、現在走査している光検出器の出力の
変化を検出すると、走査動作を一時停止するとい
うことを見い出して頂きたい。オペレータがスク
リーンに接触したとき、指が水平光線及び垂直光
線を遮断しても、これらの光線に応じて発生され
る光検出器の出力信号は同じ走査計数サイクル期
間中には読み込まれないかも知れない。例えば、
走査回路53が垂直光線の遮断を表す光検出器の
出力信号を最初に読み込んだ場合には、その出力
信号の変化に対応して、走査回路に以前記憶され
たタツチスクリーンのデータが更新され、その後
にMPU44に割り込み信号が送られ走査動作が
停止される。この場合、水平光線の状態を表す光
検出器の出力信号の変化に対応する走査回路内の
データは、MPU44がタツチスクリーンのデー
ターの読み込み後に走査回路53に割り込み終了
指令を送るまで更新されない。従つて、ある時点
ではMPU44は垂直光線のみが遮断された状態
となり、第5図のタツチスクリーン割り込みルー
チンによれば、MPU44はパラメータ(x
touch data hold及びy touch data hold)
の値を更新させない。走査回路53が走査動作を
再開後、走査回路は水平光線の遮断による光検出
器の出力データの変化を検出し、それに応じてタ
ツチスクリーンのデータを更新して再びMPU4
4に割り込み信号を送る。今度は、MPU44の
読み込んだタツチスクリーンのデータは垂直光線
及び水平光線の両方の遮断を表しているので、
MPU44はパラメータ(x touch data
hold及びy touch data hold)の値を更新す
る。従つて、このタツチスクリーン割り込みルー
チンによれば、パラメータ(x touch data
hold及びy touch data hold)の値が更新さ
れるのは、オペレータが接触した接触区域の座標
を特定出来る時だけ、或いはオペレータがスクリ
ーンへの接触を止めた時である。 クロツク信号割り込みルーチンの流れ図を第6
図に示している。第6図において、クロツク信号
割り込みルーチンが開始すると、ブロツク80
で、パラメータ(x touch data hold及びy
touch data hold)の値が前回のパラメータ
(x touch data last及びy touch data
last)の値と比較される。この前回のパラメータ
(x touch data last及びy touch data
last)の値は、前回のクロツク割り込みルーチン
のときのパラメータ(x touch data hold及
びy touch data hold)の値に等しい。x
touch data holdの現在値がx touch data
lastの値と異なり、且つy touch data
holdの現在値がy touch data lastの値と異
なる場合には、タツチスクリーンの入力データの
変化が走査回路53により検出され、前回のクロ
ツク割り込みルーチンの実行後にタツチスクリー
ン割り込みルーチンが実行されてタツチスクリー
ンのデータの変化が確認されている。この場合に
は、ブロツク90及び92で、x touch data
lastをx touch data holdの現在値に等し
く設定し、y touch data lastをy
touchdata holdの現在値に等しく設定する。そ
の後、ブロツク94で整数型変数(touch
debounce count)の値を最大値(touch
debounce count max)に設定してから、クロ
ツク割り込みルーチンは終了する。 しかし、ブロツク80で、パラメータ(x
touch data hold及びy touch data hold)
の現在値が前回のクロツク割り込みルーチンが実
行されたときの値(x touch data last及び
touch dat last)と等しかつた場合には、
ブロツク82で、変数(touch debounce
count)の値が0か否かが判断される。この変数
が0ならば、クロツク割り込みルーチンはそれ以
上何もしないで終了する。この変数(touch
debounce count)が0でなく正の整数であれ
ば、ブロツク84で、1だけ減算され、ブロツク
86で再び0か否かが判断される。ここで変数
(touch debounce count)が0でなければクロ
ツク割り込みルーチンは終了する。この変数が0
ならば、指令をコマンドキユーに格納するサブル
ーチンがブロツク88で呼び出される。この時コ
マンドキユーに格納される指令は、パラメータ
(x touch data hold及びy touch data
hold)の値で表される接触区域へのオペレータの
接触に応じた動作をMPU44に行わせ、またx
touch data hold及びy touch data
holdの値が共に「FF」ならば、オペレータがス
クリーンから指を離した時の動作をMPU44に
行わせる指令である。 例えば、ブロツク94でtouch debouce
count maxの値が10に設定された場合には、パ
ラメータ(x touch data hold及びy
touch data hold)の値は、連続する10個のク
ロツク信号の割り込み期間中にはタツチスクリー
ン割り込みルーチンにより変更されることはな
い。即ち、クロツク信号割り込みルーチンで、ス
クリーンへの接触或いは非接触に応じた動作を
MPU44に実行させる指令をコマンドキユーに
格納する前に、タツチスクリーンのデータの変化
が無い状態で連続して10回のクロツク割り込みル
ーチンが実行されなければならない。これによつ
て、オペレータの指の自然な振動によつて1本以
上の光線が反復して間欠的に遮断されたとして
も、それによつて生じる指令がコマンドキユーに
格納されることがないので、オペレータの意図に
反する動作を起こさせる虞が解消する。また、オ
ペレータがスクリーン上で指を素早く動かした場
合でも、一連の指令が格納されないので誤動作を
避けることが出来る。判断ブロツク82及び86
により、タツチスクリーン入力が連続して10個の
クロツク信号の割り込み期間中一定値だつたとき
だけ、1個の指令が格納され、このタツチスクリ
ーン入力が一定値である限り、それ以上の指令は
格納されない。パラメータ(touch debounce
count max)の値が10に設定され、クロツク割
り込みルーチンが20ms毎に実行される場合には、
クロツク割り込みルーチンは接触されてから約
0.2秒間以上有効な接触が持続したとき指令を格
納する。 第1図は、第3図のMPU44がコマンドキユ
ーに格納されたタツチスクリーンのイベント(事
象)に応じて実行する本発明によるプログラムの
流れ図である。開始後、ブロツク96でMPU4
4はタツチスクリーンのイベントが接触状態かそ
れとも非接触状態かを判断する。もし接触状態な
らば、ブロツク98で現在表示されている接触指
示があればその表示を止め、ブロツク100で現
在接触されている接触区域の座標が後で参照出来
るように記憶される。ブロツク102でメニユー
の一部を含む接触区域が接触されていると判断さ
れると、ブロツク104でMPU44はそのメニ
ユーを実線で囲み、このルーチンを終了する。も
し接触されている接触区域内にメニユーが存在せ
ず、且つその接触区域が波形表示領域内ならば、
ブロツク102,106からブロツク108に処
理が進み、MPU44は現在接触されている接触
区域を実線で囲み、このルーチンを終了する。も
しメニユーが接触されず、且つ接触された接触区
域が波形表示領域ならば、ブロツク110で
MPU44はその接触区域を破線で囲み、このル
ーチンを終了する。 ブロツク96でタツチスクリーンのイベントが
非接触状態ならば、ブロツク112でMPU44
は現在の接触指示の表示を止める。ブロツク11
4で、記憶されている接触区域の座標から選択メ
ニユーが最後に接触されたと判断されると、ブロ
ツク116でMPU44はそのメニユーの選択に
応じたサブルーチンを実行し、その後このルーチ
ンを終了する。もしブロツク118で記憶されて
いる接触区域の座標から波形表示領域が最後に接
触されたと判断されると、MPU44は最後に接
触された接触区域内に波形の一部が存在するか否
かを確認するサブルーチン119を実行し、その
後このルーチンを終了する。もしブロツク114
で最後に接触された接触区域内に選択メニユーが
存在せず、且つブロツク118でその接触区域が
波形表示領域内になければ、このルーチンは終了
し、MPU44は何も応答動作を実行しない。 従つて、オペレータがスクリーン上の接触位置
を間違えた場合でも、オペレータが指を離さない
限り、その特定の接触区域に関する選択動作は実
行されないので、オペレータはスクリーン上から
指を離さずに他の所望の接触区域の位置まで指を
滑らせていけば、その指の移動に応じて接触区域
の確認表示も追従して表示され、オペレータが最
後に接触後、指を離した位置の接触区域が選択動
作の対象になる。即ち、従来の装置では、押ボタ
ンの押し間違いや、タツチスクリーンの誤接触に
対して即座に応答動作を実行してしまうが、この
タツチスクリーン制御機器では、オペレータがた
とえ誤接触をしても、その位置の波形やメニユー
を選択したくなければ、所望の位置まで指をスク
リーンから離さずに滑らせるだけで意図に反する
応答動作を未然に防止することが可能である。 第1図のブロツク119でMPU44が実行す
るサブルーチンに関しては、米国特許出願第
944304号の明細書に記載されており、第7A乃至
7B図はオペレータが最後に接触した接触区域内
に波形が通過しているかどうかを判断するために
MPU44が実行するサブルーチンのプログラム
の流れ図である。このサブルーチンが呼び出され
るのは、オペレータが接触を止めた後、最後に接
触された接触区域内に選択メニユーが存在せず、
且つその接触区域が波形表示領域内にあると
MPU44が判断した場合である。この最後に選
択された接触区域は、接触区域を形成する水平方
向及び垂直方向の光線格子を指示する2個のパラ
メータ(xtouch及びytouch)により指定される。
(各パラメータの表記に関し、大文字と小文字の
区別はしない。)オペレータが接触区域に接触後、
MPU44はxtouch及びytouchの値を求め、メモ
リに記憶する。 開始後ブロツク120で、「axis search(座標
軸探索)」フラグが「無効(invalid)」状態に設
定され、その後ブロツク122でytouchの値を
検査してオペレータの接触した接触区域がスクリ
ーン上の波形表示領域内に存在することを確認す
る。その接触区域が波形表示領域内にあれば、ブ
ロツク124でaxis searchフラグが「有効
(valid)」状態に設定され、2個のパラメータ
(ydata upper及びydata lower)の値が計算さ
れる。この2個のパラメータ(ydata upper及
びydata lower)は長方形の接触区域の上辺と
底辺の垂直位置を示し、これらの値は接触区域の
中心の垂直座標を表すytouchの値と接触区域の
既知の垂直方向の長さから計算される。 ブロツク124の後、或いはブロツク122で
接触区域が波形表示領域内にないと判断される
と、ブロツク126でwave onフラグを無効状
態に設定し、その後ブロツク128でaxis
searchフラグがまだ無効状態であるかを検査す
る。もしaxis searchフラグが無効状態ならば、
それは接触区域が波形表示領域内に存在しないこ
とを意味し、このサブルーチンは終了する。しか
し、axis searchフラグが有効状態ならば、ブロ
ツク129で計数パラメータIが0に設定され
る。本発明の実施例では、オシロスコープ10は
0乃至7までの番号を付した8個までの異なる波
形を同時に表示可能であり、パラメータIは各波
形の参照番号を示す。各波形の表示に関する種々
の情報は第3図のRAM48に記憶されており、
ブロツク130でもしIの値が7以下であれば、
ブロツク134でMPU44はRAM48内の波
形表示情報を検査し、Iに相当する波形(WFM
(I))が実際に表示されているかどうか判断す
る。もし表示されていなければ、ブロツク132
でIの値が1増加され、ブロツク130でIの値
がまだ7以下なら、MPU44は再びRAM48
の波形表示情報を検査して次の波形が表示されて
いるか確認する。 ブロツク130,134及び132のループ処
理は、ブロツク134で波形が表示されていると
判断されるまで、或いはブロツク130でIの値
が8に達するまで継続する。Iが8に達すると、
波形が表示されていないことになり、接触区域内
を波形が通過していないので、ブロツク130の
後でこのサブルーチンは終了する。しかし、ブロ
ツク134で波形が表示されていると判断される
と、ブロツク136でMPU44はxtouchの値か
ら2個のパラメータ(xdata left及びxdata
right)の値を計算する。これらのパラメータ
(xdata left及びxdata right)は夫々接触区域
の左辺及び右辺間に表示された波形の一部の最初
の画素及び最後の画素に対応する波形メモリ32
の中の波形データを示している。xdata leftパ
ラメータの値は、1波形全体を表す波形データの
数をスクリーンの全幅の接触区域の数より1少な
い数(即ち、波形表示領域の接触区域の数)で割
り算し、その結果にxtouch 1を乗算して求め
られる。また、xtouch rightパラメータの値は、
波形を表す波形データの数をスクリーンの全幅の
接触区域の数より1少ない数で割り算し、その結
果にxtouchの値を乗算して求められる。 ブロツク140でMPU44は、xdata leftが
xdata rightより小さいかどうか判断する。これ
は波形データの数が0でない限り常に「真」であ
る。もし波形データの数が0ならば、その波形I
(WFM(I))のデータは記憶されていないので
Iに相当する波形は表示されていないことにな
る。その場合には、接触区域を波形Iが通過して
いないので、処理はブロツク132に戻りIが1
増加されて次の波形の検査を開始する。xdata
leftがxdata rightより小さいと、ブロツク14
2で整数型変数Jがxdata leftの値に設定され
る。このJの値は、波形Iの全波形データの中で
J番目の位置を示している。その後MPU44は、
波形Iが選択された接触区域を通過しているか否
かを判断する為に一連の3つのテストを実行す
る。 第1テストのブロツク144では、J番目の位
置にある波形データの値(wavedata(J))が
ydata lowerとydata upperとの間にあるか否
かが判断される。もしそうであれば、波形IのJ
番目の波形データがその接触区域の上辺と底辺の
間に表示されていることを意味する。波形IのJ
番目の水平位置の画素は接触区域の左辺と右辺の
間の位置にあることが分かつているので、そのJ
番目の画素が接触区域の境界線の中に確実に存在
し、オペレータがその波形Iを選択したことにな
る。この場合、MPU44はブロツク150でパ
ラメータ(wave on)の値をIに設定し、波形
Iが選択されたことを指示する。 波形IのJ番目の画素が接触区域内にない場合
には、第2テストのブロツク146でMPU44
は、wavedata(J)がydata lowerより小さく、
且つwavedata(J+1)の値(即ち、J+1番目
の波形データの値)がydata lowerの値より大
きいかどうか判断する。この第2テストが必要な
のは、例えば波形Iが急峻に立ち上がる矩形波で
あつて、且つ接触区域がその前縁の上にあるよう
な場合である。この場合には、J番目の画素は接
触区域の底辺のすぐ下にあり、J+1番目の画素
は接触区域の底辺のすぐ上にあるかも知れない。
このブロツク146が肯定されると、ブロツク1
50で波形Iは選択されwave onパラメータが
Iに設定される。第2テストが否定されると、第
3テストのブロツク148が実行される。ここで
は、wavedata(J)がydata upperより大きく、
且つwavedata(J+1)がydata upperより小
さいかどうかが判断される。この条件が満たされ
るのは、接触区域が矩形波の立ち下がり縁にあつ
て、波形のJ番目の画素は接触区域の上辺のすぐ
上にあり、J+1番目の画素は接触区域の上辺の
すぐ下にあるような場合である。この場合にも、
ブロツク150でwave onパラメータはIに設
定される。 wavedata(J)及びwavedata(J+1)の値が
ブロツク144,146,148の3つのテスト
で総て否定されるか、或いはブロツク150で
wave onの値がIに設定されると、Jの値はブ
ロツク151で1増加される。ブロツク152で
Jの値がxdata right−1を超えていないと判断
されると、増加されたJの値を用いたJ及びJ+
1番目の新しい位置の波形データに関し、3つの
テスト、即ちブロツク144,146,148が
繰り返される。このように、xdata leftとxdata
right−1の間にあるJの総ての値についてこ
れらのテストが実行されると、ブロツク154で
wave onの値が波形の選択されていないことを
示す無効状態にまだ設定されているかが判断され
る。もし無効状態のままならば、オシロスコープ
は波形選択に関する動作変更を何もしないでこの
サブルーチンを終了する。しかし、wave onが
0から7までの値に設定され、波形の選択が指示
されると、ブロツク156でサブルーチン
(select wfm(wave on))が呼び出される。こ
のサブルーチンを実行して、wave onの値によ
つて指示された波形表示の輝度を強調し、以前に
選択されて強調されていた波形の輝度を減衰する
ことにより、新しい波形が選択されたことをオペ
レータに知らせる。また、この選択波形サブルー
チンによりオシロスコープの動作状態が変更され
るので、選択された波形に関して実行されるオシ
ロスコープの動作は、結局、wave onパラメー
タの値によつて指定された波形に対して確実に実
行される。この選択波形サブルーチンによつて実
行される動作として、例えば、第2図のフロント
パネル上のつまみ16の動作に応答するサブルー
チンのように、選択された波形に対して動作する
他の複数のサブルーチンがアクセス可能な1個以
上の汎用変数の値を設定することなども可能であ
る。 このように本発明は、コンピユータがスクリー
ン上の選択メニユーの表示を制御し、オペレータ
がタツチスクリーンの特定の接触区域内に触れた
り離したりしたときにタツチスクリーンが出力す
るデータに応じて動作するシステムに使用するの
が好適である。本発明によれば、オペレータが接
触した接触区域がスクリーン上の1個の選択メニ
ユーの一部或いは全部を含んでいる場合には、コ
ンピユータはその選択メニユーが選択されたこと
をオペレータが識別できるように、例えばその選
択メニユーの周囲を実線で囲む等の表示をする。
この表示によつて、コンピユータが特定の選択メ
ニユーへの接触を検知し、オペレータが接触を止
めるとそのメニユーが選択されることをオペレー
タに知らせることが出来る。また、オペレータの
接触した接触区域がメニユー表示領域外、即ち波
形表示領域内にあるとコンピユータが判断する
と、その接触区域を識別できるように、例えばそ
の接触区域の周囲を実線で囲む等の表示をする。
この表示により、コンピユータが特定の接触区域
への接触を検知し、オペレータが接触を止めると
その接触区域内にある波形が選択されることをオ
ペレータに知らせることが出来る。更に、オペレ
ータの接触した接触区域がメニユー表示領域内で
あつても、その接触区域内に何も選択メニユーが
含まれていない場合には、その接触区域を識別出
来るように、例えばその接触区域の周囲を破線で
囲む等の表示をする。この表示により、コンピユ
ータが特定の接触区域への接触を検知したが、オ
ペレータが接触を止めても何もメニユーが選択さ
れないことをオペレータに知らせることが出来
る。 以上本発明の好適実施例について説明したが、
本発明はここに説明した実施例のみに限定される
ものではなく、本発明の要旨を逸脱する事なく必
要に応じて種々の変形及び変更を実施し得る事は
当業者には明らかである [発明の効果] 本発明によれば、以下の様な種々の作用効果が
得られる。 (a) 指等の接触に応じて機器が検出した特定の画
像又は接触区域をスクリーン上に表示すること
により、接触区域が見えない為に機器が接触を
どのように認識したかをオペレータが予め確認
出来ないという従来のタツチスクリーン装置の
欠点を解消出来る。 (b) 特定の画像(選択メニユー又は波形等)の一
部分がオペレータの触れた特定の接触区域内に
含まれている場合には、その特定の画像を視覚
的に指示する実線や輝度変調等の第1確認表示
を行うことにより、オペレータが指等を離した
際に実行される選択動作をその実行以前に確認
出来る。 (c) オペレータが触れた特定の接触区域内に何も
特定の画像が含まれていない場合には、その特
定の接触区域を視覚的に指示する破線等の第2
確認表示を行うことにより、オペレータは、指
等を離しても何も動作が実行されないことを予
め確認出来る。 (d) 機器の動作が実行される以前にオペレータが
その動作を具体的に確認出来るので、誤つて意
図しない選択メニユーや波形等に触れた場合で
も、指等をスクリーン上から離さずに正しい位
置に移動すれば、意図しない動作が実行される
のを未然に防止することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるタツチスクリーン制御機
器の帰還表示方法の流れ図、第2図はタツチスク
リーンを具備したデジタル・オシロスコープ10
の前面図、第3図は第2図のオシロスコープのハ
ードウエアのブロツク図、第4図はタツチスクリ
ーン、走査回路及びコンピユータ間の接続状態を
示すブロツク図、第5図及び第6図はタツチスク
リーンからの出力をコンピユータが評価するとき
の動作を表す流れ図、第7A乃至7C図は接触区
域内に波形が通過しているか否かコンピユータが
判断するための動作を表す流れ図である。 10はデジタル・オシロスコープ、14はフロ
ントパネル、17はスクリーン、19はタツチス
クリーン、27は波形表示領域、34はメモリ管
理装置、44はマイクロコンピユータ、53は走
査回路、58は接触区域である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 表示手段と、該表示手段の前面に複数の接触
    区域を定め、該複数の接触区域の中の特定の接触
    区域への物体の接近又は接触に応じて上記特定の
    接触区域を指示する出力信号を発生するタツチス
    クリーンと、該タツチスクリーンの出力信号に応
    じて上記表示手段上の表示を制御する制御手段と
    を具備するタツチスクリーン制御機器を制御する
    に際し、 上記タツチスクリーンの出力信号を監視し、 該出力信号から上記物体が接近又は接触した上
    記特定の接触区域を求め、 該特定の接触区域の中に特定の画像の少なくと
    も一部分が含まれているか否かを判断し、 上記特定の接触区域の中に上記特定の画像の少
    なくとも一部分が含まれている場合には上記特定
    の画像を視覚的に指示する第1の確認表示を行
    い、 上記特定の接触区域の中に上記特定の画像が全
    く含まれていない場合には上記特定の接触区域を
    視覚的に指示する第2の確認表示を行い、 上記物体が上記タツチスクリーンから離れるま
    で上記タツチスクリーン制御機器が上記特定の画
    像に対応する動作を実行しないことを特徴とする
    タツチスクリーン制御機器の制御確認表示方法。 2 上記第1の確認表示は、上記特定の画像の境
    界を示す実線であることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のタツチスクリーン制御機器の制
    御確認表示方法。 3 上記第2の確認表示は、上記特定の接触区域
    の境界を示す破線であることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載のタツチスクリーン制御機器
    の制御確認表示方法。
JP62321173A 1986-12-19 1987-12-18 タッチスクリーン制御機器の制御確認表示方法 Granted JPS63165916A (ja)

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