JPH0540815A - ペインテイング・システムにおける性能測定方式 - Google Patents
ペインテイング・システムにおける性能測定方式Info
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- JPH0540815A JPH0540815A JP21915791A JP21915791A JPH0540815A JP H0540815 A JPH0540815 A JP H0540815A JP 21915791 A JP21915791 A JP 21915791A JP 21915791 A JP21915791 A JP 21915791A JP H0540815 A JPH0540815 A JP H0540815A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing
- painting
- performance
- image memory
- histogram
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ポインティング数を人為的に数えることな
く、ペインティング・システムの性能を測定できるよう
にすることを目的としている。 【構成】 表示画面上の１点がポインティングされる
と、ペインティング処理手段は画像メモリからポインテ
ィング位置を中心とするｎ×ｎの領域の画素データを読
み出し、読み出した画素データ集合のｉ行ｋ列の画素デ
ータとｎ×ｎの処理パターンのｉ行ｋ列の画素データを
加算し、加算結果得られるｎ×ｎの画素データ集合を画
像メモリにおけるポインティング位置を中心とするｎ×
ｎの領域に書き込む。画像メモリの内容に対応する画像
は表示装置に表示される。ヒストグラム処理手段は画像
メモリの内容を参照して各濃度値毎の画素数を求める。
性能演算手段はヒストグラム処理手段の結果，総計のペ
インティング時間，処理パターンの大きさ等に基づいて
ペインティング・システムの性能を計算する。
く、ペインティング・システムの性能を測定できるよう
にすることを目的としている。 【構成】 表示画面上の１点がポインティングされる
と、ペインティング処理手段は画像メモリからポインテ
ィング位置を中心とするｎ×ｎの領域の画素データを読
み出し、読み出した画素データ集合のｉ行ｋ列の画素デ
ータとｎ×ｎの処理パターンのｉ行ｋ列の画素データを
加算し、加算結果得られるｎ×ｎの画素データ集合を画
像メモリにおけるポインティング位置を中心とするｎ×
ｎの領域に書き込む。画像メモリの内容に対応する画像
は表示装置に表示される。ヒストグラム処理手段は画像
メモリの内容を参照して各濃度値毎の画素数を求める。
性能演算手段はヒストグラム処理手段の結果，総計のペ
インティング時間，処理パターンの大きさ等に基づいて
ペインティング・システムの性能を計算する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ペインティング・シス
テムにおけるペインティング操作（修正，加工等）の性
能測定方式に関するものである。ペインティング・シス
テムとは、カラー・スキャナー等の画像入力機器により
入力されたディジタル画像データをカラー・ディスプレ
イ上に表示し、マウスやタブレット等のポインティング
・デバイスを使って、色や画像の修正・加工を会話的に
行うシステムである。また、ベースとなる画像データを
持たず、最初から画像を作成していくシステムも含まれ
る。
テムにおけるペインティング操作（修正，加工等）の性
能測定方式に関するものである。ペインティング・シス
テムとは、カラー・スキャナー等の画像入力機器により
入力されたディジタル画像データをカラー・ディスプレ
イ上に表示し、マウスやタブレット等のポインティング
・デバイスを使って、色や画像の修正・加工を会話的に
行うシステムである。また、ベースとなる画像データを
持たず、最初から画像を作成していくシステムも含まれ
る。
【０００２】
【従来の技術】図７は従来の性能測定処理フローであ
る。先ず、タブレット等でサイズ（ｎ×ｎ）の処理をＭ
秒間行い、次にディスプレイ上のポインティング数を数
え、最後に性能結果を作成する。１ポインティング当た
りの処理性能はＭ÷Ｐで表され、１画素当たりの処理性
能はＭ÷Ｐ÷Ｓで表される。但し、Ｍは処理時間、Ｐは
ポインティング数、Ｓは処理画素数（ｎ×ｎ）をそれぞ
れ示す。
る。先ず、タブレット等でサイズ（ｎ×ｎ）の処理をＭ
秒間行い、次にディスプレイ上のポインティング数を数
え、最後に性能結果を作成する。１ポインティング当た
りの処理性能はＭ÷Ｐで表され、１画素当たりの処理性
能はＭ÷Ｐ÷Ｓで表される。但し、Ｍは処理時間、Ｐは
ポインティング数、Ｓは処理画素数（ｎ×ｎ）をそれぞ
れ示す。
【０００３】図８はディスプレイ上のポインティング数
の例を示す図である。図示の例ではポインティング数は
６である。タブレット上においてペンを動かすと、これ
に対応してディスプレイ画面上のカーソルが移動する。
図示しないが、ディスプレイ画面上の特定領域にはｎ×
ｎの大きさの処理パターンが表示されており、ペンをタ
ブレット上に押しつけると、ポインティング位置（ペン
の押付け位置に対応）に処理パターンが表示される。
の例を示す図である。図示の例ではポインティング数は
６である。タブレット上においてペンを動かすと、これ
に対応してディスプレイ画面上のカーソルが移動する。
図示しないが、ディスプレイ画面上の特定領域にはｎ×
ｎの大きさの処理パターンが表示されており、ペンをタ
ブレット上に押しつけると、ポインティング位置（ペン
の押付け位置に対応）に処理パターンが表示される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
ペインティング・システムにおけるペインティング処理
性能の測定は、図７の処理の流れに沿って行っていた。
この場合、“ポインティング数を数える”処理は人為的
なため、ポインティング位置が重なった場合やポインテ
ィング数が多い場合には、ポインティング数が正しく求
まらないことがあった。即ち、従来の方法の欠点は人間
がポインティング数を計算しなければならないことであ
った。本発明は、この点に鑑みて創作されたものであっ
て、ポインティング数を人為的に数えることなく、ペイ
ンティング・システムの性能を測定できるようにするこ
とを目的としている。
ペインティング・システムにおけるペインティング処理
性能の測定は、図７の処理の流れに沿って行っていた。
この場合、“ポインティング数を数える”処理は人為的
なため、ポインティング位置が重なった場合やポインテ
ィング数が多い場合には、ポインティング数が正しく求
まらないことがあった。即ち、従来の方法の欠点は人間
がポインティング数を計算しなければならないことであ
った。本発明は、この点に鑑みて創作されたものであっ
て、ポインティング数を人為的に数えることなく、ペイ
ンティング・システムの性能を測定できるようにするこ
とを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。本発明のペインティング・システムにおける
性能測定方式は、表示装置と、表示画面上の１点をポイ
ンティングするポインティング・デバイスと、ｎ×ｎの
大きさを持つ処理パターンを記憶する処理パターン記憶
部と、画素データを記憶する画像メモリと、ペインティ
ング処理手段と、ヒストグラム処理手段と、性能結果演
算手段とを具備するペインティング・システムにおける
性能測定方式であって、ペインティング処理手段は、ポ
インティングが行われた時に起動され、ポインティング
位置を中心とするｎ×ｎの領域の画素データを画像メモ
リから読み出し、読み出された画素データのｉ行ｋ列
（ｉ＝１，…，ｎ、ｋ＝１，…，ｎ）と処理パターンの
ｉ行ｋ列の画素データとを加算し、加算の結果得られる
ｎ×ｎの画素データ集合を、ポインティング位置を中心
とする画像メモリのｎ×ｎの領域に格納する処理を行う
ように構成され、ヒストグラム処理手段は、画像メモリ
の内容を参照して各濃度値毎の画素数を求める処理を行
うように構成され、性能結果演算手段は、ヒストグラム
処理手段の処理結果，総計のペインティング時間および
処理パターンの大きさに基づいて、ペインティング・シ
ステムの性能を算出するように構成されていることを特
徴とするものである。
図である。本発明のペインティング・システムにおける
性能測定方式は、表示装置と、表示画面上の１点をポイ
ンティングするポインティング・デバイスと、ｎ×ｎの
大きさを持つ処理パターンを記憶する処理パターン記憶
部と、画素データを記憶する画像メモリと、ペインティ
ング処理手段と、ヒストグラム処理手段と、性能結果演
算手段とを具備するペインティング・システムにおける
性能測定方式であって、ペインティング処理手段は、ポ
インティングが行われた時に起動され、ポインティング
位置を中心とするｎ×ｎの領域の画素データを画像メモ
リから読み出し、読み出された画素データのｉ行ｋ列
（ｉ＝１，…，ｎ、ｋ＝１，…，ｎ）と処理パターンの
ｉ行ｋ列の画素データとを加算し、加算の結果得られる
ｎ×ｎの画素データ集合を、ポインティング位置を中心
とする画像メモリのｎ×ｎの領域に格納する処理を行う
ように構成され、ヒストグラム処理手段は、画像メモリ
の内容を参照して各濃度値毎の画素数を求める処理を行
うように構成され、性能結果演算手段は、ヒストグラム
処理手段の処理結果，総計のペインティング時間および
処理パターンの大きさに基づいて、ペインティング・シ
ステムの性能を算出するように構成されていることを特
徴とするものである。
【０００６】
【作用】処理パターン記憶部に格納されている処理パタ
ーンは、例えば５×５の画素から構成され、各画素の濃
度値は１である。ポインティング・デバイスによって画
面上の１点がポインティングされると、画像メモリから
ポインティング位置を中心とするｎ×ｎの領域に含まれ
る画素データの集合が読み出され、読み出された画素デ
ータ集合のｉ行ｋ列の画素データと、処理パターンのｉ
行ｋ列の画素データが加算され、加算の結果得られるｎ
×ｎの画素データの集合が画像メモリにおけるポインテ
ィング位置を中心とするｎ×ｎの領域に書き込まれる。
ヒストグラム処理手段は、画像メモリの内容を参照して
各濃度値毎の画素数を求める。性能結果演算手段は、ヒ
ストグラム処理手段によって得られるヒストグラム結
果，総計のペインティング時間および処理パターンの大
きさに基づいて、１ポインティング当たりの処理性能お
よび１画素当たりの処理性能を演算する。
ーンは、例えば５×５の画素から構成され、各画素の濃
度値は１である。ポインティング・デバイスによって画
面上の１点がポインティングされると、画像メモリから
ポインティング位置を中心とするｎ×ｎの領域に含まれ
る画素データの集合が読み出され、読み出された画素デ
ータ集合のｉ行ｋ列の画素データと、処理パターンのｉ
行ｋ列の画素データが加算され、加算の結果得られるｎ
×ｎの画素データの集合が画像メモリにおけるポインテ
ィング位置を中心とするｎ×ｎの領域に書き込まれる。
ヒストグラム処理手段は、画像メモリの内容を参照して
各濃度値毎の画素数を求める。性能結果演算手段は、ヒ
ストグラム処理手段によって得られるヒストグラム結
果，総計のペインティング時間および処理パターンの大
きさに基づいて、１ポインティング当たりの処理性能お
よび１画素当たりの処理性能を演算する。
【０００７】
【実施例】図２は本発明の１実施例のブロック図であ
る。同図において、１は制御部、２はポインティング・
デバイス、３は画像メモリ、４は処理パターン・サイズ
領域、５は処理パターン領域、６はフレーム・メモリ、
７はヒストグラム処理部、８はペインティング処理回
路、９はヒストグラム結果格納領域、１０は性能測定開
始指定部、１１は性能結果演算部をそれぞれ示してい
る。
る。同図において、１は制御部、２はポインティング・
デバイス、３は画像メモリ、４は処理パターン・サイズ
領域、５は処理パターン領域、６はフレーム・メモリ、
７はヒストグラム処理部、８はペインティング処理回
路、９はヒストグラム結果格納領域、１０は性能測定開
始指定部、１１は性能結果演算部をそれぞれ示してい
る。
【０００８】制御部１は全体を制御するものであり、マ
イクロプロセッサ等から構成されている。ポインティン
グ・デバイス３は、タブレットやマウスである。画像メ
モリ３は、１画面分の画素データ（画素の濃度値）を記
憶するものである。処理パターン・サイズ領域４には、
処理パターン・サイズが格納される。処理パターン領域
５には、処理パターンが記憶される。フレーム・メモリ
６はＲ，Ｇ，Ｂの３枚のプレーンから構成されており、
フレーム・メモリ６の画像データは順番に読み出され、
図示しないＤ／Ａ変換器によってアナログ信号に変換さ
れてＣＲＴ１２に送られる。ヒストグラム処理部７は、
画像メモリ３における各濃度値毎の画素数を数えるもの
である。
イクロプロセッサ等から構成されている。ポインティン
グ・デバイス３は、タブレットやマウスである。画像メ
モリ３は、１画面分の画素データ（画素の濃度値）を記
憶するものである。処理パターン・サイズ領域４には、
処理パターン・サイズが格納される。処理パターン領域
５には、処理パターンが記憶される。フレーム・メモリ
６はＲ，Ｇ，Ｂの３枚のプレーンから構成されており、
フレーム・メモリ６の画像データは順番に読み出され、
図示しないＤ／Ａ変換器によってアナログ信号に変換さ
れてＣＲＴ１２に送られる。ヒストグラム処理部７は、
画像メモリ３における各濃度値毎の画素数を数えるもの
である。
【０００９】ペインティング処理回路８は、制御部１か
らのペインティング指示を受け取ると、ペインティング
処理を行う。例えば、ペインティング座標がＯ1 であ
り、処理パターン・サイズがｎ1 ×ｎ1 であると仮定す
ると、画像メモリ３からＯ1 を中心とするｎ1 ×ｎ1 の
領域の画素データが読み出されると共に、処理パターン
領域５からｎ1 ×ｎ1 の大きさの処理パターンが読み出
される。そして、画像メモリ３から読み出されたｉ行ｋ
列の画素データと、処理パターン領域５から読み出され
たｉ行ｋ列の画素データとが加算され、その加算結果得
られるｎ1 ×ｎ1 の大きさの画素データ集合が画像メモ
リ３におけるＯ1 を中心とするｎ1 ×ｎ1 の領域に書き
込まれる。
らのペインティング指示を受け取ると、ペインティング
処理を行う。例えば、ペインティング座標がＯ1 であ
り、処理パターン・サイズがｎ1 ×ｎ1 であると仮定す
ると、画像メモリ３からＯ1 を中心とするｎ1 ×ｎ1 の
領域の画素データが読み出されると共に、処理パターン
領域５からｎ1 ×ｎ1 の大きさの処理パターンが読み出
される。そして、画像メモリ３から読み出されたｉ行ｋ
列の画素データと、処理パターン領域５から読み出され
たｉ行ｋ列の画素データとが加算され、その加算結果得
られるｎ1 ×ｎ1 の大きさの画素データ集合が画像メモ
リ３におけるＯ1 を中心とするｎ1 ×ｎ1 の領域に書き
込まれる。
【００１０】ヒストグラム結果格納領域９には、ヒスト
グラム処理部７によって得られた処理結果が格納され
る。性能測定開始指定部１０は、性能測定開始を指定す
るものであって、キーボードであると考えて良い。性能
結果演算部１１は、下記のような演算を行う。 Ａ＝ΣＧ×ＮG (1) １ポインティング当たりの処理性能＝Ｍ÷Ａ×Ｓ (2) １画素当たりの処理性能＝Ｍ÷Ａ (3) 但し、Ｇは濃度値、ＮG は濃度値Ｇを持つ画素の数、Ｍ
は処理時間、Ａは全体の画素数、Ｓは処理画素数（ｎ×
ｎ）である。
グラム処理部７によって得られた処理結果が格納され
る。性能測定開始指定部１０は、性能測定開始を指定す
るものであって、キーボードであると考えて良い。性能
結果演算部１１は、下記のような演算を行う。 Ａ＝ΣＧ×ＮG (1) １ポインティング当たりの処理性能＝Ｍ÷Ａ×Ｓ (2) １画素当たりの処理性能＝Ｍ÷Ａ (3) 但し、Ｇは濃度値、ＮG は濃度値Ｇを持つ画素の数、Ｍ
は処理時間、Ａは全体の画素数、Ｓは処理画素数（ｎ×
ｎ）である。
【００１１】図２の実施例の動作を説明する。性能測定
開始指定部１０から入力される性能測定開始指定の中に
は、処理時間Ｍの値も含まれている。性能測定開始指定
が入力されると、制御部１は初期化処理を行い、次いで
ディスプレイ画面上に性能測定が開始された旨のメッセ
ージを表示する。オペレータがポインティング・デバイ
ス３によって画面上の１点をポインティングすると、ポ
インティングされたことが割込み等によって制御部１に
通知される。この通知を受け取ると、制御部１はペイン
ティング処理回路８にペインティング指示を送る。ペイ
ンティング指示を受け取ると、ペインティング処理回路
８は、画像メモリ３に対するペインティングを行う。ペ
インティング結果は即座にディスプレイ画面に反映され
る。
開始指定部１０から入力される性能測定開始指定の中に
は、処理時間Ｍの値も含まれている。性能測定開始指定
が入力されると、制御部１は初期化処理を行い、次いで
ディスプレイ画面上に性能測定が開始された旨のメッセ
ージを表示する。オペレータがポインティング・デバイ
ス３によって画面上の１点をポインティングすると、ポ
インティングされたことが割込み等によって制御部１に
通知される。この通知を受け取ると、制御部１はペイン
ティング処理回路８にペインティング指示を送る。ペイ
ンティング指示を受け取ると、ペインティング処理回路
８は、画像メモリ３に対するペインティングを行う。ペ
インティング結果は即座にディスプレイ画面に反映され
る。
【００１２】最初のポインティングが通知されてからＭ
秒経過すると、制御部１はペインティング処理を止め、
ヒストグラム処理部７に対してヒストグラム作成指示を
送る。ヒストグラム作成指示を受け取ると、ヒストグラ
ム処理部７は、ヒストグラムを作成し、作成したヒスト
グラムをヒストグラム結果格納領域９に格納し、格納し
終わったならばヒストグラム作成終了を制御部１に報告
する。
秒経過すると、制御部１はペインティング処理を止め、
ヒストグラム処理部７に対してヒストグラム作成指示を
送る。ヒストグラム作成指示を受け取ると、ヒストグラ
ム処理部７は、ヒストグラムを作成し、作成したヒスト
グラムをヒストグラム結果格納領域９に格納し、格納し
終わったならばヒストグラム作成終了を制御部１に報告
する。
【００１３】ヒストグラム作成終了が報告されると、制
御部１は性能結果演算指示を性能結果演算部１１に対し
て送る。性能結果演算指示を受け取ると、性能結果演算
部１１は、ヒストグラム結果格納領域９の内容を参照し
て(1) 式の演算を行ってＡの値を求める。次に、Ｍの
値，Ａの値及びＳの値を(2) 式に代入することにより、
１ポインティング当たりの処理性能を求める。最後に、
Ｍの値及びＡの値を(3)式に代入することにより、１画
素当たりの処理性能を求める。
御部１は性能結果演算指示を性能結果演算部１１に対し
て送る。性能結果演算指示を受け取ると、性能結果演算
部１１は、ヒストグラム結果格納領域９の内容を参照し
て(1) 式の演算を行ってＡの値を求める。次に、Ｍの
値，Ａの値及びＳの値を(2) 式に代入することにより、
１ポインティング当たりの処理性能を求める。最後に、
Ｍの値及びＡの値を(3)式に代入することにより、１画
素当たりの処理性能を求める。
【００１４】図３ないし図６を参照して、本発明の性能
測定方式をより詳細に説明する。性能測定開始指定が入
力されると、制御部１は最初に処理パターン・サイズ領
域４と処理パターン領域５を初期化する。初期化の例は
図４に示される。その後、制御部１は、ポインティング
・デバイス２によってディスプレイ画面上の１点がポイ
ンティングされる度にペインティング処理回路８に対し
てペインティング指示を送る。ペインティング指示を受
け取ると、ペインティング処理回路８は、画像メモリ３
に対するペインティング処理を行う。ペインティング処
理された結果はフレーム・メモリ６に転送され、ＣＲＴ
１２に表示される。このときの処理結果の例は図５に示
される。なお、上述のように、処理領域が重なった場合
には加算処理が行われる。
測定方式をより詳細に説明する。性能測定開始指定が入
力されると、制御部１は最初に処理パターン・サイズ領
域４と処理パターン領域５を初期化する。初期化の例は
図４に示される。その後、制御部１は、ポインティング
・デバイス２によってディスプレイ画面上の１点がポイ
ンティングされる度にペインティング処理回路８に対し
てペインティング指示を送る。ペインティング指示を受
け取ると、ペインティング処理回路８は、画像メモリ３
に対するペインティング処理を行う。ペインティング処
理された結果はフレーム・メモリ６に転送され、ＣＲＴ
１２に表示される。このときの処理結果の例は図５に示
される。なお、上述のように、処理領域が重なった場合
には加算処理が行われる。
【００１５】最初のポインティングが通知されてからＭ
秒経過すると、制御部１はヒストグラム処理部７に対し
てヒストグラム作成指示を送る。ヒストグラム作成指示
を受け取ると、ヒストグラム処理部７は画像メモリ３の
内容を参照してヒストグラムを作成し、作成したヒスト
グラムをヒストグラム結果格納領域９に格納する。格納
されたヒストグラム結果の例は図６に示される。ヒスト
グラム作成処理が終了すると、制御部１は性能結果演算
指示を性能結果演算部１１に送る。性能結果演算指示を
受け取ると、性能結果演算部１１は(1) 式ないし(3) 式
に示されるような演算を行う。
秒経過すると、制御部１はヒストグラム処理部７に対し
てヒストグラム作成指示を送る。ヒストグラム作成指示
を受け取ると、ヒストグラム処理部７は画像メモリ３の
内容を参照してヒストグラムを作成し、作成したヒスト
グラムをヒストグラム結果格納領域９に格納する。格納
されたヒストグラム結果の例は図６に示される。ヒスト
グラム作成処理が終了すると、制御部１は性能結果演算
指示を性能結果演算部１１に送る。性能結果演算指示を
受け取ると、性能結果演算部１１は(1) 式ないし(3) 式
に示されるような演算を行う。
【００１６】図４ないし図６を元にした演算手順を下記
に示す。 ヒストグラム結果より全画素数Ａを求める。 Ａ＝１×７１＋２×１９＋３×４＋４×１＝１２５ 性能を求める。（処理時間１秒として計算。性能測
定開始指定部１０で指定される。） １ポインティング当たりの処理性能＝１÷１２５×（５
×５）＝０．２秒 １画素当たりの処理性能＝１÷１２５＝０．００８秒
に示す。 ヒストグラム結果より全画素数Ａを求める。 Ａ＝１×７１＋２×１９＋３×４＋４×１＝１２５ 性能を求める。（処理時間１秒として計算。性能測
定開始指定部１０で指定される。） １ポインティング当たりの処理性能＝１÷１２５×（５
×５）＝０．２秒 １画素当たりの処理性能＝１÷１２５＝０．００８秒
【００１７】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、人為的な処理は最初のペインティング処理の
みであって、ヒストグラム作成以降の処理は機械的に処
理が行える。また、処理領域が重なってもポインティン
グ数が求められるので、性能測定を確実に行うことが出
来る。
によれば、人為的な処理は最初のペインティング処理の
みであって、ヒストグラム作成以降の処理は機械的に処
理が行える。また、処理領域が重なってもポインティン
グ数が求められるので、性能測定を確実に行うことが出
来る。
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】本発明の１実施例のブロック図である。
【図３】本発明の性能測定処理フローである。
【図４】処理パターン・サイズと処理パターン領域の例
を示す図である。
を示す図である。
【図５】処理結果例を示す図である。
【図６】ヒストグラム結果の例を示す図である。
【図７】従来の性能測定処理フローを示す図である。
【図８】ディスプレイ画面上のポインティング数の例を
示す図である。
示す図である。
１ 制御部 ２ ポインティング・デバイス ３ 画像メモリ ４ 処理パターン・サイズ格納領域 ５ 処理パターン領域 ６ フレーム・メモリ ７ ヒストグラム処理部 ８ ペインティング処理回路 ９ ヒストグラム結果格納領域 １０ 性能測定開始指定部 １１ 性能結果演算部
Claims (1)
- 【請求項１】 表示装置と、 表示画面上の１点をポインティングするポインティング
・デバイスと、 ｎ×ｎの大きさを持つ処理パターンを記憶する処理パタ
ーン記憶部と、 画素データを記憶する画像メモリと、 ペインティング処理手段と、 ヒストグラム処理手段と、 性能結果演算手段とを具備するペインティング・システ
ムにおける性能測定方式であって、 ペインティング処理手段は、ポインティングが行われた
時に起動され、ポインティング位置を中心とするｎ×ｎ
の領域の画素データを画像メモリから読み出し、読み出
された画素データのｉ行ｋ列（ｉ＝１，…，ｎ、ｋ＝
１，…，ｎ）と処理パターンのｉ行ｋ列の画素データと
を加算し、加算の結果得られるｎ×ｎの画素データ集合
を、ポインティング位置を中心とする画像メモリのｎ×
ｎの領域に格納する処理を行うように構成され、 ヒストグラム処理手段は、画像メモリの内容を参照して
各濃度値毎の画素数を求める処理を行うように構成さ
れ、 性能結果演算手段は、ヒストグラム処理手段の処理結
果，総計のペインティング時間および処理パターンの大
きさに基づいて、ペインティング・システムの性能を算
出するように構成されていることを特徴とするペインテ
ィング・システムにおける性能測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21915791A JPH0540815A (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | ペインテイング・システムにおける性能測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21915791A JPH0540815A (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | ペインテイング・システムにおける性能測定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0540815A true JPH0540815A (ja) | 1993-02-19 |
Family
ID=16731097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21915791A Withdrawn JPH0540815A (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | ペインテイング・システムにおける性能測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0540815A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7520062B2 (en) | 2005-12-06 | 2009-04-21 | Robert Bosch Tool Corporation | Light-plane projecting apparatus and lens |
-
1991
- 1991-08-05 JP JP21915791A patent/JPH0540815A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7520062B2 (en) | 2005-12-06 | 2009-04-21 | Robert Bosch Tool Corporation | Light-plane projecting apparatus and lens |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981112 |