JPH0537260Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔概要〕 被試験プリント基板を装着するフイクチヤの構
造に関し、 該被試験プリント基板の位置決め調整が容易に
行われるようにすることを目的とし、 プレートに係止されるフランジと、該フランジ
に着脱され、被試験プリント基板に設けられた基
準穴に挿脱されるピンとより成るガイドポストが
具備されるように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本考案は被試験プリント基板を装着するフイク
チヤの構造に関する。

近年、電子装置に用いられるプリント基板では
半導体素子などの電子部品の小型化、高密度実装
化に伴い、これらの電子部品の実装がSMD（サー
フエスマウンテイングデバイス）化されるように
なつた。

また、このようなプリント基板の試験は、被試
験プリント基板をフイクチヤに収納し、テスト用
プローブピンを該被試験プリント基板の所定箇所
に当接させることで行われる。

したがつて、このようなプリント基板の試験の
試験に際しては、テスト用プローブピンが該被試
験プリント基板の所定箇所に確実に当接されるこ
とが重要である。

〔従来の技術〕

従来は第３図の従来の側面図に示すように構成
されていた。

プローブピン２が配列されたプレート１にはガ
イドポスト１３が固着され、被試験プリント基板
３がガイドポスト１３の案内によつて矢印Ａのよ
うに装着されることで、被試験プリント基板３の
試験が測定器１１によつて行われるようにしたも
のである。

このような被試験プリント基板３にはフツトプ
リント３Ａにリード端子４Ａが半田付けされるこ
とで電子部品４が実装され、半田付けされたフツ
トプリント３Ａにプローブピン２の先端が圧接さ
れ、プローブピン２が配線材１０を介して測定器
１１に接続されるように構成されている。

また、被試験プリント基板３には基準穴３Ｂが
複数個設けられ、それぞれの基準穴３Ｂがガイド
ポスト１３の先端のピン１３Ａに挿入されること
で被試験プリント基板３の位置決めが行われるよ
うに形成されていた。

したがつて、ガイドポスト１３の案内によつて
被試験プリント基板３を装着することでフツトプ
リント３Ａにプローブピン２の先端が合致され、
測定器１１による試験が行われていた。

〔考案が解決しようとする問題点〕

しかし、このようなフツトプリント３Ａは、通
常フイルムによるプリント技術によつて形成され
たものであるから、プリント基板とフイルムとの
位置決めがロツト内で差が生じることはないが、
ロツト単位によつて差が生じ、第３図に示す基準
穴３Ｂとフツトプリント３Ａの寸法Ｌが異なる場
合が生じる。

また、このような寸法ＬはＸまたはＹ方向のい
づれの方向に対しても生じる。

したがつて、このような寸法Ｌにずれが生じた
場合は、ガイドポスト１３の取付位置をずらす位
置調整が必要となる問題を有していた。

そこで、本考案は、該被試験プリント基板の位
置決め調整が容易に行われるようにすることを目
的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本考案にの原理説明図である。

第１図に示すように、プレートに係止されるフ
ランジと、該フランジに着脱され、被試験プリン
ト基板に設けられた基準穴に挿脱されるピンとよ
り成るガイドポストが具備されるように構成する
ようにしたものである。

このように構成することによつて前述の問題点
は解決される。

〔作用〕

即ち、ガイドポストをフランジとフランジに装
着されるピンとによつて構成することにより、被
試験プリント基板の位置調整が必要となつた場合
はピンをフランジより脱抜し、偏芯したピンを挿
入することで位置調整が行われるようにしたもの
である。

したがつて、従来のようなガイドポストの取付
位置を調整する必要がなく、ピンの挿脱すること
で簡単に調整することができる。

〔実施例〕

以下本考案を第２図を参考に詳細に説明する。
第２図は本考案による一実施例の説明図で、ａは
側面図、ｂはフランジの斜視図、ｃ１はピンの斜
視図、ｃ２，ｃ３はピンの平面図である。全図を
通じて、同一符号は同一対象物を示す。

第２図のａに示すように、プレート１にはピン
７とフランジ６とより成るガイドポスト５を設け
るように構成したものであり、その他は前述と同
じ構成である。

このフランジ６はｂに示すように、挿脱穴６Ａ
が設けされ、ネジ部６Ｂにナツト１４を螺着する
ことでプレート１に固着されるように形成され、
また、ピン７はｃ１に示すように、挿脱穴６Ａに
挿入されるガイド部７Ａと、被試験プリント基板
３の基準穴３Ｂに挿入される先端部７Ｂとが設け
られ、ガイド部７Ａが挿脱穴６Ａに挿入されるこ
とで装着が行われるように形成されている。

更に、挿入穴６Ａはガイド部７Ａが挿入された
時、ピン７が回転することがないよう位置決めさ
れる形状に形成されている。

そこで、被試験プリント基板３のフツトプリン
ト３Ａに位置ずれが生じ、プローブピン２の先端
がフツトプリント３Ａに合致されなくなつた場合
は、そのずれが、例えば、Ｘの横方向であればｃ
２に示すようにガイド部７Ａと先端部７Ｂとの互
いの中心がＸ方向にＳ１だけずれたピン７をそれ
ぞれのフランジ６に装着することで合致させるこ
とができ、また、Ｙの縦方向であればｃ３に示す
ようにガイド部７Ａと先端部７Ｂとの互いの中心
がＹ方向にＳ２だけずれたピン７をそれぞれのフ
ランジ６に装着することで合致させることができ
る。

したがつて、ガイド部７Ａと先端部７Ｂとの互
いの中心を所定の値によつてずらしたピン７を準
備し、プローブピン２の先端がフツトプリント３
Ａに合致されなくなつた場合はフランジ６に所定
のピン７を挿脱することで交換すれば、従来のよ
うなガイドポスト１３の取付位置を調整すること
なく、簡単にプローブピン２の先端をフツトプリ
ント３Ａに合致させることができる。

〔考案の効果〕

以上説明したように、本考案によれば、被試験
プリント基板の装着を案内するガイドポストのピ
ンは挿脱が行えるように形成されている。

したがつて、被試験プリント基板の試験に際し
て、プローブピン２の先端がフツトプリント３Ａ
に合致されなくなつた場合はピンを他のピンに交
換することでプローブピン２の先端をフツトプリ
ント３Ａに合致させるようにすることが行え、従
来のようなガイドポスト１３の取付位置を調整す
ることよりも簡単に位置調整を行うことができ、
試験工数の削減が図れ、実用的効果は大である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の原理説明図、第２図は本考案
による一実施例の説明図で、ａは側面図、ｂはフ
ランジの斜視図、ｃ１はピンの斜視図、ｃ２，ｃ
３は平面図、第３図は従来の側面図を示す。 図において、１はプレート、２はプローブピ
ン、３は被試験プリント基板、４は電子部品、５
はガイドポスト、６はフランジ、７はピン、３Ａ
はフツトプリント、３Ｂは基準穴、４Ａはリード
端子を示す。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 プローブピン２が配列されたプレート１と、電
   子部品４が実装された被試験プリント基板３とを
   備え、該プレート１に該被試験プリント基板３を
   重ね合わせることで該電子部品４のリード端子４
   Ａが該被試験プリント基板３のフツトプリント３
   Ａに固着された箇所に該プローブピン２を当接さ
   せるフイクチヤの構造において、 前記プレート１に係止されるフランジ６と、該
   フランジ６に着脱され、前記被試験プリント基板
   ３に設けられた基準穴３Ｂに挿脱されるピン７と
   より成るガイドポスト５が具備されて成ることを
   特徴とするフイクチヤの構造。