JPH05304211A - 半導体集積回路装置とそのレイアウト方法 - Google Patents

半導体集積回路装置とそのレイアウト方法

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JPH05304211A
JPH05304211A JP13152492A JP13152492A JPH05304211A JP H05304211 A JPH05304211 A JP H05304211A JP 13152492 A JP13152492 A JP 13152492A JP 13152492 A JP13152492 A JP 13152492A JP H05304211 A JPH05304211 A JP H05304211A
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JP
Japan
Prior art keywords
wiring
phase shift
integrated circuit
semiconductor integrated
circuit device
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Application number
JP13152492A
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English (en)
Inventor
Kazuya Ito
和弥 伊藤
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 配線レアウウトの簡素化を図りつつ、高集積
化を実現した半導体集積回路装置とそのレイアウト方法
を提供する。 【構成】 位相シフト法により形成される配線と、それ
に接続されるべき配線であって位相シフト法によならい
で形成される配線と、上記2つの配線間に一方の配線か
ら他方の配線に向かって段階的に位相シフト量が変化さ
せられることによって形成される境界配線、又はそれよ
り上層の配線からなる境界配線を設けて上記両配線間を
接続させる。 【効果】 上記のような境界配線を設けることにより、
半導体集積回路装置に形成される配線を、その回路ブロ
ックの中での条件のみを考慮して部分的に形成すること
ができるので、レイアウトの簡素化と位相シフト法によ
る高密度化が可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体集積回路装置
とそのレイアウト方法に関し、特に配線パターンが位相
シフト法により形成される部分を含むものに利用して有
効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】リソグラフィ技術の1つとして位相シフ
ト法を用いた解像度を向上させる技術が提案されてい
る。位相シフト法では、図6に示すように、例えばアル
ミニュウム層にシフタ付層b,dとシフタ無層a,cと
を交互に配置し、隣接パターン間の光の干渉を抑制し
て、言い換えるならば、位相を180°異ならせること
より、境界部分での光強度を打ち消し合わせて零にする
ものである。このような位相シフト法に関しては、19
91年5月、日経マグロウヒル社『日経マイクロデバイ
ス』がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本願発明者において
は、1つの半導体集積回路装置において、配線等を高密
度に形成される部分と、配線を比較的広いスペースをも
って形成される部分とがあることに着目して、配線等を
高密度に形成する回路ブロックを位相シフト法を用いて
形成し、それらの回路ブロック間を接続する配線として
位相シフト法を使用しないで形成することを考えた。こ
のような構成とすると、同一配線を位相シフト法による
部分と位相シフト法によらない部分を用いて形成しなけ
ればないないことが生じる。このとき、図7に示すよう
に、位相シフト付層bと位相シフト無層gで1つの配線
を形成しようとすると、仕上がりの配線パターンにおて
いは、上記位相シフト付部分bと位相シフト無部分gと
の境界部分で光強度の打ち消し作用によってパターンが
形成されないから、断線が生じてしまうという問題が生
じる。それ故、位相シフト法を用いた配線レイアウトに
あっては、上記のようにシフト付部分とシフト無部分か
ら配線が構成されるものでは、上記のような断線が生じ
ないようにしつつ、隣接パターンにおいて位相シフトを
行うようにするため手作業に頼らざるを得ない。
【0004】この発明の目的は、配線レアウウトの簡素
化を図りつつ、高集積化を実現した半導体集積回路装置
とそのレイアウト方法を提供することにある。この発明
の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明細
書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【0005】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記の通りである。すなわち、位相シフト法により形成さ
れる配線と、それに接続されるべき配線であって位相シ
フト法によならいで形成される配線と、上記2つの配線
間に一方の配線から他方の配線に向かって段階的に位相
シフト量が変化させられることによって形成される境界
配線、又はそれより上層の配線からなる境界配線を設け
て上記両配線間を接続させる。
【0006】
【作用】上記した手段によれば、上記のような境界配線
を設けることにより、半導体集積回路装置に形成される
配線を、その回路ブロックの中での条件のみを考慮して
部分的に形成することができるので、レイアウトの簡素
化と位相シフト法による高密度化が可能になる。
【0007】
【実施例】図1には、この発明に係る半導体集積回路装
置の一実施例の観念的なレイウアト図が示されている。
この実施例の半導体集積回路装置は、位相シフタ使用領
域Aと位相シフタ不使用領域Bとを含む。領域Aのbと
dはシフタ付きパターンであり、aとcはシフタ無しパ
ターンである。特に制限されないが、パターンaとパタ
ーンcはシフタを使用していないため、そのまま延びて
シフタ不使用領域Bのパターンと同じであるので領域B
のパターンと一体的に構成する。
【0008】一方、領域Aのパターンbとdはシフタが
付いているので、領域Bとの境界部で一旦、上層の配線
を形成するパターンe、fにスルーホールTH1とTH
2を介して接続した後、領域Bのパターンg、hに他端
でのスルーホールTH3とTH4を介して接続してい
る。
【0009】図2には、この発明に係る半導体集積回路
装置の他の一実施例の観念的なレイウアト図が示されて
いる。この実施例の半導体集積回路装置は、位相シフタ
使用領域Aと位相シフタ不使用領域Bとを含む。領域A
のbとdはシフタ付きパターンであり、aとcはシフタ
無しパターンである。この実施例においても、パターン
aとパターンcはシフタを使用していないため、そのま
ま延びてシフタ不使用領域Bのパターンと同じであるの
で領域Bのパターンと一体的に構成する。
【0010】一方、領域Aのパターンbとdはシフタが
付いているので、領域Bとの境界領域でA領域側ではシ
フタの位相を60゜減らし、領域Bではシフタ無の0゜
に対して位相を60゜増やして1つの配線が領域Bから
領域Aに至るまでの間に、領域B側では配線gとhがシ
フタ無の0゜となり、それと隣接する配線jとlが位相
を60゜となり、領域A側では配線iとkが位相が12
0゜となり、配線bとdでは180゜にするものであ
る。
【0011】このように段階的に位相を変化させて位相
の不連続を無くすことにより境界での断線を防止するこ
とができる。なお、このような段階的な位相シフトを実
現するために、光の位相を180°位相シフトされるS
VG膜の膜圧を基準1にすると、その膜圧を配線iとk
を形成する部分では2/3に調整し、その膜圧を配線j
とlを形成する部分では1/3に調整するものである。
上記膜圧の調整は、特に制限されないが、SVG膜の部
分的なエッチング時間の調整に実現可能になるものであ
る。
【0012】図3には、この発明に係る半導体集積回路
装置の一実施例の概略レイアウト図が示されている。こ
の実施例の論理集積回路装置は、特に制限されないが、
半導体基板上に形成される算術論理演算ユニット及び乗
算ユニット等からなる回路ブロックAとBを基本構成と
し、必要に応じて。レジスタファイル、リードオンリー
メモリ(ROM)、ランダムアクセスメモリ(RA
M)、ランダムロジック部等の回路ブロックB〜Fが配
置される。これにより、論理集積回路装置は、いわゆる
ストアドプログラム方式のディジタル処理装置として機
能する。
【0013】上記各回路ブロックA〜Fは、同図(A)
に示すように、位相シフタを使用し高密度の回路パター
ンと、同図で点線で示された配線領域又は入出力回路領
域は、位相シフタ不使用領域で回路パターンを含む第1
配線が形成される。同図(A)においては、第1配線は
各回路ブロックA〜Fは、他の回路ブロックとの接続を
無視して、その回路ブロック内で配線が終わるよう構成
される。配線領域は、その全てにおいて位相シフタを使
用しないで回路ブロック間を結び一部の配線、例えば配
線バスのみが形成される。同様に入出力回路もその回路
毎に配線が終わるように構成される。この第1配線は、
第1層目の配線であるという意味ではない。通常、上記
1つの回路ブロックや配線領域及び入出力回路を構成す
るために、複数層の配線から構成される。
【0014】この構成では、多数の回路ブロックにまた
がる配線にあっても、部分的にのみ形成されるものであ
るので、位相シフタによるパターンを比較的簡単に形成
することができる。言い換えるならば、個々の回路ブロ
ックが比較的回路規模の小さな半導体集積回路装置とみ
なせるから、後述するような位相シフタを利用した自動
配線アルゴリズムに従い、比較的単純にパターンのレイ
アウトを行うことができる。
【0015】1つの半導体集積回路装置を構成するため
に、同図(B)に示すように、上記回路ブロックA〜D
の入出力信号に対応した配線と、配線領域に形成されて
それに接続されるべき配線とは、図1と同様にこれらの
配線の上に形成される配線層からなる第2配線a1〜f
2を形成して相互に接続される。
【0016】この実施例では、回路ブロックAと回路ブ
ロックBとの間で信号の授受を行う配線は、回路ブロッ
クAと回路ブロックBとの境界に配線を形成するのでは
なく、上層の第2配線a2に形成される配線により、回
路ブロックAの位相シフト付又は位相シフト無配線と、
配線領域の位相シフト無配線の一端とがスルーホールを
介してそれぞれ接続される。上層の第2配線b1によ
り、回路ブロックBの位相シフト付又は位相シフト無配
線と、配線領域に形成され上記回路ブロックAに接続さ
れるべき位相シフト無配線の他端とがスルーホールを介
してそれぞれ接続される。
【0017】このように、配線領域に形成される回路ブ
ロック間を相互に接続される配線に対して、それぞれの
回路ブロックが上層の第2配線a1〜f2を介して接続
させることにより、回路ブロック間の接続が行われる。
このことは、回路ブロックA〜Fとそれに対応した入出
力回路との間においても同様である。
【0018】図4には、上記第1配線等を形成するため
のシフタパターン自動作成のアルゴリズムの一実施例の
概念図が示されいてる。
【0019】(1)は、オリジナルパターンであり、こ
のようなパターンに対応した配線等の仕上がりパターン
を得るために位相シフト法が用いられる。(2)では、
各パターンに対して隣接するものが交互に1と0となる
ように割り付けが行われる。(3)では、上記割り付け
の1と0に対応し、1が割り当てられたパターンのみに
位相シフタが設けられる。
【0020】(3)では、縦方向に延長されるパターン
の上部と横方向に延長されるパターンの境界で位相がシ
フトされてしまう。(4)では、上記のように隣接した
パターンの場所を抽出して、同層のパターンで埋める。
(5)では、オリジナルパターンを一定量ブロードン
し、このパターンに覆われない埋め込みパターンの部分
のシフタを反転させて(7)のような位相シフトパター
ンが形成される。
【0021】図5には、上記回路ブロック内の層間を接
続するコンタクトホールや、第2配線を形成する前に形
成される相互接続用のコンタクトホールを形成するため
のシフタパターン自動作成のアルゴリズムの一実施例の
概念図が示されいてる。
【0022】(1)ではコンタクト用のパターンを一定
間隔dに配置する。(2)では、位相シフタ付の補助パ
ターンをコンタクトホールの周辺に形成する。これによ
り、コンタクトホールを高密度に形成することができ
る。
【0023】上記の実施例から得られる作用効果は、下
記の通りである。すなわち、 (1) 位相シフト法により形成される配線と、それに
接続されるべき配線であって位相シフト法によならいで
形成される配線と、上記2つの配線間に一方の配線から
他方の配線に向かって段階的に位相シフト量が変化させ
られることによって形成される境界配線、又はそれより
上層の配線からなる境界配線を設けて上記両配線間を接
続させることにより、半導体集積回路装置に形成される
配線を、その回路ブロックの中での条件のみを考慮して
部分的に形成することができるので、レイアウトの簡素
化と位相シフト法による高密度化が可能になるという効
果が得られる。
【0024】(2) 位相シフト法を用いて形成される
回路ブロックを機能ブロック単位に限定し、機能ブロッ
ク回路の接続は、機能ブロックの配線と同時に形成され
る位相シフト法によらないで形成される配線領域と、両
者を接続する上層配線とにより半導体集積回路装置を形
成することにより、位相シフト法による回路ブロックを
実質的に小さな回路規模に限定できるので、レイアウト
の簡素化と高密度化が可能になるという効果が得られ
る。
【0025】以上本発明者よりなされた発明を実施例に
基づき具体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種
々変更可能であることはいうまでもない。例えば、図2
において、境界領域に設けられる配線は、位相シフト量
が段階的に45°ずつ段階的に変化させられるもの、あ
るいは30°ずつ段階的に変化させられるもの等種々の
実施形態を採ることができる。また、半導体メモリに適
用する場合には、高密度が要求されるメモリアレイやデ
コーダを1つの機能ブロックとして見做して位相シフト
法によりパターンを形成し、比較的実装面積に余裕のあ
る入出力バッファや入力バッファとデコーダ等を接続す
る配線を配線領域として位相シフト法によならいでパタ
ーンを形成するものであってもよい。このように、図3
の実施例における回路ブロックは、種々の実施形態を採
ることができるものである。この発明は、半導体集積回
路装置とそのレイアウト方法として広く利用できるもの
である。
【0026】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。すなわち、位相シフト法により形成さ
れる配線と、それに接続されるべき配線であって位相シ
フト法によならいで形成される配線と、上記2つの配線
間に一方の配線から他方の配線に向かって段階的に位相
シフト量が変化させられることによって形成される境界
配線、又はそれより上層の配線からなる境界配線を設け
て上記両配線間を接続させることにより、半導体集積回
路装置に形成される配線を、その回路ブロックの中での
条件のみを考慮して部分的に形成することができるの
で、レイアウトの簡素化と位相シフト法による高密度化
が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る半導体集積回路装置の一実施例
を示す観念的なレイウアト図である。
【図2】この発明に係る半導体集積回路装置の他の一実
施例を示す観念的なレイウアト図である。
【図3】この発明に係る半導体集積回路装置の一実施例
の示す概略レイアウト図である。
【図4】第1配線等を形成するためのシフタパターン自
動作成のアルゴリズムの一実施例を示す概念図である。
【図5】コンタクトホールを形成するためのシフタパタ
ーン自動作成のアルゴリズムの一実施例を示す概念図で
ある。
【図6】位相シフト法を説明するためのパターン図であ
る。
【図7】位相シフト法による断線を説明するためのパタ
ーン図である。
【符号の説明】
a〜g…パターン、A〜F…回路ブロック。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 位相シフト法によって形成される配線を
    含む第1の半導体領域と、位相シフト法を使用しないで
    形成される配線を含む第2の半導体領域と、上記第1の
    半導体領域に形成される配線とそれに接続されるべき第
    2の半導体領域に形成される配線とを層間絶縁膜を介し
    て接続させる配線層とを備えてなることを特徴とする半
    導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 上記第1の半導体領域は、特定の回路機
    能を持つ回路ブロックであり、第2の半導体領域は少な
    くとも上記回路ブロック間を接続するための配線の一部
    を構成する配線ブロックであることを特徴とする請求項
    1の半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 位相シフト法により形成される配線と、
    それに接続されるべき配線であって、位相シフト法によ
    ならいで形成される配線と、上記2つの配線間に設けら
    れ一方の配線から他方の配線に向かって段階的に位相シ
    フト量が変化させられる境界配線とを備えてなることを
    特徴とする半導体集積回路装置。
  4. 【請求項4】 位相シフト法により形成される配線と、
    それに接続されるべき配線であって位相シフト法によな
    らいで形成される配線と、上記2つの配線間に設けられ
    一方の配線から他方の配線に向かって段階的に位相シフ
    ト量が変化させられる境界配線、又はそれより上層の配
    線からなる境界配線を設けて上記両配線間を接続させる
    ことを特徴とする半導体集積回路装置のレイアウト方
    法。
JP13152492A 1992-04-25 1992-04-25 半導体集積回路装置とそのレイアウト方法 Pending JPH05304211A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6588005B1 (en) 1998-12-11 2003-07-01 Hitachi, Ltd. Method of manufacturing semiconductor integrated circuit device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6588005B1 (en) 1998-12-11 2003-07-01 Hitachi, Ltd. Method of manufacturing semiconductor integrated circuit device

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