JPH05293306A - 脱泡装置 - Google Patents

脱泡装置

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JPH05293306A
JPH05293306A JP12964692A JP12964692A JPH05293306A JP H05293306 A JPH05293306 A JP H05293306A JP 12964692 A JP12964692 A JP 12964692A JP 12964692 A JP12964692 A JP 12964692A JP H05293306 A JPH05293306 A JP H05293306A
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JP
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bubbles
sealing device
substrate
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vibration
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JP12964692A
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English (en)
Inventor
Toshiyuki Onishi
敏之 大西
Tatsuro Takemoto
達郎 竹本
Tomomichi Endou
友美智 遠藤
Toyoji Kuriyama
豊治 栗山
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Plantex Ltd
PlantX Corp
Original Assignee
Plantex Ltd
PlantX Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】処理液中に浸潰した物品の表面の凹部やスルー
ホール内に付着した気泡を完全に除去する。 【構成】空気層を除去した密閉器22内をピストン5に
より複数回に亘り吸引・減圧すると共に、振動台18に
より密閉器22に振動を加える。減圧により、基板21
の表面に付着した気泡の体積が圧力に反比例して増大
し、このため気泡に作用する浮力が増大し、基板21と
気泡との接着力に比して浮力が相対的に大となって、気
泡が基板21の表面から剥離・除去される。基板21表
面の微細な凹部に付着した気泡であっても、減圧に伴っ
て気泡の主要部が凹部外に大きく膨出するので、効果的
に除去できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、メッキなどの各種液体
処理工程において、処理液中に浸漬した物品の表面に付
着する気泡を、物品表面から剥離・除去するための脱泡
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】物品を処理液中に浸漬した場合に、その
物品の表面には微細な気泡の付着がみられる。この気泡
は、処理液の温度上昇の際に物品の表面全体に現れる
が、これは、処理液の温度の上昇に伴い空気溶解度が減
少することにより、溶けていた空気が気泡となったもの
である。
【0003】この種の気泡の付着は、例えばプリント基
板のスルーホールメッキ工程では、メッキすべき被処理
面のメッキ付着を妨げて不良品発生の原因になる等の障
害を生じるため、これを極力防止することが工業上望ま
しい。
【0004】このような気泡を除去する技術としては、
メッキ処理中のプリント基板に対して振動を与えること
が知られている(例えば特公昭56−4639号公
報)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、振動させて
も、スルーホール内や被処理面の微細な凹部に付着した
気泡までは除去できないという問題点があった。
【0006】一方、スルーホール内の気泡除去を目的と
した技術としては、密閉槽内をメッキすべき基板により
隔壁して分割し、分割した密閉槽の両側に移送ポンプの
吸込口と吐出口とをそれぞれ接続することにより、移送
ポンプで加圧されたメッキ液を、基板のスルーホールの
みを通して、吸込口側の密閉槽部に流出させるようにし
た装置が提案されている(特開昭59−112693号
公報)。
【0007】しかし、この装置ではスルーホール内の気
泡は除去できても、基板表面の微小な凹部に付着した気
泡はやはり除去できない。また、密閉槽内を分割するよ
うにメッキすべき基板をいちいち設置しなければなら
ず、工程が煩雑で自動化が困難であるという問題点もあ
った。さらに、移送ポンプを用いるという構成上、装置
全体がいたずらに大掛かりとなり、その上、移送ポンプ
の排気によって微小な塵が大量に生じるため、防塵を要
する環境においては到底その設置が不可能であり、高精
度の処理には適用できないものであった。
【0008】このような凹部に付着した気泡は、直径1
00μm程度の極めて微小なものであり、機械的な払拭
によっても除去できない場合が多い。そこで、本発明の
目的は、物品の表面もしくはスルーホール内に付着した
気泡を除去でき、100μm以下の微小な気泡をも除去
可能で、処理工程を円滑に行うことのできる脱泡装置を
提供するにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべ
く、第1発明の脱泡装置は、処理液中に浸潰した物品の
少なくとも被処理面を密閉すべき密閉器と、前記密閉器
内の処理液を減圧すべき減圧手段とを備えてなるもので
ある。
【0010】さらに第2発明は、前記処理液中の物品を
振動すべき振動手段を備えてなる請求項1記載の脱泡装
置である。
【0011】
【作用】第1発明では、物品を処理液中に浸潰すると共
に、物品の少なくとも被処理面を密閉器により密閉する
と共に、減圧手段により前記被処理面を含む密閉器内を
減圧する。
【0012】一般に気体の体積と圧力の積は一定である
から、この減圧の際に、物品表面に付着している気泡の
体積は、圧力に反比例して増大し、圧力を1/10にす
れば体積は10倍となる。この体積の増大に伴い、その
気泡に作用する浮力が増大し、物品と気泡との接着力に
比して浮力が大となることにより、気泡が物品表面から
剥離・除去される。特に、物品表面の微細な凹部に付着
した気泡は一般に除去困難であるが、本発明によれば、
減圧に伴って気泡の主要部が凹部外に大きく膨出するの
で、物品表面からの気泡の剥離が促進される効果があ
る。
【0013】さらに第2発明では、減圧手段による減圧
に際して、振動手段により物品を振動する。この振動に
より、物品表面と気泡との境界面における接着性が一層
不安定となるため、気泡の剥離をさらに促進できる。
【0014】
【実施例】本発明実施例について、以下に説明する。図
1は第1実施例の脱泡装置1を示す断面図である。図中
2は容器本体であり、その上部には開口部3を形成する
と共に、下部には容器本体2内と連通した減圧用シリン
ダ4を突設する。5は減圧用のピストンであり、駆動軸
6を介して、例えば油圧シリンダやクランクなどの往復
動装置に接続する。7は液隔離ベローであり、容器本体
2内の無電解メッキ液とピストン側の液8とを隔離する
ものである。これら減圧用シリンダ4、ピストン5、駆
動軸6、液隔離ベロー7および往復動装置は、減圧機構
17を構成する。
【0015】9は蓋体であり、容器本体2の外周に嵌合
すべき円筒部10、逆漏斗状の天井部11、この天井部
11の頂部に設けられた空気層を逃がすための逃し孔1
2、および逃し孔12の上部周囲に形成した凹部13か
らなる。逃し孔12の上部には、容器本体2側から凹部
13側へのみ液体を排出する逆止弁14を設ける。天井
部11の下部にはスペーサ15を一体的に取付ける。円
筒部10の内周面には、容器本体2との間をシールすべ
きOリングなどのパッキン16を嵌合する。
【0016】18は振動台であり、底部にバネ23,2
3を設けると共に、上部には振動モータ23を取付け
る。振動モータ23は、アンバランスウェイト24を装
着した回転軸25の回転によって振動を発生するもので
ある。振動台18は、振動モータ22の回転軸25が1
回転すると1振動し、その振動数は例えば50回/分〜
3000回/分の範囲が好ましく、特に800回/分〜
900回/分が好ましい。また、振動モータ23に代え
て、いわゆる電磁式バイブレータを用いてもよい。
【0017】次に、このように構成した第1実施例の動
作について説明する。いま、無電解メッキ液を一杯に満
たした容器本体2内に、基板21,21…を収容した籠
19をセットして、基板21,21…を無電解メッキ液
中に完全に浸潰する。
【0018】次に、蓋体9の円筒部10を容器本体2の
外側にはめ込んで、これら蓋体9および容器本体2から
密閉器22を構成する。このとき、蓋体9に一体的に取
付けられたスペーサ15が無電解メッキ液内に沈むこと
により、液面が上昇し、無電解メッキ液が逃し孔12お
よび逃し弁14を通じて、無電解メッキ液が凹部13内
に溢れる。この少量の溢出により、作業者は密閉器22
内から空気層が除去された旨を確認する。
【0019】このようにして密閉器22から空気層を除
去した後に、往復動機構(図示省略)によりピストン5
を急速に図中右方向に後退させて、密閉器22内を吸引
する。この吸引は複数回にわたり繰り返して行う。この
吸引に際して、逆止弁14により逃し孔12が閉じて密
閉器22内が完全に密閉状態となり、密閉器22内の無
電解メッキ液が減圧される。
【0020】この減圧により、無電解メッキ液に浸潰さ
れた基板21,21…の表面に付着した気泡の体積が、
無電解メッキ液の圧力に反比例して増大する。この体積
の増大に伴い、気泡に作用する浮力が増大し、基板21
と気泡との接着力に比して浮力が相対的に大となること
により、気泡が基板21の表面から剥離・除去される。
特に、基板21の表面の微細な凹部に付着した微小気泡
は一般に除去困難であるが、本実施例によれば、減圧に
伴って微小気泡の主要部が凹部外に大きく膨出するの
で、基板21の表面からの微小気泡の剥離が促進される
効果がある。また、ピストン5の往復動に際して減圧用
シリンダ4中の無電解メッキ液が容器本体22側に押し
出されるので、基板21近傍の周囲の無電解メッキ液が
攪拌され、気泡の剥離が一層効果的に行われるという付
随的な効果もある。
【0021】一方、この減圧に並行して、振動モータ2
3により密閉器22に振動を加える。この振動により、
基板21と気泡との境界面における接着性が一層不安定
となるため、気泡の剥離がさらに促進される。
【0022】このようにして、基板21,21…の表面
に付着した気泡が完全に除去される。この気泡除去工程
を行う過程で、密閉器22内の無電解メッキ液が所定温
度を越えると、触媒作用により液分解を起こし、これに
より基板21,21…の表面にメッキ層が形成されてい
く。
【0023】このように第1実施例では、無電解メッキ
液中に浸潰した基板21,21…の被処理面を含む全体
を密閉器22により密閉すると共に、ピストン5により
密閉器内の無電解メッキ液を減圧し、さらに減圧に並行
して振動モータ23で基板21,21…を振動させる構
成とした。従って、気泡除去効果が極めて大きく、従来
除去し得なかった直径100μm以下の微小気泡をも確
実に除去できる。
【0024】また、蓋体9を閉じる際にスペーサ15に
より容器本体2内の空気層を予め押し出すことにより、
密閉器22内の空気層を除去してから減圧を行うように
構成したので、密閉器22内の空気層の膨脹により減圧
効果が損なわれるおそれがない。
【0025】また、ピストンおよびシリンダからなる簡
易な減圧機構を採用したので、従来の移送ポンプを用い
た装置に比して極めて簡便である上、移送ポンプのよう
に大量の塵を発生するおそれは皆無であるから、クリー
ンルームのような防塵を要する環境下においても適用が
可能であるという利点がある。
【0026】なお、第1実施例では、減圧を効果的に行
う目的から、ピストン5による吸引は、無電解メッキ液
の蒸気圧が飽和する速度より速い速度で行うことが望ま
しい。
【0027】また、第1実施例ではピストン5による減
圧を複数回にわたり繰返して行う構成としたが、充分な
減圧が可能であれば1回だけの減圧でも効果的な気泡除
去が行える。また、振動台18は、連続的な振動を行う
構成のほか、基板21に対して単発的な衝撃を加える構
成としてもよい。
【0028】次に、第2実施例について説明する。図2
において、31は第2実施例の脱泡装置であり、32は
容器本体、33は蓋体である。容器本体32の側面下部
には、減圧用シリンダ34、ピストン35、駆動軸3
6、液隔離ベロー37および往復動装置(図示省略)か
らなる第1実施例と同様の減圧機構38を構成する。
【0029】蓋体33は、逆漏斗状の天井部39、空気
層を逃がすための逃し孔40、および逃し孔40の上部
の周囲に形成した凹部41からなる。逃し孔40の上部
には逆止弁42を設けると共に、逆止弁42の近傍には
液検知センサ43を配置する。一方、容器本体32の上
部の外縁に短円筒部44を形成すると共に、短円筒部4
4の内側に沿って平面部46を形成し、この平面部46
にはOリングなどのパッキン45を配設する。
【0030】47は基板48,48…に振動を加えるた
めの振動台であり、駆動軸49の上端に固着する。駆動
軸49の下端は図示しない振動装置に接続して振動台4
7を上下に振動可能とする。50はダイアフラムであ
り、中心部を駆動軸49に、外周部を容器本体32の内
側にそれぞれ固着し、容器本体32の内部を外部から遮
蔽すると共に駆動軸49を上下動可能とする。振動台4
7の上面周囲には、基板48,48…を保持するための
籠51を構成する。
【0031】しかして、第2実施例の使用法を説明す
る。いま、容器本体32内に無電解メッキ液を一杯に満
たすと共に、籠51に基板48,48…をセットして基
板48を無電解メッキ液中に浸潰する。
【0032】次に、蓋体33を容器本体32の短円筒部
44の内側にはめ込んで、密閉器52を構成する。
【0033】次に、密閉器52内から空気層を除去す
る。すなわち、ピストン35を徐々に突出して、無電解
メッキ液を逃し孔40から凹部41内に溢れさせ、これ
を液検知センサ43で検出することにより空気層が除去
されたことを確認する。
【0034】このようにして密閉器52内の空気層の除
去が完了すると、次にピストン35が急速に後退して、
密閉器52内を吸引する。この吸引は複数回にわたり繰
り返して行う。このとき、逆止弁42により逃し孔40
が閉じて密閉器52内が完全に密閉状態となり、密閉器
52内の無電解メッキ液が減圧される。一方、この減圧
に並行して、振動装置(図示省略)により振動台47に
振動を加える。この減圧および振動により、密閉器52
内の基板48,48…の表面や微細な凹部に付着した気
泡が、基板48の表面から完全に剥離・除去できる。
【0035】このように第2実施例では、無電解メッキ
液中に浸潰した基板48,48…の被処理面を含む全体
を密閉器52により密閉すると共に、ピストン36によ
り密閉器内を減圧し、さらに減圧に並行して振動台47
により基板48,48…を振動させる構成とした。従っ
て、上記第1実施例と同様に著大な気泡除去効果を奏す
る。
【0036】加えて第2実施例では、密閉器52内に収
容した振動台47のみを振動させることとしたので、振
動装置の振動が駆動軸49を介して振動台47のみに伝
わり他に波及しないから、この振動台47を経て基板4
8,48…を効率よく振動できる。また密閉器52全体
を振動させる場合に比して振動装置が小出力のもので足
りる。また、容器本体32の上部に平面部46を形成し
たので、減圧機構38の減圧に伴って、平面部46のパ
ッキン45に蓋体33が圧接するため、第1実施例の構
成に比して容器本体32内の密閉が確実であり、減圧効
果が損なわれるおそれがないという利点もある。
【0037】次に、第3実施例について説明する。図4
に示すように、第3実施例の脱泡装置55は、基板65
を無電解メッキ液中でピンチローラ63,63により一
定速度で搬送すると共に、基板65の被処理面66を密
閉器56で間歇的に吸引・減圧することにより、被処理
面66の気泡を除去するものである。
【0038】図3において、密閉器56は、搬送方向に
対し幅方向に長い箱体の下端に、スリット状の開口部5
7を形成すると共に、開口部57の口縁部には、軟質材
からなるクッション58を配設してなる。密閉器56の
上面には、振動装置59を一体的に取付ける。また、密
閉器56の上方の不動位置にスプリング60,60の上
端を固定すると共に、そのスプリング60,60の下端
に密閉器56を懸吊状に取付け、このスプリング60,
60により密閉器56の上下動を許容させる。
【0039】密閉器56には、基板65の搬送方向に対
して左右両端部にセンサ69,70(図4参照)を設け
る。このセンサ69,70は、密閉器56の開口部57
の下方の処理位置に基板65が配置されているか否かを
検出するものである。
【0040】62は排気ポートであり、吸気管63によ
り、密閉器56内と、図示しない減圧装置とを連通す
る。減圧装置は、この脱泡装置55を設置した部屋とは
隔絶された別室に配置する。なお、減圧装置は上記第1
実施例と同様のものでもよいし、より大出力の真空ポン
プ等を用いてもよい。吸気管63は、減圧装置の減圧に
際して潰れず、かつ適度の可撓性を有するものを用い
る。
【0041】68は無電解メッキ液を満たす処理液槽で
あり、図示しない前処理工程および後処理工程にそれぞ
れ連通している。処理液槽68の内部には水平のピンチ
ローラ64,64…を、上下2本を一組として複数組を
一定間隔おきに配置する。これらピンチローラ64,6
4…は基板65,65を搬送するものであり、その表面
は基板を確実に保持できる軟質材により構成する。
【0042】このような構成において、まず前処理工程
を終了した基板65を、ピンチローラ64,64…の搬
送により密閉器56の下方に配置する。この搬送は、秒
速1mm程度の速度で連続的に行う。
【0043】次に、センサ69,70により、基板65
が密閉器56の下方の処理位置に配置されたことを検出
すると、これに応じて室外の減圧装置が起動し、排気ポ
ート62を介して密閉器56内を吸引する。この吸引に
より、密閉器56が基板65の表面の被処理面66に引
き寄せられ、密閉器56の開口部57が基板65に密閉
状に接合すると共に、密閉器56内の無電解メッキ液が
減圧される。また、この減圧の開始と共に、振動装置5
9が起動して、密閉器56および被処理面66に振動を
加える。
【0044】この減圧および振動は、所定時間ずつ間歇
的に行う。従って、ピンチローラ64,64…の搬送に
伴って、密閉器56と基板65との当接位置が順次移動
し、被処理面66が密閉器の幅ずつ処理される。
【0045】このように、第3実施例では、処理液槽6
8内において基板65を連続的に移動させつつ、基板6
5の被処理面66に一定幅ずつ気泡除去処理を行う構成
とした。従って、上記第1および第2実施例のように密
閉器の蓋体を開閉する手間がなく連続的に処理できるの
で、大量処理に好適であるといえる。
【0046】なお、第3実施例における密閉器56に適
宜の往復動機構を設け、センサ69,70により基板6
5の幅方向左右の端部を検出すると共に、往復動機構で
密閉器56を搬送方向に対して幅方向に移動しながら、
上記の減圧を行う構成とすれば、基板65の幅が大きい
場合にも被処理面66の前面に亘って気泡除去が可能に
なるという利点がある。
【0047】また、密閉器56の開口部57に、格子状
の保護枠を配設し、急速な減圧に起因する基板65の変
形や破壊を防止する構成としてもよい。
【0048】なお、上述した第1ないし第3実施例で
は、気泡除去工程に並行して無電解メッキを行う構成と
したが、本発明ではこれに代えて電解メッキを行う構成
としてもよいし、あるいは基板を他のメッキ槽に移送し
て電解または無電解メッキ工程を行う構成としても良
い。また本発明では、気泡を除去すべき非処理物はプリ
ント基板に限定されるものではなく、各種の精密メッキ
工程や、洗浄その他の各種液体処理工程に適用できる。
【0049】
【発明の効果】以上詳述したように、第1発明では、処
理液中に浸潰した物品の少なくとも被処理面を密閉すべ
き密閉器と、前記密閉器内の処理液を減圧すべき減圧手
段とを備えた。従って、減圧手段の減圧により気泡の体
積が増大して物品から剥離しやすくなり、極めて大きな
気泡除去効果を奏する。特に、従来除去困難であった直
径100μm以下の微小気泡や、物品表面の微細な凹部
に付着した気泡をも除去可能である。また、従来の脱泡
装置のように密閉槽内を分割するように基板をいちいち
設置する必要がないので、処理工程を円滑に行える。
【0050】さらに第2発明では、処理液中の物品を振
動すべき振動手段を備えたので、この振動手段の振動に
より、物品表面と気泡との境界面における接着性が一層
不安定となるため、気泡の剥離をさらに促進できるとい
う効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例の脱泡装置を示す断面図である。
【図2】第2実施例の脱泡装置を示す断面図である。
【図3】第3実施例の脱泡装置を示す断面図である。
【図4】第3実施例の使用状態を示す斜視図である。
【符号の説明】
1,31,55 脱泡装置 17,38 減圧機構 62 排気ポート 22,52,56 密閉器 21,48,65 基板 23,59 振動装置 18,47 振動台
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 栗山 豊治 東京都渋谷区東1丁目27番9号 株式会社 プランテックス内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】処理液中に浸潰した物品の少なくとも被処
    理面を密閉すべき密閉器と、前記密閉器内の処理液を減
    圧すべき減圧手段とを備えてなる脱泡装置。
  2. 【請求項2】前記処理液中の物品を振動すべき振動手段
    を備えてなる請求項1記載の脱泡装置。
JP12964692A 1992-04-22 1992-04-22 脱泡装置 Pending JPH05293306A (ja)

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