JPH05235746A - Cmosゲート - Google Patents

Cmosゲート

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JPH05235746A
JPH05235746A JP4034916A JP3491692A JPH05235746A JP H05235746 A JPH05235746 A JP H05235746A JP 4034916 A JP4034916 A JP 4034916A JP 3491692 A JP3491692 A JP 3491692A JP H05235746 A JPH05235746 A JP H05235746A
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JP
Japan
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gate array
cmos
elements
threshold voltage
circuit
Prior art date
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JP4034916A
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English (en)
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Masamitsu Kamiyama
雅充 神山
Shinzo Sato
信三 佐藤
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明はCMOS素子を使用したゲートアレ
イに関し、ゲートシレイにおいて論理演算回路など所定
の回路に組込まれていない余剰の素子を活用してゲート
アレイのスレショルド電圧を調整できるCMOSゲート
を提供することを目的とする。 【構成】 CMOS素子を使用し、論理演算回路を形成
するゲートアレイにおいて、CMOS素子の内所定のゲ
ートアレイを形成してない素子の少なくとも1個(9-1)
を、ゲートアレイ(8) の電源(3) 側または接地側(4) で
前記ゲートアレイ(8) の素子と並列または直列接続する
ことによりスレショルド電圧の調整を行うことで構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はCMOS素子を使用した
ゲートアレイに関する。CMOS素子を使用したゲート
アレイは低消費電力傾向のため、広く実用化されている
が、特に論理演算回路に使用して、その入力端子数が多
くなったとき、回路のスレショルド電圧を調整する必要
がある。従来はカスタムアレイであればCMOS素子の
ゲートのチャネルサイズを変更して対処出来たが、ゲー
トアレイではその手段が採用出来なかった。他の手段を
開発することが要望された。
【0002】
【従来技術】CMOS素子を使用したカスタムアレイの
例として、図4に示すナンド回路があった。図4におい
て1-1,1-2,1-3 は信号入力端子、2は演算後の出力信号
端子、3は正電圧電源Vcc、4は接地、5-1,3-2,5-3 は
互いに並列接続されたCMOS素子でpチャネルFE
T、6-1,6-2,6-3 は互いに直列接続されたCMOS素子
でnチャネルFETを示す。図4の動作説明を行うと
き、信号入力端子は1、pチャネルFETのCMOS素
子は5のように添字を省略して記述する。
【0003】今、信号入力端子1に全て“H”を印加し
たとき、nチャネル型素子6は同時に全てオンとなり、
pチャネル型素子5は全てオフしているから、出力端子
2は接地4の電位が現れ“L”である。
【0004】信号入力端子1に1つでも“L”で印加さ
れると、対応する素子6がオフとなり、対応する素子7
がオンに変わって、出力端子2は正電圧電源3の電位が
現れ“H”となる。入力の“L”が増加して全て“L”
となっても出力端子2の電位は“H”である。
【0005】このとき信号入力端子1の数を増加し、或
いは減少したとき、ナンド演算の動作は変化しないが、
スレショルド電圧は変化することとなった。それは直列
回路・並列回路の各素子の数が変わったために起こる現
象である。
【0006】図5に示すように、図5(A) は信号入力端
子の“L”から“H”への変化を示し、入力の変化に対
し、出力が図5(B) に示すように変化する。このとき
“L”と“H”の振幅のほぼ半分の振幅を回路のスレシ
ョルド電圧Vthという。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、2個以
上の素子が直並列接続されているから、信号入力端子数
を増加して、より多くの信号が印加されるとき、演算回
路を構成する素子の接続が変更されるため、各FETの
オン抵抗の合成値が変わって、結局スレショルド電圧が
変わってしまう。例えば端子数が増加してそれら全端子
に“L”→“H”へ変化する信号を入力させたとき、出
力の“H”→“L”への変化に時間遅れを生じることが
起こる。その誤動作を避けるためCMOS素子(FE
T)のゲート電極のチャネルの大きさを変更させて対処
していた。
【0008】しかしCMOS素子を使用したゲートアレ
イの場合は、チャネルサイズが同じ素子を使用している
から、カスタムアレイの場合と異なり、ゲートアレイの
入力数の増加につれてナンド回路のスレショルド電圧は
上昇し、ノア回路であればスレショルド電圧は下降する
ため、しばしば誤動作を起こすという欠点が生じた。
【0009】本発明の目的は前述の欠点を改善し、ゲー
トアレイにおいて論理演算回路など所定の回路に組込ま
れていない余剰の素子を活用してゲートアレイのスレシ
ョルド電圧を調整できるCMOSゲートを提供すること
にある。
【0010】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理構成
を示す図である。図1において、1-1,1-2 〜は信号入力
端子、2は演算後の出力信号端子、3は正電圧電源Vc
c、4は接地、8はCMOS素子を使用するゲートアレ
イ、9-1,9-2 〜は所定個数だけ直列接続されたCMOS
素子を示す。
【0011】CMOS素子を使用し、論理演算回路を形
成するゲートアレイにおいて、本発明は下記の構成とす
る。即ち、CMOS素子の内所定のゲートアレイを形成
してない素子の少なくとも1個(9-1) を、ゲートアレイ
(8) の電源(3) 側または接地(4) 側で前記ゲートアレイ
(8) の素子と並列または直列に接続することによりスレ
ショルド電圧の調整を行うことで構成する。
【0012】
【作用】CMOS素子を使用するゲートアレイ8を形成
するとき、ゲートアレイに含まれず、剰余のCMOS素
子が生じることがあるので、そのような素子をゲートア
レイ8の電源3側または図1に示すように接地4側に挿
入接続する。
【0013】今、挿入接続がないとき信号入力端子1-1,
1-2 〜に印加した“H”, “L”の信号に対しゲートア
レイで演算した後、出力端子2に現れる信号はその動作
上出力端子2と接地4間のCMOS素子のオン抵抗によ
る抵抗分割した値により回路のスレショルド電圧が決定
される。そのためCMOS素子9-1 を挿入接続すると
き、抵抗分割した電圧が調整され、即ちスレショルド電
圧が可変できるので、信号入力端子1-1,1-2 〜の増加な
どに伴うスレショルド電圧の変化を打ち消すことが出来
る。
【0014】挿入接続したCMOS素子9-1 は複数個使
用することもあり、そのときの接続は直列・並列または
直並列接続となる。挿入したときスレショルド電圧の変
化を打ち消すように接続すれば良い。
【0015】
【実施例】図2は本発明の第1実施例としてゲートアレ
イがナンド回路を構成し、挿入したCMOS素子が2個
直列となる場合を示す図である。図2において、8はC
MOS素子を使用するゲートアレイ、9は挿入接続され
たCMOS素子でpチャネルFETを2個直列接続し、
ゲートアレイ8の電源側に接続し、両FETのゲート電
極を共通接地したものを示す。したがってCMOS素子
9は常にオン状態になる。
【0016】ゲートアレイ8に対する入力信号端子を増
加または減少させたとき、対応させてCMOS素子9の
素子数を減少または増加させる。直列に増加させたと
き、CMOS素子1個のオン抵抗に対応する電圧だけス
レショルド電圧が接地側に変化した値となる。
【0017】図3は本発明の第2実施例としてゲートア
レイがノア回路を構成し、挿入したCMOS素子が2個
直列となる場合を示す図である。図3において、8はC
MOS素子を使用するゲートアレイ、10は挿入された
CMOS素子でnチャネルFETを2個直列接続し、ゲ
ートアレイ8の接地側に挿入し、両FETのゲート電極
を共通に正電源と接続したものを示す。したがってCM
OS素子10は常にオン状態となる。
【0018】当初の入力端子において1つ以上が“L”
であったものが、全て“H”を印加することにより出力
端子2の電位を“L”に切換えるとき、全てのpチャネ
ル型FETがオンとなり、また挿入素子10がオンとな
っているから、出力端子2の“L”レベルは、直列接続
されているCMOS素子のオン抵抗の数によって決ま
る。またスレショルド電圧は挿入素子10のオン抵抗分
だけ電源側に近い値となる。
【0019】以上は挿入したCMOS素子が直列接続さ
れている場合についての説明であるが、信号入力端子の
増加数などにより、挿入素子の数を複数とし、スレショ
ルド電圧を変化させないように適宜な直並列の接続とす
れば良い。
【0020】
【発明の効果】このようにして本発明によると、CMO
S素子の内所定のゲートアレイを形成してないような剰
余の素子を少なくとも1個挿入接続しているため、入力
信号端子の数が増加して、信号に“L”,“H”の切換
が起こり回路のスレショルドレベルを変化させようとす
るとき、その傾向を打ち消すことが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理構成を示す図である。
【図2】本発明の第1実施例の構成を示す図てある。
【図3】本発明の第2実施例の構成を示す図である。
【図4】従来のカスタムアレイによるナンド回路の構成
を示す図である。
【図5】図4について回路のスレショルド電圧を説明す
るための図である。
【符号の説明】
1-1,1-2 〜 入力信号端子 2 出力信号端子 3 電源 4 接地 8 ゲートアレイ 9-1 CMOS素子の1個

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】CMOS素子を使用し、論理演算回路を形
    成するゲートアレイにおいて、 CMOS素子の内所定のゲートアレイを形成してない素
    子の少なくとも1個(9-1) を、ゲートアレイ(8) の電源
    (3) 側または接地(4) 側で前記ゲートアレイ(8) の素子
    と並列または直列に接続することによりスレショルド電
    圧の調整を行うことを特徴とするCMOSゲート。
JP4034916A 1992-02-21 1992-02-21 Cmosゲート Expired - Lifetime JP2944292B2 (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003037499A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Murata Mfg Co Ltd 周波数シンセサイザ、周波数シンセサイザと基準信号発振器の接続方法およびそれらを用いた通信装置
JP2013138436A (ja) * 2007-11-08 2013-07-11 Qualcomm Inc 調整可能デューティサイクル回路
US8847638B2 (en) 2009-07-02 2014-09-30 Qualcomm Incorporated High speed divide-by-two circuit
US8854098B2 (en) 2011-01-21 2014-10-07 Qualcomm Incorporated System for I-Q phase mismatch detection and correction
US8970272B2 (en) 2008-05-15 2015-03-03 Qualcomm Incorporated High-speed low-power latches
US9154077B2 (en) 2012-04-12 2015-10-06 Qualcomm Incorporated Compact high frequency divider

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61237515A (ja) * 1985-04-12 1986-10-22 Nec Ic Microcomput Syst Ltd インバ−タ回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61237515A (ja) * 1985-04-12 1986-10-22 Nec Ic Microcomput Syst Ltd インバ−タ回路

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003037499A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Murata Mfg Co Ltd 周波数シンセサイザ、周波数シンセサイザと基準信号発振器の接続方法およびそれらを用いた通信装置
JP2013138436A (ja) * 2007-11-08 2013-07-11 Qualcomm Inc 調整可能デューティサイクル回路
US8970272B2 (en) 2008-05-15 2015-03-03 Qualcomm Incorporated High-speed low-power latches
US8847638B2 (en) 2009-07-02 2014-09-30 Qualcomm Incorporated High speed divide-by-two circuit
US8854098B2 (en) 2011-01-21 2014-10-07 Qualcomm Incorporated System for I-Q phase mismatch detection and correction
US9154077B2 (en) 2012-04-12 2015-10-06 Qualcomm Incorporated Compact high frequency divider

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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980407