JPH0521413A - 半導体基板洗浄装置及び半導体基板洗浄方法 - Google Patents
半導体基板洗浄装置及び半導体基板洗浄方法Info
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- JPH0521413A JPH0521413A JP3169936A JP16993691A JPH0521413A JP H0521413 A JPH0521413 A JP H0521413A JP 3169936 A JP3169936 A JP 3169936A JP 16993691 A JP16993691 A JP 16993691A JP H0521413 A JPH0521413 A JP H0521413A
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- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67057—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 隣接した半導体半導体基板から半導体半導体
基板表面への汚染がなく、パーティクルを速やかに除去
できる半導体基板洗浄装置を提供する。 【構成】 洗浄槽の側壁に薬液供給口9と相対する側壁
に薬液排出口10を設け、半導体基板6を洗浄槽1内の
薬液液面に平行に挿入し、洗浄槽1内には半導体基板6
を収納するカセット7が設置されている。
基板表面への汚染がなく、パーティクルを速やかに除去
できる半導体基板洗浄装置を提供する。 【構成】 洗浄槽の側壁に薬液供給口9と相対する側壁
に薬液排出口10を設け、半導体基板6を洗浄槽1内の
薬液液面に平行に挿入し、洗浄槽1内には半導体基板6
を収納するカセット7が設置されている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体基板を洗浄する際
の半導体基板洗浄装置及び半導体基板洗浄方法に関する
ものである。
の半導体基板洗浄装置及び半導体基板洗浄方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体装置製造は半導体装置の微
細化にともない、より微細なパーティクルを低減するこ
とが求められている。
細化にともない、より微細なパーティクルを低減するこ
とが求められている。
【0003】以下図面を参照しながら、従来の半導体基
板洗浄装置の一例について説明する。(「半導体、電子
部品の精密洗浄システム技術集成」株式会社リアライズ
社発行、第127〜129頁、第150〜155頁)図
4は従来の半導体基板洗浄装置に半導体基板をセットし
た半導体基板カセットが入る様子を示すものである。図
4において、1は洗浄槽、4はフィルタ、5はポンプ、
6は半導体基板、7は半導体基板6を収納するカセッ
ト、9は薬液供給口、10は薬液排出口、11は外槽で
ある。洗浄槽1の外側には外槽11があり外槽11の底
に薬液排出口10が構成されている。薬液排出口10か
ら管が延びポンプ5、フィルタ4そして薬液供給口9に
つながっている。薬液供給口9は洗浄槽1の底面の中央
に設けられている。
板洗浄装置の一例について説明する。(「半導体、電子
部品の精密洗浄システム技術集成」株式会社リアライズ
社発行、第127〜129頁、第150〜155頁)図
4は従来の半導体基板洗浄装置に半導体基板をセットし
た半導体基板カセットが入る様子を示すものである。図
4において、1は洗浄槽、4はフィルタ、5はポンプ、
6は半導体基板、7は半導体基板6を収納するカセッ
ト、9は薬液供給口、10は薬液排出口、11は外槽で
ある。洗浄槽1の外側には外槽11があり外槽11の底
に薬液排出口10が構成されている。薬液排出口10か
ら管が延びポンプ5、フィルタ4そして薬液供給口9に
つながっている。薬液供給口9は洗浄槽1の底面の中央
に設けられている。
【0004】以上のように構成された半導体基板洗浄装
置について、以下その動作について説明する。従来の洗
浄槽1ではポンプ5により下の薬液供給口9から薬液を
供給し、上で溢れた薬液が外槽11に溜まり薬液排出口
10から流れ、フィルタ4で薬液を濾過してパーティク
ルを除去し再び供給するという仕組みであり、薬液の流
れは下部から上部となっている。また半導体基板6を収
納するカセット7は、半導体基板6を液面と垂直になっ
た状態でおかれている。
置について、以下その動作について説明する。従来の洗
浄槽1ではポンプ5により下の薬液供給口9から薬液を
供給し、上で溢れた薬液が外槽11に溜まり薬液排出口
10から流れ、フィルタ4で薬液を濾過してパーティク
ルを除去し再び供給するという仕組みであり、薬液の流
れは下部から上部となっている。また半導体基板6を収
納するカセット7は、半導体基板6を液面と垂直になっ
た状態でおかれている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな構成では、半導体基板の液面とが垂直になっている
ため、半導体基板を薬液に挿入する際、薬液と半導体基
板との界面で半導体基板の裏面に付着しているパーティ
クルが相対する隣接した半導体基板の表面に付着するこ
とがあるという問題点を有していた。また、薬液の流れ
が洗浄槽内で下部から上部へとなっているため、薬液の
表面にパーティクルが滞留しやすいと言う問題点を有し
ていた。
うな構成では、半導体基板の液面とが垂直になっている
ため、半導体基板を薬液に挿入する際、薬液と半導体基
板との界面で半導体基板の裏面に付着しているパーティ
クルが相対する隣接した半導体基板の表面に付着するこ
とがあるという問題点を有していた。また、薬液の流れ
が洗浄槽内で下部から上部へとなっているため、薬液の
表面にパーティクルが滞留しやすいと言う問題点を有し
ていた。
【0006】本発明はこのような従来の課題を解消し、
隣接した半導体基板裏面に付着したパーティクルを相対
した半導体基板表面に付着させず、速やかに除去する半
導体基板洗浄装置を提供するものである。
隣接した半導体基板裏面に付着したパーティクルを相対
した半導体基板表面に付着させず、速やかに除去する半
導体基板洗浄装置を提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の半導体基板洗浄装置は、洗浄槽の側壁に薬液
供給口を設け相対する側壁に薬液排出口を設け、前記薬
液供給口から供給された薬液により前記薬液表面に平行
に設置した半導体基板を洗浄するものである。
に本発明の半導体基板洗浄装置は、洗浄槽の側壁に薬液
供給口を設け相対する側壁に薬液排出口を設け、前記薬
液供給口から供給された薬液により前記薬液表面に平行
に設置した半導体基板を洗浄するものである。
【0008】また半導体基板洗浄方法は、洗浄槽内の薬
液表面と半導体基板とが平行になるよう半導体基板カセ
ットを挿入する工程と、前記半導体基板が前記薬液表面
と平行になるように前記洗浄槽内に前記半導体基板カセ
ットを設置する工程と、薬液供給口から供給された薬液
により前記薬液表面に平行に設置した半導体基板を洗浄
する工程を備えたものである。
液表面と半導体基板とが平行になるよう半導体基板カセ
ットを挿入する工程と、前記半導体基板が前記薬液表面
と平行になるように前記洗浄槽内に前記半導体基板カセ
ットを設置する工程と、薬液供給口から供給された薬液
により前記薬液表面に平行に設置した半導体基板を洗浄
する工程を備えたものである。
【0009】
【作用】本発明は上記した構成によって、半導体半導体
基板カセットを薬液中に浸漬する際、隣接する半導体基
板間に垂直に薬液表面が存在せず、半導体基板裏面に付
着したパーティクルが剥離するとすぐに薬液排出口へと
流れるため、隣接する半導体基板のパーティクルによる
汚れにより半導体基板が汚染されないで、しかもパーテ
ィクルが速やかに除去できる。
基板カセットを薬液中に浸漬する際、隣接する半導体基
板間に垂直に薬液表面が存在せず、半導体基板裏面に付
着したパーティクルが剥離するとすぐに薬液排出口へと
流れるため、隣接する半導体基板のパーティクルによる
汚れにより半導体基板が汚染されないで、しかもパーテ
ィクルが速やかに除去できる。
【0010】
【実施例】以下本発明の一実施例の半導体基板洗浄装置
について、図面を参照しながら説明する。
について、図面を参照しながら説明する。
【0011】図1は本発明の実施例における半導体基板
洗浄装置の概略図を示すものである。図1において1は
洗浄槽、2はスリット状壁面、3は管、4はフィルタ、
5はポンプ、9は薬液供給口、10は薬液排出口であ
る。洗浄槽1の側壁には薬液供給口9相対する側壁には
薬液排出口10がついており、薬液排出口10と薬液供
給口9の間にはポンプ5とフィルタ4が設置され、洗浄
槽1の内側の供給口9と排出口10のある面にはスリッ
ト状の壁面2が構成されている。
洗浄装置の概略図を示すものである。図1において1は
洗浄槽、2はスリット状壁面、3は管、4はフィルタ、
5はポンプ、9は薬液供給口、10は薬液排出口であ
る。洗浄槽1の側壁には薬液供給口9相対する側壁には
薬液排出口10がついており、薬液排出口10と薬液供
給口9の間にはポンプ5とフィルタ4が設置され、洗浄
槽1の内側の供給口9と排出口10のある面にはスリッ
ト状の壁面2が構成されている。
【0012】図2は半導体基板カセット7に半導体基板
6が収納されている様子を示すものである。図2におい
て6は半導体基板、7は半導体基板カセットである。
6が収納されている様子を示すものである。図2におい
て6は半導体基板、7は半導体基板カセットである。
【0013】以上のように構成された半導体基板洗浄装
置について、以下図1、図2及び図3を用いてその動作
を説明する。
置について、以下図1、図2及び図3を用いてその動作
を説明する。
【0014】図3は本実施例の半導体基板洗浄装置に半
導体基板が挿入されている様子を示すものである。図3
において1は洗浄槽、2はスリット状壁面、3は管、4
はフィルタ、5はポンプ、6は半導体基板、8はパーテ
ィクル、9は薬液排出口、10は薬液排出口である。
導体基板が挿入されている様子を示すものである。図3
において1は洗浄槽、2はスリット状壁面、3は管、4
はフィルタ、5はポンプ、6は半導体基板、8はパーテ
ィクル、9は薬液排出口、10は薬液排出口である。
【0015】まず図1の様に洗浄槽1に入っている薬液
は、スリット状壁面2を通って薬液排出口10にポンプ
5によって集められ管3を通って、フィルタ4で濾過さ
れた後、相対する壁面に取付けられている薬液供給口9
から供給される。この薬液は洗浄槽1内のスリット状壁
面2を通って再び洗浄槽1に供給される。以上のような
構成により、薬液は常に清浄で平行な流れが保たれる。
は、スリット状壁面2を通って薬液排出口10にポンプ
5によって集められ管3を通って、フィルタ4で濾過さ
れた後、相対する壁面に取付けられている薬液供給口9
から供給される。この薬液は洗浄槽1内のスリット状壁
面2を通って再び洗浄槽1に供給される。以上のような
構成により、薬液は常に清浄で平行な流れが保たれる。
【0016】次に図2を用いて、本実施例で使用される
半導体基板6を収納するカセット7を示す。半導体基板
6は、薬液液面に平行になるために横向きに並べてカセ
ット7に収納されている。そこで図3の様に半導体基板
6を洗浄槽1に浸漬する。この場合半導体基板6裏面を
上向きにしているが、薬液中に浸漬する際、たとえ半導
体基板6の裏面が汚れていて薬液界面でパーティクルが
剥離したとしても、薬液界面で流れがあるためにすぐ上
の基板表面が液面に挿入してくるまでには、パーティク
ルは薬液排出口10の方へ流れていて薬液表面は常に清
浄に保たれている。半導体基板6が洗浄槽1に漬かって
いるときでも半導体基板6間は常に清浄に保たれ、パー
ティクルが滞留することはない。
半導体基板6を収納するカセット7を示す。半導体基板
6は、薬液液面に平行になるために横向きに並べてカセ
ット7に収納されている。そこで図3の様に半導体基板
6を洗浄槽1に浸漬する。この場合半導体基板6裏面を
上向きにしているが、薬液中に浸漬する際、たとえ半導
体基板6の裏面が汚れていて薬液界面でパーティクルが
剥離したとしても、薬液界面で流れがあるためにすぐ上
の基板表面が液面に挿入してくるまでには、パーティク
ルは薬液排出口10の方へ流れていて薬液表面は常に清
浄に保たれている。半導体基板6が洗浄槽1に漬かって
いるときでも半導体基板6間は常に清浄に保たれ、パー
ティクルが滞留することはない。
【0017】なお、本実施例中図3では前記半導体基板
6の裏面が上向きとしたが逆にしても構わない。また図
2において半導体基板6を収納するカセット7を示した
が、洗浄槽1中で半導体基板6が横向きに平行になるカ
セットなら、どんな形のものでもその効果は同じであ
る。さらに図1及び図3において洗浄槽1の内側にスリ
ット状の壁面2を設けているが、薬液表面に添った流れ
を作ることが目的なので、ほかのどの形状のものでも構
わない。またなくてもよい。
6の裏面が上向きとしたが逆にしても構わない。また図
2において半導体基板6を収納するカセット7を示した
が、洗浄槽1中で半導体基板6が横向きに平行になるカ
セットなら、どんな形のものでもその効果は同じであ
る。さらに図1及び図3において洗浄槽1の内側にスリ
ット状の壁面2を設けているが、薬液表面に添った流れ
を作ることが目的なので、ほかのどの形状のものでも構
わない。またなくてもよい。
【0018】
【発明の効果】以上のように本発明の半導体基板洗浄方
法は上記した構成により、隣接した半導体基板裏面に付
着した汚れを相対する半導体基板表面に付着させず、し
かも速やかに除去できる為、半導体基板を洗浄するうえ
で極めて有利なものである。
法は上記した構成により、隣接した半導体基板裏面に付
着した汚れを相対する半導体基板表面に付着させず、し
かも速やかに除去できる為、半導体基板を洗浄するうえ
で極めて有利なものである。
【図1】本発明の実施例における半導体基板洗浄装置の
概略図を示す。
概略図を示す。
【図2】同実施例における半導体基板カセットの斜視図
である。
である。
【図3】同実施例において半導体基板が半導体基板洗浄
装置に挿入される様子を示す動作図である。
装置に挿入される様子を示す動作図である。
【図4】従来の半導体基板洗浄装置の概略図である。
1 洗浄槽
2 スリット状壁面
3 管
4 フィルタ
5 ポンプ
6 半導体基板
7 半導体基板6を収納するカセット
8 パーティクル
9 薬液供給口
10 薬液排出口
11 外槽
Claims (2)
- 【請求項1】洗浄槽の側壁に薬液供給口を設け相対する
側壁に薬液排出口を設け、前記薬液供給口から供給され
た薬液により前記薬液表面に平行に設置した半導体基板
を洗浄することを特徴とする半導体基板洗浄装置。 - 【請求項2】洗浄槽内の薬液表面と半導体基板とが平行
になるよう半導体基板カセットを挿入する工程と、前記
半導体基板が前記薬液表面と平行になるように前記洗浄
槽内に前記半導体基板カセットを設置する工程と、薬液
供給口から供給された薬液により前記薬液表面に平行に
設置した半導体基板を洗浄する工程を含むことを特徴と
する半導体基板洗浄方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3169936A JPH0521413A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 半導体基板洗浄装置及び半導体基板洗浄方法 |
US07/910,920 US5292373A (en) | 1991-07-10 | 1992-07-09 | Apparatus and process for washing wafers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3169936A JPH0521413A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 半導体基板洗浄装置及び半導体基板洗浄方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0521413A true JPH0521413A (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=15895664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3169936A Pending JPH0521413A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 半導体基板洗浄装置及び半導体基板洗浄方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5292373A (ja) |
JP (1) | JPH0521413A (ja) |
Cited By (2)
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US20090283158A1 (en) * | 2008-05-16 | 2009-11-19 | Xyratex Corporation | Laminated walls for uniform fluid flow |
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KR0166831B1 (ko) * | 1995-12-18 | 1999-02-01 | 문정환 | 반도체 웨이퍼 세정장치 및 방법 |
KR100209751B1 (ko) * | 1996-04-12 | 1999-07-15 | 구본준 | 반도체 웨이퍼 세정 장치 |
KR100195334B1 (ko) * | 1996-08-16 | 1999-06-15 | 구본준 | 세정장치 |
KR100226489B1 (ko) * | 1996-12-28 | 1999-10-15 | 김영환 | 웨이퍼 지지 및 이송 기구 |
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JP4813233B2 (ja) * | 2006-04-04 | 2011-11-09 | ヒタチグローバルストレージテクノロジーズネザーランドビーブイ | 洗浄装置及び洗浄方法 |
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WO2008133593A2 (en) * | 2007-04-27 | 2008-11-06 | Jcs-Echigo Pte Ltd | Cleaning process and apparatus |
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CN108010870A (zh) * | 2017-11-28 | 2018-05-08 | 北京创昱科技有限公司 | 衬底加工设备和衬底加工方法 |
KR102538179B1 (ko) | 2018-09-04 | 2023-06-01 | 삼성전자주식회사 | 습식 식각 장치 |
JP2023001574A (ja) * | 2021-06-21 | 2023-01-06 | キオクシア株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法 |
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JPH06103678B2 (ja) * | 1987-11-28 | 1994-12-14 | 株式会社東芝 | 半導体基板の加工方法 |
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-
1991
- 1991-07-10 JP JP3169936A patent/JPH0521413A/ja active Pending
-
1992
- 1992-07-09 US US07/910,920 patent/US5292373A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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