JPH05209897A - 検査ピン - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、検査ピンにおいて、簡易な構成で必
要に応じてピンの押圧力を変化させ、接触不良による検
査ミスを未然に防止するものである。 【構成】スプリングの上端と係合するように外筒中に配
置されたつまみ手段をスリツトに沿つて移動させること
により、スプリングの付勢力の変化に応じてピンの押圧
力が変化する。これにより、必要に応じてピンの押圧力
を変化させ、ピンと回路基板の接触不良等による検査ミ
スを未然に防止し得る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は検査ピンに関し、特に回
路基板の動作等を検査する際に用いるものに適用して好
適なものである。

【０００２】

【従来の技術】従来プリント配線基板やセラミツク配線
基板等の回路基板は、製造工程として基板上の配線パタ
ーンの導通や電子部品の動作状態等を検査する工程を通
る。この検査は基板上に設けられた、検査用パターン上
にピンを立てて接触させ、所定の検査項目をチエツクす
る工程で、このピンとして図７に示すようないわゆるス
プリングコンタクトプローブ（以下、プローブと称す）
１が用いられている。

【０００３】プローブ１は円筒形状の外筒２と、この外
筒２の内部に収納されるスプリング３及びピン４より構
成されており、図５に示すような測定用治具としてのプ
ローバ５に取り付けられる。プローバ５は回路基板６が
位置決めピン７で位置決めされて載置されるステージ８
と、柱９を通じてストツパ１０の位置まで上下に移動し
得るようになされたプローバ上部１１より構成されてい
る。

【０００４】このプローバ上部１１には、回路基板６の
検査用パターンに応じて複数のプローブ取り付け用のソ
ケツト１２が埋め込まれ、このプローブ１は図８に示す
ように、このソケツト１２に下部から取り付けられてい
る。またこのソケツト１２の上部には所定の測定器（図
示せず）につながるリード線１３が取り付けられてい
る。

【０００５】このような構成で実際の検査時には、プロ
ーバ上部１１が図５との対応部分に同一符号を付した図
６に示すように、ストツパ１０の位置まで降ろされ、こ
れにより全てのプローブ１が回路基板６の各検査用パタ
ーン１７に接触し、基板上の配線パターンの導通や、基
板上の部品の動作状態等の検査を実行し得るようになさ
れている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが上述のように
全てのプローブ１が検査用パターン１７に接触していて
も、抵抗が高くて検査不能になる場合がある。この原因
としては、製造工程や信頼性試験において、検査用パタ
ーン１７の表面に発生した酸化膜や洗浄時に残つたフラ
ツクス等が考えられる。また、プローブ１のプローバ上
部１１への取り付け高さのばらつきによつても接触不良
が生じる場合もある。

【０００７】このようにプローブ１と検査用パターン１
７の接触不良が発生した場合、回路基板６をステージ８
から取り外し、検査用パターン１７の表面を研磨して再
検査するようになされている。ところがこのようにする
と、その分余分な作業工程が必要になる問題があること
に加えて、研磨屑が回路基板６上に配置されたＩＣのリ
ード間に接触してシヨートさせてしまうおそれがあつ
た。

【０００８】このためストツパ１０の位置を変え、回路
基板６に全体的に加わる力を強くすることが考えられる
が、回路基板６が金属基材で形成されているような場合
には、力が加わりすぎると図９に示すようにピン４の先
端が絶縁層１５を突き抜け、金属製の基材１６でシヨー
トするおそれがあり、解決策として未だ不十分であつ
た。

【０００９】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、簡易な構成で必要に応じてピンの押圧力を変化さ
せ、接触不良による検査ミスを未然に防止し得る検査ピ
ンを提案しようとするものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、外筒２１中にスプリング３及びピ
ン４の一部が収納され、スプリング３で付勢されたピン
４の押圧力でピン４を回路基板６に接触させて所望の検
査を行う検査ピン２０において、外筒２１の側面の長手
方向に形成されたスリツト２２と、スリツト２２から突
出する爪部を有し、スプリング３の上端と係合するよう
に外筒２１中に配置されたつまみ手段２４とを設け、つ
まみ手段２４をスリツト２２に沿つて移動させ、ピン４
の回路基板６に対する押圧力を変化させるようにした。

【００１１】

【作用】スプリング３の上端と係合するように外筒２１
中に配置されたつまみ手段２４をスリツト２２に沿つて
移動させることにより、スプリング３の付勢力の変化に
応じてピン４の押圧力が変化する。これにより、必要に
応じてピン４の押圧力を変化させ、ピン４と回路基板６
の接触不良等による検査ミスを未然に防止し得る。

【００１２】

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。

【００１３】図７との対応部分に同一符号を付して示す
図１〜図３において、２０は全体として本発明によるプ
ローブを示し、円筒形状の外筒２１の側面で対向する位
置に長手方向のスリツト２２が２本穿設されている。ま
たスリツト２２の片側には、外部から見て同じ側の同じ
位置に５段の溝２３が設けられている。

【００１４】またこの実施例のプローブ２０の場合、ス
プリング３の上端と係合するようにつまみ２４が配置さ
れており、このつまみ２４が溝２３の山で測つたスリツ
ト２２の幅ｄの間を移動し得るようになされている。

【００１５】これにより、つまみ２３をスリツト２２の
一番上に設定して、プローブ２０の外筒２１を保持しな
がら垂直にピン４を回路基板６上の検査用パターン１４
に押し当てた後、つまみ２３をスリツト２２内で移動さ
せて所定の段の溝２３に係合させれば、ピン４の検査パ
ターン１４に対する押圧力を任意に増減させ得るように
なされている。

【００１６】実際上このプローブ２０は、図４に示すよ
うにプローバ上部１１に下側から埋め込まれたソケツト
２５に対して上側から挿入され、外筒２１に設けられた
ストツパ２６の位置で、ソケツト２５と接着して取り付
けられている。またこのプローブ２０の上端からは所定
の測定器（図示せず）につながるリード線１３が導出さ
れている。

【００１７】以上の構成において、実際の検査は図５及
び図６に示すように、プローバ上部１１がストツパ１０
の位置まで降ろされ、この結果全てのプローブ２０のピ
ン４の先端が検査用パターン１４に接触した状態で開始
される。

【００１８】このときプローブ２０のつまみ２４はスリ
ツト２２の上端に位置決めされ、検査用パターン１４の
うち抵抗が高くて検査不能なものが存在した場合や、プ
ローバ上部１１に対するプローブ２０の取り付け高さの
ばらつきで接触不良が発生した場合に、当該検査用パタ
ーン１４に対応するつまみ２４を降ろす。

【００１９】このようにすると、必要な検査用パターン
１４のみにさらに押圧力が加わり、接触抵抗を下げるこ
とができる。降ろされたつまみ２４は、適当な導通が得
られる位置に対応する段の溝２３に係合させて固定され
る。この後検査が終了したら、つまみ２４を溝２３と逆
方向に回して、もとのスリツト２２の上端まで戻しプロ
ーバ上部１１を上げる。

【００２０】このようにプローブ２０を、検査用パター
ン１４に対する押圧力を微調整し得るようにしたことに
より、簡易な操作で確実に検査用パターン１４とプロー
ブ２０との接触不良を防止することができ、かくして接
触不良による検査ミスを低減することができる。

【００２１】以上の構成によれば、外筒２１の両側面に
形成されたスリツト２２に沿つて、スプリング３の上端
と係合するように外筒２１中に配置されたつまみ２４を
移動させることにより、簡易な構成でピン４の回路基板
６に対する押圧力を変化させ得るプローブ２０を実現で
きる。

【００２２】かくするにつき、プローブ２０をプローバ
５に取り付けて回路基板６を検査する際、必要に応じて
検査用パターン１４に加わる力を一本ずつ微調整でき
る。これによりプローブ２０の取り付け高さのばらつき
や、検査用パターン１４によつて接触抵抗が高いものが
あつた場合でも、その部分のみに力を加えることがで
き、かくして検査用パターン１４とプローブ２０との接
触不良による測定ミスを低減できる。

【００２３】なお上述の実施例においては、検査時にプ
ローブ２０の取り付け高さのばらつきや、検査用パター
ン１４によつて接触抵抗が高いものがあつた場合に、つ
まみ２４を移動させてピン４の押圧力を変化させたが、
これに限らず、検査用パターン自体に高低差が存在する
ような場合には、予めその高低差に応じてつまみ２４を
移動させると共に所定の溝２３に係合させ、ピン４の高
さを任意に調整するようにしても良い。

【００２４】また上述の実施例においては、スリツト２
２の片側に溝２３を設け、つまみ２４を移動した後、所
定の押圧力が得られる位置で溝２３に係合させる場合に
ついて述べたが、単に押圧力を変化させてピン４と検査
用パターン１４の導通を得るのみであれば、溝２３を用
いずに検査の間のみ指先等でつまみ２４を保持するよう
にしても上述の実施例と同様の効果を実現できる。

【００２５】さらに上述の実施例においては、本発明を
スプリングがピンに固着されたプローブに適用したが、
これに限らず、ピン自体が外筒に収納自在に保持され、
ピンと外筒の奥壁との間にスプリングが収納されたよう
なプローブにも適用して好適なものである。

【００２６】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、スプリン
グの上端と係合するように外筒中に配置されたつまみ手
段を、スリツトに沿つて移動させることにより、スプリ
ングの付勢力の変化に応じてピンの押圧力が変化する。
これにより、必要に応じてピンの押圧力を変化させ、ピ
ンと回路基板の接触不良等による検査ミスを未然に防止
し得る検査ピンを実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による検査ピンの一実施例を示す略線的
斜視図である。

【図２】図１の検査ピンの内部を示す縦断面図である。

【図３】図１の検査ピンの外筒に形成されたスリツトを
示す略線図である。

【図４】図１の検査ピンのプローバに対する取り付け方
法を示す断面図である。

【図５】検査ピンが取り付けられるプローバの構成を示
す略線的斜視図である。

【図６】プローバの動作の説明に供する略線図である。

【図７】従来の検査ピンの内部を示す縦断面図である。

【図８】図７の検査ピンのプローバに対する取り付け方
法を示す断面図である。

【図９】図７の検査ピンの動作の説明に供する略線図で
ある。

【符号の説明】

１、２０……プローブ、２、２１……外筒、３……スプ
リング、４……ピン、５……プローバ、６……回路基
板、７……位置決めピン、８……ステージ、９……柱、
１０……ストツパ、１１……プローバ上部、１２……ソ
ケツト、１３……リード線、１４……検査用パターン、
２２……スリツト、２３……溝、２４……つまみ、２５
……ソケツト、２６……ストツパ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】外筒中にスプリング及びピンの一部が収納
   され、上記スプリングで付勢された上記ピンの押圧力
   で、当該ピンを回路基板に接触させて所望の検査を行う
   検査ピンにおいて、 上記外筒の側面の長手方向に形成されたスリツトと、 上記スリツトから突出する爪部を有し、上記スプリング
   の上端と係合するように上記外筒中に配置されたつまみ
   手段とを具え、上記つまみ手段を上記スリツトに沿つて
   移動させ、上記ピンの上記回路基板に対する押圧力を変
   化させるようにしたことを特徴とする検査ピン。