JPH05189304A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH05189304A
JPH05189304A JP4001200A JP120092A JPH05189304A JP H05189304 A JPH05189304 A JP H05189304A JP 4001200 A JP4001200 A JP 4001200A JP 120092 A JP120092 A JP 120092A JP H05189304 A JPH05189304 A JP H05189304A
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JP4001200A
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Nobukazu Koizumi
伸和 小泉
Shigeo Oikawa
重男 及川
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高速記憶部と低速記憶部とを組合せた半導体
記憶装置に関し、高速動作の半導体記憶装置のコストダ
ウンを図る。 【構成】 高速記憶部1に偶数アドレスのデータ、低速
記憶部2に奇数アドレスのデータをそれぞれ格納し、ア
ドレスバス5とデータバス6とに接続する。アドレスバ
ス5のアドレス信号A0 〜An の最下位ビットA0 を低
速記憶部2のアウトプットイネーブル端子OEに、且つ
高速記憶部1のアウトプットイネーブル端子OEにイン
バータ11により反転してそれぞれ加え、最下位ビット
0 を除くアドレス信号A1 〜An を高速記憶部1と低
速記憶部2とのアドレスデコーダ3,4にそれぞれ加え
て、高速記憶部1から偶数アドレスのデータD0 〜Dm
を読出す時に、低速記憶部2からの奇数アドレスのデー
タD0 〜Dm の読出動作を開始させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プログラム等を格納し
た半導体記憶装置に関する。コンピュータ・システム
は、プロセッサに対してアドレスバス,データバス,コ
ントロールバス等を介して半導体記憶装置や入出力イン
タフェース部等が接続された構成を有するものであり、
プロセッサの動作速度の向上に伴って、高速動作の半導
体記憶装置が必要となっている。
【0002】
【従来の技術】プログラム等を格納する半導体記憶装置
は、リードオンリメモリ(ROM)又はランダムアクセ
スメモリ(RAM)により構成され、1チップで所望の
記憶容量が得られない場合は、複数チップにより構成さ
れるものである。例えば、図6に示すように、1個の記
憶部(チップ)では記憶容量が不足する場合に、2個の
記憶部(チップ)61,62により半導体記憶装置60
を構成し、アドレスバス63とデータバス64とを介し
てプロセッサ(CPU)65に接続することになる。
【0003】又各記憶部61,62は、アドレス端子A
Dとデータ出力端子DOとイネーブル端子Eとを有し、
プロセッサ65からアドレスバス63にA0 〜An のア
ドレス信号が送出され、その最上位ビット(MSB)の
n が記憶部61,62のイネーブル端子Eに加えら
れ、最上位ビットAn を除くA0 〜An-1 のアドレス信
号がアドレス端子ADに加えられる。従って、最上位ビ
ットAn が“0”の時に記憶部61が選択されて、D0
〜Dm のm+1ビット構成のデータがデータ出力端子D
Oからデータバス64に送出される。又最上位ビットA
n が“1”の時に記憶部62が選択されて、D0 〜Dm
のm+1ビット構成のデータがデータ出力端子DOから
データバス64に送出される。そして、プロセッサ65
はデータバス64上のデータを取り込むことになる。
【0004】
【発明が解決しようとする問題点】高速動作のプロセッ
サ65の性能を充分に発揮する為には、プログラム格納
用等の半導体記憶装置60の動作速度も高速であること
が必要である。又高速動作の半導体記憶装置60は、大
容量の1チップ構成とすることが容易ではないから、図
6に示すように、それぞれ同一の高速動作特性を有する
複数の記憶部61,62により構成する場合が一般的で
ある。このような高速動作の記憶部は、消費電力が大き
く、発熱量も多くなるから、放熱の問題や実装スペース
等の問題が生じると共に、高価である欠点がある。本発
明は、高速動作と低速動作との記憶部を組合せて、総合
消費電力の低減並びにコストダウンを図ることを目的と
する。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体記憶装置
は、図1を参照して説明すると、それぞれアドレスデコ
ーダ3,4を有する高速記憶部1と低速記憶部2とをア
ドレスバス5及びデータバス6に接続し、高速記憶部1
に偶数アドレスのデータを格納し、且つ低速記憶部2に
奇数アドレスのデータを格納し、アドレスバス5を介し
て最下位ビットを除くアドレス信号を高速記憶部1と低
速記憶部2とのそれぞれのアドレスデコーダ3,4に入
力し、最下位ビットにより、高速記憶部1と低速記憶部
2との何れかを選択し、データバス6に読出データを送
出するものである。
【0006】又アドレスデコーダ3,4を有する1個の
高速記憶部1と2k −1個の低速記憶部2とをアドレス
バス5及びデータバス6に接続し、連続するアドレスの
データを、高速記憶部1と低速記憶部2との配列順に従
って格納し、アドレスバス5を介して下位kビットを除
くアドレス信号を高速記憶部1と各低速記憶部2とのそ
れぞれのアドレスデコーダ3,4に入力し、アドレス信
号の下位kビットをデコードして、高速記憶部1と各低
速記憶部2との中の一つを選択して、データバス6に読
出データを送出するものである。
【0007】
【作用】プロセッサ12からアドレスバス5を介して高
速記憶部1及び低速記憶部2に加えられるアドレス信号
は、A0 〜An のn+1ビット構成の場合に、最下位ビ
ットA0 を除くA1 〜An のアドレス信号を、高速記憶
部1のアドレスデコーダ3と低速記憶部2のアドレスデ
コーダ4とにそれぞれ入力する。そして、最下位ビット
0 は高速記憶部1と低速記憶部2との選択用ビットと
する。図1に於いては、高速記憶部1のアウトプットイ
ネーブル端子OEにインバータ11を介して最下位ビッ
トA0 を入力し、低速記憶部2のアウトプットイネーブ
ル端子OEに最下位ビットA0 を入力している。プログ
ラム等は連続アドレスを順次アクセスして読出す場合が
一般的であるから、偶数アドレスのデータを高速記憶部
1に格納し、奇数アドレスのデータを低速記憶部2に格
納する。
【0008】従って、最下位ビットA0 を除くA1 〜A
n のアドレス信号が、高速記憶部1のアドレスデコーダ
3と、低速記憶部2のアドレスデコーダ4とに入力され
た時、最下位ビットA0 は偶数アドレスを示す“0”で
あるから、高速記憶部1が選択され、例えば、m+1ビ
ットのデータD0 〜Dm が高速で読出されて、データバ
ス6に送出される。又低速記憶部2に於いても読出動作
が開始されており、次にプロセッサ12からアドレスバ
ス5に送出されるアドレス信号が奇数アドレス(最下位
ビットA0 =“1”)を示すと、読出データは確定され
ているか或いは確定直前の状態となり、低速記憶部2か
らも高速に読出データをデータバス6に送出することが
できる。従って、プロセッサ12からみて、低速記憶部
2も高速記憶部1と同程度の速度でデータが読出される
ものとなる。
【0009】又1個の高速記憶部1と、2k −1個の低
速記憶部2とを設けて半導体記憶装置を構成した時、プ
ログラム等の連続アドレスに格納されるデータを、高速
記憶部1を先頭に2k −1個の低速記憶部2を配列した
状態として順次格納する。例えば、0番地のデータを高
速記憶部1に格納し、1番地から2k −1番地のデータ
を、配列順の各低速記憶部2に順次格納し、2k 番地の
データは先頭の高速記憶部1に格納し、次の2k +1番
地以降のデータは配列順の各低速記憶部2に順次格納す
る。そして、下位kビットを除くアドレス信号を高速記
憶部1と各低速記憶部2とのそれぞれアドレスデコーダ
に加え、そのkビットをデコーダによりデコードして、
全体で2k 個の記憶部の一つを選択する。その場合、最
初に高速記憶部1が選択されるから、高速記憶部1から
高速にデータが読出され、次に下位kビットが歩進され
た時には、低速記憶部2のデータの読出動作が進行し、
読出データが確定されているか又は確定直前の状態とな
るから、低速記憶部2からも高速でデータが読出された
と同様になる。
【0010】
【実施例】図1は本発明の一実施例の要部ブロック図で
あり、高速記憶部1と低速記憶部2とにより半導体記憶
装置を構成した場合を示し、プロセッサ(CPU)12
とアドレスバス5及びデータバス6を介して接続されて
いる。高速記憶部1は、アドレスデコーダ3と記憶素子
部7と読出部8とを有し、低速記憶部2は、アドレスデ
コーダ4と記憶素子部9と読出部10とを有している。
この読出部9,10は、記憶素子部7,9の記憶データ
の読出しを行うセンスアンプ部と、データバス6に読出
データを送出する出力ゲート部とを有し、アウトプット
イネーブル端子OEにイネーブル信号が加えられた時
に、出力ゲート部が開いて、センスアンプ部による読出
データがデータバス6に送出される。又イネーブル信号
が加えられない時は、出力ゲート部は、スリーステート
ゲートと同様にハイインピーダンスとなり、データバス
6から切離された状態となる。なお、高速記憶部1と低
速記憶部2とをランダムアクセスメモリ構成とした場合
は、記憶素子部7,9へデータを書込む為の書込部を備
えた構成となる。
【0011】プロセッサ12からA0 〜An のn+1ビ
ット構成のアドレス信号がアドレスバス5に送出される
と、その最下位ビット(LSB)A0 がインバータ11
により反転されて高速記憶部1のアウトプットイネーブ
ル端子OEに加えられ、又その最下位ビット(LSB)
0 が低速記憶部2のアウトプットイネーブル端子OE
にそのまま加えられる。又最下位ビットA0 を除くA1
〜An のnビット構成のアドレス信号が、高速記憶部1
のアドレスデコーダ3と低速記憶部2のアドレスデコー
ダ4とに加えられる。
【0012】又高速記憶部1には偶数アドレスのデータ
を格納し、低速記憶部2には奇数アドレスのデータを格
納するものであり、プロセッサ12からアドレスバス5
に送出するアドレス信号が偶数アドレスを示す時は、最
下位ビットA0 は“0”となり、又奇数アドレスを示す
時は“1”となる。即ち、高速記憶部1のアウトプット
イネーブル端子OEには、偶数アドレスの時に“1”の
イネーブル信号が加えられ、低速記憶部2のアウトプッ
トイネーブル端子OEには、奇数アドレスの時に“1”
のイネーブル信号が加えられることになる。
【0013】従って、プロセッサ12からアドレスバス
5にA0 〜An の偶数アドレスのアドレス信号が送出さ
れると、高速記憶部1のアウトプットイネーブル端子O
Eには“1”、低速記憶部2のアウトプットイネーブル
端子OEには“0”の信号が加えられることになる。又
最下位ビットA0 を除くアドレス信号が高速記憶部1の
アドレスデコーダ3と低速記憶部2のアドレスデコーダ
4とに加えられ、デコード出力によって記憶素子部7,
9が選択され、記憶データが読出部8,10により読出
される。
【0014】その場合、高速記憶部1からは高速にデー
タが読出されることになるが、低速記憶部2に於いて
は、読出データが確定するのが遅れる状態となる。そし
て、高速記憶部1からの読出データがデータバス6を介
してプロセッサ12に転送されると、プロセッサ12か
らアドレスバス5に奇数アドレスのアドレス信号が送出
される。即ち、最下位ビットA0 が“0”から“1”に
変化することになる。それによって、高速記憶部1のア
ウトプットイネーブル端子OEには“0”、低速記憶部
2のアウトプットイネーブル端子OEには“1”の信号
が加えられるから、高速記憶部1の読出部8の出力イン
ピーダンスはハイインピーダンスとなり、又低速記憶部
2の読出部10は、アドレスデコーダ4に加えられる最
下位ビットA0 を除くアドレス信号が変化しないので、
読出部10に於ける読出データが確定している状態或い
は確定直前の状態となっており、従って、プロセッサ1
2から奇数アドレスのアドレス信号が送出されると、偶
数アドレスのアドレス信号に対して高速記憶部1から読
出データが送出された場合と同様な動作速度で、低速記
憶部2ら読出データがデータバス6に送出される。
【0015】図2は本発明の実施例の動作説明図であ
り、(a)はアドレスバス5に送出されるアドレス信号
0 〜An ,最下位ビットA0 ,アドレスデコーダ3,
4に加えられるアドレス信号A1 〜An を示し、(b)
は高速記憶部1の読出データ、(c)は低速記憶部2の
読出データ、(d)はデータバス6に送出される読出デ
ータを示す。又t1は高速記憶部1の動作遅延時間、t
2は低速記憶部2の動作遅延時間、t3はプロセッサ1
2が必要とするアクセスタイム、t4はマシンサイクル
時間を示す。
【0016】プロセッサ12から連続アドレスのアドレ
ス信号A0 〜An が送出され、最下位ビットA0 は偶数
アドレスの時に“0”、奇数アドレスの時に“1”とな
り、高速記憶部1と低速記憶部2とのアドレスデコーダ
3,4には、2マシンサイクル毎に変化するアドレス信
号A1 〜An が入力されることになる。高速記憶部1と
低速記憶部2とは、同一のアドレス信号A1 〜An が入
力された時の動作遅延時間はt1<t2となる。例え
ば、1マシンサイクル時間t4を75nsとし、高速記
憶部1の動作遅延時間t1を25ns、低速動作遅延時
間t2を100nsとすると、(b)に示すように、高
速記憶部1の読出データは25nsの動作遅延時間t1
後に確定し、又(c)に示すように、低速記憶部2の読
出データは100ns後に確定することになる。
【0017】高速記憶部1と低速記憶部2とから交互に
読出データが、(d)に示すようにデータバス6に送出
されるから、プロセッサ12はアクセスタイムt3毎に
データを読込むことができる。即ち、動作遅延時間t2
が100nsの低速記憶部2を用いても、アクセスタイ
ムt3=25nsを必要とするプロセッサ12のプログ
ラム格納用等の記憶装置として使用することができる。
【0018】又プログラムを格納した場合、分岐アドレ
スに従ってプログラムデータを読出す必要が生じる。そ
の場合は、分岐アドレスを必ず偶数アドレスとなるよう
に予め設定すれば良いことになる。即ち、高速記憶部1
からデータを先に読出し、次に低速記憶部2からデータ
を読出すようにすることにより、偶数アドレスから奇数
アドレスにアドレス信号が変化した時に、低速記憶部2
からは、恰も高速記憶部1をアクセスした場合と同様な
動作遅延時間後にデータを読出すことができ、比較的大
容量の半導体記憶装置を経済的に構成することができ
る。
【0019】図3は本発明の他の実施例の要部ブロック
図であり、21は高速記憶部、22は低速記憶部、2
3,24はアドレスデコーダ、25はアドレスバス、2
6はデータバス、27,29は記憶素子部、28,30
は読出部、31はインバータ、32はプロセッサ(CP
U)、33,34はスリーステートゲートである。
【0020】この実施例は、高速記憶部21及び低速記
憶部22にアウトプットイネーブル端子を備えていない
場合について示し、高速記憶部21の読出部28からの
読出データをスリーステートゲート33に加え、プロセ
ッサ32からのアドレス信号A0 〜An の最下位ビット
0 が“0”、即ち、偶数アドレスを示す時に、スリー
ステートゲート33が開き、又最下位ビットA0
“1”、即ち、奇数アドレスを示す時に、スリーステー
トゲート34が開く構成としたものである。
【0021】高速記憶部21に偶数アドレスのデータを
格納し、低速記憶部22に奇数アドレスのデータを格納
し、最下位ビットA0 を除くアドレス信号A1 〜An
アドレスデコーダ23,24に加えられ、前述の実施例
と同様に、プロセッサ32から交互に偶数アドレスと奇
数アドレスとのアドレス信号A0 〜An が送出された時
に、低速記憶部22も高速記憶部21と同様なアクセス
タイムによってデータの読出しが行われることになる。
【0022】図4は本発明の更に他の実施例の要部ブロ
ック図であり、41は高速記憶部、42−1〜42−j
は2k −1個の低速記憶部、45はアドレスバス、46
はデータバス、47はデコーダ、48はプロセッサ(C
PU)である。1個の高速記憶部41と(2k −1)=
j個の低速記憶部42−1〜42−jは、それぞれアド
レスデコーダと記憶素子部と読出部とを備え、アウトプ
ットイネーブル端子OEにイネーブル信号が加えられる
ことにより、読出データがデータバス46に送出される
構成を有するものである。
【0023】又デコーダ47は、プロセッサ48からの
アドレス信号A0 〜An の下位ビットA0 〜Ak-1 をデ
コードして、1個の高速記憶部41と(2k −1)=j
個の低速記憶部42−1〜42−jとの2k 個の記憶部
の中の一つを選択するものである。又1個の高速記憶部
41とj個の低速記憶部42−1〜42−jとのアドレ
スデコーダには、プロセッサ48からのアドレス信号A
0 〜An の上位ビットAk 〜An が入力される。又高速
記憶部41を先頭としてj個の低速記憶部42−1〜4
2−jを配列した状態として、連続アドレスのプログラ
ムデータを格納する。即ち、0番地のデータを先頭の高
速記憶部41に格納し、1番地のデータを低速記憶部4
2−1に格納し、j番地のデータを最後尾の低速記憶部
42−jに格納し、j+1番地のデータを再び先頭の高
速記憶部41に格納し、j+2番地のデータを低速記憶
部42−1に格納し、2j+1番地のデータを最後尾の
低速記憶部42−jに格納し、以下同様にして順次デー
タを格納する。
【0024】プロセッサ48からアドレスバス45に0
番地のアドレス信号A0 〜An が送出され、下位kビッ
トA0 〜Ak-1 をデコーダ47によりデコードされる
と、高速記憶部41のアウトプットイネーブル端子OE
にデコード出力が加えられ、高速記憶部41は、アドレ
ス信号Ak 〜An をアドレスデコーダによりデコードし
て記憶データの読出しを行い、データバス46に読出デ
ータを送出する。他の低速記憶部42−1〜42−j
は、アドレス信号Ak 〜An をそれぞれアドレスデコー
ダによりデコードして記憶データの読出動作を行ってい
るが、アウトプットイネーブル端子OEにデコーダ47
からのデコード出力が加えられないので、データバス4
6に送出する動作は行われない。
【0025】次にプロセッサ48からアドレスバス45
に1番地のアドレス信号A0 〜An が送出されると、下
位kビットA0 〜Ak-1 のみが変化し、デコーダ47の
デコード出力は低速記憶部42−1のアウトプットイネ
ーブル端子OEに加えられる。その時点では低速記憶部
42−1に於ける読出動作は進行しているから、高速に
読出データをデータバス46に送出することができる。
又最後尾の低速記憶部42−jがアドレス信号A0 〜A
n の下位kビットA0 〜Ak-1 のデコードにより選択さ
れた時点では、読出動作が完了している状態となり、デ
コーダ47の動作遅延時間程度の遅れで、高速に読出デ
ータをデータバス46に送出することができる。
【0026】図5は本発明の更に他の実施例の要部ブロ
ック図であり、51は高速記憶部、52−1〜52−j
は低速記憶部、53,54−1〜54−jはスリーステ
ートゲート、55はアドレスバス、56はデータバス、
57はデコーダ、58はプロセッサ(CPU)である。
この実施例は、図4に示す実施例と同様であるが、1個
の高速記憶部51とj(=2k −1)個の低速記憶部5
2−1〜52−jとがアウトプットイネーブル端子OE
を備えていない場合を示す。従って、高速記憶部51と
低速記憶部52−1〜52−jとにスリーステートゲー
ト53,54−1〜54−jとが接続され、デコーダ5
7のデコード出力がそれぞれのスリーステートゲート5
3,54−1〜54−jに加えられる。
【0027】プロセッサ58からアドレスバス55に送
出されるアドレス信号A0 〜An の下位kビットA0
k-1 がデコーダ57に加えられ、上位(n+1−k)
ビットAk 〜An が高速記憶部51と低速記憶部52−
1〜52−jのアドレスデコーダに加えられて、それぞ
れ読出動作が行われる。そして、デコーダ57のデコー
ド出力によりスリーステートゲート53,54−1〜5
4−jの一つが開かれて、読出データがデータバス56
に送出される。
【0028】図4及び図5に示す実施例は、高速記憶部
と複数の低速記憶部とにより半導体記憶装置を構成した
場合を示すが、複数の低速記憶部の動作速度を例えば中
速と低速との2種類或いは複数種類とし、連続アドレス
のデータを、動作速度の順に配列した記憶部に順次格納
し、プロセッサからのアドレス信号の上位ビットをそれ
ぞれアドレス信号として読出動作を開始させ、下位ビッ
トにより選択することにより、等価的に高速記憶部によ
り構成された半導体記憶装置として動作させることがで
きる。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、高速記
憶部1に偶数アドレスのデータ、低速記憶部2に奇数ア
ドレスのデータをそれぞれ格納し、アドレスバス5を介
して加えられるアドレス信号A0 〜An の最下位ビット
(LSB)A0 により高速記憶部1と低速記憶部2とを
選択し、この最下位ビットA0 を除くアドレス信号A1
〜An を高速記憶部1と低速記憶部2とのアドレスデコ
ーダに加えるもので、偶数アドレスのアドレス信号が加
えられた時に、高速記憶部1から高速にデータを読出し
てデータバス6に送出し、その間に低速記憶部2も読出
動作を開始しているから、次の奇数アドレスのアドレス
信号が加えられた時には、低速記憶部2からも高速にデ
ータをデータバス6に送出することができる利点があ
る。従って、消費電力が少なく、且つ廉価な低速記憶部
2を用いることにより、コストダウンを図り、且つ低速
記憶部2を用いても、高速動作を実現できる利点があ
る。
【0030】又高速記憶部と複数の低速記憶部とにより
半導体記憶装置を構成し、アドレス信号の下位ビットを
デコードして、高速記憶部と複数の低速記憶部との中の
何れか一つを選択し、アドレス信号の上位ビットを高速
記憶部と複数の低速記憶部とのアドレスデコーダに加え
て、高速記憶部の読出動作と複数の低速記憶部の読出動
作とを同時的に開始させ、高速記憶部からのデータの読
出しが行われた後、低速記憶部からデータを読出すこと
により、低速記憶部から等価的に高速でデータを読出す
ことができる。従って、大容量の半導体記憶装置のコス
トダウンを容易に図ることができる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の要部ブロック図である。
【図2】本発明の実施例の動作説明図である。
【図3】本発明の他の実施例の要部ブロック図である。
【図4】本発明の更に他の実施例の要部ブロック図であ
る。
【図5】本発明の更に他の実施例の要部ブロック図であ
る。
【図6】従来例の要部ブロック図である。
【符号の説明】
1 高速記憶部 2 低速記憶部 3 アドレスデコーダ 4 アドレスデコーダ 5 アドレスバス 6 データバス 7 記憶素子部 8 読出部 9 記憶素子部 10 読出部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 それぞれアドレスデコーダ(3),
    (4)を有する高速記憶部(1)と低速記憶部(2)と
    をアドレスバス(5)及びデータバス(6)に接続し、 前記高速記憶部(1)に偶数アドレスのデータを格納
    し、且つ前記低速記憶部(2)に奇数アドレスのデータ
    を格納し、前記アドレスバス(5)を介して最下位ビッ
    トを除くアドレス信号を前記高速記憶部(1)と前記低
    速記憶部(2)とのそれぞれのアドレスデコーダ
    (3),(4)に入力し、前記最下位ビットにより前記
    高速記憶部(1)と前記低速記憶部(2)との何れかを
    選択して、前記データバス(6)に読出データを送出す
    る構成としたことを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 それぞれアドレスデコーダ(3),
    (4)を有する1個の高速記憶部(1)と2k −1個の
    低速記憶部(2)とをアドレスバス(5)及びデータバ
    ス(6)に接続し、 連続するアドレスのデータを、前記高速記憶部(1)と
    前記2k −1個の低速記憶部(2)との配列順に従って
    格納し、前記アドレスバス(5)を介して下位kビット
    を除くアドレス信号を前記高速記憶部(1)と前記2k
    −1個の低速記憶部(2)とのそれぞれのアドレスデコ
    ーダ(3),(4)に入力し、前記アドレス信号の下位
    kビットをデコードして、前記高速記憶部(1)と前記
    k −1個の低速記憶部(2)との中の一つを選択し
    て、前記データバス(6)に読出データを送出する構成
    としたことを特徴とする半導体記憶装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6385746B1 (en) 1999-05-31 2002-05-07 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Memory test circuit
JP2009070502A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体メモリ装置におけるデータ読み出し方法及び半導体メモリ装置

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