JPH05150010A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH05150010A JPH05150010A JP3314227A JP31422791A JPH05150010A JP H05150010 A JPH05150010 A JP H05150010A JP 3314227 A JP3314227 A JP 3314227A JP 31422791 A JP31422791 A JP 31422791A JP H05150010 A JPH05150010 A JP H05150010A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bidirectional
- input
- terminal
- output
- integrated circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 双方向端子の入力と出力の切り換え信号観測
に必要な外部出力端子を削減する。 【構成】 双方向端子P1の入出力切り換え信号S1を
レジスタR1に保持し、双方向端子P2の入出力切換信
号S2をレジスタR2に保持する。次にクロック端子C
1に印加されるクロックによりレジスタR1、R2に保
持したデータをシフトして外部出力端子O3から観測す
る。 【効果】 従来必要であった双方向端子数と同等の外部
出力端子を一本の外部出力端子に削減できる。
に必要な外部出力端子を削減する。 【構成】 双方向端子P1の入出力切り換え信号S1を
レジスタR1に保持し、双方向端子P2の入出力切換信
号S2をレジスタR2に保持する。次にクロック端子C
1に印加されるクロックによりレジスタR1、R2に保
持したデータをシフトして外部出力端子O3から観測す
る。 【効果】 従来必要であった双方向端子数と同等の外部
出力端子を一本の外部出力端子に削減できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、双方向端子を持つ半導
体集積回路に関し、特に、テストが容易であるように設
計される半導体集積回路に関する。
体集積回路に関し、特に、テストが容易であるように設
計される半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体集積回路は大規模化してお
り、製造された集積回路に欠陥がないかのテストを行う
のが困難になってきている為に、欠陥の発生しやすい箇
所から外部に配線を引いて観測するという方法が行われ
る。
り、製造された集積回路に欠陥がないかのテストを行う
のが困難になってきている為に、欠陥の発生しやすい箇
所から外部に配線を引いて観測するという方法が行われ
る。
【0003】双方向端子の入出力切換をコントロールす
る信号は、欠陥を発生しやすい箇所であり、前記の方法
が行われる。例えば、図2において、双方向端子P1の
入出力切換は入出力切換信号S1でコントロールされ、
入出力切換信号S1を観測する為に外部出力端子O1と
配線する。双方向端子P2も双方向端子P1と同様に入
出力切換信号S2を外部出力端子O2により観測する。
る信号は、欠陥を発生しやすい箇所であり、前記の方法
が行われる。例えば、図2において、双方向端子P1の
入出力切換は入出力切換信号S1でコントロールされ、
入出力切換信号S1を観測する為に外部出力端子O1と
配線する。双方向端子P2も双方向端子P1と同様に入
出力切換信号S2を外部出力端子O2により観測する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た図2に示す従来の方法では、双方向端子数と同数の外
部出力端子が必要となり、大規模な集積回路になるほど
双方向端子が増える可能性があることから、外部端子数
が増大するという欠点がある。
た図2に示す従来の方法では、双方向端子数と同数の外
部出力端子が必要となり、大規模な集積回路になるほど
双方向端子が増える可能性があることから、外部端子数
が増大するという欠点がある。
【0005】本発明は従来の上記実情に鑑みてなされた
ものであり、従って本発明の目的は、従来の技術に内在
する上記欠点を解消することを可能とした新規な半導体
集積回路を提供することにある。
ものであり、従って本発明の目的は、従来の技術に内在
する上記欠点を解消することを可能とした新規な半導体
集積回路を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る半導体集積回路は、双方向端子を持つ
半導体集積回路において、双方向端子の入出力切換を観
測する集積回路のテスト時に、各々の双方向端子におい
て入出力切換をコントロールした信号を保持するレジス
タと、これらのレジスタの内容を外部出力することを可
能にする手段とを備えて構成される。
に、本発明に係る半導体集積回路は、双方向端子を持つ
半導体集積回路において、双方向端子の入出力切換を観
測する集積回路のテスト時に、各々の双方向端子におい
て入出力切換をコントロールした信号を保持するレジス
タと、これらのレジスタの内容を外部出力することを可
能にする手段とを備えて構成される。
【0007】
【実施例】次に、本発明をその好ましい一実施例につい
て図面を参照して具体的に説明する。
て図面を参照して具体的に説明する。
【0008】図1は本発明の一実施例を示すブロック構
成図である。
成図である。
【0009】図1を参照するに、双方向端子P1の入出
力切換信号S1をレジスタR1に保持し、双方向端子P
2の入出力切換信号S2をレジスタR2に保持する。次
に、クロック端子C1に印加されるクロックによりレジ
スタR1、R2に保持したデータをシフトして、外部出
力端子O3から観測する。
力切換信号S1をレジスタR1に保持し、双方向端子P
2の入出力切換信号S2をレジスタR2に保持する。次
に、クロック端子C1に印加されるクロックによりレジ
スタR1、R2に保持したデータをシフトして、外部出
力端子O3から観測する。
【0010】すなわち、1本の外部出力端子のみが必要
とされ、双方向端子数によることはない。
とされ、双方向端子数によることはない。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
双方向端子の入出力切換信号を保持し、外部出力するこ
とを可能とする回路を持つことにより、従来必要であっ
た双方向端子数と同数の外部出力端子を1本の外部出力
端子に削減できる効果がある。
双方向端子の入出力切換信号を保持し、外部出力するこ
とを可能とする回路を持つことにより、従来必要であっ
た双方向端子数と同数の外部出力端子を1本の外部出力
端子に削減できる効果がある。
【図1】本発明の一実施例を示すブロック構成図であ
る。
る。
【図2】従来技術の一例を示すブロック図ある。
G1…回路 B1、B2…双方向ブロック S1、S2…入出力切換信号 P1、P2…双方向端子 O1、O2、O3…外部出力端子 R1、R2…レジスタ C1…クロック端子
Claims (1)
- 【請求項1】 双方向端子を持つ半導体集積回路におい
て、双方向端子の入力と出力の切り換わり(以下、入出
力切換という)を観測する集積回路のテスト時に、各々
の双方向端子に入出力切換をコントロールした信号を保
持するレジスタと、該レジスタの内容を外部出力するこ
とを可能にする手段とを有することを特徴とする半導体
集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3314227A JPH05150010A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3314227A JPH05150010A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05150010A true JPH05150010A (ja) | 1993-06-18 |
Family
ID=18050817
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3314227A Pending JPH05150010A (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05150010A (ja) |
-
1991
- 1991-11-28 JP JP3314227A patent/JPH05150010A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0450678A (ja) | テスト容易化回路 | |
JP2946658B2 (ja) | フリップフロップ回路 | |
JPH071493B2 (ja) | テスト補助回路 | |
JP2776549B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
EP0414014B1 (en) | Semiconductor device and method of testing the same | |
JPH05150010A (ja) | 半導体集積回路 | |
US4910734A (en) | Intergrated circuit having testing function circuit and control circuit therefor | |
JPH0798359A (ja) | 半導体装置 | |
JP3045002B2 (ja) | 集積回路のモード設定回路 | |
JPH04231885A (ja) | デジタル・アナログ混在のlsi | |
KR20030031789A (ko) | 복수의 반도체 집적 회로들을 병렬로 테스트하기 위한테스트 장치 | |
JP3214581B2 (ja) | テスト回路 | |
JPH02105452A (ja) | 半導体集積回路の出力回路 | |
JPS63169581A (ja) | スキヤンデザイン回路 | |
US20020193960A1 (en) | Method for operating a TAP controller and corresponding TAP controller | |
JPH0317577A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPS60211376A (ja) | 集積回路の試験回路 | |
JPH0465685A (ja) | スキャンレジスタ回路 | |
JPH1038977A (ja) | 統合化集積回路 | |
JPH03115873A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH06244343A (ja) | 半導体チップ実装装置 | |
JPS60154637A (ja) | 集積回路装置 | |
JP3077809B2 (ja) | 半導体集積論理回路 | |
JPH05126904A (ja) | 半導体装置の検査装置 | |
JPH0252461A (ja) | 半導体装置 |