JPH05135419A - 光学的システムにおける廃棄レーザ光の利用 - Google Patents

光学的システムにおける廃棄レーザ光の利用

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JPH05135419A
JPH05135419A JP2401742A JP40174290A JPH05135419A JP H05135419 A JPH05135419 A JP H05135419A JP 2401742 A JP2401742 A JP 2401742A JP 40174290 A JP40174290 A JP 40174290A JP H05135419 A JPH05135419 A JP H05135419A
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Abstract

(57)【要約】 [構成] レーザビームからの磁気光学的記録装置の光
13を、二つの部分、即ち、磁気光学的記憶部材に当て
るデータ・ビーム11と、記憶部材から離れるように導
く廃棄光21と、に分割する。廃棄光は鏡20で遮って
ビーム・スプリッタ14へ反射し、記憶部材10から反
射した光11と位相コヒーレント式に組み合わせる。 [効果] 反射記憶部材光ビーム22の信号対雑音比を
改善することができ、記憶媒体10に対する光学的ヘッ
ドの焦点合せ位置制御において信号対雑音比を改善し且
つサーボ動作を向上させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的信号処理システ
ム、特に光ディスク・レコーダと共に使用可能な光学的
信号処理システムに関係したものである。
【0002】
【従来の技術】磁気光学的記録装置は、光ディスクに磁
気光学的に記録された情報を、周知のカー効果によって
引き起こされるような直線偏光の回転を検出することに
よって、検知するものである。そのような磁気光学的記
録装置用の焦点合せ、トラック追従及び探索のためのサ
ーボ機構はやはり、焦点差及びトラック追従差又はトラ
ック探索差によって引き起こされる強度変調性反射光を
使用している。焦点合せ及びトラッキング・サーボ動作
をより優秀なものとするためには、その反射光ビームの
強度変調部分の信号対雑音比をより良くすることが望ま
しい。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】光学系において第1面
平面鏡を使用することは、無論それ自体既知である。例
えば、ヨシノ(Yoshino)外は、米国特許第46
60187号において光信号読取り方法を示しており、
これにおいては、第1光ビームを、記録媒体に磁気光学
的に記録した情報に従って第1偏光状態へ変調するよう
になっている。その第1光ビームは、次にこれの周波数
とは異なった周波数の第2光ビームと干渉させ、次に、
その結果として生じた干渉光の強度における変動として
情報を検出するようにする。それら二つのビームの光学
的混合は、偏光ビーム・スプリッタ内で起きる。この混
合した光学的信号の出力は反射光ビームのs成分光をデ
ータ検出器に通す光アナライザによってフィルタする。
このシステムは、そのs成分光ビームがそのような動作
を達成するためには、周波数シフタを必要としている。
【0004】ミルスター(Milster)外は米国特
許第4823220号において、信号検出のために強度
変調性光ビームを生成するような方法で組み合わせた
(周知のように、読み戻した光ビームにおけるp及びs
成分によって表される、回転させられた直線位相偏光を
有する)磁気光学的な反射光ビームのp成分及びs成分
を組み合わせるための種種の鏡組合せを示している。こ
のシステムは、その出力強度変調性光ビームを得るため
に、種々の位相板及び鏡を必要とする。
【0005】メイセル(Leon I.Maisse
l)外は、マグロ−ヒル・ブックカンパニーによって1
970年に出版された書物「薄膜技術ハンドブック」
(“Handbook of Thin Film T
echnology”published by Mc
Graw−Hill Book Company,Co
pyright 1970)のページ11−11におい
て、いわゆるマイケルソン干渉計を示している。マイケ
ルソン干渉計は、もちろん、1880年代に発明された
ので周知である。この干渉計は、一対の鏡(これらは次
にビーム・スプリッタにおいて組み合わせる)を使用す
ることによって、例えば膜厚を測定するものである。そ
れら鏡の一方は移動可能であって、測定すべき薄膜を通
過した光を反射する。この鏡は、移動させることにより
本干渉計の試験部分の光路長が所定の干渉じまを発生す
るようにする。これらのしまは薄膜の厚さを示すもので
ある。本発明の目的は、磁気光学的記録装置におけるい
わゆる廃棄レーザ光を利用することによって、サーボ機
構動作を向上させることである。
【0006】本発明の別の目的は、光学系の所定の動作
パラメータに従って調整する鏡を使用することにより、
その光学系における動作を向上させることである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に従って、光学的
記録装置は、光学的信号転送関係にある相対的に移動可
能な光学的ヘッドと光学的記憶部材とを備えていて、こ
のヘッドは記憶部材に当たらない廃棄光ビーム、及び記
憶部材に当たって反射されるデータ・ビームを供給す
る。廃棄光ビームは、例えば第1面平面鏡によって向け
直し、そして反射光と同相になるように調整して、その
光強度を増大させるために反射光ビームと位相コヒーレ
ント式に組み合わせるようにする。磁気光学的システム
においては、情報は、反射データ・ビームにおいて、反
射廃棄光ビームとデータ・ビームとの位相コヒーレンス
性組合せにより影響を受けない偏光位相回転によって運
ぶ。サーボ機構回路は、記憶部材に関するデータ・ビー
ムの集束及び追跡を制御する。
【0008】本発明の採択形式においては、集束制御信
号は又、データ・ビーム及び廃棄光ビームの光路リンク
間に一定の関係を維持して、これにより位相コヒーレン
スを維持するため、廃棄光ビームを反射する鏡を位置決
めするのに使用する。廃棄光を反射するこの鏡の制御
を、焦点制御器においてより精密に制御することも又望
ましい。
【0009】本発明の前述及びその他の目的、特徴及び
利点は、添付の図面に図解し本発明の採択実施例につい
ての以下の詳細な説明から明らかになるであろう。
【0010】
【実施例】今度は詳細に図面を参照すると、回転式ディ
スクの形式をした磁気光学的記憶部材10は、レーザー
12から両方向性光路11でレーザ光を受けるようにな
っていて、既知の磁気光学的諸原理を用いて記憶媒体1
0に対し信号を記録したりそれから検知したりすること
ができる。磁気光学的記憶部材10から反射した光路1
1の光は磁気記憶部材10上に磁気的に記録された情報
保持信号を運ぶため、既知のカー効果によるそれの直線
偏光の回転を呈するものである。レーザ12からの光
は、光路13で通常のビーム整形器及びコリメータ(図
示していない)を通過し、それから位相偏光ビーム・ス
プリッタ(以下、ビーム・スプリッタ)14に到る。レ
ーザ12から光路13に沿って進行する光の偏光は、こ
の光が、磁気光学的記憶部材10への透過のため、直接
ビーム・スプリッタ14を通過して、光路11に到るよ
うなものである。レーザ12からのその光の一部分は、
ビーム・スプリッタ14から光路21に沿って反射さ
れ、従って記憶部材10に当たらず、すなわちこれから
離れて行く。ビーム・スプリッタ14は、この配置によ
り、記憶部材10から光路11に沿って戻って来た光
を、光路22に沿って第2のビーム・スプリッタ15へ
反射するようにしてある。ビーム・スプリッタ14及び
15は、そのそれぞれの反射及び光透過特性に関して同
じに構成することが好ましい。その光の一部分は、ビー
ム・スプリッタ15によってデータ検出回路/光学的処
理装置16へ向け直す。このようなデータ検出装置16
は、周知のような通常の磁気光学的データ検出システム
とすることができる。光路22からの光の一部分は、ビ
ーム・スプリッタ15を透過し光路23に沿ってサーボ
回路17内の検出器(図示せず)に達する。このような
検出器は、当該分野において知られている焦点誤差信号
及び追跡又は探索誤差信号を発生する。光路23に沿っ
て伝わるその反射光ビームの、サーボ回路17内の検出
器に対する強度変化、それの形状、及び方向は、焦点誤
差信号及び位置誤差信号を発生するのに使用する。光路
23に沿って進行する光の1つの性状は、その強度であ
る。光学系内の各種素子のために、光学的雑音が発生す
る。サーボ回路17の動作を向上させるためには、この
光学的雑音を低減することが望ましい。記憶部材10上
の追跡している又はそれを横切って半径方向に移動して
いるトラック(図示せず)に関して、対物レンズ34を
相対的に横断方向に位置調整するのに使用する位置誤差
信号は、本発明を理解するための制御信号の発生に影響
がないので、詳述しない。サーボ回路17の焦点部分
は、焦点制御信号を発生し、これの一部分は、線30に
より、ここではコイルとして表した鏡アクチュエータ3
1に供給する。アクチュエータ31は、第1面平面鏡2
0に機械的に接続しており、この平面鏡は光路21の廃
棄光を遮って反射するようにする。鏡20が反射した光
を記憶部材10が反射した光に位相コヒーレント式に加
えることが望ましい。この位相コヒーレンス性組合せ
は、光路21からの光がビーム・スプリッタ14を通っ
て光路22へ透過し、かつ光路11に沿っての記憶部材
10からの光が経路22へ向け直されるか又は反射され
る際に、ビーム・スプリッタ14において生じる。記憶
部材10とビーム・スプリッタ14との間の及び鏡20
とビーム・スプリッタ14との間の間隔は、その制御に
よって、そのビーム・スプリッタと記憶部材及び平面鏡
との間の相対的間隔を、二つの光ビームの強度変調の位
相コヒーレンスを生成するように維持する。この方法
で、記憶部材10が反射した光ビームの強度を増大させ
て、サーボ回路17の制御器において使用する信号対雑
音比を増大するようにする。このような増大した信号対
雑音比は、焦点合せ及び位置誤差の両サーボ制御動作を
改善する。
【0011】その焦点サーボは、その焦点合せ制御信号
を線33により、ここではコイルとして表わした焦点ア
クチュエータ32に供給するが、このアクチュエータ
は、作用上、対物レンズ34に取り付けるか又は接続し
てある。既知の方法で、線33上の信号は、ディスク1
0に対して対物レンズ34を相対的に動かすアクチュエ
ータ32へ流れて、光路11に沿ってビーム・スプリッ
タ14から記憶部材10へ進行する光ビームを、記憶部
材10の記録用レベルで焦点の合った状態に維持する。
この動作は周知であり、この理由でこれ以上説明しな
い。線33上のその焦点制御信号はビーム・スプリッタ
14と記憶部材10との間の光路長変化を示すものであ
るので、ディスク10が対物レンズ34から離れる方向
に移動するとき、光路21の長さに沿って鏡20の同期
式比例移動を与えるために、線33の焦点駆動信号から
これに正比例した、アクチュエータ31に供給すべき信
号を取り出し、鏡20をビーム・スプリッタ14から更
に離れるように移動させる(逆の場合も同様である)。
この動作は、焦点が変化するとき(これは光ビーム11
の光路長変化を表す)、その焦点誤差について廃棄光路
21の長さを補償する。反射廃棄光ビームと反射データ
又は読取りビームとの間の安定な位相コヒーレンスを生
成するために、それら光路リンクは、本システムにおい
て使用している光の波長の約0.067内で一定に維持
するようにすることができる。また、互いに干渉する光
ビーム間の空間コヒーレンス長も、コヒーレント・ビー
ムの発生点からコヒーレンス式しま組合せの点までの光
の全進行距離を越えるようにするべきである。そのコヒ
ーレンス長は、ビーム・スプリッタ14による波面の振
幅分割によって容易に確立できる。この空間コヒーレン
ス長は、1ミリメートル未満のコヒーレンス長を持った
レーザ12から発生する光の固有の空間コヒーレンスと
は独立に達成することができる。例えば、上記の相対的
光路リンクを制御する第1の条件は、記憶部材10の実
際のランアウト、すなわち焦点である光路11の軸に沿
っての記憶部材10の移動、を追跡することを要求する
ものである。サーボ回路17の焦点サーボ部分は、対物
レンズの運動を、記憶部材10の記憶面の実際の運動に
従わせる。正にこの機械的運動制御(100マイクロメ
ートル以上の程度の移動を必要とする)を、本発明にお
いて光路11の長さの可変性の補償のために使用してい
る。鏡20の補償運動は、対物レンズ34のそれと整合
することが好ましい。鏡20のこの補償運動、及び記憶
部材10からの反射光とこれに位相コヒーレンス式に組
み合わせる光路21からの反射光との組合せの使用によ
り、サーボ動作の信号対雑音比が高くなる。
【0012】鏡20が高品質のものであり、記憶部材1
0が約25パーセントの反射率を持っているときには、
光路22における光の信号パワー強化は、9.5デシベ
ル程度にすることができる。データ検出装置16に供給
される光強度も又増大するが、約7デシベルである。鏡
20を設置し且つこれを既述のように制御することの結
果として、ショット雑音、信号対雑音比における実効
2.5デシベル利得が達成でき、この値は、ビーム・ス
プリッタ14及び15の透過パラメータ及び反射率パラ
メータの特定の値に独立したものである。レーザ12へ
のその帰還を制御するために、高品質のビーム・スプリ
ッタ14及び15を選ぶことも又重要である。鏡20を
設置したとき、レーザ帰還の増大に気づいたが、帰還に
おけるこの増大は、高品質のビーム・スプリッタ14及
び15を準備することによって最小化することができ
る。データ検出回路においてはもとより、特にサーボ回
路17における有意の光強度増大は、信号対雑音比の増
大による向上した動作を提供する。
【0013】ビーム・スプリッタ14及び15の透過性
及び反射性パラメータは、総合的な光学的性能を最適化
するように選択するが、この選択は、記憶部材10にお
ける磁気光学的な記録、及び記憶部材10の記録情報の
読取り又は検知を考慮に入れて行う。データ検出装置1
6の如きすべてのデータ検出器には、ショット雑音の発
生があり、これは忠実な信号検出をそこなう。光学系内
に鏡20が存在することにより、磁気光学的形式の光学
的記録装置の設計のための最適の解決策を見い出すこと
が容易になる。
【0014】以上に、本発明について、特にその採択実
施例に関して図示し説明したが、形態及び細部における
種々の変更が本発明の精神及び範囲から外れることなく
可能であることは、当業者には理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】本光学的記憶装置への本発明の組込みを線図で
図解したものである。
【符号の説明】
10:磁気光学的記憶部材、11:光路、12:レー
ザ、13:光路、14:ビーム・スプリッタ、15:ビ
ーム・スプリッタ、16:データ検出回路/光学的処理
装置、17:サーボ回路、20:第1面平面鏡、21:
廃棄光路、22:光路、23:光路、30:線、31:
アクチュエータ、32:アクチュエータ、33:線、3
4:対物レンズ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 テリー・ウエイン・マクダニエル アメリカ合衆国カリフオルニア州95037, モーガン・ヒル,フエリツツ・コート 16755

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 信号転送関係にある、相対的に移動可能
    な光学的ヘッドと光学的記憶部材とを備えていて、前記
    ヘッドが、前記記憶部材に当たらない廃棄光ビーム及び
    前記記憶部材に当たって前記ヘッドに反射し戻されるデ
    ータ・ビームを供給するようになった、光学的記録装置
    であって、前記廃棄光ビームを、向け直し且つ前記の反
    射された光ビームと同相になるように調整し、そしてそ
    の光強度を増大させるために前記反射光ビームと組み合
    わせること、を特徴とする光学的記録装置。
  2. 【請求項2】 前記データ・ビームが前記記憶部材に記
    録されたデータを運ぶために前記記憶部材によって偏光
    変調されるようになっており、また前記反射光ビームに
    て運ぶ前記データを検出するために前記反射光を受ける
    手段があり、且つ前記ヘッドに接続したサーボ手段が、
    増大した前記光ビームの強度に応答して前記ヘッドを前
    記記憶部材との信号転送関係に維持するように前記ヘッ
    ドを制御することができる、請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】 前記データ・ビームを前記記憶部材に通
    じる光路に沿って導き且つ前記廃棄光ビームを別の方向
    に通じる第2の光路に沿って導く前記ヘッド内のビーム
    ・スプリッタ、及び前記反射光ビームとの組合せのため
    に前記廃棄光を前記ビーム・スプリッタへ反射し返すよ
    うに前記ビーム・スプリッタに対して配置した鏡手段、
    を更に備えている、請求項1に記載の装置。
  4. 【請求項4】 前記鏡手段は、前記第2光路に沿って前
    記ビーム・スプリッタに接近したり離隔したりするよう
    に前記ビーム・スプリッタに対して移動可能であり、 動作上前記ヘッドに接続していて、前記データ・ビーム
    の焦点を前記記憶部材に維持することができ且つ前記鏡
    手段に接続していてこれを前記データ・ビームの焦点が
    維持されるときに第2光路に沿って移動することがで
    き、従って前記廃棄光ビームの移動する距離が焦点合せ
    動作と共に変化して前記ビーム・スプリッタにおいて前
    記反射光ビームと前記廃棄光ビームとの間に位相コヒー
    レンス性を保持することのできるサーボ手段を更に備え
    ている、請求項3に記載の装置。
  5. 【請求項5】 前記サーボ手段が、前記ビーム・スプリ
    ッタからの前記反射光を受けるように配置し且つ前記反
    射光の強度に応答して前記データ・ビームを前記記憶部
    材上に集束させることのできる検出器手段を備えてい
    る、請求項4に記載の装置。
  6. 【請求項6】 前記記憶部材が、記憶部材上の前記デー
    タ・ビームの入射点における記憶部材の残留磁化に従っ
    て前記データ・ビームの直線偏光を回転させることによ
    って前記データ・ビームを変調する磁気光学的記憶部材
    であり、また前記反射ビームの一部分を前記サーボ検出
    器の方以外の第3光路に沿って導くために、前記の第1
    に記載したビーム・スプリッタと前記サーボ検出器との
    間に光学的に挿入した第2のビーム・スプリッタ、及び
    前記反射光ビームの前記直線偏光に対する回転として前
    記反射光ビームが伝えるデータを検出するために、前記
    第3光路に沿って進行する光を遮るように配置した磁気
    光学的検出器、を更に備えている、請求項5に記載の装
    置。
  7. 【請求項7】 可動データ記憶部材から反射した光を光
    学的に処理する方法であって、前記データ記憶部材に供
    給しそしてこれによりヘッドに反射し返されるようにす
    る光が、光学的ヘッドにおける光の第1部分であり、そ
    して光学的ヘッドにおける光の第2部分が前記データ記
    憶部材から離れるように導かれるようになっている、前
    記の方法において、 前記データ記憶部材の且つこれから進行する前記第1部
    分の光の進行の長さにおける変化を検知する段階、 可変長光路に沿って前記第2部分の光を導く段階、 前記の可変長光路の長さを変えて、その光路長変化を前
    記第1部分の進行長の検知した変化に光学的に等しく
    し、これにより前記第1部分の光と前記第2部分の光と
    の間の所定の位相関係をそれらのそれぞれの光進行の所
    定の位置において維持する段階、 前記第1部分及び第2部分の光を前記所定の位置にて組
    合せる段階、を含んでいる方法。
  8. 【請求項8】 前記第2部分の光を反射するための鏡を
    準備する段階、並びに前記所定の位置からの前記鏡の位
    置を変えて、前記第1部分及び第2部分の光の位相コヒ
    ーレンスを前記所定の位置において維持するようにする
    段階、を更に含んでいる、請求項7に記載の方法。
  9. 【請求項9】 前記第1部分の光を前記データ記憶部材
    上へ集束させる段階、 前記の集束を解析することにより、前記鏡を前記所定の
    位置に対し移動させて前記第2部分の光の光進行距離を
    変え、前記第2部分の進行長が前記第1部分の光の集束
    動作と共に変化するようにする段階、を更に含んでい
    る、請求項8に記載の方法。
  10. 【請求項10】 前記第1部分及び第2部分を発生する
    ためにビーム・スプリッタを準備し、そして前記所定の
    位置を前記ビーム・スプリッタ内に位置決めする段階、
    を更に含んでいる、請求項9に記載の方法。
  11. 【請求項11】 前記第1部分の光をこれの直線偏光を
    回転させることによって変調し、この変調において情報
    保持信号を伝えるようにする段階、 前記第1部分の偏光変調の後に、前記所定の位置におい
    て両部分の前記組合せを行う段階、 前記変調を検出することによって前記の組合せ光からデ
    ータを検出し、そして強度強化した前記第1部分の光を
    検出することによって前記組合せ光からサーボ情報を検
    出する段階、を更に含んでいる、請求項8に記載の方
    法。
  12. 【請求項12】 光学的システムにおいて、該システム
    内で伝達する反射光を強化するための装置が、 原光ビームを、それぞれ第1及び第2の独立した光路に
    沿って進行する第1及び第2のビームに分割する第1手
    段、 前記第1光路における光学的記憶部材であって、これに
    記憶した情報を示す変調を伴って前記第1ビームを前記
    第1光路へ反射し返す記録面を持っている、前記の光学
    的記憶部材、 前記第2ビームを前記第2光路へ反射し返すための前記
    第2光路における第1面鏡手段、 前記第1及び第2ビームからの反射光を受けてこれを光
    学的に組み合わせるために、前記第1及び第2光路に光
    学的に結合した光学的組合せ手段、並びに前記第1及び
    第2光路に結合していて、それらの光路長を調整して前
    記第1及び第2光路の所定の一定の相対的長さを維持
    し、これにより前記第1及び第2の反射光ビーム間の一
    定の位相関係を前記光学的組合せ手段において維持する
    ようにするサーボ手段、を備えている装置。
  13. 【請求項13】 前記光学的記憶部材が、前記変調が前
    記第1光ビームにおける直線偏光の回転変調である磁気
    光学的記憶部材であり、 前記サーボ手段が、前記組合せ反射光ビームを受けるた
    めに前記組合せ手段に結合していて、それに応答して前
    記第1及び第2の光路の前記相対的長さを維持するよう
    になっており、また前記組合せ光ビームを受けて前記反
    射光ビームの前記変調を検出するために、前記組合せ手
    段に接続したデータ検出手段、を更に備えている、請求
    項12に記載の装置。
  14. 【請求項14】 前記サーボ手段が、前記第1及び第2
    光路の前記相対的長さを前記原光ビーム内の光の0.1
    波長以下に維持するための信号応答特性を持っている、
    請求項12に記載の装置。
  15. 【請求項15】 前記サーボ手段が、前記光学的記憶部
    材及び前記組合せ手段に結合しており且つ前記第2光路
    の長さを所定の焦点条件に維持するように動作すること
    ができ、且つ前記鏡と前記組合せ手段とに結合していて
    前記焦点維持が前記第1光路の長さを変えるときに前記
    第2光路の長さを変えるようになっている、請求項12
    に記載の装置。
  16. 【請求項16】 レーザが原光ビームを供給し、ビーム
    ・スプリッタが該原光ビームを受けてこれをデータ・ビ
    ームと廃棄ビームとに分割し、光学的記憶部材が前記デ
    ータ・ビームを受けてこれをビーム・スプリッタへ反射
    し返し且つ前記廃棄ビームを光学的記憶部材によって遮
    られるように導き、データ検出器が前記ビーム・スプリ
    ッタに光学的に結合していてその反射データ・ビームの
    少なくとも一部分を受けてこれにより伝えられたデータ
    を検出することができ、集束レンズを前記ビーム・スプ
    リッタと前記光学的記憶部材との間に光学的に挿入して
    いて前記データ・ビームを前記光学的記憶部材上へ集束
    させることができるようになった、光学的記憶システム
    であって、 前記廃棄ビームを遮ってこれを前記ビーム・スプリッタ
    へ反射し返す反射手段、 前記ビーム・スプリッタと前記集束レンズとに結合して
    いて、前記反射データ・ビームの一部分を受けて焦点状
    態を測定し、前記集束レンズを前記光学的記憶部材の方
    へ又はこれから離れる方へ動かすように操作して所定の
    焦点状態を維持することができるサーボ手段であって、
    前記集束レンズ移動と一致した整合した運動が可能なよ
    うに前記反射手段に結合していて、前記データ・ビーム
    及び廃棄ビームの再組合せが所定の一定の位相同期状態
    になっていて、前記反射データ・ビームの強度より大き
    く前記組合せ反射ビームの強度振幅を強化することがで
    き、従って前記サーボ手段が前記反射ビームのそれの部
    分を前記反射データ・ビームの信号対雑音比より大きい
    信号対雑音比で受けるようになっている前記のサーボ手
    段、を備えている光学的記憶システム。
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