JPH0511896A - 半導体回路 - Google Patents

半導体回路

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Publication number
JPH0511896A
JPH0511896A JP3165486A JP16548691A JPH0511896A JP H0511896 A JPH0511896 A JP H0511896A JP 3165486 A JP3165486 A JP 3165486A JP 16548691 A JP16548691 A JP 16548691A JP H0511896 A JPH0511896 A JP H0511896A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microcomputer
circuit
test
signal
input
Prior art date
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Pending
Application number
JP3165486A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Matsumoto
誠 松本
Michio Seki
道雄 関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP3165486A priority Critical patent/JPH0511896A/ja
Publication of JPH0511896A publication Critical patent/JPH0511896A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Microcomputers (AREA)
  • Power Sources (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 テスト時以外の通常の使用時に、出力端子の
電位がハイレベル、ローレベル以外の中間の状態となっ
ても、テスト用入力回路で不要な電流消費を発生させな
い。 【構成】 マイクロコンピュータ1のテスト用信号を外
部端子3から入力する。このとき、マイクロコンピュー
タ1からの制御信号5で入力制御回路4を制御すること
により、テスト用信号を必要なときのみ通過させ、不要
時にはテスト用信号を遮断して、電流消費を低減する。
テスト時以外の通常使用時には、入力制御回路4は常に
閉じられている。 【効果】 消費電力を低減した半導体回路が実現でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロコンピュータ
の出力端子にテストのための入力回路を備えた半導体回
路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】マイクロコンピュータのテストのために
は、その出力端子にテスト信号を入力するテスト用入力
回路を備える必要がある。
【0003】以下、従来のマイクロコンピュータのテス
ト用入力回路の構成について説明する。図2は、従来の
マイクロコンピュータとそのテスト用入力回路の構成を
示すブロック図である。1はマイクロコンピュータ、2
は出力回路、3は外部端子、4はテスト用入力回路であ
る。
【0004】図2に示す構成のマイクロコンピュータの
テストを行なうには、外部端子3へ外部から信号を与
え、テスト用入力回路4を通して信号をマイクロコンピ
ュータ1に伝えていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】以上のような構成の回
路では、テスト時以外の通常の使用時に、出力端子がハ
イレベル、ローレベル以外の中間電位の状態となった場
合、テスト用入力回路4で不要な電流消費が発生すると
いう問題があった。
【0006】本発明は、上記従来の課題を解決するもの
で、外部端子が中間電位の状態になった場合でも、不要
な電流消費が発生しない半導体回路を提供することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の半導体回路は、テスト用入力回路に、マイ
クロコンピュータからの制御信号によって、テストに必
要なときのみ信号を入力し、不要なときは信号を遮断す
る機能を備えている。
【0008】
【作用】この構成により、テスト用入力回路はテスト時
のみ信号を入力するため、それ以外の通常の使用時には
信号が遮断され、不要な電流消費を防止できる。
【0009】
【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。
【0010】図1は本発明の一実施例における半導体回
路の構成を示すブロック図である。同図において、1は
マイクロコンピュータ、2は出力回路、3は出力端子
で、これらは従来例の構成と同じである。4はテスト用
入力制御回路で本実施例ではトライステートインバータ
を使用する。5はテスト用入力制御回路を制御するため
にマイクロコンピュータから出される制御信号である。
【0011】以上のように構成された半導体回路のテス
ト方法を説明する。マイクロコンピュータ1のテスト用
信号を外部端子3から入力する。このとき、マイクロコ
ンピュータ1からの制御信号5で入力制御回路4を制御
することにより、テスト用信号を必要なときのみ通過さ
せ、不要時はテスト用信号を遮断して、電流消費を低減
する。テスト時以外の通常使用時には、入力制御回路4
は常に閉じられている。なお、上記実施例では入力制御
回路として、トライステートインバータを用いたが、代
わりにトランスファゲート、あるいは入力制御回路4の
電源を切断する回路を使用しても同様の効果が得られ
る。
【0012】
【発明の効果】本発明は、必要時のみテスト用入力信号
を通過させる入力制御回路を備えることにより、テスト
時以外の通常の使用時に出力端子が中間電位の状態とな
った場合でも、不要な電流消費が発生せず、低消費電力
の半導体回路を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による半導体回路の構成を示
すブロック図
【図2】従来の半導体回路の構成を示すブロック図
【符号の説明】
1 マイクロコンピュータ 2 出力回路 3 外部端子 4 入力制御回路 5 制御信号

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】マイクロコンピュータと、そのマイクロコ
    ンピュータの信号を出力する出力回路と、その出力回路
    に接続された外部端子と、その外部端子より入力される
    信号を前記マイクロコンピュータによって制御できる入
    力制御回路を有する半導体回路。
  2. 【請求項2】マイクロコンピュータの外部端子より入力
    される信号を前記マイクロコンピュータの制御信号によ
    って入力を遮断できる入力制御回路を有する請求項1に
    記載の半導体回路。
JP3165486A 1991-07-05 1991-07-05 半導体回路 Pending JPH0511896A (ja)

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