JPH0510360Y2 - - Google Patents

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JPH0510360Y2
JPH0510360Y2 JP16276787U JP16276787U JPH0510360Y2 JP H0510360 Y2 JPH0510360 Y2 JP H0510360Y2 JP 16276787 U JP16276787 U JP 16276787U JP 16276787 U JP16276787 U JP 16276787U JP H0510360 Y2 JPH0510360 Y2 JP H0510360Y2
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JP
Japan
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resin
mold
gate
lead
runner
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JP16276787U
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  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は半導体装置樹脂封止用金型に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体装置の製造に於ける組立工程に
は、安価であり、量産性に優れた樹脂封止金型に
よる樹脂封止方法が広く適用されている。
第2図は従来の半導体装置樹脂封止用金型の一
例の断面図、第3図a,bは従来の下部金型の一
例を示す部分平面図及びA−A線断面図である。
上部金型1の一主面には正方形または矩形で隅
に丸みをもつ窪み12が形成され、下部金型2に
も上部金型1と同形状の窪み11が形成され、上
部金型1の窪み12とでキヤビテイ6を形成す
る。また、下部金型2にはキヤビテイ6に溶融樹
脂を送るランナー4及びゲート3が設けられてい
る。樹脂封止を行う場合は、あらかじめ半導体チ
ツプ10が搭載されたリードフレーム7を型開き
された下部金型2の上に載置して、型締めを行つ
た後に溶融樹脂をランナー4及びゲート3よりキ
ヤビテイ6に注入して樹脂体10を成形する。
〔考案が解決しようとする問題点〕
上述した従来の半導体装置樹脂封止用金型は、
第3図に示すように、ゲート3内にリード8の1
本及びタイバー5の一部を含んでいるため、型締
めのときに下部金型2とリード8及びタイバー5
の一部との間にはゲート3の断面に相当する隙間
が生じるだけではなく、上部金型とリード8及び
タイバー5の間にも数μmの隙間を生じる。従つ
て、樹脂封止したときにリード8及びタイバー5
の一部の表面に樹脂が付着する。リード8及びタ
イバー5の一部の下部金型側に付着した樹脂は、
型開きして樹脂体10を排出するときにゲート3
に残存する樹脂に引張られてリード8及びタイバ
ー5の表面より剥離して取去られるが、上部金型
との隙間により生ずる樹脂ばりはリード8及びタ
イバー5の一部の表面に付着したままとなる。
この樹脂ばりは、半田めつき等に悪影響を及ぼ
すため樹脂ばり除去作業を必要とし、樹脂ばり除
去工数がかかるという問題がある。
本考案の目的は、リードに樹脂が少しでも付着
する部分が少なくなるようにゲートの位置及び形
状を形成することによつて樹脂ばり除去工数を低
減出来る半導体装置樹脂封止用金型を提供するこ
とにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本考案の半導体装置樹脂封止用金型は、一主面
上に正方形または矩形で隅に丸みをもつ窪みを有
する上部金型と、一主面上に前記上部金型の窪み
と同形状で前記上部金型の窪みとでキヤビテイを
形成する窪みと前記キヤビテイに溶融樹脂を送る
ランナー及びゲートとが設けられている下部金型
とから成り、前記上部金型と下部金型との間に半
導体チツプが搭載されているリードフレームを樹
脂封止する半導体装置樹脂封止用金型において、
前記ゲートの一方の側壁は前記ランナーに面する
前記キヤビテイの辺の直線部分終端から前記ラン
ナーに向つて伸び、他方の側壁は前記リードフレ
ームのタイバーまではリード1本を前記ゲート内
に含み前記タイバーから先は前記リードの残りの
部分を前記ゲート内に含まないように前記タイバ
ー上で曲りランナーに向つて伸びるように前記ゲ
ートが形成されることにより構成される。
〔実施例〕
次に、本考案の実施例について図面を参照して
説明する。
第1図a,bは本考案の一実施例の下部金型の
部分平面図及びA−A断面図である。
上部金型1の窪み12、下部金型2の窪み11
及びランナー4の形状、外形寸法及び配置は第2
図に示した従来例と同じである。
ゲート3を形成する溝の一方の側壁を下部金型
2の一主面上にある窪み11のランナー4に面し
た辺の直線部分の終端から外方に位置するランナ
ーに向つて伸び、他方の側壁はタイバー5迄はタ
イバー5の内側に位置するリード8を1本を含む
ように、そしてタイバー5から先は、タイバー5
の外側に位置するリード8を含まないように、タ
イバー5上で曲り、前記リード8の近傍に沿つて
ランナーに向つて伸びる。
ゲート3をこのような形状に形成した金型によ
り樹脂封止すると、型締めのときにタイバー5の
外側に位置するリード8は上部金型1と下部金型
2とにより隙間なく締付けられるのでタイバー5
の外側に位置するリード8への樹脂付着はなくな
る。
〔考案の効果〕
以上説明したように、本考案は、リードに樹脂
が少しでも付着する部分が少なくなるようにゲー
トを形成したので、樹脂封止後の樹脂ばりを除去
する工数が低減出来る半導体装置樹脂封止用金型
が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図a,bは本考案の一実施例の下部金型の
部分平面図及びA−A断面図、第2図は従来の半
導体装置樹脂封止用金型の一例の断面図、第3図
a,bは従来の下部金型の一例を示す部分平面図
及びA−A線断面図である。 1……上部金型、2……下部金型、3……ゲー
ト、4……ランナー、5……タイバー、6……キ
ヤビテイ、7……リードフレーム、8……リー
ド、9……半導体チツプ、10……樹脂体、1
1,12……窪み。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 一主面上に正方形または矩形で隅に丸みをもつ
    窪みを有する上部金型と、一主面上に前記上部金
    型の窪みと同形状で前記上部金型の窪みとでキヤ
    ビテイを形成する窪みと前記キヤビテイに溶融樹
    脂を送るランナー及びゲートとが設けられている
    下部金型とから成り、前記上部金型と下部金型と
    の間に半導体チツプが搭載されているリードフレ
    ームを挟んで樹脂封止する半導体装置樹脂封止用
    金型において、前記ゲートの一方の側壁は前記ラ
    ンナーに面する前記キヤビテイの辺の直線部分終
    端から前記ランナーに向つて伸び、他方の側壁は
    前記リードフレームのタイバーまではリード1本
    を前記ゲート内に含み前記タイバーから先は前記
    リードの残りの部分を前記ゲート内に含まないよ
    うに前記タイバー上で曲りランナーに向つて伸び
    るように前記ゲートが形成されていることを特徴
    とする半導体装置樹脂封止用金型。
JP16276787U 1987-10-23 1987-10-23 Expired - Lifetime JPH0510360Y2 (ja)

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JP16276787U JPH0510360Y2 (ja) 1987-10-23 1987-10-23

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Publication Number Publication Date
JPH0167741U JPH0167741U (ja) 1989-05-01
JPH0510360Y2 true JPH0510360Y2 (ja) 1993-03-15

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