JPH04171751A - 半導体装置のリードフレーム - Google Patents

半導体装置のリードフレーム

Info

Publication number
JPH04171751A
JPH04171751A JP2299308A JP29930890A JPH04171751A JP H04171751 A JPH04171751 A JP H04171751A JP 2299308 A JP2299308 A JP 2299308A JP 29930890 A JP29930890 A JP 29930890A JP H04171751 A JPH04171751 A JP H04171751A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
semiconductor device
resin
island
mold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2299308A
Other languages
English (en)
Inventor
Shohei Okazaki
岡崎 祥平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2299308A priority Critical patent/JPH04171751A/ja
Publication of JPH04171751A publication Critical patent/JPH04171751A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置のリードフレームに関し、特にモー
ルド樹脂で封入されるリードフレームに関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体装置のリードフレームは、ニッケルと鉄の
合金又は鋼材等の薄板を所定のリードフレームの形状と
なるような金型を用いてプレスにより打ち抜き、又は所
定のリードフレームの形状となるようなマスク材でニッ
ケルと鉄の合金、又は鋼材等の薄板を覆い、エツチング
法によりリードフレームを溶かすことにより、所定のリ
ードフレームの形状を作成していた。
これらプレス法又はエツチング法により構成した半導体
装置のリードフレームのアイランド部およびリード部の
切断面は半導体装置を搭載するアイランド表面に対して
、90°の角度を持つような構造となっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
これら従来のリードフレームは、ニッケルと鉄の合金又
は鋼材等の薄板をプレスによる打ち抜き、又はエツチン
グによりパターニングして形成しているので、このリー
ドフレームの表面に半導体装置をマウントし、リードフ
レームと半導体装置とをボンディングワイヤで切断した
後、モールド等の樹脂で封止した場合、リードフレーム
と封非樹脂の熱膨張率の違いにより、この封止樹脂上に
ストレスがかかり、特にリードフレームのアイランドの
角から樹脂の表面方向へクラックが入るという欠点があ
る。
本発明の目的は、このような欠点を除き、封止樹脂への
ストレスを除き、アイランドから樹脂表面にクラックを
生じないようにした半導体装置のリードフレームを提供
することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の構成は、半導体装置を搭載しモールド等の樹脂
で封止される半導体装置のリードフレームにおいて、こ
のリードフレーム上のアイランドを形成する面どおしの
角度が、すべて90°以上の角度を持つように、または
曲面となるように形成されたことを特徴とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のリードフレームを樹脂て封
止した後の断面図である。ここでは、リードフレームの
アイランド1の上に半導体装置2をマウントし、この半
導体装置2とリードフレームのり一ド3とをホンディン
グワイヤ4で切断し、モールド等の樹脂5て封止してい
る。この構成において、リードフレームのアイランド1
の切断面の内角は、すべて90°以上の角度を持つよう
な形状となっているため、封止樹脂5にかかるストレス
が分散され、封止樹脂5にクラックが生じないという効
果を有する。
第2図は本発明の第2の実施例のリードフレームを樹脂
で封止した後の断面図である。この実施例では、リード
フレームのアイランド1の切断面が曲面となっているた
め、封止樹脂5にかかるストレスが曲面で分散され、ク
ラックか入ることはない。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、リードフレームのアイラ
ンド部の角がすべて90°以上の角度であったり、曲面
により形成される形状としなので、封止樹脂にかかるス
トレスが分散され、この封止樹脂にクラックが生じない
という効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の第1および第2の実施例のリ
ードフレームを樹脂で封止した後の断面図である。 1・・・リードフレームのアイランド、2・・・半導体
装置、3・・・リードフレームのリード、4・・・ボン
ディングワイヤ、5・・・封止樹脂。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体装置を搭載しモールド等の樹脂で封止される半
    導体装置のリードフレームにおいて、このリードフレー
    ム上のアイランドを形成する面どおしの角度が、すべて
    90゜以上の角度を持つように、または曲面となるよう
    に形成されたことを特徴とする半導体装置のリードフレ
    ーム。
JP2299308A 1990-11-05 1990-11-05 半導体装置のリードフレーム Pending JPH04171751A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2299308A JPH04171751A (ja) 1990-11-05 1990-11-05 半導体装置のリードフレーム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2299308A JPH04171751A (ja) 1990-11-05 1990-11-05 半導体装置のリードフレーム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04171751A true JPH04171751A (ja) 1992-06-18

Family

ID=17870860

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2299308A Pending JPH04171751A (ja) 1990-11-05 1990-11-05 半導体装置のリードフレーム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04171751A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0628997A2 (en) * 1993-06-10 1994-12-14 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device with small die pad and method of making same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0628997A2 (en) * 1993-06-10 1994-12-14 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device with small die pad and method of making same
EP0628997B1 (en) * 1993-06-10 2002-04-10 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device with small die pad and method of making same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04171751A (ja) 半導体装置のリードフレーム
JPS62171131A (ja) 半導体装置
JPS6232622A (ja) 半導体装置用樹脂封止金型
JPH04316356A (ja) 樹脂封止形半導体装置
JPH0358452A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2705983B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH03116763A (ja) モールド封止半導体デバイス用リードフレーム
JP2582534B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH02265721A (ja) 半導体装置用封入金型
JPH04277670A (ja) 半導体装置用リードフレーム
JPH05267375A (ja) 半導体樹脂封止金型
JP2997182B2 (ja) 面実装用樹脂封止半導体装置
JPH07254664A (ja) 樹脂封止型半導体装置、樹脂封止型半導体装置の製造方法及び樹脂封止型半導体装置の製造に用いる金型
JPH06244335A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH04106963A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2543657Y2 (ja) 半導体製造装置
JPH0318046A (ja) 半導体装置
JPH04162753A (ja) 半導体装置
JPH0314262A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH02117158A (ja) 半導体装置
JPH01225345A (ja) Icデバイス
JPH051225U (ja) 半導体装置のリードフレーム
JPH03157943A (ja) 樹脂封止型半導体集積回路の製造方法
JPH10263717A (ja) 半導体装置用リードフレーム
JPS6217383B2 (ja)