JPH049815A - 顕微鏡写真撮影装置 - Google Patents

顕微鏡写真撮影装置

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JPH049815A
JPH049815A JP11044590A JP11044590A JPH049815A JP H049815 A JPH049815 A JP H049815A JP 11044590 A JP11044590 A JP 11044590A JP 11044590 A JP11044590 A JP 11044590A JP H049815 A JPH049815 A JP H049815A
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objective lens
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Shuji Nakagawa
修二 中川
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行弘 杉本
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、顕微鏡観察される標本像を写真撮影可能な顕
微鏡写真撮影装置に係り、特に標本の明るさを測定し、
撮影露出時間を決定する顕微鏡写真撮影装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、撮影露出時間を決定する際の部分測光時に、観察
視野と同−視野内で部分測光される測光部位を観察でき
る顕微鏡写真撮影装置が知られている。
かかる装置としては、例えば特開昭58−214121
号公報に記載されたものがある。この装置は、第4図に
示すように、対物レンズL1から取込まれた物体0に関
する光線が負レンズL2を通って四辺形プリズムPに入
射する。この四辺形プリズムPは、互いに平行な第1面
S1と第2面S2及びこれらの面と60度傾いて互いに
平行な第3面S3と第4面S4とを有している。対物レ
ンズL1からの光線は第1面S1及び第2面S2を透過
し、正レンズL3を通って反射プリズムM1に入射する
。この反射プリズムM1で反射された光線は、揺動ミラ
ーM2で反射されてレチクル板R上に物体像11が結像
される。このレチクル板Rには隣接して測光プリズムP
1が設けられている。
この測光プリズムP1は斜設された半透過面を有し、半
透過面で反射された反射光が測光プリズムP3の側方に
設けられ受光素子に入射し、その光強度が測定される。
また、この半透過面は斜面上で楕円形状に半透過膜が形
成されていて、光軸方向から見た場合には円形になる。
この半透過膜を通過した光は反射プリズムM3に入射し
、そこで反射されて四辺形プリズムPの第3面及び第4
面ヲ通り、さらにレンズL4.双眼鏡筒プリズムTを通
って、接眼レンズL5の前焦点位置に物体像11の再結
像された像■2を結像させる。その結果、接眼レンズL
5を通して観察される視野には物体像と共に半透過面像
か観察できる。この半透過面像は測光用に反射され光量
だけ周囲より暗くなる。この暗い領域によって測光部位
を確認することができる。
また、観察視野と同一視野内で測光部分のみが明るくな
るようにした装置が特公平1−39082号公報に記載
されている。この装置は、第5図に示すように、物体O
からの光が対物レンズ10を通ってプリズム11に入射
し、ここで接眼鏡視野12を有する接眼レンズ13側と
カメラ14側に分割される。一方、光源15からの照明
光は、第1の反射鏡16で反射されて大小2つの絞り孔
17a17bが設けられた絞り板17に入射し、この絞
り板17と第1の反射鏡16によって細部測光用に変換
された光が、測光位置を移動可能にした方向変換反射鏡
18に入射する。なお、19は光電検知器である。方向
変換反射鏡18で反射された光はレンズ系20.光線分
割器21を介してプリズム11に向かって反射され、コ
ーナーキューブ22で反射された後、接眼鏡視野12に
戻る。接眼鏡視野12には物体Oの全体が見えているの
で、その中で測光されている細部は付加的な照明によっ
て際立たせられ、容易に識別可能となる。露出測定時に
は第1の反射鏡16を旋回させて光源15からの光を光
線路から除外し、光線分割器11から分割された光を光
電検知器1つに導くことによって露出測定し、露出時間
を定める。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら上述した各装置には次のような欠点がある
。先ず、特開昭58−214121号公報に記載された
装置は、半透過面で反射した光を測光に用いて、透過し
た光を観察視野に戻して測光部分の確認に用いているた
め、観察視野における測光部分は光量が著しく低減し、
明瞭に観察できない。
しかも、受光素子へ行く光量も少なくなるので、低照度
のときには測光できないという問題が生じる。
また、特公平1−39082号公報に記載されている装
置は、観察視野における測光部分を付加照明となる光源
15によって明るく際立たせることかできるか、測定視
野絞りか絞り板〕7の大小2つの絞り孔1.7a、17
bによる絞りしか選択することができず、中間的な測光
領域は測定できない。
なお、同公報に記載されているように、絞り穴の大きな
可変焦点レンズを測光光線の中に挿入することにより、
無段階に可変させるといったことも考えられるが、この
様な構成とした場合には光学系が極めて複雑になると共
に、受光領域か狭くなるためスポット測光しかできない
等の問題が生じる。
本発明は以上のような実情に鑑みてなされたもので、部
分測光位置を観察視野と同一視野内において容易に確認
でき、しかも簡単な構成で測光領域を自在に変えること
ができ、受光領域が広くマルチ測光可能な顕微鏡写真撮
影装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は上記課題を解決するために、対物レンズからの
光線を分割し、その分割された一部を接眼レンズへ導き
、分割された他の一部を写真撮影機構へ導いて、顕微鏡
観察される標本像を写真撮影する顕微鏡写真撮影装置に
おいて、前記対物レンズの光軸上に設けられ入射する光
線を前記接眼レンズ側および前記写真撮影機構側に分割
する第1の光線分割手段と、前記対物レンズの光軸上に
設けられ入射する光線を前記写真撮影機構側および二次
元受光部側に分割する第2の光線分割手段と、測光部分
を決めるための投光時には、発生させた光を前記第1お
よび第2の光線分割手段に入射して前記接眼レンズおよ
び前記二次元受光部に投光せしめ、移動可能な絞り機構
によって投光部を所定の領域に形成する投光手段と、こ
の投光手段による前記二次元受光部の投光部を測光して
露出時間を決定する測光手段と、前記投光時には前記対
物レンズからの光線を遮断し、前記測光手段による測光
時には前記対物レンズからの光線を通過させる如く設け
られた遮光板とを備える構成とした。
〔作用〕
本発明は以上のような手段を講じたことにより、対物レ
ンズからの光は第1および第2の光線分割手段でそれぞ
れ分割され、接眼レンズ、二次元受光部に標本像がそれ
ぞれ結像される。標本像が形成された二次元受光部には
、投光手段によって所定の投光部が形成される。この投
光部は投光手段に備えられた絞り機構を移動させること
により移動でき、絞り調節によってその範囲を変化させ
ることができる。この投光手段によって任意の位置に任
意の大きさの投光領域を形成できる。そして、投光手段
によって投光部が形成された状態で遮光板を閉じること
により、二次元受光部には投光部のみが形成され、測光
時には遮光板が開放され、前記投光部が測光手段によっ
て測光される。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について説明する。
第1図は第1実施例となる顕微鏡写真撮影装置を示す図
であり、その光学系か示されている。同図に示す30は
顕微鏡本体に取付けられたカメラであり、このカメラ3
0と同顕微鏡の対物レンズ31との光路間に例えばビー
ムスプリッタ−からなる第1〜第3の光線分割器32〜
34が設けられている。第1の光線分割器32に対物レ
ンズ31側から入射した光の透過側にカメラ30が設け
られていて、反射側の光路上に接眼レンズ35が設置さ
れている。第1の光線分割器32を透過した光はカメラ
30のフィルム面に入射する。また、第2の光線分割器
33に対物レンズ31側から入射した光の透過側に第1
の光線分割器32があり、反射側の光路上に二次元受光
部となるエリアセンサ36が設置されている。さらに、
第3の光線分割器34に対物レンズ側から入射する光の
透過側に第2の光線分割器33が設けられいる。
この第3の光線分割器34には、発光ダイオード37か
らの光が対物レンズ31からの光とは異なる入射面に入
射し、その光は対物レンズ31からの光の透過光と同一
光路上に反射される。なお、発光ダイオード37の出射
側には絞り機ll38が移動可能に設けられている。こ
れら第3の光線分割器341発光ダイオード37.絞り
機構38゜レンズ39から投光手段を構成している。ま
た、対物レンズ31と第3の光線分割器34との間の光
路上には必要に応じて対物レンズ31がらの光線を遮断
する遮光板40が設けられている。なお、対物レンズ3
1の像はカメラ30のフィルム面に結像され、かつフィ
ルム面、エリアセンサ36゜絞り機構38は同焦位置に
配置されるものとする。
この様な光学系において、遮光板40を開放した状態で
は、対物レンズ31からの光線のうち第3の光線分割器
34を透過した光が第2の光線分割器33に入射して、
ここでその一部は反射されてエリアセンサ36上に棟木
像を結像し、その他の透過した光はさらに第1の光線分
割器32に入射する。そして、その透過光はカメラ3o
のフィルム面に標本像を結像し、その反射光は接眼レン
ズ35の視野に標本像を結像する。また、発光ダイオー
ド37から出射された光は第3の光線分割器34で反射
された光かさらに第2の光線分割器に入射する。そして
、その反射光はエリアセンサ36上に前記標本像に重ね
て投光される。この投光部は絞り機構38によってその
投光領域が任意の位置に形成される。一方、第2の光線
分割器33で透過した光は第1の光線分割器32で反射
されて接眼レンズ35の視野にエリアセンサ36と同様
の像が結像される。
一方、エリアセンサ36には測光部41が接続されてい
る。この測光部41は、第1.第2のメモリ42a、4
2bと演算回路43とからなる。
第1のメモリ42aには、エリアセンサ36からの出力
信号に基づく測光領域指示情報が記憶され、第2のメモ
リ42bには、エリアセンサ36からの出力信号に基づ
く標本Oの光強度情報が記憶される。演算回路43は、
第1.第2のメモリ42a、42bに記憶された情報の
論理積をとって写真撮影のための最適露出時間を算出し
、露出時間制御信号をカメラシャッタ44に出力する構
成となっている。
次に、以上のように構成された本実施例の動作について
説明する。
先ず、遮光板40を開放し、エリアセンサ36は動作さ
せない状態で、発光ダイオード37の光を入射する。こ
れによって、接眼レンズ35の視野では、標本像の所定
箇所に投光部が形成された状態が観察できる。そこで、
絞り機構38を移動させて投光部を任意の測光位置へ移
動し、絞りを調節してその範囲を決める。
この様にして測光領域が決定したならば、遮光板40を
閉じて標本Oからの光を遮断し、エリアセンサ36を受
光可能な状態にする。この結果、エリアセンサ36には
決定した測光領域を示す投光部のみが結像され、この投
光部を光電変換した測光領域指示情報が第1のメモリ4
2aに記憶される。
次に、発光ダイオード37による投光を止め、遮光板4
0を開放してエリアセンサ36を再び受光可能にする。
この結果、エリアセンサ36には標本像が形成され、こ
の標本像を充電変換して標本の光強度情報を第2のメモ
リ42bに記憶する。
第1.第2のメモリ42a、42bにそれぞれ記憶され
た情報は演算回路43に取込まれ、その論理積がとられ
て、標本の光強度情報から測光領域のみの光強度情報が
抽出され、その光強度に基づいて写真撮影のための最適
露出時間が算出される。
そして、この算出結果に基づいて生成される露出時間制
御信号がカメラシャッタ44に与えられ、その露出時間
にて写真撮影が行われる。
この様に本実施例によれば、発光ダイオード37から出
射された光を移動可能な絞り機構38を介して第3の光
線分割器34に入射し、この第3の光線分割器34によ
って第1および第2の光線分割器32.33に入射させ
るようにしたので、簡単な構成で標本像が結像された接
眼レンズ35の視野内に測光領域を示す投光部を重ねて
結像でき、測光領域を正確かつ明瞭に見ることができる
また、移動可能な絞り機ll38によって投光部の位置
を目的の場所に移動でき、その範囲も容易に設定できる
。また、エリアセンサ36を用いていることにより、受
光領域が広くマルチ測光か可能となる。しかも、エリア
センサ36で受光領域の指示と61光を行うので、指示
側と測光側との調整が必要なくなり、作業性を向上でき
る。
次に、本発明の第2実施例について説明する。
第2図は第2実施例を示す図である。なお、第1図に示
す装置と同一部分には同一の符号を付している。この実
施例は、上記第1実施例の第1゜第2.第3の光線分割
器に替えて第1および第2の半透過面50a、50bを
有する光線分割器50を設けた例である。
上記光線分割器50は、対物レンズ31からの光線か第
1の半透過面51. aに入射し、この第1の半透過面
50aを反射した光が接眼レンズ35に入射し、かつ透
過した光が第2の半透過面50bに入射する。そして、
この第2の半透過面50bを透過した光がカメラ30に
入射し、第2の半透過面50bで反射された光がエリア
センサ36に入射する。さらに、発光ダイオード37か
ら出射された光が第1の半透過面50aに入射し、透過
した光は接眼レンズ35に入射する。また、第1の半透
過面50aて反射された光は第2の半透過面50bに入
射して、カメラ30側およびエリアセンサ36側とに分
割される。
なお、このように構成された本実施例における遮光板4
0の開閉や、エリアセンサ36.測光部41の動作は第
1実施例と同様である。
この様な第2実施例によれば、第1実施例と同様に接眼
レンズ35の視野内に測光領域を指示する投光部を重ね
て結像でき、測光領域を正確かつ明瞭に見ることができ
、さらに光線分割器の個数を減すことができ、光学系の
構成を簡単にでき、装置の小型化を図ることができる。
次に、本発明の第3実施例について第3図を参照して説
明する。なお、第1図または第2図に示す装置と同一部
分には同一符号を付している。
この実施例は、前記第1実施例における第1および第3
の光線分割器に替えて2つのプリズムを重ね合わせた光
線分割器60を備えた例である。
光線分割器60は互いの接合面60aが/%−フミラー
で構成されている。この光線分割器60の一方のプリズ
ムに対物レンズ31側より入射した光は、その一部がハ
ーフミラ−60aで反射され、さらにこの光か入射した
プリズムの入射面60bて反射されて接眼レンズ35に
入射する。また、他の一部はハーフミラ−60aを透過
して第2の光線分割器33に入射する。また、発光ダイ
オード37より出射され、光線分割器60の他方のプリ
ズムから入射した光は、その一部がハーフミラ−60a
を透過し、さらに反射面60bて反射されて接眼レンズ
35に入射する。また、その他の光はハーフミラ−60
aで反射されて対物レンズ31からの光の一部と共に第
2の光線分割器33に入射する。
第2の光線分割器33は対物レンズ3ユからの標本像に
関する光および発光ダイオード37からの投光用の光の
一部をカメラ30側に通過させると共に、残りの一部を
エリアセンサ36側に導いている。
このように構成された本実施例の動作も第1実施例と同
様である。
この様な第3実施例によれば、第1実施例と同様の効果
を得ることかでき、さらに光線分割器の削減により光学
系を簡単にできるといった効果を得ることができる。
〔発明の効果〕
以上詳記したように本発明によれば、部分測光位置を観
察視野と同一視野内において容易に確認でき、しかも簡
単な構成で測光領域を自在に変えることができ、受光領
域が広くマルチ測光可能な顕微鏡写真撮影装置を提供で
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は第1実施例の構成図、第2図は第2実施例の構
成図、第3図は第3実施例の構成図、第4図は従来の顕
微鏡写真撮影装置の構成例を示す図、第5図は従来の他
の顕微鏡写真撮影装置の構成例を示す図である。 30・・・カメラ、31・・・対物レンズ、32・・第
1の光線分割器、33・・第2の光線分割器、34・第
3の光線分割器、35・・・接眼レンズ、36・・エリ
アセンサ、37・・・発光ダイオード、38・・・絞り
機構、40・・・遮光板、41・・測光部、44・・・
カメラシャッター

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 対物レンズからの光線を分割し、その分割された一部を
    接眼レンズへ導き、分割された他の一部を写真撮影機構
    へ導いて、顕微鏡観察される標本像を写真撮影する顕微
    鏡写真撮影装置において、前記対物レンズの光軸上に設
    けられ入射する光線を前記接眼レンズ側および前記写真
    撮影機構側に分割する第1の光線分割手段と、 前記対物レンズの光軸上に設けられ入射する光線を前記
    写真撮影機構側および二次元受光部側に分割する第2の
    光線分割手段と、 測光部分を決める投光時には、発生させた光を前記第1
    および第2の光線分割手段に入射して前記接眼レンズお
    よび前記二次元受光部に投光せしめ、移動可能な絞り機
    構によって投光部を任意の領域に形成する投光手段と、 この投光手段による前記二次元受光部の投光部を測光し
    て露出時間を決定する測光手段と、前記投光時には前記
    対物レンズからの光線を遮断し、前記測光手段による測
    光時には前記対物レンズからの光線を通過させる如く設
    けられた遮光板と、 を具備したことを特徴とする顕微鏡写真撮影装置。
JP11044590A 1990-04-27 1990-04-27 顕微鏡写真撮影装置 Expired - Lifetime JP2923328B2 (ja)

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