JP3075308B2 - 顕微鏡写真撮影装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、接眼レンズで標本像を
観察しながら所望の測光部位を指定できるようにした顕
微鏡写真撮影装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】生体組織や細胞上で蛍光標識を施したタ
ンパクや遺伝子等を検出する蛍光顕微鏡が広く知られて
いる。

【０００３】特に、近年では微弱な蛍光しか発しない物
質であっても、多重染色等により他の物質との位置相関
関係を調べたり、蛍光染色された物質が細胞構造のどの
部位に存在するのかを、位相差検鏡法や微分干渉検鏡法
と組合わせて調べるようになってきている。

【０００４】上記のような蛍光観察においては、暗い背
景の中に明るい蛍光像が極在することが多く、視野全体
の照度を平均化して露出時間を決定する従来の測光方法
では、写真撮影した場合に蛍光像の部分が潰れてしまう
不具合が発生する。

【０００５】そこで、接眼レンズから測光部位を観察で
きるようにして、任意の測光部位を選択して測光し、そ
の測光部位の照度情報から露出時間を決定する装置が考
えられており、例えば、特開昭５８−２１４１２１号公
報に記載されている。

【０００６】かかる顕微鏡写真撮影装置は、図１０に示
すように構成され、対物レンズ１からの光束を四辺形プ
リズム２の第１面Ｓ１から入射し、第１面Ｓ１と平行な
第２面Ｓ２を透過した光束を、第１〜第３の反射部材Ｍ
１〜Ｍ３によって順に反射させる。そして第３反射部材
Ｍ３からの光束を、四辺形プリズム２の第３面Ｓ３から
射し、四辺形プリズム２の第４面Ｓ４を透過させた後
に、接眼レンズ３に導いている。

【０００７】また第２反射部材Ｍ２と第３反射部材Ｍ３
との間に、物体像のピント合わせを行うレチクルＲと、
測光光束を反射するための斜設された半透過部を有する
測光部材４とを配置し、レチクルＲ上に中間像Ｉ１を形
成している。

【０００８】そして測光部材４の出射面にリレーレンズ
５を設けて、レチクルＲ上に形成される中間像Ｉ１を、
接眼レンズ３の手前で物体像Ｉ２として再結像させてい
る。このような光学系において、測光部材４に、測光領
域に対応する部分光束を反射する半透過面を有する測光
プリズムを用い、光軸に対して移動可能にすることによ
り、接眼レンズ３から観察される物体像上に測光部位を
示す指標像が投影され、測光部材４を移動させることに
よりその指標像を物体像上の任意の位置へ移動させるこ
とができるものとなる。

【０００９】測光部位を指定した像は、例えば第１反射
部材Ｍ１から取出して露出時間を決定し、写真撮影時に
は第２反射部材Ｍ２を光路からはねのけ、中間像Ｉ３を
さらにリレーレンズ６でフィルム面に再結像させ、シャ
ッタ７を上記露出時間に応じて開閉制御する。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た顕微鏡写真撮影装置は、写真撮影範囲や測光領域を接
眼レンズから観察できるようにするために、観察光学系
の中に中間像Ｉ１を形成し、ここに測光部位や写真撮影
範囲を表示するためのレチクルＲを配置している。その
ため、観察光学系や写真撮影光学系の中に中間像Ｉ１，
Ｉ３をリレーするためのリレーレンズ５，６が必要とな
り、観察像及び撮影像の品質が劣化する原因となってい
る。

【００１１】本発明は以上のような実情に鑑みてなされ
たもので、光学系の中に中間像を形成すること無く、接
眼レンズから標本像を観察しながら任意の測光領域を指
定でき、標本像の劣化を伴わない写真撮影を実現する顕
微鏡写真撮影装置を提供することを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために顕微鏡写真撮影装置を、拡大観察及び撮影の
対象となる標本に対向配置される対物レンズと前記標本
の標本像が結像するフィルム面との間の光路上に配置さ
れ、前記対物レンズからの光束を測光用光路へ導く測光
用光学部材と、前記測光用光路上の前記フィルム面と共
役な位置に配置され、２次元状に配列された複数の受光
素子からなるエリアセンサと、前記対物レンズと前記測
光用光学部材との間の光路上に配置され、前記対物レン
ズからの光束を観察用光路へ導く観察用光学部材と、標
本像上の測光部位を指定するための指標像を発生させる
と共に、該指標像を光軸と直交する面の所望位置に移動
させる測光部位指定手段と、前記対物レンズと前記観察
用光学部材との間の光路上に配置され、前記測光部位指
定手段で形成した指標像を、前記観察用光路及び前記測
光用光路に投影する半透過鏡と、前記エリアセンサの出
力信号を入力して前記標本像上に投影されている指標像
の形成位置を検出して、少なくとも１画素以上の領域か
らなる測光領域を決定する測光領域決定手段と、を具備
してなる構成とした。

【００１３】また上記目的を達成するために、顕微鏡写
真撮影装置を、拡大観察及び撮影の対象となる標本に対
向配置される対物レンズと前記標本の標本像が結像する
フィルム面との間の光路上に配置され、前記対物レンズ
からの光束を測光用光路へ導く測光用光学部材と、前記
測光用光路上の前記フィルム面と共役な位置に配置さ
れ、２次元状に配列された複数の受光素子からなるエリ
アセンサと、標本像上の測光部位を指定するための指標
像を発生させると共に、該指標像を光軸と直交する面の
所望位置に移動させる測光位置指定手段と、前記対物レ
ンズからの光束を観察用光路へ導くと共に、前記測光位
置指定手段で形成した指標像を、前記観察用光路及び前
記測光用光路に投影する観察用光学部材と、前記エリア
センサの出力信号を入力して前記標本像上に投影されて
いる前記指標像の形成位置を検出し、少なくとも１画素
以上の領域からなる測光領域を決定する測光領域決定手
段と、を具備してなる構成とした。

【００１４】

【作用】本発明は以上のような手段を講じたことによ
り、対物レンズを介して取込まれた標本像が観察用光学
部材により観察用光路上で結像されると共に、測光用光
学部材により測光用光路に導かれエリアセンサ上で結像
する。

【００１５】そして測光位置指定手段で指標像を発生さ
せると、その指標像が半透過鏡により対物レンズと観察
用光学部材との間の光路上に入射し、さらに標本像と同
様に、観察用光学部材及び測光用光学部材により観察用
光路及び測光用光路にそれぞれ投影される。この結果、
指標像が両光学系における標本像の同一位置に重ねられ
る。この状態で測光位置指定手段により指標像を光軸と
直交する方向に移動させることにより、観察用光路及び
エリアセンサでは指標像が標本像上を移動する。

【００１６】従って、観察用光路の結像位置に対向配置
される接眼レンズから標本像及びこれに投影された指標
像を観察しながら、測光位置指定手段を操作することに
より、標本像上の任意の位置に測光領域を指定できる。

【００１７】標本像上の任意の位置に指標像を投影した
像はエリアセンサで撮像されて、その電気信号が測光領
域決定手段に入力する。標本像上の指標像投影位置はそ
の周囲に比べて照度値が大きく異なるので、測光領域決
定手段ではエリアセンサの出力から指標像形成位置を検
出することができ、その検出位置から測光領域が決定さ
れる。

【００１８】また本発明によれば、以上の手段を講じた
ことにより、対物レンズを介して取込まれた標本像が観
察用光学部材により観察用光路上で結像されると共に、
測光用光学部材により測光用光路に導かれエリアセンサ
上で結像する。

【００１９】そして測光位置指定手段で指標像を発生さ
せると、その指標像が観察用光学部材に入射して、観察
用光路及び測光用光路にそれぞれ投影される。この結
果、指標像が両光学系における標本像の同一位置に重ね
られる。そして上記発明の作用と同様にして、標本像上
の任意の位置に測光領域を指定できる。

【００２０】

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
１及び図２には本発明の第１実施例に係る顕微鏡写真撮
影装置の構成が示されている。

【００２１】本実施例に係る顕微鏡写真撮影装置の光学
系の構成は、図１に示すように、光源１１で発生した照
明光を、コレクタレンズ１２，リレーレンズ１３，視野
絞り１４を介して反射鏡１５に入射する。反射鏡１５は
入射する照明光を上方へ向けて反射する。そして反射鏡
１５で反射した照明光を、リレーレンズ１６，明るさ絞
り１７を介してコンデンサレンズ１８に入射し、このコ
ンデンサレンズ１８により標本１９を均一に照明する。

【００２２】標本１９の上方に対物レンズ２０を対向配
置している。この対物レンズ２０に入射する標本１９か
らの光束を、結像レンズ２１を介して、観察用光学部材
としての半透過プリズム２２に入射している。この半透
過プリズム２２は、入射光束の一部を半透過面２２ａで
反射させ、その結像を接眼レンズ２３を介して拡大観察
できるようにしている。また半透過プリズム２２の半透
過面２２ａを透過した光束を、撮影レンズ２４，シャッ
タ２５を介してフィルム面２６で結像させている。

【００２３】本実施例では、さらに上記光学系に測光位
置指定手段としての指標光源ユニット２７が備えられて
いる。この光源ユニット２７は、外部からの点灯信号に
よって点灯制御される指標光源２８と、測光部位を指定
する指標像の形状を決めるピンホール等の孔が形成され
た指標板２９とから構成されている。指標板２９は光軸
と直交する面内を任意の方向に移動自在に設けられてい
る。

【００２４】そして対物レンズ２０と半透過プリズム２
２との間の光路上に、半透過鏡３０が該光路に対して挿
脱自在に設けられている。この半透過鏡３０は光路中に
挿入された状態で、前記指標光源ユニット２７からの光
束をリレーレンズ３１を介して受けて、半透過プリズム
２２へ入射させるようにしている。

【００２５】また半透過プリズム２２とフィルム面２６
との間の光路上に、測光用光学部材としてのクイックリ
ターンミラー３２が該光路に挿脱自在に設けられてい
る。このクイックリターンミラー３２は、測光領域を決
定するときには、光路に挿入されて、半透過プリズム２
２からの光束を所定方向へ反射させて測光用光路へ導く
ものである。そしてその測光用光路のフィルム面２６と
共役な位置にエリアセンサ３４が配置されている。

【００２６】エリアセンサ３４は、インターライン型の
ＣＣＤ２次元センサから構成されていて、外部からのＣ
ＣＤ駆動パルスによって１フィールド毎に読み出される
ようになっている。

【００２７】本実施例に係る顕微鏡写真撮影装置の電気
系の構成は、図２に示すように、測光領域の検出や写真
撮影等の各動作段階に応じて、ＣＰＵ４０からミラード
ライバー４１及びプリズムドライバー４２へ動作制御信
号が与えられる。ミラードライバー４１は、ＣＰＵ４０
からの動作制御信号を受けて、半透過鏡３０及びクイッ
クリターンミラー３２を光路に対して挿脱させる。プリ
ズムドライバー４２は、ＣＰＵ４０からの動作制御信号
を受けて、写真撮影時に半透過プリズム２２を光路から
はねのけて、代わりに光路長補正用の光学部材を挿入す
るよう動作する。なお、光路長補正用の光学部材は、標
本像を１００％撮影光学系側へ透過させるものが使用さ
れる。

【００２８】またタイミング発生器４４は、ＣＰＵ４０
からの指令を受けて、指標光源２８を点灯制御するタイ
ミング信号を指標光源ドライバー４４に送出し、またエ
リアセンサ３４の読出しを指示するタイミング信号をＣ
ＣＤドライバー４５に送出するものである。

【００２９】指標光源ドライバー４４は、タイミング信
号に基づいて点灯制御信号を指標光源２８に入力して点
灯制御を行う。またＣＣＤドライバー４５は、タイミン
グ信号に基づいてＣＣＤ駆動パルスをエリアセンサ３４
に印加し、順次各画素の蓄積電荷を照度信号（以下、
「測光信号」と呼ぶ）に変換して読出すものである。

【００３０】ＣＣＤドライバー４５によってエリアセン
サ３４から読み出された測光信号は、プリアンプ４６を
介して補正回路４７に入力される。補正回路４７は、測
光信号に対して固定パターンノイズ及び暗出力の補正処
理を施した後、その補正後の測光信号をイメージメモリ
４８に記憶させている。

【００３１】ＣＰＵ４０は、測光領域決定手段としての
機能により、イメージメモリ４８から読出した測光信号
から測光領域を決定し、かつ露出時間算出機能によりそ
の測光領域の照度を検出して撮影時の露出時間を算出す
る。そしてその求めた時間だけシャッター２５を開動作
させるようにシャッタードライバー４９を制御してい
る。次に、本実施例における測光領域決定原理について
説明する。

【００３２】以上のように構成された本実施例では、半
透過鏡３０およびクイックリターンミラー３２を、それ
ぞれ光路上に配置して光源１１及び指標光源２８をそれ
ぞれ点灯させる。

【００３３】これにより、照明光によって均一に照明さ
れた標本１９の標本像は、半透過プリズム２２に入射し
て、その一部が半透過面２２ａで反射して観察用光路に
配置された接眼レンズ２３の手前で結像する。また残り
の光束が半透過面２２ａを透過してクイックリターンミ
ラー３２に入射し、ここで反射されて測光用光路には位
置されたエリアセンサ３４上で結像する。

【００３４】この結果、観察用光路及び測光用光路の各
結位置には、標本像に指標像が重ねられた像が形成され
ることになり、接眼レンズ２３からはその像を観察する
ことができる。指標光源ユニット２７で作成した指標像
は光スポットであるので、両光路の結像面では指標像の
形成位置のみが周囲の明るさに比べて大幅に明るくな
る。

【００３５】この指標像は、指標板２９を光軸と直交す
る方向へ移動させることにより、その移動に応じて標本
像上を移動させることができる。従って、接眼レンズ２
３から標本像を観察しながら、標本像上の任意の位置に
指標像を投影することができる。

【００３６】接眼レンズ２３で観察される像と同じ像が
エリアセンサ３４上に形成されるのは上述した通りであ
る。そこで標本像上の任意の位置に指標像を投影した像
を撮像すれば、指標像が形成されている位置の受光素子
の出力は、その他の部分の出力に比べて著しく大きくな
る。

【００３７】例えば、標本像上に指標像を投影していな
いときの、あるラインのエリアセンサ出力が図４（ａ）
に示すものであるとすれば、同一ライン上に指標像を投
影した像を撮像したときの同一ラインのエリアセンサ出
力は図４（ｂ）に示す値になる。

【００３８】ここで、通常はエリアセンサ３４は通常の
明るさを示す標本像を撮像しても飽和しないようにダイ
ナミックレンジが設定されているのが、上記したように
著しく明るい指標像が形成された画素は飽和してしま
う。そこで、飽和レベルに達している画素を検出するこ
とにより、測光部位を検出することができる。

【００３９】なお、飽和レベルに達している画素から測
光部位を検出方法の他にも、図４（ａ）に示すエリアセ
ンサ出力から図４（ｂ）に示すエリアセンサ出力を減算
する方法や、図４（ｂ）に示すエリアセンサ出力に対し
て所定の閾値を設定して検出する方法等がある。この様
にして指標形成位置を検出したならば、その検出位置を
中心として少なくとも１画素以上の領域を測光領域とし
て決定する。次に、本実施例の具体的な動作について説
明する。

【００４０】本実施例は、測光部位指定ステップ、測光
部位検出ステップ、測光ステップ、露出時間決定ステッ
プ、撮影ステップの順に動作が進行する。以下、図５に
示すフローチャートに従って各ステップを説明する。

【００４１】先ず、測光部位指定ステップでは、半透過
鏡３０，半透過プリズム２２，およびクイックリターン
ミラー３２をそれぞれ光路上に配置し、光源１１及び指
標光源２８を点灯させて接眼レンズ２３で標本像上に指
標像が投影された像を観察可能にする。

【００４２】このような状態で、指標板２９を光軸と直
交する任意の方向に動かして、指標像を標本像上の任意
の位置に形成させる。測光部位が確定したら指標光源２
８を消す。

【００４３】次に、ＣＰＵ４０に対してレリーズ信号を
入力することにより、測光部位検出ステップに移行す
る。このステップでは、図３に示すタイミングでエリア
センサ３４の測光信号が読み出される。

【００４４】指標光源２８は１フィールドの蓄積時間Ｔ
中に出力を飽和できるのに必要な時間ｔだけ点灯させ
る。指標光源２８を点灯させた直後のフィールドシフト
パルスによって、エリアセンサ３４から出力された１フ
ィールド分の測光信号をイメージメモリ４８に格納し、
飽和レベルに達している画素を検出する。そしてその画
素を含む所定の領域を測光領域に決定しその領域の画素
アドレスを記憶する。

【００４５】次に、測光ステップでは、指標光源２８を
消した後に、指標の投影されていない標本像をエリアセ
ンサ３４で撮像し、上記同様に１フィールド分の測光信
号をイメージメモリ４８に格納する。この１フィールド
分の測光信号から、上記測光位置検出ステップで求めた
測光領域の画素アドレスの測光信号を読み出す。次に露
出時間決定ステップに移行し、次に示す式から露光時間
を算出する。 露出時間＝Ｋ／（α×フィルム感度×照度×露出時間×
補正値） なお、Ｋは一定値、αは相反則不軌、照度は測光信号に
感度を乗算した値、補正値は半透過鏡や対物レンズ等の
透過率に応じた補正値をそれぞれ示している。

【００４６】撮影ステップでは、半透過鏡３０，半透過
プリズム２２，クイックリターンミラー３２を光路から
図示点線位置にはねのけ、半透過プリズム２２の代わり
に、標本像を１００％透過させる光路補正用光学部材を
配置する。そして上記算出した露出時間だけシャッター
２５を開くことにより、写真撮影が終了する。

【００４７】なお、図５に示すフローチャートは、標本
像上の指標像形成位置を検出するために飽和レベルを検
出する場合の動作例を示しているが、上述した他の２つ
の検出方法を実施する場合には、図６及び図７にそれぞ
れ示すような動作となる。

【００４８】図６に示すフローチャートは、指標像を投
影したときの測光信号から指標像を投影しないときの測
光信号を減算する場合の動作を示している。この様な場
合は、第１の測光信号を読み込むまでの動作は同じであ
る。

【００４９】次に、指標光源２８を消して、第２の測光
信号を読み込む。そして指標像を投影していない第２の
測光信号から、指標像を投影している第１の測光信号を
減算する。

【００５０】第１及び第２の測光信号は、指標像形成位
置以外は、ほぼ同じ信号値となるので、減算値はほぼ０
になり、指標像形成位置の画素出力のみが所定レベル以
上の絶対値を示す。そこで所定レベル以上の絶対値を示
す画素を検出して、その画素を中心とする測光領域を決
定する。

【００５１】次に、イメージメモリ４８に格納されてい
る、指標像を投影していない第２の測光信号から、上記
測光領域の画素出力を読出して、上記同様にして露出時
間を算出する。以下の動作は既に説明したものと同じで
ある。

【００５２】また図７に示すフローチャートは、指標像
を投影したときの測光信号を所定レベルの閾値と比較し
て、指標像形成位置を検出する場合の動作を示してい
る。この様な場合は、第１の測光信号を読み込んで、各
画素出力を例えば飽和レベルよりも若干小さな値に設定
した閾値と比較する。指標像形成位置はダイナミックレ
ンジを越えるほどの画素出力レベルを示すので、閾値を
越えた画素を指標像形成位置と判断することができる。
次に、指標光源２８を消して、第２の測光信号を読み込
み測光領域の画素出力から露出時間を算出する。

【００５３】この様に本実施例によれば、対物レンズ２
０からの標本像を、半透過プリズム２２で観察用光路に
導き、半透過プリズム２２を透過した標本像をさらにク
イックリターンミラー３２によって測光用光路に導き、
指標光源ユニット２７で作成した指標像を、対物レンズ
２０と半透過プリズム２２との間の光軸上に配置された
半透過鏡３０を使って標本像上に投影するようにしたの
で、光学系中に中間像を形成すること無く、標本像上の
任意の位置に指標像を形成することができる。従って、
中間像をリレーレンズでリレーして所定位置に再結像さ
せる必要がなくなるので、観察像及び撮影像の品質が劣
化するのを防止できる。次に、本発明の第２実施例につ
いて図８を参照して説明する。なお、前記第１実施例と
同一機能を有する部分には同一符号付している。

【００５４】本実施例の顕微鏡写真撮影装置は、対物レ
ンズ２０とクイックリターンミラー３２との間の光路上
に半透過プリズム５０が配置される。また、指標光源２
７からの指標像は、リレーレンズ５１，反射部材５２，
５３等を介して、半透過プリズム５０に入射させる。

【００５５】この半透過プリズム５０は、対物レンズ２
０側となる第１面Ｓ１から入射する標本像の光束および
第２面Ｓ２から入射する指標像の光束を、半透過面５０
ａによって反射成分と透過成分にそれぞれ分割する。そ
して、標本像の反射成分は接眼レンズ２３側となる観察
用光路へ導き、透過成分は撮影光学系方向へ導く。ま
た、指標像の反射成分は撮影光学系方向へ導き、透過成
分は観察用光路へ導いている。

【００５６】すなわち、半透過プリズム５０に第２面Ｓ
２を設け、ここから指標像を入射することにより、半透
過鏡を用いること無く指標像を標本像上に投影できるよ
うにしている。なお、電気系の構成は基本的には図２に
示すものと同じであるが、半透過鏡の制御機能は備える
必要がない。

【００５７】この様な本実施例によれば、前記第１実施
例と同様の効果を得ることができ、さらに半透過鏡を削
減することができ、その動作制御も行う必要なくなり制
御内容が簡素化される利点がある。次に、本発明の第３
実施例について図９を参照して説明する。なお、前記第
１実施例と同一機能を有する部分には同一符号付してい
る。

【００５８】本実施例は、対物レンズ２０からの標本像
の光束を透過成分と反射成分とに分割してその透過成分
を観察光路へ導くと共にその反射成分を撮影光学系方向
へ導き、かつ指標光源ユニット２７からの指標像の光束
を透過成分と反射成分に分割してその透過成分を撮影光
学系方向へ導くと共にその反射成分を観察用光路へ導く
半透過鏡６０が備えられている。すなわち、半透過鏡６
０が前記第２実施例の半透過プリズム５０と同じ機能を
果たしている。

【００５９】そして、測光時には半透過鏡６０およびク
イックリターンミラー３２を光路上に配置し、また撮影
時には半透過鏡６０およびクイックリターンミラー３２
を光路上から外し、半透過鏡６０に代えて、対物レンズ
２０からの標本像を１００％撮影光学系側へ反射させる
ミラーを配置させる。この様な本実施例によれば、クイ
ックリターンミラー３２と半透過鏡６０の駆動のみとな
り、ミラーの制御が簡素化される。なお、上記各実施例
では透過型の照明方法が採られているが、落射照明にす
ることもできる。本発明は上記各実施例に限定されるも
のではなく本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実
施可能である。

【００６０】

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、光
学系の中に中間像を形成すること無く、接眼レンズから
標本像を観察しながら任意の測光領域を指定でき、標本
像の劣化を伴わない写真撮影を実現する顕微鏡写真撮影
装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例に係る顕微鏡写真撮影装置
の光学系の構成図。

【図２】第１実施例に係る顕微鏡写真撮影装置の電気系
の構成図。

【図３】第１実施例の顕微鏡写真撮影装置に備えられた
エリアセンサに関する動作タイミング図。

【図４】指標像の有無に応じたエリアセンサ出力を示す
図。

【図５】第１実施例に係る顕微鏡写真撮影装置の全体的
な撮影動作容を示す図。

【図６】図５に示す撮影動作とは測光部位検出方法が異
なる第１実施例の動作説明図。

【図７】図５及び図６に示す撮影動作とは測光部位検出
方法が異なる第１実施例の動作説明図。

【図８】第２実施例に係る顕微鏡写真撮影装置の光学系
の構成図。

【図９】第３実施例に係る顕微鏡写真撮影装置の光学系
の構成図。

【図１０】従来よりある顕微鏡写真撮影装置の光学系の
構成図。

【符号の説明】

２０…対物レンズ、２２…半透過プリズム、２３…接眼
レンズ、２５…シャッタ、２６…フィルム面、２７…指
標光源ユニット、３０…半透過鏡、３２…クイックリタ
ーンミラー、３４…エリアセンサ、４０…ＣＰＵ、４８
…イメージメモリ。

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭50−25220（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−129631（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−172429（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−9815（ＪＰ，Ａ) 特表 昭62−502427（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G02B 21/00 G02B 21/06 - 21/36 G03B 7/00 - 7/28

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 拡大観察及び撮影の対象となる標本に対
   向配置される対物レンズと前記標本の標本像が結像する
   フィルム面との間の光路上に配置され、前記対物レンズ
   からの光束を測光用光路へ導く測光用光学部材と、 前記測光用光路上の前記フィルム面と共役な位置に配置
   され、２次元状に配列された複数の受光素子からなるエ
   リアセンサと、 前記対物レンズと前記測光用光学部材との間の光路上に
   配置され、前記対物レンズからの光束を観察用光路へ導
   く観察用光学部材と、 標本像上の測光部位を指定するための指標像を発生させ
   ると共に、該指標像を光軸と直交する面の所望位置に移
   動させる測光部位指定手段と、 前記対物レンズと前記観察用光学部材との間の光路上に
   配置され、前記測光部位指定手段で形成した指標像を、
   前記観察用光路及び前記測光用光路に投影する半透過鏡
   と、 前記エリアセンサの出力信号を入力して前記標本像上に
   投影されている指標像の形成位置を検出して、少なくと
   も１画素以上の領域からなる測光領域を決定する測光領
   域決定手段と、を具備したことを特徴とする顕微鏡写真
   撮影装置。
2. 【請求項２】 拡大観察及び撮影の対象となる標本に対
   向配置される対物レンズと前記標本の標本像が結像する
   フィルム面との間の光路上に配置され、前記対物レンズ
   からの光束を測光用光路へ導く測光用光学部材と、 前記測光用光路上の前記フィルム面と共役な位置に配置
   され、２次元状に配列された複数の受光素子からなるエ
   リアセンサと、 標本像上の測光部位を指定するための指標像を発生させ
   ると共に、該指標像を光軸と直交する面の所望位置に移
   動させる測光位置指定手段と、 前記対物レンズからの光束を観察用光路へ導くと共に、
   前記測光位置指定手段で形成した指標像を、前記観察用
   光路及び前記測光用光路に投影する観察用光学部材と、 前記エリアセンサの出力信号を入力して前記標本像上に
   投影されている前記指標像の形成位置を検出し、少なく
   とも１画素以上の領域からなる測光領域を決定する測光
   領域決定手段と、を具備したことを特徴とする顕微鏡写
   真撮影装置。