JPH0497902A - 酸化物超電導体の製造方法 - Google Patents
酸化物超電導体の製造方法Info
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- 239000002887 superconductor Substances 0.000 title claims abstract description 43
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 27
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims abstract description 21
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000000137 annealing Methods 0.000 abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 15
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 abstract 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 abstract 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- WEAMLHXSIBDPGN-UHFFFAOYSA-N (4-hydroxy-3-methylphenyl) thiocyanate Chemical compound CC1=CC(SC#N)=CC=C1O WEAMLHXSIBDPGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N bis($l^{2}-silanylidene)molybdenum Chemical compound [Si]=[Mo]=[Si] YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000011978 dissolution method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 hafnium nitride Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910021344 molybdenum silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005118 spray pyrolysis Methods 0.000 description 1
- WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N tungsten disilicide Chemical compound [Si]#[W]#[Si] WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021342 tungsten silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021355 zirconium silicide Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、耐熱性コーティング層による保護下にアニー
ル処理する、超電導特性に優れる酸化物超電導体の製造
方法に関する。
ル処理する、超電導特性に優れる酸化物超電導体の製造
方法に関する。
従来の技術及び課題
スパッタリング方式等により支持基板上に酸化物超電導
体の薄層を形成したのち酸素の存在下にアニール処理し
て酸化物超電導体を製造する方法が知られていた。アニ
ール処理は、含有酸素量の制御による超電導特性の発現
、ないし向上に不可欠である。
体の薄層を形成したのち酸素の存在下にアニール処理し
て酸化物超電導体を製造する方法が知られていた。アニ
ール処理は、含有酸素量の制御による超電導特性の発現
、ないし向上に不可欠である。
しかしながら、アニール処理の際に酸化物超電導体を形
成する元素が蒸発し、組成変動を起こして超電導特性の
低下、ないし喪失現象が発生することが判明した。特に
高温での蒸気圧が高い鉛等の元素が不足しがちであるこ
とがわかった。
成する元素が蒸発し、組成変動を起こして超電導特性の
低下、ないし喪失現象が発生することが判明した。特に
高温での蒸気圧が高い鉛等の元素が不足しがちであるこ
とがわかった。
課題を解決するだめの手段
本発明は、耐熱性コーティング層による保護下にアニー
ル処理する方式により前記課題を克服したものである。
ル処理する方式により前記課題を克服したものである。
すなわち本発明は、支持基板上に設けた酸化物超電導体
からなる薄層の上に、酸素透過性の耐熱性コーティング
層を形成して酸素の存在下にアニール処理することを特
徴とする酸化物超電導体の製造方法を提供するものであ
る。
からなる薄層の上に、酸素透過性の耐熱性コーティング
層を形成して酸素の存在下にアニール処理することを特
徴とする酸化物超電導体の製造方法を提供するものであ
る。
作用
酸素透過性の耐熱性コーティング層による保護下、かつ
酸素の存在下にアニール処理することにより、耐熱性コ
ーティング層を介した必要な酸素の取り込みを実現しつ
つ、支持基板上1こ設けた酸化物超電導体からなる薄層
を形成する元素の蒸発を防止、ないし抑制することがで
き、超電導特性の低下、ないし喪失を予防することがで
きる。
酸素の存在下にアニール処理することにより、耐熱性コ
ーティング層を介した必要な酸素の取り込みを実現しつ
つ、支持基板上1こ設けた酸化物超電導体からなる薄層
を形成する元素の蒸発を防止、ないし抑制することがで
き、超電導特性の低下、ないし喪失を予防することがで
きる。
発明の構成要素の例示
本発明においては、添付図面に例示した如く支持基板1
の上に設けた酸化物超電導体からなる薄層2を対象とす
る。
の上に設けた酸化物超電導体からなる薄層2を対象とす
る。
支持基板については特に限定はない。一般にはSrTi
O3、MgOXAg5 si、5io2 、YSZXA
1203などからなるものなどが用いられる。
O3、MgOXAg5 si、5io2 、YSZXA
1203などからなるものなどが用いられる。
また、支持基板を形成する成分が酸化物超電導体の薄層
中に拡散することを防止すべく、例えばケイ化モリブデ
ン、ケイ化ジルコニウム、ケイ化タングステンの如きシ
リサイド、窒化ハフニウム、窒化チタンの如き金属窒化
物等の耐酸化性金属間化合物などからなるコーティング
層を設けたもののように、適宜な目的の措置を施した支
持基板なども用いられる。
中に拡散することを防止すべく、例えばケイ化モリブデ
ン、ケイ化ジルコニウム、ケイ化タングステンの如きシ
リサイド、窒化ハフニウム、窒化チタンの如き金属窒化
物等の耐酸化性金属間化合物などからなるコーティング
層を設けたもののように、適宜な目的の措置を施した支
持基板なども用いられる。
なお、支持基板の厚さは使用目的等に応じて適宜に決定
されるが、通例3m+以下である。
されるが、通例3m+以下である。
支持基板上に設けられた酸化物超電導体からなる薄層の
形成方式については特に限定はない。例えば、真空蒸着
方式、スパッタリング方式、イオンブレーティング方式
、CVD方式、塗布熱分解方式、電気泳動電着方式、噴
霧熱分解方式など適宜な方式で形成した酸化物超電導体
の薄層であってよい。
形成方式については特に限定はない。例えば、真空蒸着
方式、スパッタリング方式、イオンブレーティング方式
、CVD方式、塗布熱分解方式、電気泳動電着方式、噴
霧熱分解方式など適宜な方式で形成した酸化物超電導体
の薄層であってよい。
酸化物超電導体の薄層の厚さは任意である。
般には100μ−以下である。
薄層を形成する酸化物超電導体の種類についても特に限
定はない。YBa2 CLI30yや、Yl−1Baa
CuOyの如きY系酸化物超電導体、B t 2 bP
bb Sr 2 Ca2 Cu30.や、Bi25r2
Ca2Cu30.の如きBi系酸化物超電導体、Bat
−cKCBib3の如きBa系酸化物超電導体、Nd2
−dCedCuO<−yの如きNd系酸化物超電導体、
その他、La系酸化物超電導体、TI系酸化物超電導体
等、また前記のY等の成分を他の希土類元素で置換した
もの、ないしBa等の成分を他のアルカリ土類金属で置
換したものなどのいずれの酸化物超電導体からなってい
てもよい。
定はない。YBa2 CLI30yや、Yl−1Baa
CuOyの如きY系酸化物超電導体、B t 2 bP
bb Sr 2 Ca2 Cu30.や、Bi25r2
Ca2Cu30.の如きBi系酸化物超電導体、Bat
−cKCBib3の如きBa系酸化物超電導体、Nd2
−dCedCuO<−yの如きNd系酸化物超電導体、
その他、La系酸化物超電導体、TI系酸化物超電導体
等、また前記のY等の成分を他の希土類元素で置換した
もの、ないしBa等の成分を他のアルカリ土類金属で置
換したものなどのいずれの酸化物超電導体からなってい
てもよい。
本発明において、支持基板上に設けた酸化物超電導体か
らなる薄層のアニール処理は、薄層の上に酸素透過性の
耐熱性コーティング層3(図)を形成した状態において
、かつ酸素の存在下に行われる。
らなる薄層のアニール処理は、薄層の上に酸素透過性の
耐熱性コーティング層3(図)を形成した状態において
、かつ酸素の存在下に行われる。
酸素透過性の耐熱性コーティング層の形成材としては、
銀、金、白金などがあげられる。一般には銀が用いられ
る。
銀、金、白金などがあげられる。一般には銀が用いられ
る。
耐熱性コーティング層の形成は適宜に行ってよい。例え
ば真空蒸着方式、スパッタリング方式、イオンブレーテ
ィング方式などにより形成することができる。
ば真空蒸着方式、スパッタリング方式、イオンブレーテ
ィング方式などにより形成することができる。
形成する耐熱性コーティング層の厚さは、酸素透過性の
点より通例、5〇−以下とされる。酸化物超電導体を形
成する成分の蒸発防止の点よりは通常の場合、109m
以下、就中0.1〜5瀾で充分である。
点より通例、5〇−以下とされる。酸化物超電導体を形
成する成分の蒸発防止の点よりは通常の場合、109m
以下、就中0.1〜5瀾で充分である。
耐熱性コーティング層で被覆保護した酸化物超電導体の
薄層の酸素存在下におけるアニール処理は、例えば大気
中、300〜900℃で1〜50時間加熱処理する方式
など、超電導特性の発現性などに応じ適宜に行ってよい
。
薄層の酸素存在下におけるアニール処理は、例えば大気
中、300〜900℃で1〜50時間加熱処理する方式
など、超電導特性の発現性などに応じ適宜に行ってよい
。
なおアニール処理後、耐熱性コーティング層は必要に応
じ、例えばスパッタエツチング方式や、溶解方式などの
適宜な方式で除去される。
じ、例えばスパッタエツチング方式や、溶解方式などの
適宜な方式で除去される。
発明の効果
本発明によれば、酸素透過性の耐熱性コーティング層に
よる保護下に酸化物超電導体の薄層をアニール処理する
方法としたので、酸化物超電導体の必要な酸素の取り詰
みを達成しつつ、酸化物超電導体の形成成分の蒸発を予
防することができ、その組成変動を防止できて超電導特
性に優れる酸化物超電導層を形成することができる。
よる保護下に酸化物超電導体の薄層をアニール処理する
方法としたので、酸化物超電導体の必要な酸素の取り詰
みを達成しつつ、酸化物超電導体の形成成分の蒸発を予
防することができ、その組成変動を防止できて超電導特
性に優れる酸化物超電導層を形成することができる。
実施例
スパッタリング方式により厚さ0.5nsの酸化マグネ
シウム単結晶板の上に形成したB+2−bPbbSr2
Ca2Cu30y (b =0.6)からなる厚さ1
μ−の酸化物超電導体の薄層の上にスパッタリング方式
で銀からなる厚さ0.51の耐熱性コーティング層を形
成した。
シウム単結晶板の上に形成したB+2−bPbbSr2
Ca2Cu30y (b =0.6)からなる厚さ1
μ−の酸化物超電導体の薄層の上にスパッタリング方式
で銀からなる厚さ0.51の耐熱性コーティング層を形
成した。
ついで、それを大気中で840℃の温度下、10時間ア
ニール処理して室温まで徐冷した後、スパッタエツチン
グ方式で銀からなる耐熱性コーティング層を除去し、酸
化物超電導体を得た。
ニール処理して室温まで徐冷した後、スパッタエツチン
グ方式で銀からなる耐熱性コーティング層を除去し、酸
化物超電導体を得た。
得られた酸化物超電導層の臨界温度は105にであり、
臨界電流密度は2 Xl06A/cj (77,3K
)であった。また組成分析の結果、アニール処理の前後
で酸化物超電導層の組成に変化はなかった。
臨界電流密度は2 Xl06A/cj (77,3K
)であった。また組成分析の結果、アニール処理の前後
で酸化物超電導層の組成に変化はなかった。
なお、臨界温度は0.lA/−の電流密度下、液体ヘリ
ウムで冷却しなから4端子法により電気抵抗の温度によ
る変化を測定し、電圧端子間の発生電圧がOとなったと
きの温度である。
ウムで冷却しなから4端子法により電気抵抗の温度によ
る変化を測定し、電圧端子間の発生電圧がOとなったと
きの温度である。
また、臨界電流密度はパワーリードと共に液体窒素で冷
却しながら徐々に電流値をあげて4端子法により電圧端
子間の電圧の印加電流による変化を測定し、X−Yレコ
ーダーにおいて1μV/ellの電圧が出現したときの
電流値を超電導体の断面積で除した値である。
却しながら徐々に電流値をあげて4端子法により電圧端
子間の電圧の印加電流による変化を測定し、X−Yレコ
ーダーにおいて1μV/ellの電圧が出現したときの
電流値を超電導体の断面積で除した値である。
比較例
銀からなる耐熱性コーティング層を設けずにアニール処
理し、実施例1に準じて酸化物超電導層を得た。
理し、実施例1に準じて酸化物超電導層を得た。
得られた酸化物超電導層の臨界温度は、65にであった
。また組成分析の結果、アニール処理により酸化物超電
導層中のpbが80%減少しており、Biも15%減少
していた。
。また組成分析の結果、アニール処理により酸化物超電
導層中のpbが80%減少しており、Biも15%減少
していた。
添付図面はアニール処理に供する酸化物超電導体の薄層
を例示した断面図である。 1:支持基板 2二酸化物超電導体の薄層 3:耐熱性コーティング層 特許出願人 三菱電線工業株式会社
を例示した断面図である。 1:支持基板 2二酸化物超電導体の薄層 3:耐熱性コーティング層 特許出願人 三菱電線工業株式会社
Claims (1)
- 1、支持基板上に設けた酸化物超電導体からなる薄層の
上に、酸素透過性の耐熱性コーティング層を形成して酸
素の存在下にアニール処理することを特徴とする酸化物
超電導体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2216103A JPH0497902A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2216103A JPH0497902A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0497902A true JPH0497902A (ja) | 1992-03-30 |
Family
ID=16683294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2216103A Pending JPH0497902A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0497902A (ja) |
-
1990
- 1990-08-15 JP JP2216103A patent/JPH0497902A/ja active Pending
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