JPH0492225A - 光ディスク装置のf/tクロストーク補正方法 - Google Patents
光ディスク装置のf/tクロストーク補正方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
用いた光ディスク装置におけるF/Tグロストーりの補
正方法に関するものである。 【従来の技術) この種の光ディスク装置は、レーザー光源からの光束を
記録媒体であるディスク上にスポットとして結像させ、
信号の再生、あるいは記録を行なう構成とされている。 また、信号の記録再生を正確に行なうためには、レーザ
ー光をディスク上に回折限界程度のスポット径に絞り込
み、記録トラック上を正確にトレースさせる必要がある
。このため、光ディスク装置には、フォーカシングエラ
トラッキングエラーを検出するエラー検出系と、検出さ
れたエラー信号に基づいてレーザー光のスポット位置を
光学系の光軸方向、そしてディスクの半径方向に駆動す
るための駆動装置が設けられている。 フォーカシングエラー検出には、いくつかの方法がある
が、−数的には非点収差法が多く用いられている。非点
収差法は、ディスクからの反射光をシリンドリカルレン
ズ勢の非点隔差を有する素子を用いて受光素子上に集光
させ、ディスクとスポットとのズレを受光素子上での光
束断面の形状変化として捉えるものである。 受光集子は、 「田j字状に4分割された受光領域A、
B、 C,Dを有しており、互いに対向する領域の出
力和の差をとることにより、フォーカシングエラー信号
を検出することができる。 【発明が解決しようとする課題】 ところで、光磁気ディスク郷の光ディスク装置では、記
録、再生を行ないたし)トラック番こアクセスするため
に、スポットをトラ・ツクを横断させて移動させる場合
がある。 しかしながら、上述の非点収差法によるフォーカシング
エラー検出を行なう場合番こtit、光学系の特性によ
り、ディスク上に結像される光束力で波面収差等を持つ
と、スポットがトラ・ツクを横切って移動する際に、フ
ォーカシングエラー信号番こノイズが乗ってしまうこと
がある。 このノイズは、波面収差を持つスポット力(隣接するト
ラック間の境界として形成された溝を横切る際に、回折
により強度分布のムラを生じさせることにより発生する
。本明細書でLL、このノイズをF/T(フォーカス/
トラック)クロストークと定義する。 F/Tクロストークが発生すると、あだ力鳥も対物レン
ズが合焦から外れたようなフォーカシングエラー信号が
発生するため、対物レンズ力で光軸方向番ニ駆動されて
しまい、スポットがトラックを横切る度に対物レンズが
不安定な状態となり、スポットの移動にエラーが生じる
虞がある。
スポットがトラックを横断する際のF/Tクロストーク
の発生を抑えることができる補正方法を提供することを
目的とする。
正方法は、上記目的を達成させるため、光ディスクから
導かれる光束に非点収差を与えて集光させる光学系と、
この光束を受光して非点収差法によるフォーカシングエ
ラー信号を出力すると共に、このフォーカシングエラー
信号に基づいてディスク上にスポットを絞り込むよう制
御するフォーカス制御系と、フォーカス制御系とは別個
に設けられ、対物レンズの光ディスクへの合焦状態を判
定し得る合焦検出手段と、フォーカシングエラー信号に
オフセットレベルを設定するオフセット設定手段とを備
え、オフセット設定手段によりオフセットレベルを調整
する第1段階と、合焦判定手段の出力に基づいてディス
ク上にスポットを絞り込むよう光学系を調整する第2段
階とを少なくとも1回づつ含むことを特徴とする。
置に適用した一実施例を示したものである。 この光学系は、第1図に示したように、光源部10、対
物光学系20、プリズムブロック30、信号検出光学系
40を備えている。光源部10は、発散光束を発生する
半導体レーザー11と、発散光束を平行光束とするコリ
メータレンズ12と、光束断面の形状を整形する2つの
アナモフィックプリズム13.14と、ガルバノミラ−
15とから構成され、断面円形の乎行ビームを発生する
。ガルバノミラ−15は、ディスク上のスポットをタン
ゼンシャル方向に移動させるために回動自在に設けられ
ている。 対物光学系20は、ビームを光磁気ディスクMODの信
号記録面に集光させる対物レンズ21と、ミラー22と
を備えている。対物レンズ21とミラー22とは、光磁
気ディスクMODのラジアル方向Xにスライドされる図
示せぬヘッド内に設けられている。これに対して光源部
10、プリズムブロック30、信号検出光学系40は、
ディスクの回転中心に対して固定されている。また、対
物レンズ21は、ヘッド内番こ設けられたアクチュエー
タ上に設けられており、その光軸方向2に高周波駆動さ
れる。 プリズムブロック30は、2つのハーフミラ−面31、
a、31bを有する第1のブロック31と、λ/2板3
2を介して第1のブロックに接合され、偏光分離面33
aと全反射面33bとを有する第2のプロ・ツク33と
力)ら構成されている。 光源部10からの光束は、一部が第2のハーフミラ−面
31bにより反射され、集光レンズ34によ)ノ半導体
レーザーの自動出力調整用の受光素子35上番二集光す
る。 一方、ディスクから反射された光束番よ、第2のノ\−
フミラー面31bにより反射され、λ/2板E ヨ)J
B光方向が45°回転させられ、P偏光成分は偏光分
離面33aを透過して集光レンズ41aを介して第1の
磁気記録信号検出用の第1の受光素子42a上に集光す
る。 また、S偏光成分は、偏光分離面33aと全反射面33
bとで反射され、集光レンズ41bを介して磁気記録信
号検出用の第2の受光素子42b上に集光する。 光磁気ディスクMODへ入射するレーザー光の偏光方向
は、スポットが結像される位置のディスクの磁化方向に
対応して磁気カー効果により回転するため、これを45
°回転させてP、S成分に分離し、それぞれ別個の受光
素子42a、、42bにより検出することにより、その
強度差から記録信号を読み出すことができる。 ディスクからの反射光のうち、第2のハーフミラ−面3
1bを透過した成分は、第1のハーフミラ−面31aに
より反射され、集光レンズ43を介してシリンドリカル
レンズ44により非点隔差を与えられ、エラー検出用受
光素子45上に集光する。 エラー検出用受光素子45の受光領域は、第2図に示し
たように配列している。これらの受光領域は、ディスク
のラジアル方向に相当する方向x1 及びタンゼンシ
ャル方向に相当する方向yの各軸に沿って4つの領域に
分割された受光領域A、 B、 C,Dを備えている。 フォーカシングエラー検出回路50は、受光素子45の
それぞれ対角に位置する受光領域からの出力和をとる2
つの加算器51.52と、これらの加算器の出力差をと
る引算器53と、引算器53の出力をレベル調整する自
動利得調整(AGC)装置54と、AGC回路の出力に
オフセットを付加するオフセット調整回路55とを備え
ている。 受光素子45から出力された信号は、オフセットをδと
すると下記の式に従って演算され、フォーカシングエラ
ー信号FEとして出力される。 FE = (^ + D)−(B + C)+
δオフセットは、製品毎のバラツキによるシリンドリカ
ルレンズ44、受光素子45等の位置関係の誤差により
正しいフォーカシングエラー信号が出力されない場合の
調整手段として、また、後述するF/Tクロストークを
削減するために設けられている。 出力されたフォーカシングエラー信号FEは、位相補償
回路56により位相補償された後、アクチュエータ57
に供給される。アクチュエータ57は、この信号に基づ
いてデフォーカスをなくすよう対物レンズ21を光軸方
向に駆動する。 一方、トラックエラー信号TEは、各受光部の出力を下
記の式に基づいて演算することにより、検出することが
できる。 TE = (A + B)−(C+ D)スポットがト
ラック上を合焦状態でトレースしている場合には、受光
素子上でのスポットは円形であり、強度分布の偏りもな
い、従って、フォーカシングエラー信号、トラックエラ
ー信号は共に0である。ディスクの反り等により、スポ
ットが合焦しなくなった場合には、受光素子上でのスポ
ットは、楕円形に変形し、フォーカシングエラー信号が
発生する。 次に、第3図に基づいて上記のエラー検出用受光素子4
5上での光量分布と検出される信号との関係について説
明する。 第3図(a)に示したようにディスク上のスポットSが
トラックTを横断する場合、(a)のに示したようにス
ポットの一部がトラックの溝りにかかると、この溝によ
る回折により、受光素子45上でのスポットは(b)■
に示したように強度分布に偏りを生じる。 図中の斜線部分が、強度の高い部分である。従って、光
量分布の均等性が崩れ、トラックエラー信号が生じる。 ディスク上のスポットが(a)■に示したように溝の中
央に位置する際には、受光素子上でのスポットは(b)
■に示したように光量分布が均等になり、トラックエラ
ー信号は0となる。ディスク上でのスポットが(a)■
で示したようにディスクの溝を乗り越えると、受光素子
45上でのスボ・ントの強度の高い部分は(b)■に示
したように反対側に移動し、先はどとは反対の極性のト
ラックエラー信号が発生する。 すなわち、スポットが1トラック分移動すると、このよ
うなトラックエラー信号の1サイクルの変化が検出され
るため、この変化をカウントすることにより、横断した
トラック数を判断することができる。 以上は、波面収差が存在しない理想的な場合の説明であ
る。 次に、波面収差について説明する。 光ディスク装置の光学系に存在する波面収差は、非点収
差を例にとると、ディスクのラジアル方向をX軸、トラ
ックのタンジエンシャル方向をY軸として、X軸、Y軸
(0″’ 、90’ )の直交軸上の波面の曲率差と、
これを45’回転させた±456の直交軸上の波面の曲
率差とに代表して表すことができる。 この明細書では、0°、90°の直交軸に関する波面収
差をASI、±45°の直交軸に関する波面収差なAs
2と定義する。 光束がAllを含む場合、受光素子上でのスポット内の
光量分布は第3図(C)で示したように変化する。 ASlが存在すると、ディスク上でのスポットがトラッ
クの溝にかかった際に、溝の回折により斜線で示す光量
アンバランスの他に図中に黒点で示すような異常強度分
布が現れる。但し、この異常分布は、受光素子45の隣
接する受光領域にまたがって現れるため、演算により相
殺され、フォーカシングエラー信号にはクロストークと
して現れない。 なお、第1図に示したように半導体レーザーの発光光束
の形状を補正するためにアナモフィック光学系を用いる
場合、半導体レーザー11とコリメーターレンズ12と
の光軸方向の距離を調整することによりASlは補正す
ることが可能である。 しかしながら、 As2は上記のアナモフィック光学
系の調整によっては補正することができず、収差として
残存してしまう。光束がAs2を含む場合には、トラッ
ク横断の際、例えば第3図(d)■■に黒点で示したよ
うな強度分布異常が発生する。このような強度分布異常
により、トラックジャンプ時にフォーカシングエラー信
号FEがOレベルを保たず、F/Tクロストークが発生
する。 一般的に、光ディスク装置においては、波面収差の量は
0.045λrms以下であれば光ディスク装置として
の性能を満足する。この波面収差は、球面収差、コマ収
差、非点収差をトータルした値であまた、非点収差は、
0.15λp−v以下であれば光ディスク装置の特性を
満足する。但し、F/Tクロストークに限って言えば、
±45@方向の非点収差が0゜03λp−v以下でなけ
れば正常な動作を保証できない。 この実施例で示した光ディスク装置は、上記のAs2に
よるFITクロストークが発生した場合に、フォーカシ
ングエラー信号にオフセットを付加することによりクロ
ストークを除去し、フォーカシングエラー信号の安定化
を図っている。 以下、オフセット付加の方法について説明する。 光磁気ディスクMODのトラックは、回転によりスポッ
トが内周側から外周側に移動するようスパイラル状に形
成されている。調整は、回転する光磁気ディスクのトラ
ック上にスポットを集光させ、ディスクが1回転する毎
に内側のトラックにジャンプさせることにより、同一の
トラックを繰り返しトレースさせつつ行われる。 F
/Tクロストークは、トラックをジャンプする際にフォ
ーカシングエラー信号に現れる。 まず、トラックエラー信号を観察し、トラックジャンプ
時のトラックエラー信号のピークの絶対値が等しくなる
よう受光素子をX方向(第2図参照)に関して調整する
。 次に、フォーカシングエラー信号を観察し、トラックジ
ャンプ時のF/Tクロストークの振幅が最小となるよう
受光素子をX方向(第2図参照)に関して調整する。 上記の調整によってもF/Tクロストークが十分補正さ
れない場合には、第4図に示したようなオフセットの付
加調整に入る。第4図では、■〜■が手順の段階を示し
、各段階において(a)はディスクと対物レンズとの位
置関係、(b)は受光素子上でのスポットの形状、そし
て(C)はトラックジャンプ時のフォーカシングエラー
信号を示している。 オフセットを付加する場合、フォーカシングエラー信号
の基準が変化してしまうため、フォーカシングエラー信
号からは対物レンズが合焦位置にあるか否かを判断でき
なくなってしまう、そこで、オフセット調整の場合には
、フォーカス制御系とは別個に設けられた磁気信号再生
用の受光素子42a、 42bを合焦検出手段として利
用し、これらの受光素子の出力である磁気記録信号IV
FOがピークとなる点を合焦点として判断する。 前記のようにフォーカシングサーボは、受光素子の各受
光領域の出力A、 B、 C,Dが、(A + D)
−(B + C) = 0となるように対物レンズを移
動させる。オフセットを付加しない場合、第4図の(a
)■で示したように対物レンズはディスクに対して合焦
し、(b)のに示したように受光素子上でのスポットは
円形となる。但し、トラックジャンプ時にはスポット内
に黒く示したAS2の影響による異常強度分布が現れる
ため、(C)■に示したような大きなF/Tクロストー
クが発生する。 ここで、オフセット設定回路55のボリュームを調整し
てオフセットδを付加すると、駆動回路は、(A +
D) −(B + C) 十 δ : 0
となるように対物レンズを移動し、第4図(a)■で示
したように対物レンズがディスクに対して合焦せずにデ
フォーカスを生じ、(b)■に示したように受光素子上
でのスポット形状は楕円となる。すなわち、オフセット
の付加により、フォーカシングエラー検出回路は実際の
合焦点とは離れた位置を合焦点として判断し、この点で
対物レンズを保持するような指令を駆動部に対して出力
する。 第4図(a)■の状態では、ディスク上でのスポットが
ディスク面に十分収束されないため、磁気記録信号IV
FO,トラッキングエラー信号、F/Tクロストークが
共に小さくなる。この状態では情報の記録再生は行い得
ない。 次に、磁気記録信号IVFOを監視しつつ、これが最大
となるように集光レンズ43を移動させると、(a)■
に示したように対物レンズか再びディスクに対して合焦
し、情報の記録再生を行い得る状態となる。このとき、
受光素子上でのスポットは(b)■に示したように楕円
の状態を保ち、F/Tクロストークは(C)■に示した
ように■の状態より削減することができる。なお、F/
Tクロストークの大きさは、オフセットの極性により大
きくなる場合もある。 この場合には、逆方向の極性のオフセットを付加すれば
よい。 ■、■の段階では、■、■の操作を再度行うことにより
、更にF/Tクロストークを減衰させることができる。 第5図は、受光素子45がら出力される信号を演算した
値(オフセットδを除いた値)と、実際のデフォーカス
量とを示したグラフである0図中の■〜■は、第4図の
各段階に対応している。 上記のようにフォーカシング信号にオフセットを付加す
ると共に、集光レンズ43を移動させることにより、受
光素子45上でのスポットが楕円形の状態で合焦位置を
判定するようになる。このように受光素子45上でのス
ポットが円形から楕円形に変化すると、トラックジャン
プ時にAS2による異常光量分布を引き起こす領域が回
転移動するものと考えられる。そして、この手段によっ
てF/Tクロストークが減少するのは、AS2による光
量分布異常成分が受光領域の境界部分に移動したためで
あると考える二とができる。 なお、上記の実施例では、オフセットの付加と集光レン
ズの移動とによりF/Tクロストークの発生を抑えたが
、受光素子、あるいはシリンドリカルレンズを回転させ
るのみでもある程度の補正は可能である。 これらの素子を回転させた場合、スポットが円形のまま
、異常光量分布領域を受光領域の境界線上に移動させる
ことができる。境界線上に移動した場合には、フォーカ
シングエラー信号の演算の際に異常部分が相殺されてし
まい、F/Tクロストークを発生させることもない、但
し、受光素子、シリンドリカルレンズの回転によりAS
2の影響を除去する場合には、回転角度をあまり大きく
設定すると他のエラー検出に支障をきたす虞がある。 【効果) 以上説明したように、この発明によればフォーカシング
エラー信号にオフセットを付加すると共に、受光素子上
への集光の度合を変化させることにより、トラックジャ
ンプ時にフォーカシングエラー信号に混入するF/Tク
ロストークを減少させることができる。
す光学素子の配置を示す斜視図である。 第2図は受光素子の受光領域とフォーカシングエラー検
出の回路とを示す説明図である。 第3図■〜■は、ディスク上でのスポットと受光素子上
でのスポットとを示したものであり、(a)はディスク
上でトラックをスポットが横切る様子を示す説明図、(
b)、 (c)、 (d)、 (e)は受光素子上での
スポットの光量分布を示す説明図である。 第4図■〜■は、オフセット付加時の各調整段階を示し
てお)バ (a)はディスクと対物レンズとの位置関係
、(b)は受光素子上でのスポットの形状、そして(C
)はトラックジャンプ時のフォーカシングエラー信号を
示している。 第5図は、フォーカシングエラー信号とオフセット付加
による対物レンズの位置との関係を示すグラフである。 42a、 42b・・・磁気信号再生用の受光素子43
・・・集光レンズ 45・・・エラー検出用の受光素子 55・・・オフセット設定回路 #r3図 ■ ■ ■ 手続補正書(方式) 平成2年11月5日
Claims (2)
- (1)光ディスクから導かれる光束に非点収差を与えて
集光させる光学系と、この光束を受光して非点収差法に
よるフォーカシングエラー信号を出力すると共に、この
フォーカシングエラー信号に基づいてディスク上にスポ
ットを絞り込むよう制御するフォーカス制御系と、前記
フォーカス制御系とは別個に設けられ、対物レンズの光
ディスクへの合焦状態を判定し得る合焦検出手段と、前
記フォーカシングエラー信号にオフセットレベルを設定
するオフセット設定手段とを備え、 前記オフセット設定手段によりオフセットレベルを調整
する第1段階と、 前記合焦判定手段の出力に基づいてディスク上にスポッ
トを絞り込むよう前記光学系を調整する第2段階とを少
なくとも1回づつ含むことを特徴とする光ディスク装置
のF/Tクロストーク補正方法。 - (2)光ディスクから導かれる光束に非点収差を与える
非点収差発生素子と、光束を集光させる集光光学系と、
この光束を受光して非点収差法によるフォーカシングエ
ラー信号を出力する受光素子と、フォーカシングエラー
信号に基づいてディスク上にスポットを絞り込むよう制
御するフォーカス制御系とを備え、 前記非点収差発生素子と前記受光素子とを相対的に光軸
回りに調整することを特徴とする光ディスク装置のF/
Tクロストーク補正方法。
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