JPH0487213A - 異方性導電膜およびその製造方法 - Google Patents
異方性導電膜およびその製造方法Info
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- JPH0487213A JPH0487213A JP20100490A JP20100490A JPH0487213A JP H0487213 A JPH0487213 A JP H0487213A JP 20100490 A JP20100490 A JP 20100490A JP 20100490 A JP20100490 A JP 20100490A JP H0487213 A JPH0487213 A JP H0487213A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は異方性導電膜およびその製造方法に関し、詳し
くは陽極酸化により多孔質の金属酸化膜を形成してこれ
を絶縁部材とし、その電気的接続性能を向上させること
のできる異方性導電膜およびその製造方法に関する。
くは陽極酸化により多孔質の金属酸化膜を形成してこれ
を絶縁部材とし、その電気的接続性能を向上させること
のできる異方性導電膜およびその製造方法に関する。
近時、LSI等を配線基板に実装する実装技術の分野に
おいては、接続ピッチの微細化と接続の信較性が高度に
要求されており、LSIチップ等の実装に使用される異
方性導電膜においては、低コストでこれらの要求を満た
す製造方法が必要になっている。
おいては、接続ピッチの微細化と接続の信較性が高度に
要求されており、LSIチップ等の実装に使用される異
方性導電膜においては、低コストでこれらの要求を満た
す製造方法が必要になっている。
従来のこの種の異方性導電膜およびその製造方法として
は、例えば樹脂材料によって所定厚さの絶縁シートを形
成し、該絶縁シートに導電粒子を分散、又は所定ピッチ
で配置するものが知られており、絶縁シートを形成する
樹脂材料としては、加熱によってそれ自体が接着性を発
揮するものが多用されている。
は、例えば樹脂材料によって所定厚さの絶縁シートを形
成し、該絶縁シートに導電粒子を分散、又は所定ピッチ
で配置するものが知られており、絶縁シートを形成する
樹脂材料としては、加熱によってそれ自体が接着性を発
揮するものが多用されている。
しかしながら、このような従来の異方性導電膜およびそ
の製造方法にあっては、絶縁シートを熱伝導の悪い樹脂
材料(高分子材料)から形成し、これに導電粒子を分散
し又は所定ピッチで配置していたため、実装時の放熱性
が悪いばかりでなく、接続ピンチを微細化すると導電粒
子が高密度となって隣接する導電粒子間の絶縁が不十分
となり、ショートが発生し易くなってしまうという問題
があった。また、導電粒子分散方式にあっては、導電粒
子の存在する確率によってその接続性能が支配され、配
列方式のものにあっても、接着のための加熱加圧時に導
電粒子が移動してピッチが乱れ、何れにしても十分な接
続性能を確保することができなかった。さらに、絶縁部
の樹脂が熱劣化したり吸湿したりして接続の信軌性が低
下していた。
の製造方法にあっては、絶縁シートを熱伝導の悪い樹脂
材料(高分子材料)から形成し、これに導電粒子を分散
し又は所定ピッチで配置していたため、実装時の放熱性
が悪いばかりでなく、接続ピンチを微細化すると導電粒
子が高密度となって隣接する導電粒子間の絶縁が不十分
となり、ショートが発生し易くなってしまうという問題
があった。また、導電粒子分散方式にあっては、導電粒
子の存在する確率によってその接続性能が支配され、配
列方式のものにあっても、接着のための加熱加圧時に導
電粒子が移動してピッチが乱れ、何れにしても十分な接
続性能を確保することができなかった。さらに、絶縁部
の樹脂が熱劣化したり吸湿したりして接続の信軌性が低
下していた。
そこで、本発明は、耐熱性が高く放熱性に優れた絶縁部
材を形成することにより、ショートを発生させることな
く微小ピッチで導電部材を形成でき、しかも、実装時の
放熱を良好にする信輔性の高い異方性導電膜およびその
製造方法を実現することを目的としている。
材を形成することにより、ショートを発生させることな
く微小ピッチで導電部材を形成でき、しかも、実装時の
放熱を良好にする信輔性の高い異方性導電膜およびその
製造方法を実現することを目的としている。
上記目的達成のため、請求項1記載の発明に係る異方性
導電膜は、陽極酸化により形成された複数の微小な孔及
び該微小な孔のうち一部の孔を選択的に拡径した拡径孔
を有する陽極酸化膜と、該陽極酸化膜より熱伝導率の良
い導電材料からなり、陽極酸化膜の複数の孔のうち少な
くとも拡径孔に埋設された導電部材とを備えたことを特
徴とするものであり、 請求項2記載の発明に係る異方性導電膜の製造方法は、
導電性の素材を陽極酸化して複数の微小な孔を有する陽
極酸化膜を形成する工程と、該陽極酸化膜の微小な孔の
うち一部の孔を選択的に溶解処理して拡径孔を形成する
工程と、該拡径孔内に陽極酸化膜より熱伝導率の良い材
料からなる導電部材を埋設する工程とを含むことを特徴
とするものである。
導電膜は、陽極酸化により形成された複数の微小な孔及
び該微小な孔のうち一部の孔を選択的に拡径した拡径孔
を有する陽極酸化膜と、該陽極酸化膜より熱伝導率の良
い導電材料からなり、陽極酸化膜の複数の孔のうち少な
くとも拡径孔に埋設された導電部材とを備えたことを特
徴とするものであり、 請求項2記載の発明に係る異方性導電膜の製造方法は、
導電性の素材を陽極酸化して複数の微小な孔を有する陽
極酸化膜を形成する工程と、該陽極酸化膜の微小な孔の
うち一部の孔を選択的に溶解処理して拡径孔を形成する
工程と、該拡径孔内に陽極酸化膜より熱伝導率の良い材
料からなる導電部材を埋設する工程とを含むことを特徴
とするものである。
また、上記目的達成のため、請求項3記載の発明に係る
異方性導電膜は、膜厚方向に延在する複数の孔を有する
陽極酸化膜と、該陽極酸化膜の複数の孔のうち一部の孔
に選択的に埋設された陽極酸化膜より熱伝導率の良い導
電材料からなる導電部材と、陽極酸化膜の複数の孔のう
ち残部の孔に埋設されて線孔を封じる封孔部材とを備え
たことを特徴とするものであり、 請求項4記載の発明に係る異方性導電膜の製造方法は、
導電性の素材を陽極酸化して陽極酸化膜を形成するとと
もに該陽極酸化膜に膜厚方向に延在する複数の孔を形成
する工程と、該陽極酸化膜の複数の孔のうち一部の孔に
、陽極酸化膜より熱伝導率の良い材料からなる導電部材
を選択的に埋設する工程と、陽極酸化膜の複数の孔のう
ち残部の孔に、熱伝導材料を埋設して線孔を封じる工程
とを含むことを特徴とするものである。
異方性導電膜は、膜厚方向に延在する複数の孔を有する
陽極酸化膜と、該陽極酸化膜の複数の孔のうち一部の孔
に選択的に埋設された陽極酸化膜より熱伝導率の良い導
電材料からなる導電部材と、陽極酸化膜の複数の孔のう
ち残部の孔に埋設されて線孔を封じる封孔部材とを備え
たことを特徴とするものであり、 請求項4記載の発明に係る異方性導電膜の製造方法は、
導電性の素材を陽極酸化して陽極酸化膜を形成するとと
もに該陽極酸化膜に膜厚方向に延在する複数の孔を形成
する工程と、該陽極酸化膜の複数の孔のうち一部の孔に
、陽極酸化膜より熱伝導率の良い材料からなる導電部材
を選択的に埋設する工程と、陽極酸化膜の複数の孔のう
ち残部の孔に、熱伝導材料を埋設して線孔を封じる工程
とを含むことを特徴とするものである。
さらに、請求項5記載の発明に係る異方性導電膜の製造
方法は、前記陽極酸化膜を熱水中に浸して前記微小な孔
のうち残部の孔を封じることを特徴とするものである。
方法は、前記陽極酸化膜を熱水中に浸して前記微小な孔
のうち残部の孔を封じることを特徴とするものである。
なお、前記陽極酸化膜の孔内に導電部材を形成する工程
において、陽極酸化膜の所定の孔をマスキングし又は選
択的に電極を形成して、導電部材を選択的に形成するこ
とができ、陽極酸化膜の表層部を選択的に除去して導電
部材を所定部位で突出させるようにすることもできる。
において、陽極酸化膜の所定の孔をマスキングし又は選
択的に電極を形成して、導電部材を選択的に形成するこ
とができ、陽極酸化膜の表層部を選択的に除去して導電
部材を所定部位で突出させるようにすることもできる。
また、導電部材の形成は、電解析出による他、無電解メ
ツキにより、あるいは蒸着、スパッタリング、CVD等
のドライメツキにより行うこともできる。
ツキにより、あるいは蒸着、スパッタリング、CVD等
のドライメツキにより行うこともできる。
以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
第1〜3図は本発明に係る異方性導電膜およびその製造
方法の第1実施例を示す図である。
方法の第1実施例を示す図である。
まず、第1.2図によりその異方性導電膜の概略の構成
について説明する。
について説明する。
第1.2図において、11は異方性導電膜、12は例え
ばAl2O5からなる膜状絶縁部材としての陽極酸化膜
、13は陽極酸化膜12の膜厚方向に延在する複数の微
小な孔、14は複数の孔13のうち一部の孔を選択的に
拡径した複数の拡径孔、15は導電性の金属例えば金(
Au)よりなる導電部材であり、導電部材15は、例え
ば複数の孔13.14のうち孔径の大きい孔14に埋め
込まれている。また、第2図において、16は半導体チ
ップであるLSIチップ、17はLSIチップ16を実
装する実装基板である。ここで、導電部材15は陽極酸
化膜12の表面からの膜厚方向に突出しており、第2図
に示すように、異方性導電膜11がLSIチップ16と
その実装基板17との間に介在するとき、導電部材15
がLSIチップ16の電極バンド(Afバンド) 1B
及び基板側接続端子19に当接してLSIチップ16と
その実装基板17が電気的に接続される。また、複数の
導電部材15の端部を陽極酸化膜120表面上で結合し
て突起電極21が形成されている。なお、第2図におい
て、22はLSIチップ16のパンシベーション膜であ
る。なお、陽極酸化膜I2は、詳細を図示していない複
数のセルからなり、このセルのそれぞれに孔13が形成
される。
ばAl2O5からなる膜状絶縁部材としての陽極酸化膜
、13は陽極酸化膜12の膜厚方向に延在する複数の微
小な孔、14は複数の孔13のうち一部の孔を選択的に
拡径した複数の拡径孔、15は導電性の金属例えば金(
Au)よりなる導電部材であり、導電部材15は、例え
ば複数の孔13.14のうち孔径の大きい孔14に埋め
込まれている。また、第2図において、16は半導体チ
ップであるLSIチップ、17はLSIチップ16を実
装する実装基板である。ここで、導電部材15は陽極酸
化膜12の表面からの膜厚方向に突出しており、第2図
に示すように、異方性導電膜11がLSIチップ16と
その実装基板17との間に介在するとき、導電部材15
がLSIチップ16の電極バンド(Afバンド) 1B
及び基板側接続端子19に当接してLSIチップ16と
その実装基板17が電気的に接続される。また、複数の
導電部材15の端部を陽極酸化膜120表面上で結合し
て突起電極21が形成されている。なお、第2図におい
て、22はLSIチップ16のパンシベーション膜であ
る。なお、陽極酸化膜I2は、詳細を図示していない複
数のセルからなり、このセルのそれぞれに孔13が形成
される。
次に、その製造方法について説明する。
まず、第3図(a)に示すように、導電性の材料、例え
ばアルミニウム(Aj?)からなるAl板又はAl箔を
導電基板31として準備する。
ばアルミニウム(Aj?)からなるAl板又はAl箔を
導電基板31として準備する。
次いで、導電基vi3]を陽極とする酸性溶液中の電気
分解でこの導電基板31を陽極酸化し、第3図(b)に
示すように、導電基板31の表層部にAltOlからな
り多数の微小な孔13を有する膜厚5μm以上の陽極酸
化膜12を形成する。この陽極酸化の処理は、例えば5
〜20%の硫酸溶液を使用し、条件を例えば温度10〜
25℃(変動幅±2℃以内)、電流密度0.6〜3 A
/ d m2テIO〜120分とするものであり、こ
の処理により孔径1o〜30nm(0,03μm以下)
、孔ピンチ30〜90nmの多数の孔13を有する多孔
質皮膜として陽極酸化膜12が形成される。あるいは、
例えば2〜10%のリン酸を含む電解液を使用し、条件
を温度20〜30”C(変動幅±2℃以内)、印加電圧
20〜160vテ30〜120分(電流密度0.5〜3
A/dm”)とする処理を行うことができ、この処理に
より孔径0.2μm以下で陽極酸化膜12の膜厚方向に
延在する多数の孔13が孔ピンチ0.3〜0.4μm程
度に形成される。
分解でこの導電基板31を陽極酸化し、第3図(b)に
示すように、導電基板31の表層部にAltOlからな
り多数の微小な孔13を有する膜厚5μm以上の陽極酸
化膜12を形成する。この陽極酸化の処理は、例えば5
〜20%の硫酸溶液を使用し、条件を例えば温度10〜
25℃(変動幅±2℃以内)、電流密度0.6〜3 A
/ d m2テIO〜120分とするものであり、こ
の処理により孔径1o〜30nm(0,03μm以下)
、孔ピンチ30〜90nmの多数の孔13を有する多孔
質皮膜として陽極酸化膜12が形成される。あるいは、
例えば2〜10%のリン酸を含む電解液を使用し、条件
を温度20〜30”C(変動幅±2℃以内)、印加電圧
20〜160vテ30〜120分(電流密度0.5〜3
A/dm”)とする処理を行うことができ、この処理に
より孔径0.2μm以下で陽極酸化膜12の膜厚方向に
延在する多数の孔13が孔ピンチ0.3〜0.4μm程
度に形成される。
次いで、第3図(c)に示すように、陽極酸化膜12を
この下層部32から分離してメンブレン化(薄膜化)す
るとともに、複数の孔13を貫通孔にする。なお、陽極
酸化膜12を導電基板31の下層部32から分離する方
法としては、例えば公知の電流回復力と逆電解法を用い
る方法、下層部32を研削・研磨する方法、あるいは導
電基板31の下層部32(下地のA7りを臭素−メタノ
ール溶液、あるいはリン酸溶液等で溶解除去する方法が
ある。
この下層部32から分離してメンブレン化(薄膜化)す
るとともに、複数の孔13を貫通孔にする。なお、陽極
酸化膜12を導電基板31の下層部32から分離する方
法としては、例えば公知の電流回復力と逆電解法を用い
る方法、下層部32を研削・研磨する方法、あるいは導
電基板31の下層部32(下地のA7りを臭素−メタノ
ール溶液、あるいはリン酸溶液等で溶解除去する方法が
ある。
次いで、第3図(d)に示すように、陽極酸化膜12の
一面側にレジスト33を塗布するとともにこれをバター
ニングして陽極酸化膜12の一面側を選択的にマスキン
グし、陽極酸化膜12を硫酸、硝酸、リン酸又は塩酸等
に浸しながら複数の孔13のうち一部の孔径を拡大して
拡径孔14を形成する。この場合、拡径孔14の孔径は
前記一部の孔の孔壁を溶解して任意に設定することもで
きるが、図中の例では拡径孔14の孔壁をわずかに残し
ている。
一面側にレジスト33を塗布するとともにこれをバター
ニングして陽極酸化膜12の一面側を選択的にマスキン
グし、陽極酸化膜12を硫酸、硝酸、リン酸又は塩酸等
に浸しながら複数の孔13のうち一部の孔径を拡大して
拡径孔14を形成する。この場合、拡径孔14の孔径は
前記一部の孔の孔壁を溶解して任意に設定することもで
きるが、図中の例では拡径孔14の孔壁をわずかに残し
ている。
次いで、例えば陽極酸化膜I2の他面側に電極34を配
置し、第3図(e)に示すように、電解析出によって陽
極酸化膜12の拡径孔14に陽極酸化膜12すなわちA
JtO,より熱伝導率の良い(熱伝導率が大きい)導電
性材料、例えば金、銅、ニッケル又は半田のような金属
を埋め込んで導電部材15を形成する。この電解析出の
条件は、例えば浴温50〜70℃、電流密度0.1〜2
0A / d m” 、時間10〜120分である。な
お、導電部材14の形成方法としては、無電解メツキに
より、又は蒸着、スパッタリング、CVD等のドライメ
ツキにより行う方法を採用できる。
置し、第3図(e)に示すように、電解析出によって陽
極酸化膜12の拡径孔14に陽極酸化膜12すなわちA
JtO,より熱伝導率の良い(熱伝導率が大きい)導電
性材料、例えば金、銅、ニッケル又は半田のような金属
を埋め込んで導電部材15を形成する。この電解析出の
条件は、例えば浴温50〜70℃、電流密度0.1〜2
0A / d m” 、時間10〜120分である。な
お、導電部材14の形成方法としては、無電解メツキに
より、又は蒸着、スパッタリング、CVD等のドライメ
ツキにより行う方法を採用できる。
そして、第3図(f)に示すように、前記電解析出の時
間を長くして複数の拡径孔14に埋設した複数の導電部
材15同士を結合させ、突起電極21を形成すると、異
方性導電膜11ができあがる。
間を長くして複数の拡径孔14に埋設した複数の導電部
材15同士を結合させ、突起電極21を形成すると、異
方性導電膜11ができあがる。
製造された異方性導電膜11を用いて実装基板17上に
LSIチップ16を実装する場合、突起電極21を形成
する導電部材15の組を基板側端子19上に位置させる
とともに、突起電極21をLSIチップ16の電極パッ
ド1gに接触させる。
LSIチップ16を実装する場合、突起電極21を形成
する導電部材15の組を基板側端子19上に位置させる
とともに、突起電極21をLSIチップ16の電極パッ
ド1gに接触させる。
このように、本実施例においては、導電性の金属素材を
陽極酸化し、絶縁膜として多孔質皮膜である陽極酸化膜
12を形成するとともに、陽極酸化膜12に形成される
微小な孔13の一部を拡径して、熱伝導性に優れた複数
の導電部材15を形成することができる。したがって、
LSIチップ16から発する熱が、導電部材15を介し
てLSIチップ16側から実装基板17側に容易に伝わ
り、放熱性が良好になる。また、陽極酸化膜12は従来
の樹脂製絶縁膜と比較すると高温・高温に耐えることが
できるため、実装時の加熱等により導電部材15が移動
したりすることはなく、ショートが確実に防止されると
ともに電気的接続の信較性が向上する。
陽極酸化し、絶縁膜として多孔質皮膜である陽極酸化膜
12を形成するとともに、陽極酸化膜12に形成される
微小な孔13の一部を拡径して、熱伝導性に優れた複数
の導電部材15を形成することができる。したがって、
LSIチップ16から発する熱が、導電部材15を介し
てLSIチップ16側から実装基板17側に容易に伝わ
り、放熱性が良好になる。また、陽極酸化膜12は従来
の樹脂製絶縁膜と比較すると高温・高温に耐えることが
できるため、実装時の加熱等により導電部材15が移動
したりすることはなく、ショートが確実に防止されると
ともに電気的接続の信較性が向上する。
第4〜6図は本発明に係る異方性導電膜およびその製造
方法の第2実施例を示す図である。
方法の第2実施例を示す図である。
まず、第4.5図によりその異方性導電膜の概略の構成
について説明する。
について説明する。
両図において、41は異方性導電膜、42は例えばAl
zO3からなる陽極酸化膜、43.44は陽極酸化膜4
2の膜厚方向に延在する複数の微小な孔、45は導電性
の金属例えば金(Au)よりなる導電部材であり、導電
部材45は複数の孔43.44のうち一部の孔44に選
択的に埋設されている。46は、陽極酸化膜42の複数
の孔43.44のうち残部の孔43に埋め込まれ、この
孔43を封じる封孔部材であり、封孔部材46は熱伝導
性の絶縁材料又は導体からなる。
zO3からなる陽極酸化膜、43.44は陽極酸化膜4
2の膜厚方向に延在する複数の微小な孔、45は導電性
の金属例えば金(Au)よりなる導電部材であり、導電
部材45は複数の孔43.44のうち一部の孔44に選
択的に埋設されている。46は、陽極酸化膜42の複数
の孔43.44のうち残部の孔43に埋め込まれ、この
孔43を封じる封孔部材であり、封孔部材46は熱伝導
性の絶縁材料又は導体からなる。
この異方性導電膜41は、LSIチップ16とその実装
基板17との間に介在するとき、導電部材45に接続す
る突起電極51.52がLSIチップ16の電極パッド
(Allバッド 18及び基板側接続端子19に当接し
、これによりLSIチップ16とその実装基板17が電
気的に接続される。
基板17との間に介在するとき、導電部材45に接続す
る突起電極51.52がLSIチップ16の電極パッド
(Allバッド 18及び基板側接続端子19に当接し
、これによりLSIチップ16とその実装基板17が電
気的に接続される。
次に、その製造方法について説明する。
まず、第6図(a)に示すように、導電性の素材例えば
Alからなる導電基板31を準備し、この導電基板31
上にレジスト33を塗布するとともにこれをパターニン
グして選択的にマスキングする。
Alからなる導電基板31を準備し、この導電基板31
上にレジスト33を塗布するとともにこれをパターニン
グして選択的にマスキングする。
次いで、導電基板31を陽極として硫酸又はリン酸等の
酸性溶液中で電気分解により導電基板31の露出部を選
択的に陽極酸化し、第6図(b)に示すように、導電基
板31の表層部にAl、O,からなり多数の微小な孔1
3を有する膜厚5μm以上の陽極酸化膜12を形成する
。この陽極酸化の処理は、上述例と同様である。
酸性溶液中で電気分解により導電基板31の露出部を選
択的に陽極酸化し、第6図(b)に示すように、導電基
板31の表層部にAl、O,からなり多数の微小な孔1
3を有する膜厚5μm以上の陽極酸化膜12を形成する
。この陽極酸化の処理は、上述例と同様である。
次いで、導電基板31のA1をエツチングにより除去し
、第6図(c)に示すように、陽極酸化膜12をこの下
層部32から分離するとともに、複数の孔43を貫通孔
にし、複数の孔44を形成する。なお、陽極酸化膜42
を導電基板31の下層部32から分離する方法は、上述
例と同様である。
、第6図(c)に示すように、陽極酸化膜12をこの下
層部32から分離するとともに、複数の孔43を貫通孔
にし、複数の孔44を形成する。なお、陽極酸化膜42
を導電基板31の下層部32から分離する方法は、上述
例と同様である。
次いで、第6図(d)に示すように、例えばメツキによ
り孔44内に半田からなる導電部材45を形成する一方
、孔43内に金属等の伝熱材(熱伝導材料)からなる封
孔部材46を埋設する。この封孔部材46を孔43内に
埋設する方法としては、例えば後述する液状物(被膜形
成用塗布液)の状態で陽極酸化膜42の孔43に埋め込
み、これを乾燥させて無機膜伝熱材とするものを使用す
ることができる。
り孔44内に半田からなる導電部材45を形成する一方
、孔43内に金属等の伝熱材(熱伝導材料)からなる封
孔部材46を埋設する。この封孔部材46を孔43内に
埋設する方法としては、例えば後述する液状物(被膜形
成用塗布液)の状態で陽極酸化膜42の孔43に埋め込
み、これを乾燥させて無機膜伝熱材とするものを使用す
ることができる。
また、第5図に示すように、導電部材45を形成するメ
ツキの時間を長くして複数の導電部材45が接続する突
起電極51.52を形成する。なお、液状物とは、例え
ばケイ酸塩(Mz 0−nsioz ・mHzO:M
はNa、L i、に、Cs、NR3、NR4であり、n
はH2Oの1モルに対するSiO□のモル数である)、
金属アルコキシド(M(OR)、。
ツキの時間を長くして複数の導電部材45が接続する突
起電極51.52を形成する。なお、液状物とは、例え
ばケイ酸塩(Mz 0−nsioz ・mHzO:M
はNa、L i、に、Cs、NR3、NR4であり、n
はH2Oの1モルに対するSiO□のモル数である)、
金属アルコキシド(M(OR)、。
二MはSi、Ti、An、Sn等の金属でRはメチル、
エチル、ブチル等のアルキル基)、金属アシレート(M
CO(OR) 、l : MはSi、Ti、A!、Zr
等の金属でRはメチル、エチル、ブチル等のアルキル基
)を有機溶剤(アルコール、エステル、ケトン)に溶解
し、必要によりA!、Mg、、Ca、Zn、Aj2z
O,、S i○7等のバインダーを入れたものである。
エチル、ブチル等のアルキル基)、金属アシレート(M
CO(OR) 、l : MはSi、Ti、A!、Zr
等の金属でRはメチル、エチル、ブチル等のアルキル基
)を有機溶剤(アルコール、エステル、ケトン)に溶解
し、必要によりA!、Mg、、Ca、Zn、Aj2z
O,、S i○7等のバインダーを入れたものである。
これを塗布、ディッピング後、常温〜500°Cl2O
分〜2時間反応硬化させることで無機の膜が得られる。
分〜2時間反応硬化させることで無機の膜が得られる。
また、反応硬化時に溶液状態時より20%程度収縮する
ので、上述の作業を繰り返して孔43内に5hot又は
これと他の物質を埋め込むのが好ましい。
ので、上述の作業を繰り返して孔43内に5hot又は
これと他の物質を埋め込むのが好ましい。
本実施例においても、上述例と同様に異方性導電膜41
の熱伝導率を良くして放熱性を向上させることができ、
さらに、陽極酸化膜42に封孔部材46を埋め込んでい
るので、異方性導電膜41の熱伝導を更に良くすること
ができる。
の熱伝導率を良くして放熱性を向上させることができ、
さらに、陽極酸化膜42に封孔部材46を埋め込んでい
るので、異方性導電膜41の熱伝導を更に良くすること
ができる。
第7図は本発明に係る異方性導電膜の製造方法の第3実
施例を説明する図である。
施例を説明する図である。
本実施例では、まず、第3図(a)〜(C)に示すのと
同様にして、メンブレン化した陽極酸化膜62を形成す
る。
同様にして、メンブレン化した陽極酸化膜62を形成す
る。
次いで、第7図(a)に示すように、この陽極酸化膜6
2の複数の微小の孔63のうち一部の孔に、選択的に導
電部材65を形成する。この導電部形成作業は、例えば
上述した電解析出により行うことができ、その際、予め
陽極酸化膜62をマスキングして必要部分だけに導電部
材を埋設すること、あるいは、電解析出後に不要部をエ
ツチングすることができる。
2の複数の微小の孔63のうち一部の孔に、選択的に導
電部材65を形成する。この導電部形成作業は、例えば
上述した電解析出により行うことができ、その際、予め
陽極酸化膜62をマスキングして必要部分だけに導電部
材を埋設すること、あるいは、電解析出後に不要部をエ
ツチングすることができる。
次いで、第7図(b)に示すように、例えば孔63のう
ち残部の孔63内にセラミックス等の伝熱材(熱伝導材
料)からなる封孔部材66を埋設すると、異方性導電膜
61ができあがる。この封孔部材66を孔63内に埋設
する方法は、上述例と同様に例えば液状物の状態で陽極
酸化膜62の孔63に埋め込み、これを乾燥させて伝熱
材とするものを使用することができる。
ち残部の孔63内にセラミックス等の伝熱材(熱伝導材
料)からなる封孔部材66を埋設すると、異方性導電膜
61ができあがる。この封孔部材66を孔63内に埋設
する方法は、上述例と同様に例えば液状物の状態で陽極
酸化膜62の孔63に埋め込み、これを乾燥させて伝熱
材とするものを使用することができる。
本実施例においても、上述例と同様な効果を得ることが
できる。
できる。
第8図は本発明に係る異方性導電膜の製造方法の第4実
施例を説明する図である。
施例を説明する図である。
本実施例では、まず、第3図(a)〜(C)に示すのと
同様にして、メンブレン化した陽極酸化膜72を形成す
る。
同様にして、メンブレン化した陽極酸化膜72を形成す
る。
次いで、第8図(a)に示すように、この陽極酸化膜7
2の複数の微小の孔73のうち一部の孔に、選択的に導
電部材75を形成する。この導電部形成作業は、例えば
上述した電解析出により行うことができ、その際、予め
陽極酸化膜72をマスキングして必要部分だけに導電部
材75を埋設すること、あるいは、電解析出後に不要部
をエツチングして導電部材75を形成することができる
。
2の複数の微小の孔73のうち一部の孔に、選択的に導
電部材75を形成する。この導電部形成作業は、例えば
上述した電解析出により行うことができ、その際、予め
陽極酸化膜72をマスキングして必要部分だけに導電部
材75を埋設すること、あるいは、電解析出後に不要部
をエツチングして導電部材75を形成することができる
。
次いで、第8図(b)に示すように、導電部材75を埋
め込んだ陽極酸化膜72を熱水中に浸し、その熱により
陽極酸化膜72の微小な孔73を縮小・封止する。すな
わち、孔73内にA#zO+からなる封孔部材76を埋
設する。これによって異方性導電膜71ができあがる。
め込んだ陽極酸化膜72を熱水中に浸し、その熱により
陽極酸化膜72の微小な孔73を縮小・封止する。すな
わち、孔73内にA#zO+からなる封孔部材76を埋
設する。これによって異方性導電膜71ができあがる。
本実施例においても、上述例と同様な効果を得ることが
でき、さらに、陽極酸化膜72を熱水に浸すだけで多数
の微小の孔73を封孔処理することができ、コスト低減
を図ることができる。
でき、さらに、陽極酸化膜72を熱水に浸すだけで多数
の微小の孔73を封孔処理することができ、コスト低減
を図ることができる。
請求項I、2記載の発明によれば、絶縁膜として多孔質
皮膜である陽極酸化膜を形成するとともに、陽極酸化膜
に形成される微小な孔の一部の孔を拡径して、この拡径
した孔に熱伝導率の良い複数の導電部材を形成するので
、半導体チ・7ブから発する熱を導電部材を介して実装
基板側に容易に逃がすことができ、放熱性を格段に向上
させることができる。また、陽極酸化膜の耐熱性が優れ
ているので、実装時の加熱等により導電部材が移動して
ショートするようなことが防止でき、電気的接続を確実
にすることができる。この結果、異方性導電膜の電気接
続の信頼性を向上させることができ、しかも、実装時の
放熱性を良好にすることができる。
皮膜である陽極酸化膜を形成するとともに、陽極酸化膜
に形成される微小な孔の一部の孔を拡径して、この拡径
した孔に熱伝導率の良い複数の導電部材を形成するので
、半導体チ・7ブから発する熱を導電部材を介して実装
基板側に容易に逃がすことができ、放熱性を格段に向上
させることができる。また、陽極酸化膜の耐熱性が優れ
ているので、実装時の加熱等により導電部材が移動して
ショートするようなことが防止でき、電気的接続を確実
にすることができる。この結果、異方性導電膜の電気接
続の信頼性を向上させることができ、しかも、実装時の
放熱性を良好にすることができる。
請求項3.4記載の発明によれば、陽極酸化膜の複数の
微小な孔のうち一部の孔に熱伝導率の良い導電部材を埋
設するとともに残部の孔に熱伝導性材料からなる封孔部
材を埋設するようにしているので、異方性導電膜の熱伝
導を更に良くして放熱性をより向上させることができる
。
微小な孔のうち一部の孔に熱伝導率の良い導電部材を埋
設するとともに残部の孔に熱伝導性材料からなる封孔部
材を埋設するようにしているので、異方性導電膜の熱伝
導を更に良くして放熱性をより向上させることができる
。
請求項5記載の発明によれば、異方性導電膜を熱水に浸
して前記残部の孔を封じるので、封孔部材の埋設を低コ
ストに行うことができる。
して前記残部の孔を封じるので、封孔部材の埋設を低コ
ストに行うことができる。
第1〜3図は本発明に係る異方性導電膜及びその製造方
法の第1実施例を示す図であり、第1図はその異方性導
電膜の概略構成を示す斜視図、 第2図はその異方性導電膜によるLSIチップの実装状
態を示す断面図、 第3図はその製造方法の説明図である。 第4〜6図は本発明に係る異方性導電膜及びその製造方
法の第2実施例を示す図であり、第4図はその異方性導
電膜の概略構成を示す斜視図、 第5図はその異方性導電膜によるLSIチップの実装状
態を示す断面図、 第6図はその製造方法の説明図である。 第7図は本発明に係る異方性導電膜及びその製造方法の
第3実施例を示すその製造方法の説明図である。 第8図は本発明に係る異方性導電膜及びその製造方法の
第4実施例を示すその製造方法の説明図である。 11.41.61.71・・・・・・異方性導電膜、I
2.42.62.72・・・・・・陽極酸化膜、13.
43.63.73・・・・・・微小な孔、14・・・・
・・拡径孔、 15.45.65.75・・・・・・導電部材、31・
・・・・・導電基板、 32・・・・・・下層部、 44・・・・・・複数の孔、 46.66.76・・・・・・封孔部材。 第1図
法の第1実施例を示す図であり、第1図はその異方性導
電膜の概略構成を示す斜視図、 第2図はその異方性導電膜によるLSIチップの実装状
態を示す断面図、 第3図はその製造方法の説明図である。 第4〜6図は本発明に係る異方性導電膜及びその製造方
法の第2実施例を示す図であり、第4図はその異方性導
電膜の概略構成を示す斜視図、 第5図はその異方性導電膜によるLSIチップの実装状
態を示す断面図、 第6図はその製造方法の説明図である。 第7図は本発明に係る異方性導電膜及びその製造方法の
第3実施例を示すその製造方法の説明図である。 第8図は本発明に係る異方性導電膜及びその製造方法の
第4実施例を示すその製造方法の説明図である。 11.41.61.71・・・・・・異方性導電膜、I
2.42.62.72・・・・・・陽極酸化膜、13.
43.63.73・・・・・・微小な孔、14・・・・
・・拡径孔、 15.45.65.75・・・・・・導電部材、31・
・・・・・導電基板、 32・・・・・・下層部、 44・・・・・・複数の孔、 46.66.76・・・・・・封孔部材。 第1図
Claims (5)
- (1)陽極酸化により形成された複数の微小な孔及び該
微小な孔のうち一部の孔を選択的に拡径した拡径孔を有
する陽極酸化膜と、該陽極酸化膜より熱伝導率の良い導
電材料からなり、陽極酸化膜の複数の孔のうち少なくと
も拡径孔に埋設された導電部材と、を備えたことを特徴
とする異方性導電膜。 - (2)導電性の素材を陽極酸化して複数の微小な孔を有
する陽極酸化膜を形成する工程と、該陽極酸化膜の微小
な孔のうち一部の孔を選択的に溶解処理して拡径孔を形
成する工程と、該拡径孔内に陽極酸化膜より熱伝導率の
良い材料からなる導電部材を埋設する工程と、を含むこ
とを特徴とする異方性導電膜の製造方法。 - (3)膜厚方向に延在する複数の孔を有する陽極酸化膜
と、該陽極酸化膜より熱伝達率の良い導電材料からなり
、陽極酸化膜の複数の孔のうち一部の孔に選択的に埋設
された導電部材と、熱伝導性の材料からなり、陽極酸化
膜の複数の孔のうち残部の孔に埋設されて該残部の孔を
封じる封孔部材と、を備えたことを特徴とする異方性導
電膜。 - (4)導電性の素材を陽極酸化して陽極酸化膜を形成す
るとともに該陽極酸化膜に膜厚方向に延在する複数の孔
を形成する工程と、該陽極酸化膜の複数の孔のうち一部
の孔に導電材料からなる導電部材を選択的に埋設する工
程と、陽極酸化膜の複数の孔のうち残部の孔に熱伝導材
料を埋設して該孔を封じる工程と、を含むことを特徴と
する異方性導電膜の製造方法。 - (5)前記陽極酸化膜を熱水中に浸して前記微小な孔の
うち残部の孔を封じるようにしたことを特徴とする請求
項2又は4記載の異方性導電膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20100490A JPH0487213A (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | 異方性導電膜およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20100490A JPH0487213A (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | 異方性導電膜およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0487213A true JPH0487213A (ja) | 1992-03-19 |
Family
ID=16433902
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20100490A Pending JPH0487213A (ja) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | 異方性導電膜およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0487213A (ja) |
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---|---|---|---|---|
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JP2015159161A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | 新光電気工業株式会社 | 配線基板及び配線基板の製造方法 |
CN110797331A (zh) * | 2018-08-02 | 2020-02-14 | 普因特工程有限公司 | 微发光二极管构造体及其制造方法 |
KR20210130458A (ko) * | 2020-04-22 | 2021-11-01 | (주)포인트엔지니어링 | 양극산화막 구조체 및 이를 포함하는 프로브 카드 |
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1990
- 1990-07-27 JP JP20100490A patent/JPH0487213A/ja active Pending
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