JP2884271B2 - 両面tabの製造方法 - Google Patents
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は両面TAB(Tape
Automated Bonding)の製造方法に関
し、特に高速応答性、高周波特性等の特性に優れ、製造
工程が大幅に短縮された両面TABの製造方法に関す
る。
Automated Bonding)の製造方法に関
し、特に高速応答性、高周波特性等の特性に優れ、製造
工程が大幅に短縮された両面TABの製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の両面TABの製造方法は、図1
(a)〜(e)、図2(a)〜(d)および図3(a)
〜(c)のような工程により製造される。すなわち、図
1(a)に示されるように、中央にポリイミド等からな
る絶縁層1を有し、その両面に薄い導体層2a,2bか
らなる両面基板を準備する。次に、図1(b)のように
両面にレジスト10aを形成する。さらに、図1(c)
のごとく、裏面の導体層2aをエッチングし、穴部を形
成する。その後、図1(d)のように表面のレジスト1
0a間に電気メッキにより配線パターン5を形成する。
さらに、図1(e)のようにレジスト10aを剥離後、
導体層2a,2bをレジストとして、穴部の絶縁層1を
化学的にエッチング除去してバイアホール部3を形成す
る。
(a)〜(e)、図2(a)〜(d)および図3(a)
〜(c)のような工程により製造される。すなわち、図
1(a)に示されるように、中央にポリイミド等からな
る絶縁層1を有し、その両面に薄い導体層2a,2bか
らなる両面基板を準備する。次に、図1(b)のように
両面にレジスト10aを形成する。さらに、図1(c)
のごとく、裏面の導体層2aをエッチングし、穴部を形
成する。その後、図1(d)のように表面のレジスト1
0a間に電気メッキにより配線パターン5を形成する。
さらに、図1(e)のようにレジスト10aを剥離後、
導体層2a,2bをレジストとして、穴部の絶縁層1を
化学的にエッチング除去してバイアホール部3を形成す
る。
【0003】また、図2(a)に示されるごとく、導体
層2a,2bおよびバイアホール部3に、化学メッキに
より薄い導体皮膜11を形成する。さらに図2(b)の
ようにフォトレジスト法により片面(パターン側)にレ
ジスト10bを形成する。そして、図2(c)のように
裏面に電気メッキにより比較的厚みの大きい導体層2c
を形成する。さらに、図2(d)のように導体層2cお
よびレジスト10bの上にさらにレジスト10cを形成
する。
層2a,2bおよびバイアホール部3に、化学メッキに
より薄い導体皮膜11を形成する。さらに図2(b)の
ようにフォトレジスト法により片面(パターン側)にレ
ジスト10bを形成する。そして、図2(c)のように
裏面に電気メッキにより比較的厚みの大きい導体層2c
を形成する。さらに、図2(d)のように導体層2cお
よびレジスト10bの上にさらにレジスト10cを形成
する。
【0004】その後、図3(a)のようにエッチングに
より裏側の導体層2cの一部をエッチング除去し、レジ
スト10b,10cを剥離する。さらに、図3(b)の
ように導体層2a,2cおよび導体皮膜11をレジスト
とし、デバイスホール部4等の窓あき部の絶縁層1を化
学的にエッチングする。最後に、図3(c)のごとく、
フラッシュエッチングにより導体層2a,2b,2cお
よび導体皮膜11の所要部分のみを残して除去し、両面
TABを形成していた。
より裏側の導体層2cの一部をエッチング除去し、レジ
スト10b,10cを剥離する。さらに、図3(b)の
ように導体層2a,2cおよび導体皮膜11をレジスト
とし、デバイスホール部4等の窓あき部の絶縁層1を化
学的にエッチングする。最後に、図3(c)のごとく、
フラッシュエッチングにより導体層2a,2b,2cお
よび導体皮膜11の所要部分のみを残して除去し、両面
TABを形成していた。
【0005】しかしながら、このような製造方法では、
フォトレジストを3回または4回必要とし、絶縁層のエ
ッチング工程も2回必要であり、さらには化学メッキ処
理や電気メッキ処理が必要であるため、製造工程が極め
て繁雑となる。しかも、裏面側の導通用穴部と表面側の
配線パターンとの位置合せ精度に不良があると、両面の
導通が確保できないという課題もある。
フォトレジストを3回または4回必要とし、絶縁層のエ
ッチング工程も2回必要であり、さらには化学メッキ処
理や電気メッキ処理が必要であるため、製造工程が極め
て繁雑となる。しかも、裏面側の導通用穴部と表面側の
配線パターンとの位置合せ精度に不良があると、両面の
導通が確保できないという課題もある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、これらの従
来技術の課題を解決すべくなされたもので、製造工程が
大幅に短縮され、かつ経済性に優れ、また製品の自由度
が高く、しかも信頼性のある両面TABの製造方法を提
供することを目的とする。
来技術の課題を解決すべくなされたもので、製造工程が
大幅に短縮され、かつ経済性に優れ、また製品の自由度
が高く、しかも信頼性のある両面TABの製造方法を提
供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、次
に示す製造方法によって達成される。
に示す製造方法によって達成される。
【0008】すなわち、本発明の両面TABの製造方法
は、中央に絶縁層、その両面に導体層を有する基板を用
い、そのデバイス面の導体層をフォトレジストエッチン
グにより穴形状加工した後、両面の導体層をレジストと
し、該絶縁層を化学的または機械的に穴形状加工し開口
部を設け、次いでパターン面の導体層をフォトレジスト
エッチングによって配線パターンを形成し、該配線パタ
ーンとデバイス面の導体層であるグランド層とをワイヤ
ボンディングで接続し導通させ、接続部を樹脂で封止す
ることを特徴とする。
は、中央に絶縁層、その両面に導体層を有する基板を用
い、そのデバイス面の導体層をフォトレジストエッチン
グにより穴形状加工した後、両面の導体層をレジストと
し、該絶縁層を化学的または機械的に穴形状加工し開口
部を設け、次いでパターン面の導体層をフォトレジスト
エッチングによって配線パターンを形成し、該配線パタ
ーンとデバイス面の導体層であるグランド層とをワイヤ
ボンディングで接続し導通させ、接続部を樹脂で封止す
ることを特徴とする。
【0009】以下、本発明の製造方法を図面に基づいて
具体的に説明する。図4(a)〜(f)は、本発明の製
造工程の一例を示す工程図である。
具体的に説明する。図4(a)〜(f)は、本発明の製
造工程の一例を示す工程図である。
【0010】本発明においても、図4(a)に示される
ように、中央にポリイミド等からなる絶縁層1を有し、
その両面に銅箔等からなる比較的薄い導体層2a,2b
を有する両面基板を出発材料とする。次に、図4(b)
に示されるようにデバイス面(裏面)の導体層2bにバ
イアホール部3、デバイスホール部4等の穴加工をフォ
トレジストエッチング法にて形成する。このバイアホー
ル部3が2メタルTABの両面導体接続用となる。さら
に、図4(c)のように導体層2a,2bをレジストと
して絶縁層1を化学的または機械的加工により加工す
る。
ように、中央にポリイミド等からなる絶縁層1を有し、
その両面に銅箔等からなる比較的薄い導体層2a,2b
を有する両面基板を出発材料とする。次に、図4(b)
に示されるようにデバイス面(裏面)の導体層2bにバ
イアホール部3、デバイスホール部4等の穴加工をフォ
トレジストエッチング法にて形成する。このバイアホー
ル部3が2メタルTABの両面導体接続用となる。さら
に、図4(c)のように導体層2a,2bをレジストと
して絶縁層1を化学的または機械的加工により加工す
る。
【0011】その後、図4(d)のようにフォトレジス
トエッチングによりパターン面(表面)の導体層2aに
配線パターン5を形成する。次に、図4(e)に示され
るように、必要な端子メッキ6を施した後、ワイヤボン
ディング7により表面の導体である配線パターン5と裏
面の導体である加工された導体層(グランド層)8を接
続し、導通させる。そして、図4(f)のように接続部
を樹脂9で封止し、両面TABとする。
トエッチングによりパターン面(表面)の導体層2aに
配線パターン5を形成する。次に、図4(e)に示され
るように、必要な端子メッキ6を施した後、ワイヤボン
ディング7により表面の導体である配線パターン5と裏
面の導体である加工された導体層(グランド層)8を接
続し、導通させる。そして、図4(f)のように接続部
を樹脂9で封止し、両面TABとする。
【0012】このようにして両面TABが製造される。
この両面TABのパターン面(表側)の斜視図の一例を
図5に示すと共に、X−X部分の断面図を図6に示す。
なお、図6における符号は図4と同じであり、両側導体
接続用窓あき部は折り曲用窓あき部と別個に設けられて
いるが、この折り曲げ用窓あき部を両面導体接続用窓あ
き部と兼用して用いてもよい。また、この両側導体接続
用窓あき部の形状は任意である。
この両面TABのパターン面(表側)の斜視図の一例を
図5に示すと共に、X−X部分の断面図を図6に示す。
なお、図6における符号は図4と同じであり、両側導体
接続用窓あき部は折り曲用窓あき部と別個に設けられて
いるが、この折り曲げ用窓あき部を両面導体接続用窓あ
き部と兼用して用いてもよい。また、この両側導体接続
用窓あき部の形状は任意である。
【0013】
【実施例】以下、実施例に基づいて本発明を具体的に説
明する。
明する。
【0014】図4の工程に基づいて両面TABを作成し
た。
た。
【0015】すなわち、50μmのポリイミドを中間層
(絶縁層)とし、その両側に35μmの銅箔からなる導
電層を有する両面板(エスパネックス両面板、新日鉄化
学(株)製)を用意し、両面にドライフィルムラミネー
ト後、裏面の銅箔層の所望部分にフォトレジストエッチ
ング法によってデバイスホール部、バイアホール部(両
面導体接続用窓あき部)を形成した。次に、両面の銅箔
層をレジストとし、水加ヒドラジン含有アルカリ液にて
絶縁層であるポリイミドをエッチングした。
(絶縁層)とし、その両側に35μmの銅箔からなる導
電層を有する両面板(エスパネックス両面板、新日鉄化
学(株)製)を用意し、両面にドライフィルムラミネー
ト後、裏面の銅箔層の所望部分にフォトレジストエッチ
ング法によってデバイスホール部、バイアホール部(両
面導体接続用窓あき部)を形成した。次に、両面の銅箔
層をレジストとし、水加ヒドラジン含有アルカリ液にて
絶縁層であるポリイミドをエッチングした。
【0016】さらに、両面にドライフィルムをラミネー
ト後、表面にフォトレジスト法によって所定の配線パタ
ーンを形成した。必要部分にソルダーレジスト印刷を施
した後、フィンガー部、窓あき部にニッケル2μm、金
0.5μmの厚さにそれぞれ電気メッキを施した。ま
た、この時の窓あき部の導体幅は100μmであった。
25μmφ金線にて、裏面の加工された導体層(グラン
ド層)をボールボンディング、配線パターンをウェッジ
ボンディングによりワイヤボンディングを行ない、両者
を接続し、導通させた。このワイヤボンディングによる
接続部をポリイミドワニスにより封止し、硬化した。
ト後、表面にフォトレジスト法によって所定の配線パタ
ーンを形成した。必要部分にソルダーレジスト印刷を施
した後、フィンガー部、窓あき部にニッケル2μm、金
0.5μmの厚さにそれぞれ電気メッキを施した。ま
た、この時の窓あき部の導体幅は100μmであった。
25μmφ金線にて、裏面の加工された導体層(グラン
ド層)をボールボンディング、配線パターンをウェッジ
ボンディングによりワイヤボンディングを行ない、両者
を接続し、導通させた。このワイヤボンディングによる
接続部をポリイミドワニスにより封止し、硬化した。
【0017】このようにして得られた両面TABは、高
速応答性、高周波特性等の特性に優れ、極めて信頼性の
高いものであった。
速応答性、高周波特性等の特性に優れ、極めて信頼性の
高いものであった。
【0018】
【発明の効果】以上のような本発明では、次のような効
果を奏する。
果を奏する。
【0019】(1)フォトレジストの回数が少なくな
り、また無電解メッキ、電気メッキ処理が不要となり、
さらに絶縁層のエッチングが1回ですむため、製造工程
が大幅に短縮される。
り、また無電解メッキ、電気メッキ処理が不要となり、
さらに絶縁層のエッチングが1回ですむため、製造工程
が大幅に短縮される。
【0020】(2)両側導体接続用窓あき部の形状を任
意に形成することが可能となる。
意に形成することが可能となる。
【0021】(3)ワイヤボンディングで接続し導通さ
せ、また樹脂で封止するために、熱衝撃等による熱応力
に対する信頼性がよい。
せ、また樹脂で封止するために、熱衝撃等による熱応力
に対する信頼性がよい。
【0022】また、本発明による製造方法において、材
料を選択することによって、副次的に次の効果を有する
こととなる。
料を選択することによって、副次的に次の効果を有する
こととなる。
【0023】(1)絶縁層にポリイミドを用いた場合に
は耐熱性が良好なために、ワイヤボンディングにおいて
高温設定(200℃)ができ、ワイヤボンディングの信
頼性がよい。
は耐熱性が良好なために、ワイヤボンディングにおいて
高温設定(200℃)ができ、ワイヤボンディングの信
頼性がよい。
【0024】(2)ワイヤボンディング用のチップやワ
イヤを選択することにより、ファインパターンも可能と
なる(例えば18μmφ金線、50μm幅)。
イヤを選択することにより、ファインパターンも可能と
なる(例えば18μmφ金線、50μm幅)。
【0025】(3)ワイヤボンディング用のワイヤを選
択することにより(銅線、アルミニウム線等)、従来よ
りも経済性に優れる。
択することにより(銅線、アルミニウム線等)、従来よ
りも経済性に優れる。
【0026】従って、本発明は両面TABの製造方法と
して好適である。
して好適である。
【図1】 従来の両面TABの製造方法を示す工程図。
【図2】 従来の両面TABの製造方法を示す工程図。
【図3】 従来の両面TABの製造方法を示す工程図。
【図4】 本発明の両面TABの製造方法を示す工程
図。
図。
【図5】 本発明により得られる両面TABの裏面(部
品面)の一例を示す斜視図。
品面)の一例を示す斜視図。
【図6】 図5のX−X部分の断面図。
1 絶縁層、 2a,2b 導体層、 3 バイアホー
ル部、4 デバイスホール部、 5 配線パターン、
6 端子メッキ、7 ワイヤボンディング、 8 グラ
ンド層、 9 樹脂。
ル部、4 デバイスホール部、 5 配線パターン、
6 端子メッキ、7 ワイヤボンディング、 8 グラ
ンド層、 9 樹脂。
Claims (1)
- 【請求項1】 中央に絶縁層、その両面に導体層を有す
る基板を用い、そのデバイス面の導体層をフォトレジス
トエッチングにより穴形状加工した後、両面の導体層を
レジストとし該絶縁層を化学的に、または機械的に穴形
状加工し開口部を設け、次いでパターン面の導体層をフ
ォトレジストエッチングによって配線パターンを形成
し、該配線パターンとデバイス面の導体層であるグラン
ド層とをワイヤボンディングで接続し導通させ、接続部
を樹脂で封止することを特徴とする両面TABの製造方
法。
Priority Applications (1)
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JP3181626A JP2884271B2 (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 両面tabの製造方法 |
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JP3181626A JP2884271B2 (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 両面tabの製造方法 |
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1991
- 1991-06-27 JP JP3181626A patent/JP2884271B2/ja not_active Expired - Fee Related
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