JPH0471226A - 減圧cvd装置 - Google Patents
減圧cvd装置Info
- Publication number
- JPH0471226A JPH0471226A JP18321290A JP18321290A JPH0471226A JP H0471226 A JPH0471226 A JP H0471226A JP 18321290 A JP18321290 A JP 18321290A JP 18321290 A JP18321290 A JP 18321290A JP H0471226 A JPH0471226 A JP H0471226A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- core tube
- furnace core
- gas
- flow rate
- pressure cvd
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 title description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 4
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体装置の製造に使用される減圧CVD装
置に関する。
置に関する。
従来の減圧CVD装置は、所定の減圧状態下の炉芯管内
へガスを導入する際、ガスを遮断しているバルブが開く
と同時に、所定の設定流量のガスが炉内へ急激に供給さ
れるように構成されていた。
へガスを導入する際、ガスを遮断しているバルブが開く
と同時に、所定の設定流量のガスが炉内へ急激に供給さ
れるように構成されていた。
この従来の減圧CVD装置では、反応ガスあるいは圧力
調整用ガスを、高真空状態に保たれている炉芯管内に導
入する際、バルブ開口と同時に設定流量のガスが一気に
流れる為、炉芯管内の圧力が一時的に上昇し、この圧力
差より対流が生じて炉芯管内のパーティクルをまき上げ
、ウェハーに対しパーティクルの付着を引き起す原因と
なっていた。
調整用ガスを、高真空状態に保たれている炉芯管内に導
入する際、バルブ開口と同時に設定流量のガスが一気に
流れる為、炉芯管内の圧力が一時的に上昇し、この圧力
差より対流が生じて炉芯管内のパーティクルをまき上げ
、ウェハーに対しパーティクルの付着を引き起す原因と
なっていた。
この現象は特に大流量のガスを流す場合に顕著に現われ
ており、半導体装置の歩留り及び信頼性を低下させると
いう問題点があった。
ており、半導体装置の歩留り及び信頼性を低下させると
いう問題点があった。
本発明の減圧CVD装置は、炉芯管内に導入するガス量
を導入開始から所定の流量になるまで徐々に増加させる
ことの可能な流量コントローラー(以下スロースタート
MFCという)を設けたものである。
を導入開始から所定の流量になるまで徐々に増加させる
ことの可能な流量コントローラー(以下スロースタート
MFCという)を設けたものである。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の模式断面図である。
第1図において、炉芯管1内にはボート12に保持され
たウェハー11がセットされており、炉芯管1の一端に
は炉芯管1を真空にする為のポンプ4が真空遮断バルブ
3を介して設けられており、更に炉芯管1の表面にはヒ
ーター2が設けられている。また炉芯管1の両端には、
成長ガスを導入する複数の導入管5A、5Bと真空度を
コントロールする不活性ガス導入管10とが設けられて
おり、これらはエアーバルブ6及び8を介してそれぞれ
ガス流量をコントロールするスロースタートMFC7及
び9に接続された構造となっている。
たウェハー11がセットされており、炉芯管1の一端に
は炉芯管1を真空にする為のポンプ4が真空遮断バルブ
3を介して設けられており、更に炉芯管1の表面にはヒ
ーター2が設けられている。また炉芯管1の両端には、
成長ガスを導入する複数の導入管5A、5Bと真空度を
コントロールする不活性ガス導入管10とが設けられて
おり、これらはエアーバルブ6及び8を介してそれぞれ
ガス流量をコントロールするスロースタートMFC7及
び9に接続された構造となっている。
このように構成された本実施例に於いては、炉芯管1内
を高真空状態に保ち、成膜可能状態になった後、エアー
バルブ6が開きガスが流れる状態になる。この後、スロ
ースタートLFC7の制御により、流量が0の状態から
徐々にガス流量が増加し、所定の設定流量で安定する。
を高真空状態に保ち、成膜可能状態になった後、エアー
バルブ6が開きガスが流れる状態になる。この後、スロ
ースタートLFC7の制御により、流量が0の状態から
徐々にガス流量が増加し、所定の設定流量で安定する。
従って従来のようにガスを導入することで生じる圧力差
は強力に抑えられるため、ウェハー11にパーティクル
が付着することは極めて少いものとなる。
は強力に抑えられるため、ウェハー11にパーティクル
が付着することは極めて少いものとなる。
以上説明した様に本発明は、炉芯管内にガスを導入する
際、徐々に供給する方式を取る為、炉芯管内の圧力変化
を大幅に抑制し、圧力差によって生じる炉芯管内の対流
を防止できる為、パーティクルの飛散や巻き上げによる
ウェハーへの悪影響を抑えることができるという効果を
有する。従って半導体装置の歩留り及び信頼性は向上す
る。
際、徐々に供給する方式を取る為、炉芯管内の圧力変化
を大幅に抑制し、圧力差によって生じる炉芯管内の対流
を防止できる為、パーティクルの飛散や巻き上げによる
ウェハーへの悪影響を抑えることができるという効果を
有する。従って半導体装置の歩留り及び信頼性は向上す
る。
第1図は、本発明の一実施例の模式断面図である。
1・・・炉芯管、2・・・ヒーター 3・・・真空遮断
バルブ、4・・・ポンプ、5A、5B・・・ガス導入管
、6.8・・・エアーバルブ、7.9・・・スロースタ
ートMFC110・・・不活性ガス導入管、11・・・
ウェハー 12・・・ボート。
バルブ、4・・・ポンプ、5A、5B・・・ガス導入管
、6.8・・・エアーバルブ、7.9・・・スロースタ
ートMFC110・・・不活性ガス導入管、11・・・
ウェハー 12・・・ボート。
Claims (1)
- 炉芯管内に導入するウェハーを保持する為のボートと
、該炉芯管内を高真空状態にする為のポンプと、前記炉
芯管内を高温に昇温しかつ保温する為の加熱ヒーターと
、前記炉芯管内に成長ガスを導入する為のガス導入管と
を有する減圧CVD装置に於いて、前記炉芯管内に導入
するガス量を導入開始から所定の設定値まで徐々に増加
させるための流量コントローラーを設けたことを特徴と
する減圧CVD装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18321290A JPH0471226A (ja) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | 減圧cvd装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18321290A JPH0471226A (ja) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | 減圧cvd装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0471226A true JPH0471226A (ja) | 1992-03-05 |
Family
ID=16131744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18321290A Pending JPH0471226A (ja) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | 減圧cvd装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0471226A (ja) |
-
1990
- 1990-07-11 JP JP18321290A patent/JPH0471226A/ja active Pending
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