JPH0454312B2 - - Google Patents

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JPH0454312B2
JPH0454312B2 JP58087451A JP8745183A JPH0454312B2 JP H0454312 B2 JPH0454312 B2 JP H0454312B2 JP 58087451 A JP58087451 A JP 58087451A JP 8745183 A JP8745183 A JP 8745183A JP H0454312 B2 JPH0454312 B2 JP H0454312B2
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JP
Japan
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actuator
frequency
optical
disk
signal
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JP58087451A
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JPS59215084A (ja
Inventor
Motoo Uno
Takeshi Maeda
Yasumitsu Mizoguchi
Masahiro Takasago
Koji Muraoka
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS59215084A publication Critical patent/JPS59215084A/ja
Publication of JPH0454312B2 publication Critical patent/JPH0454312B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/085Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam into, or out of, its operative position or across tracks, otherwise than during the transducing operation, e.g. for adjustment or preliminary positioning or track change or selection
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers

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  • Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕 本発明は光デイスク装置の位置決め装置に係
り、特にサブミクロン精度の位置決めするために
好適な位置決め装置に関する。 〔発明の背景〕 現在、レーザ光を回転するデイスク上に蒸着さ
れた金属膜に照射し、1μm程度のスポツトに絞り
込み、その照射パワーを変調することによつて金
属膜に熱的に穴をあける形態で情報を記録し、再
生時には金属膜に微弱なレーザ光を集光、照射
し、その情報穴(ヒツトと称する)からの反射光
量の変化を用いて情報を読み取るデイジタル光デ
イスクと称する情報処理装置が提案されている。
この種の提案としては、Flectro Nics誌、
Nov.23,1978,p75“Ten Billion Bits Fit onto
Tow Sides of 12−inch disc”等がある。この
種のシステムは例えば典型的な構成としては第1
図のようなものである。すなわち、直径30cmのサ
ンドイツチ構造のデイジタル光デイスク3が回転
軸4を中心に回転モータ5によつて矢印の方向に
回転している。レーザ光源と光学系から構成され
る光ヘツド2はスイングアームアクチユエータ1
に搭載されて、デイスク3の半径方向に駆動され
る。情報は第2図に示すデイスクの部分拡大図の
構造で記録/再生される。 すなわち、ガラス、又はプラステイツクの基板
1011の上にUV樹脂1014等によつて、案
内溝1013と称する、ある程度の幅と深さをも
つ凹断面構造を作成する。その上に金属膜101
0を蒸着する。この案内溝1013に沿つて、光
ヘツドの集束スポツトを案内し、上述の手段によ
つてピツト1012を形成する。再生時にも案内
溝1013に沿つて光スポツトを照射し、反射光
量を読みとる。さらに光スポツトを制御する信号
も反射光量から検出する。 この光スポツトを制御する信号はデイスクの上
下振れによる焦点のずれを検出する焦点ずれ検出
信号、また光スポツトの中心と案内溝の中心のず
れを検出するトラツクずれ検出信号の2つが主な
ものである。これらの信号はすべて反射光量の中
で、金属膜からの反射光量を使用している。 この光デイスクには、トラツクピツチ1.6μm、
とするとデイスク直径300φの片面では約5万ト
ラツク、トラツク当りに収納されるデータは4千
バイト程度になる。 このトラツクを追従し、データを正確に記録再
生するには少なくとも0.1μm以下の精度で光ヘツ
ドの光スポツトを案内溝1013の中心に位置決
めする必要がある。 従来、この種の装置としては、磁気デイスクが
あるが、トラツクピツチが150μmから30μm程度
と光デイスクに比較してピツチ間隔が1桁から2
桁違う。従つて、磁気デイスクに用いられている
方法では位置決め精度が数ミクロン程度であるた
め、光デイスクには同様の位置決め方法が採用で
きないという問題点がある。 〔発明の目的〕 本発明の目的は前述の問題点を解決し、光デイ
スクに適した高精度の位置決めを行なう位置決め
装置を提供することにある。 〔発明の概要〕 かかる目的を達成するため、本発明ではデイス
クの半径方向に全面に渡る可動範囲を持つ第1の
アクチユエータと、微少可動範囲を持ち高速応答
性を持つ第2のアクチユエータとを具備し、トラ
ツクずれ誤差信号を第1の位相補償回路を介して
出力し、その出力信号を第2の位相補償回路を介
して上記第2のアクチユエータに入力するととも
に、上記出力信号をローパスフイルタおよび第3
の補償回路を介して上記第1のアクチユエータに
入力することを特徴とする。 〔発明の実施例〕 本発明の理解を容易にするために、従来例の問
題点について説明する。 従来の位置決め装置の一例を第3図に示す。こ
こに示すアクチユエータは、一般にスイングアー
ム型とよばれるものであり、軸11を中心に揺動
し、磁気回路13に交叉するコイル12に電流を
流すことにより、先端の光学ヘツド2を駆動する
ものである。光学ヘツド2はデイスク面と光スポ
ツトの焦点との光軸方向の相対変位に比例した信
号(AFエラ信号)、光スポツトとデイスク3の案
内溝中心とのデイスク半径方向の相対変位に比例
した信号(TRエラ信号)およびデータに対応す
る信号を出力する。ヘツド2の位置決めに関して
は、上記信号のうちTRエラ信号eSNSのみを用い
るので、ここでは光ヘツド2の内部について詳細
にはのべない。このTFエラ信号eSNSを位相補償
回路61およびアナログスイツチ回路62を介し
駆動回路63に入力する。駆動回路63は入力電
圧eP1に比例した駆動電流iPAをコイル12に供給
する。ここで切換スイツチ回路62はコントロー
ル信号eCNTにより補償回路61の出力信号eCOとア
クセス信号eACCを切り換えるものであるが、これ
に関してはここでは詳述しない。すなわち光学ヘ
ツド2のデイスク半径方向の位置決め制御(以後
トラツキング制御と呼ぶ)に関しては切換スイツ
チ62は機能として無視できる。 次にスイツチングアーム1の機械的振動特性を
説明する。一般に、軸11はころがり軸受を介し
スイングアーム本体1を支持しているが、軸受は
有限の剛性を有しているため、スイングアーム本
体1はバネ支持されたものと等価となり、コイル
12により発生する力によつて固有の共振を生じ
る。第4図はこれらの共振モードの一例を示した
もので、aに示す101はピツチングモードによ
る光学ヘツドの偏位、bに示す102はローリン
グモードによる光学ヘツドの偏位である。これら
のモードの他、スイングアーム本体1自体が持つ
高次の弾性振動も生じ、光ヘツド2は複雑な運動
をする。第5図はこの振動の測定例を示すもので
あり、aに示すように光ヘツド2の先端に加速計
103を取付け、ランダムノイズでコイル12を
駆動する。出力例は第5図bに示すように、周波
数特性は数ケ所で共振を生じ、ゲインの持ち上り
は20〜30dBあるのが普通である。 次にサーボ系に関し述べる。第3図に示した系
をブロツク線図で表わしたのが第6図である。案
内溝の変位xrに対し光スポツトの相対変位誤差
xprは光ヘツド2のセンサ20のゲインKSNSによ
りTRエラ信号eSNSとなり、位相補償回路61に
より信号eCOとなる。前述した如く切換スイツチ
は無視されており、この信号eCOは駆動回路63
に入力され、駆動電流iPAがコイルに印加される。
ここで駆動回路63の電圧電流変換はゲインKPA
で表わせる。KTはコイル64のトルク定数であ
り、駆動電流iPAに比例した駆動トルクτDを発生
する。スイングアームの機構系65の動特性
GSWAに対しては、この駆動トルクτDと外乱トルク
τNが加わり光スポツトの変位xSPとなつて現われ
る。 第7図の系は伝達関係の周波数特性を示したも
のである。第7図aはスイングアームの機構系の
動特性GSWAを表わしており、固有振動数foと機械
的共振周波数fsubで表わすことができる。第5図
に示したように機械的共振は複雑な特性を有する
が、ここでは単一の共振で代表させている。位相
補償回路61の特性GCMPは第7図bのように低
域と高域でゲインを上げる特性を有するものが一
般的に用いられる。以上のような特性を要素とし
て持つ系の一巡伝達関数をGSO(S)とすると、その
周波数特性は第6図cのように表わせる。すなわ
ち、固有振動周波数fo以下ではゲインG0 s→0|GSO(S)|→G0 ………(1) となり、カツトオフ周波数fCで |GsSO(2πfCj)|=1=0dB ………(2) なる特性を持ち、前述した機械的共振周波数fsub
のゲインの持上りをΔGsubとし、この時の0dBま
でのゲインがGngub<1であれば系は安定である。
逆に系を安定にするためfsubはfCに対し充分大き
くしなければならない。以上の系の閉ループ特性
は GSC(S)=GSO(S)/1+GSO(S) ………(3) となり、第6図dに示すようなピーク周波数fP
有する周波数特性となる。通常 fPfC ………(4) と考えてよい。また、案内溝の変位xrに対する光
スポツトの追従誤差xprの伝達関係は GSER(S)=1/1+GSO(S) ………(5) となり、周波数特性は第6図eに示すように低周
波でゲインG0′、高周波でゲイン1となる。すな
わち S→0|GSER(S)|→G0′1/G0 ………(6) ∴G0≫1 ………(7) なる関係が成り立つ。案内溝の変位xrは、デイス
ク3の偏心により生じ、その周波数特性はモータ
5の回転数を基本周波数とし高周波成分が急激に
減少する傾向があるので、一巡伝達関数の低域ゲ
インG0を大きくとることができれば、追従誤差
xprを小さくすることができる。 一方、外乱トルクτNに対する光スポツトの変位
xSPの伝達関数は、 GSN(S)=GSWA(S)/1+GSC(S) ………(8) となり、これも一巡伝達関数GSC(S)が大きい程小
さくなる。外乱トルクτNとしては、軸受11の摩
擦力、装置外部からの振動などが考えられる。 以上のように、追従精度を高めるためには、一
巡伝達関数の低域ゲインG0を上げる必要がある。
しかし、ゲインG0を大きくとるとカツトオフ周
波数fCも大きくなり、機械的共振周波数でのゲイ
ンの余有Gnsubがなくなるので、系を安定に保つ
ためには機械的共振周波数fsubを上げる必要があ
る。機械的共振周波数fsubを大きくするためには
軸受11の剛性を上げる、スイングアーム1の剛
性を上げる、などの対策を講じなければならない
が、これにより軸受11の摩擦が増加したり、ス
イングアーム1の重量が増大し外乱トルクτNが大
きくなり、さらにゲインG0を大きくする必要が
あるという矛盾を生じる。ここではスイングアー
ム型アクチユエータを例として説明したが、これ
は他の型のアクチユエータでも同様であり、従来
の位置決め用アクチユエータでは、一巡伝達関数
の低域ゲインG0、カツトオフ周波数fC、機械的共
振周波数fsubおよびゲインの持ち上りGsubを目標
値に適合するように設計するのに多くの困難があ
る。 以下、本発明の一実施例を第8図,第9図を用
いて説明する。第8図は、アクチユエータの構造
を模式的に示したものである。デイスク3の半径
方向全面にわたつて移動できる粗アクチユエータ
7としてはリニヤアクチユエータを例に説明す
る。粗アクチユエータ7は磁気回路73に交叉す
るコイル72により駆動されるキヤリツジ71を
有し、このキヤリツジ71は半導体レーザ74、
センサ75、絞り込みレンズ76、光学系77お
よび細アクチユエータ8からなる光ヘツドを搭載
している。細アクチユエータ8は通常ガルバノミ
ラーと呼ばれるものであり、電流によりミラーが
回転し、光束を偏向させるものであり、光スポツ
ト1015を数十ミクロン動かす程度の機能をは
たす。すなわち半導体レーザ74から出た光は、
光学系77を通り、細アクチユエータ8で偏向さ
れ、絞り込みレンズ76によりデイスク3面上に
光スポツト1013として集光され、逆の経路を
経由し、光学系77で分離されセンサ75に達す
る。ここでは光学系77の構成、絞り込みレンズ
76の駆動方式などについては詳細に説明しない
が、センサ75の出力は光スポツト1015と、
案内溝1013の中心とのデイスク半径方向の相
対変位の関数で表わせ、特に案内溝1013の中
心に対し案内溝1013の間隔の1/4程度の範囲
にわたつては、ほぼ比例関係にあるものである。
細アクチユエータ8の電流に対する偏向度の伝達
特性は、2次遅れ系であり、機械的共振は通常非
常に高いか、あまり顕著なものがないかで、制御
系への影響は少ない。 この粗および細アクチユエータを線形力学系で
モデル化し、状態方程式で表わすと次のようにな
る。 ここで、 τ :細アクチユエータの駆動トルク F :粗アクチユエータの駆動推力 mF:細アクチユエータの質量 IF:細アクチユエータのイナーシヤ CF:細アクチユエータの粘性摩擦係数 KF:細アクチユエータのバネ定数 MC:粗アクチユエータの質量 CC:粗アクチユエータの粘性摩擦係数 KC:粗アクチユエータのバネ定数 lG:細アクチユエータの可動部重心と回転支持
軸との距離 lFC:絞り込みレンズの焦点距離 この系の固有値は次式を0とおいた根であり、 |sI−A|=s4+(CC/MCE+CF/IFE)s3 +{CC/MCE+CF/IFE+(1−lEM/2lEI)CCCF/MCE
IFE}s2 +(1−lEA/2lEI)(KCCF/MCEIFE+CCKF/MCEIFE
)s +(1−lEM/2lEI)KCKF/MCEIFE ………(11) 1≫lEM/2lEI(=6×10-5)の時 =(s2+CC/MCEs+KC/MCE) ×(s2+CF/IFEs+KF/IFE ………(12) 可観測性に関しては、 rank〓 | 〓λiI−A C〓 | 〓=4 ………(13) ただし、 λ2 i+CC/MCEλi+KC/MCE≠0 ………(14) または、 λi 2+CF/IFEλi+KF/IFE≠0 ………(15) であるため、系は不可観測となる。 次に、制御系の構成を第9図を用いて説明す
る。センサ75の出力はセンサアンプ90で増幅
され、TRエラ信号eSNSとなる。この信号はホー
ルド制御信号ehdにより駆動されるホールド回路
91を経て補償回路92に入力される。補償回路
92の出力は細アクチユエータ系と粗アクチユエ
ータ系に分離され、細アクチユエータ系は補償回
路93、ジヤンプ制御信号ejcで制御される切換
スイツチ94、を経て駆動回路95に入力され
る。駆動回路95は入力電圧efpに比例した電流if
を細アクチユエータ8のコイル81に流す電流流
増幅器である。一方、粗アクチユエータ系は、ロ
ーパスフイルタ96、補償回路97およびアクセ
ス制御信号eCNTで制御される切換スイツチ98を
経て駆動回路99に入力される。駆動回路99は
細アクチユエータ系と同様に入力電圧eppに比例
した電流iCを粗アクチユエータ7のコイル78に
流す電流増幅器である。ここで、案内溝1013
の隣接する案内溝に光スポツト1015を移動す
るのは、細アクチユエータ8の微少角揺動させる
ことにより行うが、この時はジヤンプ制御信号
ejcにより切換スイツチ94を切換え、ジヤンプ
信号ejnpにより行う。また、いくつかの案内溝に
またがつて長距離にわたつて光スポツト移動を行
う時は、粗アクチユエータ7を動かすが、この時
は、切換スイツチ98を制御信号eCNTで切換え、
アクセス信号eACCで粗アクチユエータ7を駆動す
る。これらの、ジヤンプおよびアクセスを行う
時、ホールド制御信号ehdによりホールド回路9
1が動作し、ホールド回路91の出力ehは一定値
に保たれる。これは光スポツト1015が案内溝
1013の中心からはずれる際生じるTRエラ信
号eSNSにより制御系の内部状態が乱されるのを防
ぐためである。なお、以上に述べたジヤンプ信号
ejnp、アクセス信号eACCならびにジヤンプ制御信
号ejc、制御信号eCNT、ホールド制御信号ehdの発
生回路についてはここでは細述しない。したがつ
て、案内溝1013を追従している状態での系
は、切換スイツチ94および98、ならびにホー
ルド回路91は機能として無視でき、第9図を制
御ブロツクで書き換えると第10図のように表わ
せる。すなわち、案内溝1013の変位を目標値
xr、光スポツト1013の変位を出力xSPとし、
誤差xPr1902、センサ75およびセンサアン
プ90の特性をFSNS、その出力をeSNS、補償回路
92の特性をFCAS、その出力をeSとし、細アクチ
ユエータ系では補償回路93および駆動回路95
の特性に、細アクチユエータのトルク定数を乗じ
た特性をFAF、これに外乱トルクτdを加えた細ア
クチユエータ可動部に加わるトルクをτ、細アク
チユエータの伝達関数をFMA、回転角をθとす
る。一方、粗アクチユエータ系は、ローパスフイ
ルタ96の特性をFCAC、補償回路97および駆動
回路99の特性に粗アクチユエータの推力定数を
乗じた特性をFAC、これに外乱推力faが加わつた、
粗アクチユエータに作用する推力をF、粗アクチ
ユエータの伝達関数をFMD、その変位をxとす
る。出力xSPは細アクチユエータの回転角θに光
学的変換率FOPを乗じたものと粗アクチユエータ
の変位xの和として表わせる。トルクτ、推力F
に対する細アクチユエータの回転角θ、粗アクチ
ユエータの変位x出力xSPの関係は式(9)に示した
通りである。なお、細アクチユエータと粗アクチ
ユエータの間には相互干渉が存在するが、細アク
チユエータのバランスをとることによりその量は
充分小さくできる。 さて、系の一巡伝達関数は説明を簡単にするた
め細アクチユエータを2次遅れ系、粗アクチユエ
ータを慣性系と近似すると次式で表わせる。 FS=FSNS・FCAS・FOPFAF/IIS 2+CFS+KF(1+F
CACFAC/FOPFAF IFS 2+CFS+KF/(MC+mF)s2)………
(16) ここで、 FCAC=ω2 CAC/s2+2ζCACωCACs+ω2CAC ………(17) とすると(16)式の( )内は、 ( )=1+λs2+2ζFωNFs+ωNF 2/s2+2ζCACωC
AC
s+ω2CAC ω2 CAC/s2 ………(18) ωCAC=ωNF,ζCAC=ζFならば =1+λω2 CAC/s2 ………(19) ただし、 λ=IF/(MC+mF)・FAC/FOPFAF ………(20) となり、FAC/FOPFAFを仮に定数とおくと、系は
二重積分器補償の特性を示す。この様子を示した
ものが第11図である。カツトオフ周波数fCを有
する細アクチユエータ系の一巡伝達関数1920 FSNSFCASFAFFMAFOP ………(21) に、ローパスフイルタの固有振動数fCACを有する
粗アクチユエータ系の一巡伝達関数1930 FSNSFCASFCACFACFMD ………(22) を加えると、系全体の特性は細アクチユエータ系
の一巡伝達関数1920に低域二重積分特性19
40を乗じた特性となる。この時、ローパスフイ
ルタの固有振動数fCACを細アクチユエータ系のカ
ツトオフ周波数fC1921に対し充分低くとる
と、後者はほとんど影響を受けない。また、機械
的共振周波数fSUBにおけるゲインの持ち上り
ΔGSUBの最大値は0dBより充分低くできる。した
がつて、粗アクチユエータの機械的共振周波数
は、ゲインの最大値が0dBを越えない範囲でかな
り低くても許容できる。細アクチユエータの機械
的共振は通常充分高くとれるか、あまり顕著なも
のがないようにできるかで問題は少ない。すなわ
ち、このような系の構成とすることにより、粗ア
クチユエータの機械的共振周波数が低くても、一
巡伝達関数の低域ゲインとカツトオフ周波数を充
分高くすることができる。 次に系の安定性について述べる。系の安定性の
充分条件は次の4つである。第一は、系が最少位
相推移系であること、第二は、目標値xrに対する
閉ループ系が安定であること、第三に、細アクチ
ユエータの制御器すなわち、外乱トルクτdに対す
る閉ループ系が安定であること、第四に粗アクチ
ユエータの制御器すなわち、外乱推力fdに対する
閉ループ系が安定であること、である。第一の最
少位相推移系に関しては、式(19)を用いて説明す
る。説明を簡単にするため式(20)において、 FAC=KAC,FAF=KAF FOP=2lFC ………(23) とおいて、λを定数とすると曹内の分子にフルビ
ツツの安定判別法を適用し、複素平面上の左半分
に零点がくる限界条件は γ>1/1+λη(1+λ/η2) ………(24) となる。ただし、 η=ζCAC/ζNF γ=ωCAC/ωNF ………(25) これを図示すると第12図のようになり、ηに応
じ限界値は異なるが、図中の線より上の範囲に
γ,λを選べば系は最少位相推移系となる。つま
り、ηは細アクチユエータのダンピングに対する
ローパスフイルタのダンピングの比、γは同固有
振動数の比、λは式(20)に示すように細アクチユエ
ータ系に対する粗アクチユエータ系のゲイン比で
あり、これらのパラメータの組合せで安定、不安
定が決まる。すなわち、η,γは装置によりある
一定の範囲にばらつき、λは細または粗アクチユ
エータタ系のゲインを変えることにより調整容易
であるので、ηにより定まる限界値より余裕を見
て、γを定め、その点がλを変えても限界を越え
ないようにすればよい。すなわち、 η>0.7 γ>1.4 λ>1 を目安とするのが良い。実際の系では式(23)と
異なりFAC,FAFは定数ではないので、式(24)の
ように限界値を解析的に求めるのはむずかしい。
したがつて、系の設計値より、式(16)の分子の根す
なわち零点を直接求め、それから複素平面の左半
分の範囲にあるように配置する。普通は余裕を見
て第13図に示す限界線より左に置く。すなわち
1941および1942の線は、 θ=sin-1ζ ………(26) 1943の線は、 ρ=ζ ………(27) なる線で、通常は極配置の規範として用いられる
ものであり、ζは最小0.3程度である。 第14図に第二,第三,第四の安定判別を行う
制御ループを示す。 FOS=KSNSFCASFMALOP +KSNSFCASFCACFACFMD ………(28) FOFC=KSNSFCASFAFFMALOP/ (1+KSNSFCASFCACFACFMD) ……(29) FOCC=KSNSFCASFCACFACFMD /(1+KSNSFCASFAFFMALOP) ………(30) 各開ループの伝達関数は上式で表わすことがで
き、各式の極すなわち分母の根が複素平面の左半
面にあれば系は安定である。通常は、安定度を考
慮して、第13図に示す規範を設け、この線より
左に配置する。なおζは零点同様最少0.3程度で
ある。 なお、式(13)〜(15)より系は不可観測であるため、
細および粗アクチユエータの固有振動のモード
は、出力xSPからは観測できず、したがつてこの
モードに関しては制御もできない。したがつて、
それらのモードの安定度は各固有振動のダンピン
グに依存する。すなわち、これらのダンピングも
最少0.3程度であることが好ましい。 通常、FCAS,FAF,FACに対応する補償回路9
2,93,97には次式で示す位相遅れおよび進
み特性を有する回路が直列に接続され用いられ
る。 位相遅れ特性:1+TIS/1+βTIS ………(31) 位相進み特性:α(1+TDS)/1+αTDS ………(32) すなわち、 FSNS=KCAS1+TISs/1+βsTISs αs(1+TDSs)/1+αsTDSs………(33) FAF=KAF1+TIFs/1+βFTIFs αF(1+TDFs)/1+αFTDFs………(34) FAC=KAC1+TICs/1+βCTICs αC(1+TDCs)/1+αCTDCs………(35) 前述の安定判別法にもとづくと、上記の要素の
うち、細アクチユエータ系の位相遅れ補償要素と
粗アクチユエータ系の位相進み要素は最少位相推
移限界に対し余裕のある方向に作用し、細アクチ
ユエータ系の位相進み補償要素と粗アクチユエー
タ系の位相遅れ要素は、逆の作用がある。すなわ
ち、次式を満足する方が系はより安定となる。 1<βF<20 ………(36) 0.05<αC<1 ………(37) 1<ωNF・TDC<2.0 ………(38) 0.05<αF<1 ………(39) 1<ωNFTDF<0.1 ………(40) 1<βC<2.0 ………(41) ただし、ωNF:細アクチユエータの固有振動
数。 補償回路92の定数は主として目標値xrに対す
る閉ループ系の極配置に影響を与えるので、細お
よび粗アクチユエータの特性および一巡伝達関数
の低域ゲインおよびカツトオフ周波数に対する要
求仕様から決定すればよい。 〔発明の効果〕 以上説明した如く、本発明によれば、従来の磁
気デイスクに比較してトラツク間隔が1ケタから
2ケタ高い光デイスクにおいて、トラツクの偏心
などが存在する中で目標とするトラツクに0.1μm
程度という高精度の位置決め誤差で光束スポツト
を追従させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はデイジタル光デイスクの概略構成図、
第2図はデイスクの部分拡大断面図、第3図は制
御系の構成図、第4図はスイングアームの振動モ
ード例を示す図、第5図はスイングアームの機械
的共振例を示す図、第6図は制御ブロツク図、第
7図は周波数特性図、第8図は本発明によるアク
チユエータの構成図、第9図は本発明による制御
系の構成図、第10図はその制御ブロツク図、第
11図は周波数特性図、第12図は最少位相推移
系限界図、第13図は極,零点配置規範図、第1
4図は制御ブロツク図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光デイスク装置において、デイスクの半径方
    向に全面に渡る可動範囲を持つ第1のアクチユエ
    ータと、微少可動範囲を持ち高速応答性を持つ第
    2のアクチユエータとを具備し、トラツクずれ誤
    差信号を第1の位相補償回路を介して出力し、そ
    の出力信号を第2の位相補償回路を介して上記第
    2のアクチユエータに入力するとともに、上記出
    力信号をローパスフイルタおよび第3の補償回路
    を介して上記第1のアクチユエータに入力するこ
    とにより光スポツトを制御する位置決め装置。
JP8745183A 1983-05-20 1983-05-20 位置決め装置 Granted JPS59215084A (ja)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6363975A (ja) * 1986-09-04 1988-03-22 Yagi Antenna Co Ltd 高周波増幅器のモニタ回路

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