JPH04501102A - 超電導物質層を作用させる作用方法及びその装置 - Google Patents

超電導物質層を作用させる作用方法及びその装置

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JPH04501102A
JPH04501102A JP2505627A JP50562790A JPH04501102A JP H04501102 A JPH04501102 A JP H04501102A JP 2505627 A JP2505627 A JP 2505627A JP 50562790 A JP50562790 A JP 50562790A JP H04501102 A JPH04501102 A JP H04501102A
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oxygen
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JP2505627A
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デネフェ、クリスティン
ボルグス、グスタフ・レジナ
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インターユニバーシテア・マイクロ―エレクトロニカ・セントラム・ヴェ・ゼット・ベ
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    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
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    • C23C14/087Oxides of copper or solid solutions thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 超電導物質層を作用させる作用方法及びその装置高温の臨界温度を有し、さらに 他のマイクロ電子層と結合可能な超電導層を作用させる作用方法に関して世界的 に研究が行なわれている。スパッタリング、蒸着、分子線束による析出、及びレ ーザアブレーンヨンがこの分野の主な従来技術である。このことは、付加的な酸 化処理が析出の後時々行なわれ、及び高温度(±900℃)にて焼なまし工程が 行なわれる、Y+BamCu5Ot−δのような斜方晶系物質を主に含んでいる 。それらの従来技術の欠点は、特にガリウムヒ素(GaAs)とシリコン(Si )のような半導体基板の場合において、基板とそれに作用可能な超電導層間の拡 散及び/又は化学反応を含んでいることである。異種物質間の拡散係数の相異は 、結晶格子の欠如の原因となる可能性がある。
本発明はこのような問題点を解決するためになされたもので、請求項1に記載の 方法を提供することを目的とする。
本発明はまた伝導層のような他のマイクロ電子層及びそのような層が簡単な方法 にて作用可能である請求項5に記載のような装置を提供することを目的とする。
層の(ドライ)エツチングもそのような装置にて行うことができる。
さらに有利な点であって本発明の特徴及び詳細な点は、添付した図面を参照し好 ましい具体例の記載に基づき説明することができる。
装置1は、基板支持部3上に基板Sが配置されるチャンバ2を備えている。レー ザ束Bは、基板Sに作用する物質が物質Mの超電導部分から放出されるような本 来既知のアブレーション技術に従い、入口あるいは窓4を介して物質Mの超電導 部分上に向けられる。
物質Mの支持部5は、その部分の過熱を防ぐように回転する形態であることが好 ましい。チャンバ2のどちらかの側面には、概略的に示しているが、二つのソレ ノイド7.8を備えたマイクロ波システム6が配向される。
ソレノイド7.8によって発生する磁界は、この磁界の三箇所においてその値が 875ガウスであるように寸法が決められるのが好ましい。図示していない方法 にてチャンバ2内に注入される酸素は、上記の三箇所にてイオン化され、上記二 部所間の領域にてプラズマ状態になる。発生lまたイオンは基板を越えて磁力線 に沿って運ばれる。チャンバ2の壁との相互作用は可能な限り防ぐことができる ので、結果として純粋で不純物のない層を生産するように純粋で不純物のないプ ラズマが生産される。上述したマイクロ波システム6は、チャンバの壁からプラ ズマを離して維持するために使用される分離放電セルあるいは特別の石英管を使 用しなくてらよいように作用する。
不図示の方法にて、バルザTMポンプ(不図示)を使用しチャンノく2内は例え ば10−@Torrの真空状態に維持される。
さらに、装置1は他の層に適用するためにクヌーセンあるいはエフエージ9ンセ ル9.11を設けているのが好ましい。
YAGレーザ12は、上記基板上にパターンを書くことが可能なように電食的に 制御されるのが好ましい。
」−記装置とともに北述した方法は、基板と層との間の相互作用、即ち拡散ある いは反応が可能な限り防げ、異なる層が低温(約400℃)にてGaAsあるい はSi基板に作用可能であることが判る。さらに、プラズマを含んでいる酸素の 有効な移送が、−上記磁界の寸法法めにより磁力線に沿−2、て基板を越えて行 なわれる。はんのio−’ないしI O−’Torrの圧力でさえプラズマは発 火(ignito)する。酸化層を使用する超電導層の選択的な不動麹化(pa ssivisation)は、十分な酸素がプラズマに供給可能なように超電導 層から抽出するので酸素なしに行うことができる。
プラズマを使用してエツチングを行うこと、及びレーザを使用してパターンを書 くことの両方は、基板が真空チャン7くから取り除かれそれゆえに基板上の不純 物及びそのようなものは同様に避けることができる、上述した装置で行うことが 可能となる。
この方法は、ダイヤモンドあるいはエピタキシャルシリコンのような他の層の付 着にら使用することができる。
例 層は、5X10”’TOI・rの酸素圧力下であ・フて、例えばできるだけ速く 冷却する゛クエンチ′の後プラズマ内で成長する。
上記層の抵抗は測定される。荒く(5ミクロンの荒さ)、磨かれていない多結晶 YSZ基板において、85にのオンセット温度が得られた。オフセット(R=0 )温度は75にであった。これらの結果はYSZ基板を使用したとき予期できる 最良のものである。
反応的で活性な酸素原子及びイオンが各層の十分な酸化を保証することを証明す るために、同一の二つのY2O2層を上述した方法に従い成長させた。それらの 層の一つは酸素プラズマの存在下において成長させ、−万能の一つは定常の酸素 分子の存在下にて成長させた。このような層の抵抗を測定すると、前者は超電導 層となり、一方後者は超電導層ではなかった。
国際調査報告 6rT1.、ロ@l’l/I’1nCTlフ国際調査報告 EP 9000602

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.被超電導物質の少なくとも一部分を負圧下においてレーザ束を使用し放出さ せる工程と、 上記超電導物質が作用する基板近傍のプラズマ状態内へ酸素を供給する工程と、 を備えたことを特徴とする、基板上に超電導物質層を作用させる作用方法。
  2. 2.上記超電導物質は、Y1Ba2Cu3O7−δである、請求項1記載の作用 方法。
  3. 3.上記基板の端部近傍にて酸素がプラズマ状態内へ進入するためイオン化され そして概ね磁界の磁力線に沿って上記基板を越えて移送するような値にて磁界が 作用する、請求項1あるいは2記載の作用方法。
  4. 4.基板支持部と、 レーザ束用の入口と、 レーザ束にて照射される超電導物質用の入口ポートと、互いに概ね対向するよう に配向され上記基板支持部の近傍にて磁界を発生するための二つのソレノイドと 、装置内を負圧状態とする負圧手段と、 を備えたことを特徴とする、基板に1あるいは複数の層を作用させるための装置 。
  5. 5.残留ガスを分抗するための4極子を設けた、請求項4記載の装置。
  6. 6.析出のためにチャンバ内へ物質を搬入するための一もしくは複数のクヌーセ ンセルを設けた、請求項4あるいは5記載の装置。
JP2505627A 1989-04-10 1990-04-10 超電導物質層を作用させる作用方法及びその装置 Pending JPH04501102A (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP89200904.4 1989-04-10
EP89200904 1989-04-10
NL9000214 1990-01-29
NL9000214A NL9000214A (nl) 1989-04-10 1990-01-29 Werkwijze voor het aanbrengen van een laag supergeleidend materiaal en een daarvoor geschikte inrichting.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04501102A true JPH04501102A (ja) 1992-02-27

Family

ID=26121046

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2505627A Pending JPH04501102A (ja) 1989-04-10 1990-04-10 超電導物質層を作用させる作用方法及びその装置

Country Status (8)

Country Link
EP (1) EP0392630B1 (ja)
JP (1) JPH04501102A (ja)
AT (1) ATE124574T1 (ja)
DE (1) DE69020409T2 (ja)
DK (1) DK0392630T3 (ja)
ES (1) ES2073508T3 (ja)
GR (1) GR3017236T3 (ja)
WO (1) WO1990012425A1 (ja)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6274073A (ja) * 1985-09-26 1987-04-04 Hitachi Ltd スパツタ装置
US5158931A (en) * 1988-03-16 1992-10-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Method for manufacturing an oxide superconductor thin film

Also Published As

Publication number Publication date
DE69020409D1 (de) 1995-08-03
GR3017236T3 (en) 1995-11-30
DK0392630T3 (da) 1995-08-28
ATE124574T1 (de) 1995-07-15
WO1990012425A1 (en) 1990-10-18
EP0392630B1 (en) 1995-06-28
EP0392630A1 (en) 1990-10-17
DE69020409T2 (de) 1995-11-16
ES2073508T3 (es) 1995-08-16

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