JPH0449447U - - Google Patents

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JPH0449447U
JPH0449447U JP9134690U JP9134690U JPH0449447U JP H0449447 U JPH0449447 U JP H0449447U JP 9134690 U JP9134690 U JP 9134690U JP 9134690 U JP9134690 U JP 9134690U JP H0449447 U JPH0449447 U JP H0449447U
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generation container
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  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は、この考案の一実施例に係るイオン源
を示す断面図である。第2図は、この考案の他の
実施例に係るイオン源を示す断面図である。第3
図は、従来のイオン源を示す断面図である。第4
図は、フイラメント電流とアーク電流との関係の
一例を示すグラフである。 2……プラズマ生成容器、4……フイラメント
、6……ガス導入パイプ、8……ガス、10……
イオンビーム、12……予熱ヒータ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. プラズマ生成容器内にフイラメントを有し、両
    者間の放電によつて、プラズマ生成容器内に導入
    されたイオン種のガスを電離させてそこからイオ
    ンを引き出す構成のイオン源において、前記ガス
    の導入経路の途中に、当該ガスを予熱する予熱手
    段を設けたことを特徴とするイオン源。
JP1990091346U 1990-08-30 1990-08-30 イオン源 Expired - Lifetime JP2505060Y2 (ja)

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JP2505060Y2 JP2505060Y2 (ja) 1996-07-24

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62237652A (ja) * 1986-04-08 1987-10-17 Nec Corp デユオプラズマトロンイオン源
JPH042033A (ja) * 1990-04-18 1992-01-07 Hitachi Ltd 試料のイオン化および質量分析のための装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62237652A (ja) * 1986-04-08 1987-10-17 Nec Corp デユオプラズマトロンイオン源
JPH042033A (ja) * 1990-04-18 1992-01-07 Hitachi Ltd 試料のイオン化および質量分析のための装置

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